CN200710017775.X
2007.04.29
CN101294825A
2008.10.29
撤回
无权
发明专利申请公布后的视为撤回IPC(主分类):G01D 5/26公开日:20081029|||实质审查的生效|||公开
G01D5/26(2006.01); G03B13/04(2006.01)
G01D5/26
中国科学院西安光学精密机械研究所
刘朝晖; 黄静; 折文集
710119陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
西安智邦专利商标代理有限公司
商宇科
本发明涉及一种光测设备的十字丝装置,包括加热控温装置、十字丝,所述十字丝设置在光源的光路上,其特征在于:所述十字丝外接有可对十字丝加热和控温的加热控温装置。本发明通过加热控温装置使十字丝温度改变,从而为红外波段测量提供瞄准基准,采用可见光照明即可提供可见光的测量的瞄准基准,从而实现了多波段测试功能。
1、 一种光测设备的十字丝装置,包括加热控温装置、十字丝,所述十字丝设置在光源的光路上,其特征在于:所述十字丝外接有可对十字丝加热和控温的加热控温装置。2、 根据权利要求1所述的光测设备的十字丝装置,其特征在于:所述加热控温装置为可变电位计或者9V电池提供加热电源。3、 根据权利要求1或2所述的光测设备的十字丝装置,其特征在于:所述十字丝由直径小于0.1mm的镍铬铝合金丝制成。
一种光测设备的十字丝装置 技术领域 本发明涉及一种光测设备的十字丝装置,尤其涉及一种适用于多波段光测设备的十字丝装置。 背景技术 在光测设备中经常以十字目标作为测量瞄准基准,现阶段采用的十字目标经常情况下只适用于一种波段的测试,比如可见光、红外等。随着技术的发展多波段光电设备在同一产品中的使用也日益广泛,它们之间的光轴一致性问题成为衡量系统性能的一个重要内容。而目前用于光测设备的十字丝,由于波段单一、覆盖波段范围窄而无法满足当前的测试需求。 发明内容 本发明的目的在于提供一种适用于多波段光测设备的十字丝装置,以有效地解决背景技术中用于光测设备的十字丝波段单一、覆盖波段范围窄以及无法进行多波段光电设备之间的光轴一致性测试的问题。 本发明的技术解决方案是:本发明为一种光测设备的十字丝装置,包括加热控温装置、十字丝,十字丝设置在光源的光路上,其特殊之处在于:所述十字丝外接有可对十字丝加热和控温的加热控温装置。 上述加热控温装置为可变电位计或者9V电池提供加热电源。 上述十字丝由直径小于0.1mm的镍铬铝合金丝制成。 本发明采用可见光光源照明为可见光瞄准设备提供瞄准基准,采用加热控温装置使十字丝加热为红外瞄准设备提供瞄准基准,因此本发明可以提供从可见光波段到红外波段的瞄准基准,从而实现多波段测试功能。同时本发明采用耐高温、稳定材料制作的十字丝做为十字目标,为多波段光电设备的测量提供瞄准基准,有效解决多波段光电设备的光轴测试问题。因此本发明不仅可以用于多波段光测设备中也可对多波段光测设备的光轴一致性进行测试。 附图说明 图1为本发明的结构原理图。 具体实施方式 参见图1,本发明包括光源3、十字丝2,十字丝2设置在光源3的光路上,十字丝2外接有可对十字丝2加热和控温的加热控温装置1。 该加热控温装置1可以为可变电位计或者9V电池提供加热电源,也可为现有技术的任一可以起到加热控温作用的装置 该光源3可以为可见光源、激光光源或红外光源。 该十字丝2由直径小于0.1mm的镍铬铝合金丝制成。 本发明通过加热控温装置1使十字丝2温度改变,从而为红外波段测量提供瞄准基准,采用可见光照明即可提供可见光的测量的瞄准基准,从而实现了多波段测试功能。
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本发明涉及一种光测设备的十字丝装置,包括加热控温装置、十字丝,所述十字丝设置在光源的光路上,其特征在于:所述十字丝外接有可对十字丝加热和控温的加热控温装置。本发明通过加热控温装置使十字丝温度改变,从而为红外波段测量提供瞄准基准,采用可见光照明即可提供可见光的测量的瞄准基准,从而实现了多波段测试功能。 。
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