背光单元及其测试方法、液晶模组及其测试方法 【技术领域】
本发明涉及液晶显示设备制造技术领域，尤其涉及一种背光单元及其测试方法、液晶模组及其测试方法。
背景技术
目前，液晶显示设备如液晶电视、液晶显示器等，由于具有机身薄、辐射小、高清晰显示等显著优点，因而取得了广泛的应用。但是液晶显示设备中的液晶面板自身无法发光，通常需要使用背光源作为照明光源。而且为了取得良好的显示效果，从背光源到液晶面板之间需要设置多种光学膜片，如扩散板、扩散片、增光膜等，这些光学膜片能够对背光源发出的光线进行透射扩散，以提高光线的亮度、均匀性和色度等指标。
如图1所示，在液晶显示设备中，上述光学膜片如扩散板3、扩散片4和增光膜5等设置在中框1的凹槽中，此外，在中框1的凹槽中还设有液晶面板6，液晶面板6位于各光学膜片的前方，以接收从光学膜片中透射出的光线。装设有光学膜片和液晶面板6的中框1压设在背板7上，并通过前框2对中框1和背板7进行固定。
而且目前对于同一尺寸的液晶显示设备，根据不同的应用需求需要开发出多种类型，例如低功耗类型、高亮类型、超薄类型等。在开发这些类型时，还需要对液晶显示设备的光学指标进行评价，这就要进行多次试验，以通过改变各光学膜片的搭配组合来获得理想的光学指标。
但是现有的液晶显示设备的内部结构中，在更换各光学膜片时，每次都需要拆掉前框2、中框1和液晶面板6，更换完成后，还需要安装液晶面板6、中框1和前框2，操作繁琐，整个更换过程需要半小时或者更长的时间。一般情况下各光学膜片的种类都有很多，完成一次光学指标优化至少需要几天时间。
【发明内容】
本发明所要解决的技术问题在于提供一种背光单元，能够使光学膜片更换操作简单，节省光学指标优化时间。
为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：
一种背光单元，包括中框，所述中框具有第一凹槽，所述第一凹槽中并行设有光学膜片和液晶面板，所述光学膜片透射出的光线能够射入所述液晶面板，在所述第一凹槽中对应所述光学膜片的位置处设有第一缝隙，所述光学膜片通过所述第一缝隙从所述中框内取出或插入所述中框。
本发明提供的背光单元，由于所述光学膜片能够通过所述第一缝隙从所述中框内取出或插入所述中框，因此可以通过这种方法更换光学膜片，而不需要拆掉所述中框和液晶面板，整个更换操作简单，仅需数分钟即可完成，这样节省了光学指标优化的时间。
本发明所要解决的另一个技术问题在于提供一种背光单元测试方法，能够使光学膜片更换操作简单，节省光学指标优化时间。
为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：
一种背光单元测试方法，所述背光单元包括中框，所述中框具有第一凹槽，所述第一凹槽中并行设有光学膜片和液晶面板，所述光学膜片透射出的光线能够射入所述液晶面板，在所述第一凹槽中对应所述光学膜片的位置处设有第一缝隙，所述测试方法包括：
通过所述第一缝隙从所述中框内取出原有的光学膜片；
通过所述第一缝隙将新的光学膜片插入所述中框；
点亮背光源，在新的光学膜片的作用下测试背光单元的光学指标。
本发明提供的背光单元的测试方法，由于所述光学膜片能够通过所述第一缝隙从所述中框内取出或插入所述中框，因此可以通过这种方法更换光学膜片，而不需要拆掉所述中框和液晶面板，整个更换操作简单，仅需数分钟即可完成，这样节省了光学指标优化的时间。
本发明所要解决的再一个技术问题在于提供一种液晶模组，能够使光学膜片更换操作简单，节省光学指标优化时间。
为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：
一种液晶模组，包括前框，所述前框具有第二凹槽，所述第二凹槽内设有背板，所述背板上设有中框，所述中框具有第一凹槽，所述第一凹槽中并行设有光学膜片和液晶面板，所述光学膜片透射出的光线能够射入所述液晶面板，在所述第一凹槽中对应所述光学膜片的位置处设有第一缝隙，在所述第二凹槽中对应所述第一缝隙的位置处设有第二缝隙，所述光学膜片通过所述第一缝隙和所述第二缝隙从所述中框内取出或插入所述中框。
本发明提供的液晶模组，由于所述光学膜片能够通过所述第一缝隙和所述第二缝隙从所述中框内取出或插入所述中框，因此可以通过这种方法更换光学膜片，而不需要拆掉所述前框、中框和液晶面板，整个更换操作简单，仅需数分钟即可完成，这样节省了光学指标优化的时间。
本发明所要解决的又一个技术问题在于提供一种液晶模组测试方法，能够使光学膜片更换操作简单，节省光学指标优化时间。
为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：
一种液晶模组测试方法，所述液晶模组包括前框，所述前框具有第二凹槽，所述第二凹槽内设有背板，所述背板上设有中框，所述中框具有第一凹槽，所述第一凹槽中并行设有光学膜片和液晶面板，所述光学膜片透射出的光线能够射入所述液晶面板，在所述第一凹槽中对应所述光学膜片的位置处设有第一缝隙，在所述第二凹槽中对应所述第一缝隙的位置处设有第二缝隙，所述测试方法包括：
通过所述第一缝隙和所述第二缝隙从所述中框内取出原有的光学膜片；
通过所述第一缝隙和所述第二缝隙将新的光学膜片插入所述中框；
点亮背光源，在新的光学膜片的作用下测试液晶模组的光学指标。
本发明提供的液晶模组测试方法，由于所述光学膜片能够通过所述第一缝隙和所述第二缝隙从所述中框内取出或插入所述中框，因此可以通过这种方法更换光学膜片，而不需要拆掉所述前框、中框和液晶面板，整个更换操作简单，仅需数分钟即可完成，这样节省了光学指标优化的时间。
【附图说明】
图1为现有技术中液晶显示设备内部结构的剖视图；
图2为本发明背光单元实施例的结构示意图；
图3为图2中右侧面的结构示意图；
图4为本发明背光单元测试方法一个实施例的流程图；
图5为本发明背光单元测试方法另一个实施例的流程图；
图6为本发明背光单元测试方法再一个实施例的流程图。
图7为本发明液晶模组实施例右侧面的结构示意图；
图8为本发明液晶模组测试方法一个实施例的流程图；
图9为本发明液晶模组测试方法另一个实施例的流程图；
图10为本发明液晶模组测试方法再一个实施例的流程图。
【具体实施方式】
本发明旨在提供一种背光单元及其测试方法、液晶模组及其测试方法，能够使光学膜片更换操作简单，节省光学指标优化时间。
下面结合附图以及实施例对本发明进行详细描述。
实施例一
如图2所示，为本发明背光单元的一个具体实施例，在本实施例中，所述背光单元包括中框1，中框1具有第一凹槽12，第一凹槽12中并行设有光学膜片和液晶面板6，图中显示了扩散板3，光学膜片透射出的光线能够射入液晶面板6，在第一凹槽12中对应光学膜片的位置处设有第一缝隙14，光学膜片通过第一缝隙14从中框1内取出，或光学膜片通过第一缝隙12插入中框1。
如图3所示，本实施例中的背光单元，由于各光学膜片能够通过第一缝隙14从中框1内取出或插入中框1中，因此可以通过这种方法更换光学膜片，而不需要拆掉中框1和液晶面板6，整个更换操作简单，仅需数分钟即可完成，这样可以将背光单元的光学指标优化时间缩短为半个工作日，大大节省了光学指标优化的时间。
其中，光学膜片包括扩散板3、扩散片3和增光膜5等，通过更换不同类型的光学膜片，可以得到多种不同地光学膜片组合，测试每种光学膜片组合的光学指标，从中选择符合要求的组合模式。
本实施例中，第一缝隙14的大小尺寸可以根据光学膜片组合的大小尺寸进行设计，在不影响光学膜片取出和插入的情况下，第一缝隙14的尺寸应尽量设计得小一些，以降低对中框1支撑强度的影响。由于一般各光学膜片的厚度较小，因此本实施例中，将第一缝隙14的宽度设为3毫米就足够使用了。
图3中，第一缝隙14设在中框1的右侧边的第一凹槽中，这是因为目前市场上的液晶显示设备，其长宽比例大部分都为16比9，为适应液晶面板6的这一尺寸比例，中框1的长宽比例也大致为16比9，这样中框1的形状为长方形。将第一缝隙14设在中框1的右侧边上，即中框1的较短侧边上时，第一缝隙14的尺寸较小，有利于加工，而且对中框1的强度影响较小。
同理，也可以将第一缝隙14设置在中框1的左侧边上。
但是本实施例也不排除将第一缝隙14设置在中框1的上侧边上。
从图3中可知，在第一缝隙14的上侧边和下侧边上设有的第一凸起16，各第一凸起16之间具有间隔，可以将各光学膜片插入在响应的间隔内，这样可以分隔各光学膜片，便于光学膜片的取出和插入。
实施例二
如图4所示，为本发明背光单元测试方法的实施例，本实施例中所述背光单元的结构和功能与实施例一中所述背光单元的结构和功能相同。其中，所述背光单元测试方法包括：
步骤101，通过所述第一缝隙从所述中框内取出原有的光学膜片；
步骤102，通过所述第一缝隙将新的光学膜片插入所述中框；
步骤103，点亮背光源，在新的光学膜片的作用下测试背光单元的光学指标。
本实施例中的背光单元测试方法，由于所述光学膜片能够通过所述第一缝隙从所述中框内取出或插入所述中框，因此可以通过这种方法更换光学膜片，而不需要拆掉所述中框和液晶面板，整个更换操作简单，仅需数分钟即可完成，这样节省了光学指标优化的时间。
上述操作方法适用于需要适用新的光学膜片换掉原有的光学膜片的方法，但在某些情况下，可能仅需要减少原有的光学膜片。
因此，作为一种选择，如图5所示，所述背光单元测试方法还可以包括：
步骤201，通过所述第一缝隙从所述中框内取出原有的光学膜片；
步骤202，点亮背光源，在剩余的光学膜片的作用下测试背光单元的光学指标。
这样，通过减少原有的光学膜片，仅对剩余的光学膜片作用下的光学指标进行测试，可以获得更多的光学膜片组合方案。
但也可能出现需要增加光学膜片的情况，因此作为另一种选择，如图6所示，所述背光单元测试方法还可以包括：
步骤301，通过所述第一缝隙将新的光学膜片插入所述中框；
步骤302，点亮背光源，在新的光学膜片的作用下测试背光单元的光学指标。
同样地，通过增加新的光学膜片，并对新的光学膜片作用下的光学指标进行测试，也可以获得更多的光学膜片组合方案。
进一步地，本实施例中在步骤101，通过所述第一缝隙从所述中框内取出原有的光学膜片之前，所述测试方法还包括将所述背光单元设置在检测位置处，这是进行背光单元光学测试的必要步骤。
实施例三
如图7所示，为本发明液晶模组的具体实施例，本实施例中，所述液晶模组包括前框2，前框2具有第二凹槽(未图示)，第二凹槽内设有背板(参见图1)，背板上设有中框1。结合图2所示，中框1具有第一凹槽12，第一凹槽12中并行设有光学膜片和液晶面板6，光学膜片透射出的光线能够射入液晶面板6，且在第一凹槽12中对应该光学膜片的位置处设有第一缝隙14，在第二凹槽中对应第一缝隙14的位置处设有第二缝隙24，光学膜片通过第一缝隙14和第二缝隙24从中框1内取出，或通过第一缝隙14和第二缝隙24插入中框1。
本实施例中的液晶模组，由于光学膜片能够通过第一缝隙14和第二缝隙24从中框1内取出或插入中框1，因此可以通过这种方法更换光学膜片，而不需要拆掉前框2、中框1和液晶面板6，整个更换操作简单，仅需数分钟即可完成，这样可以将背光单元的光学指标优化时间缩短为半个工作日，大大节省了光学指标优化的时间。
为适应目前市场上16比9的液晶显示设备的形状要求，本实施例中，中框1为长方形中框，且第一缝隙14设在该长方形中框1的右侧边，即较短侧边上，而且前框2为长方形前框，且第二缝隙24在该长方形前框2的右侧边，即较短侧边上。这样，第一缝隙14和第二缝隙24的尺寸较小，方便加工，而且对中框1和前框2的强度影响较小。
从图7中可知，本实施例中光学膜片包括扩散板3、扩散片3和增光膜5等，为使这些光学膜片之间具有微小的间隔，便于其取出和装入，在第一缝隙14的上侧边和下侧边上设有第一凸起16，在第二缝隙24的上侧边和下侧边上设有的第二凸起26，且第一凸起16和第二凸起26的位置相对应。
实施例四
如图8所示，为本发明液晶模组测试方法的实施例，本实施例中所述液晶模组的结构和功能与实施例三中所述液晶模组的结构和功能相同。其中，所述液晶模组测试方法包括：
步骤401，通过所述第一缝隙和所述第二缝隙从所述中框内取出原有的光学膜片；
步骤402，通过所述第一缝隙和所述第二缝隙将新的光学膜片插入所述中框；
步骤403，点亮背光源，在新的光学膜片的作用下测试液晶模组的光学指标。
本实施例中的液晶模组测试方法，由于所述光学膜片能够通过所述第一缝隙和所述第二缝隙从所述中框内取出或插入所述中框，因此可以通过这种方法更换光学膜片，而不需要拆掉所述前框、中框和液晶面板，整个更换操作简单，仅需数分钟即可完成，这样节省了光学指标优化的时间。
其中如图9所示，当仅需要减少光学膜片时，所述液晶模组测试方法包括：
步骤501，通过所述第一缝隙和所述第二缝隙从所述中框内取出原有的光学膜片；
步骤502，点亮背光源，在剩余的光学膜片的作用下测试液晶模组的光学指标。
而如图10所示，当今需要增加光学膜片时，所述液晶模组测试方法包括：
步骤601，通过所述第一缝隙和所述第二缝隙将新的光学膜片插入所述中框；
步骤602，点亮背光源，在新的光学膜片的作用下测试液晶模组的光学指标。
通过该两种测试方法，可以获得更多的光学膜片组合的方案。
进一步地，本实施例中，在步骤401，通过所述第一缝隙和所述第二缝隙从所述中框内取出原有的光学膜片之前，所述测试方法还包括将所述液晶模组设置在检测位置处，这是进行背光单元光学测试的必要步骤。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求所述的保护范围为准。