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1、10申请公布号CN102064270A43申请公布日20110518CN102064270ACN102064270A21申请号200910210983022申请日20091113H01L33/52201001H01L21/56200601H01L21/6620060171申请人黄宏岳地址中国台湾桃园县芦竹乡南崁路二段9号5楼之772发明人黄宏岳74专利代理机构北京申翔知识产权代理有限公司11214代理人周春发艾晶54发明名称点胶机回授控制方法57摘要本发明的点胶机回授控制系统是在点胶单元之后紧着设有一测试比对单元，该测试比对单元是具有一供电组件及一出光特性比对组件，主要由供电组件对各完成点胶动。
2、作的发光二极管元件供电，使各发光二极管元件达到出光效果，并由出光特性出光特性比对组件就各发光二极管元件的出光特性与资料库的参数进行比对，并将相关比对测试资讯回授至点胶单元，供即时修正出胶量，以达到即时修正不良率的功效。51INTCL19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书4页附图7页CN102064280A1/1页21一种点胶机回授控制方法，其特征在于，是依序包括有下列步骤A由一点胶单元以每次一预定数量的方式对料片上的所有发光二极管元件进行点胶；B由一测试比对单元对完成点胶动作的发光二极管元件供电，使各发光二极管元件达到出光效果，再就各发光二极管元件的出光特性进行比。
3、对，并将相关比对测试资讯回授至点胶单元，可使该点胶单元依据该相关比对测试资讯来即时修正出胶量。2如权利要求1所述的点胶机回授控制方法，其特征在于，该测试比对单元具有一资料库，而该步骤B是就各发光二极管元件的出光光型与资料库所存取的参数进行比对。3如权利要求1所述的点胶机回授控制方法，其特征在于，依光型影像面积变化推算胶量，进而推算出点胶量曲线。4如权利要求1所述的点胶机回授控制方法，其特征在于，该测试比对单元具有一资料库，而该步骤B是就各发光二极管元件的出光色泽与资料库所存取的参数进行比对。5如权利要求1所述的点胶机回授控制方法，其特征在于，进一步结合有一光学全检步骤，是由一光学全检单元可对发。
4、光二极管元件进行分级。6如权利要求1所述的点胶机回授控制方法，其特征在于，该步骤B之后进一步结合有一步骤C，该步骤C由一干燥单元对完成点胶动作并完成测试比对的料片进行烘干。7如权利要求6所述的点胶机回授控制方法，其特征在于，该步骤C之后进一步结合有一步骤D，该步骤D是由一下料单元对发光二极管元件进行下料流程，该下料单元亦可接收该测试比对单元的相关比对测试资讯，仅将判定为良品的发光二极管元件进入后续的包装单元进行包装流程。权利要求书CN102064270ACN102064280A1/4页3点胶机回授控制方法技术领域0001本发明是有关一种发光二极管点胶控制系统，尤指一种可供即时发现不良品，并立即。
5、对相关资讯回授至点胶单元，以供即时修正不良率的点胶机回授控制系统，以及与其相关的回授控制方法。背景技术0002随着电子制造业技术的不断进步，制造过程中各环节的相关设备的速度及精密度需求逐渐提高，用来封装电子元件的点胶设备亦随之产生对应需求。例如，SMD型发光二极管因为可以在制造过程当中，将金属料片、铝基板或载板冲压成型具有复数个供做为SMD型发光二极管导线架的“部件”，因此尤适合利用自动设备对料片上呈矩阵排列的部件进行点胶、晶粒封装等加工制程。0003在既有的技术领域当中，习用发光二极管元件自动点胶设备是经由控制点胶头位移的方式，透过点胶头的单一针筒或复数个排列针筒对每一个单位料片上的所有发光。
6、二极管元件进行点胶动作。至于，点胶头的移动方式及各针筒的点胶时机及点胶量则受控制单元所设定的模式运作。0004因此在进行实际的点胶作业时，点胶机是依照预设的动作模式对料片上所有的发光二极管元件点胶；每一次点胶动作，是让同一点胶头的所有针筒依照相同的点胶时间或压力控制其点胶量，但当点胶作业进行一段时间之后，针筒难免会因会受热或其它因素而变形，因此影响正常的出胶量；故，必须在完成点胶作业之后，逐一对每一个完成点胶封装的发光二极管元件进行检测，习用的检测方法是利用光谱仪读取部件所产生的光源并进行比对，例如发光二极管元件出光偏蓝即判定点胶量太低、发光二极管元件出光偏黄即判定点胶量太高的方式判别不良品。。
7、0005然而，一般发光二极管元件的点胶流程依序，如图11所示包括有点胶、干燥、下料切割形成单颗发光二极管元件、单颗测试、光学全检依测试情形子以分级，及最后的包装等加工步骤，因此当检出有不良品时，事实上距离先前的点胶动作已经过冗长的干燥步骤，跟本无法即时回授相关的修正动作、无法即时修正不良率，并造成胶料及半成品零件的浪费。发明内容0006有鉴于此，本发明即在提供一种可供即时发现不良品，并立即对相关资讯回授至点胶单元，以供即时修正不良率的点胶机回授控制系统，以及与其相关的回授控制方法，为其主要目的。0007为达上述目的，本发明的点胶机回授控制系统是在点胶单元之后紧着设有一测试比对单元，该测试比对单。
8、元是具有一供电组件及一出光特性比对组件，主要由供电组件逐一或选择性对各完成点胶动作的发光二极管元件供电，使各发光二极管元件达到出光效果，并由出光特性比对组件就各发光二极管元件的出光特性与资料库的参数进行比对，并说明书CN102064270ACN102064280A2/4页4将相关比对测试资讯回授至点胶单元，供即时修正出胶量，以达到即时修正不良率的功效。0008本发明次一目的是在该测试比对单元之后依序设有一干燥单元分别对所有完成点胶的发光二极管元件进行烘干流程，以及设有一下料单元对发光二极管元件进行下料流程，该下料单元是可同时接收该测试比对单元的相关比对测试资讯，以直接将判定为不良品的发光二极管。
9、元件保留或剔除，仅将判定为良品的发光二极管元件进入后续的包装单元进行包装流程，大幅提升发光二极管元件的产能。附图说明0009图1是为本发明点胶机回授控制系统的基本组成架构方块示意图；0010图2是为本发明中测试比对单元的外观结构图；0011图3是为本发明第一实施例的供电组件对发光二极管元件供电的动作示意图；0012图4是为本发明第二实施例的供电组件对发光二极管元件供电的动作示意图；0013图5是为判定为良品的发光二极管元件光型影像示意图；0014图6是为判定为胶量不足的发光二极管元件光型影像示意图；0015图7是为判定为胶量超出预定范围的发光二极管元件光型影像示意图；0016图8是为依照光型影。
10、像面积变化推算胶量进而推算出的点胶量曲线图；0017图9是为本发明点胶机回授控制方法的流程示意图；0018图10是为本发明测试比对单元进行比对测试的流程示意图；0019图11是为习有点胶机回授控制方法的流程示意图。0020【图号说明】002110点胶单元20测试比对单元002221机台22供电组件0023221电源接脚222接地接脚002423出光特性比对组件231资料库0025232撷取元件233比对元件002624第一线性滑轨25第二线性滑轨002726载盘27动力缸002830干燥单元40下料单元002950包装单元60发光二极管元件具体实施方式0030如图1及图2所示，本发明的点胶机回。
11、授控制系统是包括有一点胶单元10、一测试比对单元20、一干燥单元30，以及一下料单元40；其中0031该点胶单元10是以每次一预定数量的方式对料片上的所有发光二极管元件进行点胶动作。0032该测试比对单元20是设于该点胶单元10之后，该测试比对单元20是具有一供电组件22及一出光特性比对组件23，该供电组件22是设有一电源接脚221及一接地接脚222，逐一对所有完成点胶动作的发光二极管元件60供电，使各发光二极管元件达到出光效果，该出光特性比对组件23并设有一资料库231、撷取元件232以及一比对元件233，并说明书CN102064270ACN102064280A3/4页5由该比对元件233就。
12、各发光二极管元件60的出光光型或出光色泽等出光特性与资料库231所存取的参数进行比对，并将相关比对测试资讯回授至点胶单元10及下料单元40；当然该测试比对单元可与该点胶单元设于同一机台上，或者可设置于不同机台上。0033于实施时，该撷取元件232是可以为一数字影像撷取元件CCD供撷取发光二极管元件60的出光光型，或是为一光谱仪供分析发光二极管元件60的出光色泽；该测试比对单元20是于一机台21上设有一组左右延伸配置的第一线性滑轨24，于该第一线性滑轨24上设有一第二线性轨25，于该第二线性滑轨25上设有一载盘26供承载料片；该供电组件22是相对设于该载盘26上方或下方，由一动力缸27带动供电组。
13、件22相对与载盘26上下位移，采用于发光二极管元件60上方如图3所示或于发光二极管元件60下方如图4所示与发光二极管元件60预定的电极接点接触的方式，逐一对所有完成点胶动作的发光二极管元件60供电。0034至于，该干燥单元30是对所有完成点胶动作并完成测试比对的料片进行烘干，使胶料完全凝固定型。至于，该下料单元40是用以将完成烘干流程的料片发光二极管元件60进行下料流程，让判定为良品的发光二极管元件60进入后续的包装单元50进行最后的包装流程；或者，可进一步结合有一光学全检单元，用以将完成烘干流程的料片发光二极管元件进行分级。0035具体而言，本发明点胶机回授控制方法，如图9，依序包括有下列步。
14、骤0036步骤A由一点胶单元以每次一预定数量的方式对料片上的所有发光二极管元件进行点胶。0037步骤B由一测试比对单元进行测试，请同时参阅图10所示，该供电组件可对完成点胶动作的发光二极管元件供电，或者选择性对某些完成点胶动作的发光二极管元件供电，使各发光二极管元件达到出光效果，再藉由撷取元件撷取发光二极管元件的出光光型或出光色泽，并利用比对元件就各发光二极管元件的出光光型或出光色泽等出光特性与资料库的参数进行比对，并将相关比对测试资讯回授至点胶单元，可使该点胶单元依据该相关比对测试资讯来即时修正出胶量。0038步骤C由一干燥单元对所有完成点胶动作并完成测试比对的料片进行烘干。0039步骤D由。
15、一下料单元对发光二极管元件进行下料流程，该下料单元是同时接收该测试比对单元的相关比对测试资讯，以直接将判定为不良品的发光二极管元件保留或剔除，仅将判定为良品的发光二极管元件进入后续的包装单元进行包装流程；亦或者可进一步结合有一光学全检步骤，是由一光学全检单元可对发光二极管元件进行分级。0040以采用影像比对出光光型的实施方式为例，图5所示为胶量符合预定范围的良品影像，图6所示为胶量不足的不良品影像，图7所示为胶量超出预定范围的不良品影像，故可将不同胶量所对应的光型影像面积存取于资料库中，该出光特性比对组件可依光型影像面积变化推算胶量，进而推算出如图8所示的点胶量曲线，做为判定发光二极管元件为良。
16、品或不良品的依据，亦可作为修正出胶量的依据。0041由于，本发明点胶机回授控制系统及回授控制方法是在发光二极管元件完成点胶动作之后，立即逐一或选择性对所有完成点胶动作的发光二极管元件的出光特性与资料库的参数进行比对，并将相关比对测试资讯回授至点胶单元及一下料单元，供即时修正出胶量，以及在下料流程中将判定为不良品的发光二极管元件保留或剔除，仅将判定为良品的说明书CN102064270ACN102064280A4/4页6发光二极管元件进入后续的包装单元进行包装流程，俾达到即时修正不良率，以及提升发光二极管元件产能的功效。说明书CN102064270ACN102064280A1/7页7图1图2说明书附图CN102064270ACN102064280A2/7页8图3说明书附图CN102064270ACN102064280A3/7页9图4图5说明书附图CN102064270ACN102064280A4/7页10图6图7说明书附图CN102064270ACN102064280A5/7页11图8说明书附图CN102064270ACN102064280A6/7页12图9说明书附图CN102064270ACN102064280A7/7页13图10图11说明书附图CN102064270A。