电阻模型提取方法 【技术领域】
本发明关于一种电阻模型提取方法， 特别是关于一种分压电路的抽头电阻模型提取方法。 背景技术 电阻是电路中最基本的元器件之一， 其基本定义是衡量电子通过某种材料的难易 程度， 其定量计算式如下 ：
式1其中， L 和 S 为电阻材料的长度和横截面的面积。 长度越长， 电子通过的难度越大， 电阻越大 ； 横截面的面积越小， 电子通过越难， 电阻越大 ； ρ 为电阻率， 单位为 Ω.m， 表征某 种材料的导电性能， 根据电阻率大小程都一般将材料分为绝缘体、 导体和半导体。为了准确控制电阻值， 分离器件的电阻一般使用特殊材料制成， 如金属膜电阻使 用电阻率稳定的某些金属或其氧化膜， 制造时将该材料涂抹在绝缘磁管上， 然后蚀刻成 螺旋状以增加有效长度和控制截面积， 并按相应的方法来计算电阻值 ； 为改善螺旋的电 感效应， 现代器件一般使用表面贴装的电阻， 这种电阻一般做成 080x050 或 060x030 或 040x020mil 等长方体块的封装形式， 其电阻计算或提取遵从相应规律。为进一步减小电路 和最终产品的体积， 集成电路被大量使用， 电阻以更小的形式在集成电路里被大量使用， 典 型形式如 MOS 电阻、 多晶硅电阻， 而多晶硅电阻 ( 方块电阻 ) 是集成电路中最常使用的一 种。
在集成电路里， 所使用的工艺决定各部分的材料的厚度包括多晶硅电阻的厚度， 它们在本工艺场景下是固定的， 因此上面的式 1 可变形为
式2其中， Rsh ＝ ρ/t， 定义为方块电阻的电阻率， 单位为 Ω/ □， L 为方块电阻长度， W 为方块电阻宽度， L 和 W 单位相同 ( 一般为 μm)。考虑到集成电路蚀刻和其他因素的影响， 其有效长度和有效宽度均和设计值存在 一定的误差， 典型情况如蚀刻等引起的长度和宽度变化， 定义考长度和宽度的误差为等效 误差 DelataL 和 DeltaW， 综合或提取电阻值时需要充分考虑 ； 另外， 一般电阻两端需要和金 属引线相连以便于将电阻有效连接在其他电路中， 这两个金属节点会产生固定的端接电阻 Rend1 和 Rend2， 或以 Rend 表示， Rend ＝ Rend1+Rend2。考虑上述因素， 传统的多晶硅电阻 提取表达式变化为下式 ：
R ＝ Rsh×(L+DeltaL)/(W+DeltaW)+Rend， Rend ＝ Rend1+Rend2 式3
式中 DeltaL 和 DeltaW 为蚀刻长度误差与蚀刻宽度误差， Rend 为两端引线造成的 固有电阻。
图 1 是一种经常用于分压电路的电阻模型， Rend1 与 Rend2 分别为两端引线造成的固有电阻， Length 为电阻长度， Width 为电阻宽度， 由于图 1 分压电路的电阻模型中涉及 多个节点 ( 如 Rtap1、 Rtap2、 Rtap3......Rtapn-1 以及 Rtapn)， 故传统二节点电阻提取公 式 ( 式 3) 不能适用。
综上所述， 可知先前技术中存在用于分压电路的电阻模型由于涉及多个节点而无 法采用传统的二节点电阻提取方法提取获得的问题， 因此实有必要提出改进的技术手段， 来解决此一问题。 发明内容
为克服上述现有技术存在的由于用于分压电路的电阻涉及多个节点而无法由传 统的二节点电阻提取方法提取电阻的缺点， 本发明的主要目的在于提供一种电阻模型提取 方法， 其通过对电源模型长度与宽度的改变， 利用传统电阻提取公式提取所需参数值， 以达 到对具有多个节点的分压电路的电阻模型进行准确提取的目的。
为达上述及其它目的， 本发明一种电阻模型提取方法， 该电阻模型具有多个节点 并用于分压电路中， 该方法至少包含 ：
步骤 101， 分别改变该电阻模型的长度与宽度， 并根据传统二节点电阻提取公式， 提取所需参数值 ； 以及
步骤 102， 根据该所需参数值， 提取该电阻模型各个级联电阻的电阻值。 该所需参数值包括电阻率、 蚀刻长度误差、 蚀刻宽度误差以及两端引线造成的固有电阻。 进一步地， 步骤 101 更包括如下步骤 ：
改变该电阻模型的长度， 并在该电组模型两端间加偏置电压， 测量不同长度时电 阻的电阻值， 提取该蚀刻宽度误差 ；
改变该电阻模型的宽度， 并在该电阻模型两端间加偏置电压， 测量不同宽度时电 阻的电阻值， 提取该蚀刻长度误差以及该两端引线造成的固有电阻 ； 以及
选择一组不同长度或宽度的电阻， 在上半部节点或下半部节点间测量节点间的电 阻， 根据该传统二节点电阻提取公式提取获得断电阻。
进一步地， 在步骤 101 之后， 还存在如下步骤 ： 多次改变该电阻模型的长度与宽 度， 并分别根据该传统二节点电阻提取公式提取该所需参数值， 并对多次提取的该所需参 数值进行数值拟合， 以获得该所需参数值的优化值。
该传统二节点提取公式为 ： R ＝ Rsh×(L+DeltaL)/(W+DeltaW)+Rend， 其中， Rsh 为 电阻率， DeltaL 为蚀刻长度误差， DeltaW 为蚀刻宽度误差， Rend 为该电阻模型两端引线造 成的固有电阻
该断电阻为节点连接形成的电阻。
与现有技术相比， 本发明一种电阻模型提取方法通过改变电阻模型的长度与宽 度， 并根据传统二节点电阻提取公式提取所需参数值， 并可通过电路描述语言描述具有该 电阻模型的分压电路， 多次改变电阻模型的长度与宽度， 提取多组所需参数值， 并进行数值 拟合获得更准确的参数值， 可以获得具有多个抽头的电阻网络的各抽头间电阻值， 达到了 对具有多个节点的分压电路的电阻模型进行准确提取的目的， 由此组成的分压电路的分压 也很容易计算。
附图说明
图 1 为常用的分压电路的电阻模型示意图 ； 图 2 为图 1 中电阻模型的等效子电路 ； 图 3 为本发明一种电阻模型提取方法的流程图 ； 图 4 为图 3 中步骤 101 的详细流程图。具体实施方式
以下通过特定的具体实例并结合附图说明本发明的实施方式， 本领域技术人员可 由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其它优点与功效。 本发明亦可通过其它不同 的具体实例加以施行或应用， 本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用， 在不背离 本发明的精神下进行各种修饰与变更。
图 2 为本发明较佳实施例中用于分压电路的抽头电阻模型的等效电路。为便于理 解本发明， 在此将图 1 的电阻模型等效为图 2 的子电路。根据图 2， 本发明用于分压电路的 电阻模型包括多个级联电阻 R1、 R2、 ......R(n/2+1)， 其具有多个节点， 其中， Rtap1、 Rtap3、 Rtap5....Rtapn-1 为上半部节点， Rtap2、 Rtap4、 Rtap6......Rtapn 为下半部节点， 具体来 说， 节点 Rtap1 与节点 Rtap2 为电阻 R1 与电阻 R2 之间的节点， 节点 Rtap3 与节点 Rtap4 为 电阻 R3 与电阻 R4 之间的节点， 依此类推， 节点 Rtap(n-1) 与节点 Rtap(n) 为电阻 R(n/2) 与电阻 R(n/2+1) 之间的节点。
图 3 为本发明之电阻模型提取方法的流程图。本发明之电路模型提取方法， 用于 分压电路， 包括以下步骤 ：
步骤 101， 分别改变电阻模型的长度与宽度， 根据传统二节点电阻提取公式， 提 取所需参数值， 具体来说， 这里的所需参数值包括方块电阻的电阻率 Rsh、 蚀刻长度误差 DeltaL， 时刻宽度误差 DeltaW 以及两端引线造成的固有电阻 Rend， 传统二节点电阻提取公 式为 ： R ＝ Rsh×(L+DeltaL)/(W+DeltaW)+Rend， Rend ＝ Rend1+Rend2， 其中 Rsh 为电阻模型 的方块电阻的电阻率， DeltaL 和 DeltaW 为蚀刻长度误差与蚀刻宽度误差， Rend 为电阻模型 两端引线造成的固有电阻 ； 以及
步骤 102， 通过上述步骤获得的所需参数值， 即可提取具有 n/2 个抽头的电阻模型 的各抽头间的电阻值 ( 共 n/2+1 个电阻 )， 也就可以容易提取该电阻模型中各个级联电阻的 电阻值， 那么由此组成的分压电路的分压也就能很容易计算获得， 这也意味中本发明的电 阻模型能够被提取。
图 4 为本发明较佳实施例中参数提取的详细流程。 本发明较佳实施例中， 步骤 101 更可以包含以下步骤 ：
步骤 101a， 改变电阻模型的长度， 模拟实际应用， 并在电阻 Rend1 和 Rend2 两端间 加偏置电压， 测量不同长度的电阻的阻值， 提取蚀刻宽度误差 DelataW ；
L1 和 L2 长度时电阻分别为 ：
RL1 ＝ Rsh×(L1+DeltaL)/(W+DeltaW)+Rend
RL2 ＝ Rsh×(L2+DeltaL)/(W+DeltaW)+Rend
两式相减得到 RL1-RL2 ＝ Rsh×(L1-L2)/(W+DeltaW)
两式移项相除得到步骤 101b， 改变电阻模型的宽度， 模拟实际应用， 并在电阻 Rend1 和 Rend2 两端间 加偏置电压， 测量不同宽度的电阻的阻值， 提取蚀刻长度误差 DelataL 与两端引线造成的 固有电阻 Rend ；
W1 和 W2 长度时电阻分别为 ：
RW1 ＝ Rsh×(L+DeltaL)/(W1+DeltaW)+Rend
RW2 ＝ Rsh×(L+DeltaL)/(W2+DeltaW)+Rend
两式相减得到 两式移项相除得到这样， 可见通过运算， 即可以获得参数值 Rsh、 DeltaL、 DeltaW、 Rend 的表示式 ；
步骤 101c， 选择一组不同长度或宽度的电阻， 在上半部节点或下半部节点间测量 节点间的电阻， 节点等同于电阻的端点， 端点连接形成的电阻 Rtap 即是端电阻 Rend， 根据 传统提取方法 R ＝ Rsh×(L+DeltaL)/(W+DeltaW)+Rtap 不难得到 Rtap 值。
为更准确的提取本发明的电阻模型， 在步骤 101 之后， 往往还采用如下步骤 ： 多 次改变该电阻模型的长度与宽度， 并分别根据该传统二节点电阻提取公式提取该所需参数 值， 并对多次提取的该所需参数值进行数值拟合， 以获得该所需参数值的优化值。具体来 说， 该步骤可以用电路描述语言来实现， 用电路描述语言描述具有该电阻模型的分压电路， 多次改变电阻模型的长度与宽度， 以多次提取的所需参数值， 并进行数值拟合获得所需参 数值的优化值， 以达到更准确提取本发明电阻模型的目的。以下是本发明较佳实施例中 Hspice 的例子 ：
subckt Rtap rend1 rtap1...rtapn Rend2 l ＝ length w ＝ width
.param lseg ＝ l/(n/2+1)
r01 rend1 rtap1‘Rsh*(lseg+dl)*(w+dw)+rend+rtap’
r02 rtap1 rtap3‘rsh*lseg/w+2rtap’
r(n/2)rtap(n-3)rtap(n-1)‘rsh*lseg/w+2rtap’
r(n/2+1)rtap(n-1)rtend2‘Rsh*(lseg+dl)*(w+dw)+rend+rtap’
.ends Rtap。
可见， 本发明一种电阻模型提取方法通过改变电阻模型的长度与宽度， 并根据传 统的二节点电阻提取公式提取所需参数值， 并可通过电路描述语言描述具有该电阻模型的 电路， 并进行数值拟合获得该所需参数值的优化值， 可以获得具有多个抽头的电阻网络的 各抽头间电阻值， 达到了对具有多个节点的分压电路的电阻模型进行准确提取的目的， 由 此组成的分压电路的分压也很容易计算。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效， 而非用于限制本发明。任何本 领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下， 对上述实施例进行修饰与改变。 因此， 本发明的权利保护范围， 应如权利要求书所列。