滚动码产生系统与产生方法 技术领域 本发明涉及用于集成电路元件测试的滚动码产生系统与产生方法， 特别是有关于 一种可以直接在测试机 (tester) 中的载体随机存取内存 (vector ram) 上直接进行操作的 滚动码产生系统与产生方法。
背景技术 现有行技术中， 在整片晶片中的集成电路元件上的编号都为同一编码， 因此在后 段工艺中， 若有任一单一集成电路元件有异常时， 只能查询到它是属于哪一片晶片， 但不知 道此异常的集成电路元件现有作过何种测试， 测试结果或信息为何， 亦不清楚是从哪一家 测试厂商进行测试、 制作或包装等问题。
此外， 前述的在集成电路元件上编码的操作方式也有许多缺点， 一般来说要将所 有需要写入集成电路元件上的模板 (pattern)， 一次都准备好， 并下载至测试机的载体随机 存取内存中， 因为载体随机存取内存主要是放置测试集成电路元件数据之处， 之后在进行 测试时， 需依据不同种类的测试方式来选择不同的模板并执行写入的动作。虽然此作法可 以达到写入编码的目的， 但因为早期欲写入的编码数据少， 且需要写入的编码数据是很固 定的， 因此不需要占用大量、 昂贵的载体随机存取内存的资源。但若是欲写入的编码数据 多， 则测试机的载体随机存取内存无法提供足够的空间供写入。又若是遇到复杂需要计算 的模板， 例如 ： 要写入的编码数据是测试完成后的信息， 则此测试完成后的信息为不固定数 据且需要再经过计算， 则此种情况， 将因无法事先可以备妥固定的模板， 而无法进行写入编 码的操作。
发明内容
为了解决上述现有技术不尽理想之处， 本发明提供一种滚动码产生系统， 包含一 载体随机存取内存、 数据下载模块、 第一运算模块、 修正模块、 执行模块、 确认模块、 纪录检 索模块、 第二运算模块及验证模块。通过上述滚动码产生系统， 可产生一滚动码， 且进一步 可将上述的滚动码写入测试中的集成电路元件中。
一种滚动码产生系统， 用于集成电路元件测试的测试机中， 以产生一滚动码， 且将 该滚动码写入测试中的一集成电路元件中， 其中， 该滚动码产生系统包括 ：
一载体随机存取内存 ；
一数据下载模块， 用以读取一测试模板、 一比较模板以及一写入数据，
并将该测试模板与该比较模板下载至该载体随机存取内存中， 其中该
测试模板包含一空白区， 以供写入一滚动码 ；
一第一运算模块， 将该写入数据进行运算而得到一滚动码 ；
一修正模块， 将该滚动码写入至该测试模板的空白区， 藉以形成一修正模板 ；
一执行模块， 将该修正模板写入至测试中的集成电路元件， 并自该集成电路元件 内的修正模板输出至该载体随机存取内存内， 以形成一写入范本 ；一确认模块， 自该集成电路元件的修正模板中取得该滚动码 ；
一纪录检索模块， 检索该写入模板与该比较模板二者比较的差异， 以产生的一修 正纪录 ；
一第二运算模块， 将该修正纪录进行反运算， 以获得一反运算滚动码 ； 以及
一验证模块， 将该确认模块取得的滚动码及反运算滚动码的内容进行验证比对， 以确认该滚动码为正确。
因此， 本发明的主要目的在于提供一种滚动码产生系统， 可同时对多个集成电路 元件写入不相同的滚动码， 因此各集成电路元件具有单一性及加密性。
本发明的次要目的在于提供一种滚动码产生系统， 可同时对多个集成电路元件写 入不相同的滚动码， 因此具有较大的操作弹性。
本发明的另一目的在于提供一种滚动码产生系统， 可写入各种复杂的滚动码程 序， 因此具有较大的操作弹性。
本发明的另一目的在于提供一种滚动码产生系统， 通过直接将滚动码写入载体随 机存取内存中， 所以写入的速度快， 且不会损失测试机的效能。
本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生系统， 操作时不需要把所有的范本皆 下载至载体随机存取内存中， 因此可以减少载体随机存取内存的使用量。 本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生系统， 其中具有一验证模块， 可防止 写入错误的滚动码。
此外， 本发明进一步提供一种滚动码产生方法， 包含以下步骤 ：
提供一载体随机存取内存 ；
自数据下载模块中， 读取测试模板、 比较模板以及写入数据 ；
下载上述的测试模板与比较模板至载体随机存取内存中， 其中测试模板包含一空 白区， 以供写入滚动码 ；
下载上述的写入数据至第一运算模块中， 进行运算后得到滚动码 ；
自修正模块将上述的滚动码写入至测试模板的空白区， 以形成一修正模板 ；
将修正模板写入至测试中的集成电路元件上 ；
自集成电路元件内的修正模板输出至载体随机存取内存内， 以形成一写入范本 ；
自集成电路元件的修正模板中取得滚动码至确认模块中 ；
自纪录检索模块中取得修正纪录， 上述的修正纪录系比较写入模板与比较模板的 差异得以产生 ；
将修正纪录进行反运算， 以计算出一反运算滚动码 ； 以及
将自确认模块取得的滚动码及反运算滚动码的内容进行验证比对， 以确认滚动码 为正确。
本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生方法， 可同时对多个集成电路元件写 入不相同的滚动码， 因此各集成电路元件具有单一性及加密性。
本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生方法， 可同时对多个集成电路元件写 入不相同的滚动码， 因此具有较大的操作弹性。
本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生方法， 可写入各种复杂的滚动码程 序， 因此具有较大的操作弹性。
本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生方法， 通过直接将滚动码写入载体随 机存取内存中， 所以写入的速度快， 且不会损失测试机的效能。
本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生方法， 不需要把所有的范本皆下载至 载体随机存取内存中， 因此可以减少载体随机存取内存的使用量。
本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生方法， 因其中具有一验证步骤， 因此 可防止写入错误的滚动码。 附图说明
图 1 为一示意图， 是根据本发明提出的第一较佳实施例， 为一种滚动码产生系统 ； 图 2 为一流程图， 是根据本发明提出的第二较佳实施例， 为一种滚动码产生方法。 【主要元件符号说明】 滚动码产生系统 100 集成电路元件 300 数据下载模块 1 测试模板 30 第一运算模块 2 空白区 301 修正模块 3 比较模板 31 执行模块 4 写入数据 32 确认模块 5 修正模板 33 纪录检索模块 6 写入范本 34 第二运算模块 7 修正纪录 35 验证模块 8 滚动码 AA 载体随机存取内存 200 反运算滚动码 AA’ 滚动码产生的步骤 11、 12、 13、 14、 15、 16、 17、 18、 19、 20、 21具体实施方式
由于本发明系揭露一种滚动码产生系统与产生方法， 用于集成电路元件测试， 其 中使用的集成电路元件测试原理， 已为相关技术领域具有通常知识者所能明了， 故以下文 中的说明， 不再作完整描述。同时， 以下文中所对照的图式， 表达与本发明特征有关的结构 示意， 并未亦不需要依据实际尺寸完整绘制， 在先说明。
首先请参考图 1， 是本发明提出的第一较佳实施例， 为一种滚动码产生系统 100， 为用于积体元件测试的测试机中， 以产生一滚动码 AA， 且将滚动码 AA 写入测试中的一集成 电路元件 300 中。此滚动码产生系统 100 包括载体随机存取内存 200、 数据下载模块 1、 第 一运算模块 2、 修正模块 3、 执行模块 4、 确认模块 5、 纪录检索模块 6、 第二运算模块 7 与验证 模块 8。
请继续参考图 1， 其中图 1 上的实线表示流程顺序、 虚线表示硬件动作、 细链线表 示流程触发硬件的动作等意涵。 首先， 数据下载模块 1 读取外部的测试模板 30、 比较模板 31 以及一写入数据 32。之后， 再将测试模板 30 及比较模板 31 下载至载体随机存取内存 200 中， 而其中的测试模板 30 内包含一空白区 301， 此空白区 301 的用途为提供滚动码 AA 写入 之用。 接续上述， 写入数据 32 一般为厂商或客户等提供， 且写入资料 32 并无限定任何格式， 可以是固定的档案 (files) 或规则 (rule) 等。通过第一运算模块 2 对写入数据 32 中进行特定运算之后， 会得到滚动码 AA。修正模块 3 将前述得到的滚动码 AA 写入至测试模板 30 的空白区， 藉以形成修正模板 33。
执行模块 4 则会将修正范本 33 写入至测试中的集成电路元件 300 中。待写入完 成后， 集成电路元件 300 内的修正模板 33 将输出至载体随机存取内存 200 内， 以形成写入 范本 34 ； 确认模块 5 至集成电路元件 300 的修正模板 33 中取得滚动码 AA。而记录检索模 块 6 检索修正纪录 35， 而此修正纪录 35 比较写入模板 34 与比较模板 31 二者的差异后， 所 产生的纪录。
再者， 第二运算模块 7 再将由记录检索模块 6 提供的修正纪录 35 进行反运算， 以 获得一反运算滚动码 AA’ 。最后验证模块 8 将确认模块 5 取得的滚动码 AA 及第二运算模 块 7 获得的反运算滚动码 AA’ 二者的内容进行验证比对。若 AA’ 相同于 AA， 则确认写入集 成电路元件 300 中的滚动码 AA 为正确。 若确认结果为正确， 则可再回复到第一运算模块 2， 对其他的集成电路元件 300 进行写入滚动码 AA 的动作。若 AA’ 不同于 AA， 确认结果为不正 确， 则停止此写入滚动码 AA 的执行， 再去寻找原因进行修正。因此， 本发明可以防止写入错 误的滚动码 AA。
要 特 别 说 明 的 是， 写 入 集 成 电 路 元 件 300 上 的 滚 动 码 AA 可 以 是 连 续 的 编 号 (series number)、 序号 (lot unmber)、 批号、 刻号、 晶片编号 (waferID)、 或测试的信息等任 一种或上述的组合皆可。 其中测试的信息， 可以是测试的结果， 或是想要验证测试的结果的 答案皆可， 因此只要是想要写入集成电路元件 300 上的任一种编号皆可。并且写入时的顺 序并无任何限制， 因此滚动码 AA 具有单一性及加密性。并且， 重要的是， 此滚动码产生系 统 100 可同时对多个集成电路元件写入相异的滚动码 AA， 例如 ： 可以对整片晶片上的集成 电路元件写入相异的滚动码 AA， 或同时对多个集成电路元件写入相同的滚动码 AA。此外， 因为是直接在测试机上的载体随机存取内存 200 中操作， 因此可写入各种复杂的滚动码程 序， 故具有较大的操作弹性。 而且针对各种复杂的滚动码程序或是需要计算的滚动码， 因为 本发明不需要把所有的范本皆下载至载体随机存取内存 200 中， 因此可以减少载体随机存 取内存 200 的使用量。并且因为是直接将滚动码 AA 写入载体随机存取内存 200 中， 所以写 入的速度快， 因此不论是写入单颗或多颗的集成电路元件 300 的效率都是一样， 且不会损 失测试机的效能， 而且实际操作方式简易， 因此也容易对测试机进行维护。
请参考图 2， 是本发明步提出的第二较佳实施例， 为一种滚动码产生方法的流程 图， 包含以下步骤 ：
步骤 11 ： 提供一载体随机存取内存 200 ；
步骤 12 ： 由数据下载模块 1 读取测试模板 30、 比较模板 31 以及写入数据 32 ；
步骤 13 ： 下载测试模板 30 与比较模板 31 至载体随机存取内存 200 中， 其中测试 模板 30 包含一空白区 301， 以供写入滚动码 AA ；
步骤 14 ： 下载写入数据 32 至第一运算模块 2 中， 运算后得到滚动码 AA ；
步骤 15 ： 由修正模块 3 将滚动码 AA 写入至测试模板 30 的空白区 301， 藉以形成修 正模板 33 ；
步骤 16 ： 将修正范本 33 写入至测试中的集成电路元件 300 ；
步骤 17 ： 将集成电路元件 300 内的修正模板 33 输出至载体随机存取内存 200 内， 以形成写入范本 34 ；步骤 18 ： 自集成电路元件 300 的修正模板 33 中取得滚动码 AA， 传输至确认模块5； 步骤 19 ： 由纪录检索模块 6 取得修正纪录 35， 此修正纪录 35 比较写入模板 34 与 比较模板 31 二者的差异得以产生 ；
步骤 20 ： 将修正纪录 35 进行反运算， 以计算出反运算滚动码 AA’ ； 以及
步骤 21 ： 将自确认模块 5 取得的滚动码 AA 及反运算滚动码 AA’ 的内容进行验证 比对， 以确认滚动码 AA 为正确。
要 特 别 说 明 的 是， 写 入 集 成 电 路 元 件 300 上 的 滚 动 码 AA 可 以 是 连 续 的 编 号 (series number)、 序号 (lot unmber)、 批号、 刻号、 晶片编号 (waferID)、 或测试的信息等任 一种或上述的组合皆可， 其中测试的信息， 可以是测试的结果， 或是想要验证测试的结果的 答案皆可， 因此只要是想要写入集成电路元件 300 上的任一种编号皆可。并且写入时的顺 序并无任何限制， 因此滚动码 AA 具有单一性及加密性。并且， 重要的是， 此滚动码产生系 统 100 可同时对多个集成电路元件写入相异的滚动码 AA， 例如 ： 可以对整片晶片上的集成 电路元件写入相异的滚动码 AA， 或同时对多个集成电路元件写入相同的滚动码 AA。此外， 因为是直接在测试机上的载体随机存取内存 200 中操作， 因此可写入各种复杂的滚动码程 序， 因此具有较大的操作弹性。 而且针对各种复杂的滚动码程序或是需要计算的滚动码， 因 为本发明不需要把所有的范本皆下载至载体随机存取内存 200 中， 因此可以减少载体随机 存取内存 200 的使用量。并且因为是直接将滚动码 AA 写入载体随机存取内存 200 中， 所以 写入的速度快， 因此不论是写入单颗或多颗的集成电路元件 300 的效率都是一样， 且不会 损失测试机的效能， 而且实际操作方式简易， 因此也容易对测试机进行维护。
以上所述仅为本发明的较佳实施例， 并非用以限定本发明的申请专利权利 ； 同时 以上的描述， 对于熟知本技术领域的专门人士应可明了及实施， 因此其它未脱离本发明所 揭示的精神下所完成的等效改变或修饰， 均应包含在申请专利范围中。