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1、10申请公布号CN102103643A43申请公布日20110622CN102103643ACN102103643A21申请号201110025304X22申请日20110124G06F17/4020060171申请人苏州瀚瑞微电子有限公司地址215163江苏省苏州市高新区科技城培源路2号微系统园M1栋3楼72发明人黄新54发明名称芯片测试中存储测试向量的方法57摘要本发明涉及一种芯片测试中存储测试向量的方法，其利用FPGA存储测试向量，通过将测试向量下载到存储器中并用寄存器记录各测试向量在存储器中的位置到达输出测试向量的目的。由于本发明利用了FPGA，而其本身通过编程就可实现存储器的功能和寄。
2、存器的功能以及地址控制器功能，所以为存储测试向量提供了空间。51INTCL19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书2页附图1页CN102103646A1/1页21一种芯片测试中存储测试向量的方法，其利用FPGA存储测试向量，其步骤如下首先，编程使FPGA具有存储器功能和寄存器功能以及地址控制器功能；其次，将所述测试向量通过地址控制器下载到存储器中并用寄存器记录各测试向量在存储器中的地址；最后，所需测试向量从所述寄存器中的地址段输出。2如权利要求1所述的方法，其特征在于所述寄存器记录各测试向量在存储器中的起始地址和终止地址。3如权利要求2所述的方法，其特征在于所述起始。
3、地址和终止地址是暂存在所述寄存器中。4如权利要求2所述的方法，其特征在于所述测试向量从所述寄存器中的位置段输出是指输出相应测试向量的起始地址到终止地址段的内容。5如权利要求4所述的方法，其特征在于所述测试向量的输出是通过地址控制器输出存储器中起始地址和终止地址段的内容。6如权利要求1、2、3或5所述的方法，其特征在于所述存储器具有存储数据功能。7如权利要求1至4中任意一项所述的方法，其特征在于所述寄存器具有暂存数据功能。8如权利要求1所述的方法，其特征在于所述测试向量依次下载后均存储在存储器中的不同位置上。9如权利要求1所述的方法，其特征在于所述地址控制器具有控制地址的功能。权利要求书CN10。
4、2103643ACN102103646A1/2页3芯片测试中存储测试向量的方法技术领域0001本发明涉及一种存储测试向量的方法，尤其是指在芯片测试中存储测试向量的方法。背景技术0002在芯片测试中一般要使用多个测试向量，目前常见的使用方法是若需要哪个测试向量就将对应的测试向量下载到存储器中，然后适时输出到对应的位置。比如现有测试向量四个，分别为A、B、C和D，若需要测试向量A，则需要将A先存储下来然后再输出；若需要测试向量B，则需要将测试向量B存储下来然后再输出，同理完成测试向量C和D的存储及输出。由以上测试方法中可以得出，当需要某一个测试向量时，需要先下载到存储器中然后再输出，当同时有多个测。
5、试向量需要输出时，就需要一个个的分别重复下载操作和输出操作。由于没有一个可分配的存储空间，所以在芯片测试中有若干个测试向量时，就不能一次性的全部下载存储后再选择性的输出，如此以来难免影响芯片的测试效率。0003所以我们希望为用户提供一种新的芯片测试中存储测试向量的方法。发明内容0004本发明实际所要解决的技术问题是如何提供一种新的芯片测试中利用FPGA存储测试向量的方法。0005为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种芯片测试中存储测试向量的方法，其利用FPGA存储测试向量，其步骤如下首先，编程使FPGA具有存储器功能和寄存器功能以及地址控制器功能；其次，将所述测试向量通过地址控制器依次下载。
6、到存储器中并用寄存器记录各测试向量在存储器中的地址；最后，所需测试向量从所述寄存器中的地址段输出。0006本发明所述的芯片测试中存储测试向量的方法，由于其利用了FPGA，而其本身通过编程就可实现存储器的功能和寄存器的功能以及地址控制器的功能，所以可以通过地址控制器为各测试向量灵活地分配存储空间。再者，由于FPGA的空间很大，作为存储器时可以一次存储多个测试向量，所以芯片测试时的效率也大大提升；而通过地址控制器和寄存器可选择性的输出所需各个测试向量，所以也增强了操作的便捷性。附图说明0007图1是本发明芯片测试中存储测试向量的方法流程图。具体实施方式0008下面结合附图和实施例对本发明作进一步的。
7、说明。0009请参考图1所示，本发明所述的芯片测试中存储测试向量的方法中涉及FPGAFIELDPROGRAMMABLEGATEARRAY即现场可编程门阵列，由于其可编程，所以通过编说明书CN102103643ACN102103646A2/2页4程就可使其具有相关功能。因此第一步，我们需要编程使FPGA具有存储器功能，寄存器功能和地址控制器功能。而所述存储器具有存储数据功能，而所述寄存器具有暂存数据功能，而所述地址控制器具有控制地址的功能。如此以来，相当于将FPGA分为三个功能区，一个是存储器功能区，一个寄存器功能区，还有一个地址控制器功能区。然后将所述测试向量通过地址控制器下载到存储器中并用寄。
8、存器记录各测试向量在存储器中的地址；读取上述相应测试向量中的所述地址段，当需要发送哪一个测试向量时，就通过地址控制器和寄存器获取相应测试向量的地址段，然后从输出所述寄存器中地址段的内容。0010下面具体论述芯片测试中利用FPGA存储测试向量并选择性输出的方法。首先编程使FPGA具有存储器功能，寄存器功能和地址控制器功能；先设有四个测试向量A、B、C和D，此时我们可以将上述各个测试向量通过所述地址控制器依次下载到所述存储器中，并记录相应测试向量的起始地址和终止地址，并将其暂存在所述寄存器中。如要将测试向量A下载到所述存储器中，要先通过地址控制器读取此时存储器的地址，比如000作为测试向量A的起始。
9、地址，并将其暂存在寄存器R0中，等测试向量A下载完成后通过地址控制器读取此时的存储器的地址，比如008作为测试向量A的终止地址，并将其暂存在寄存器R1中；要将测试向量B下载到存储器中，要先通过地址控制器读取此时存储器的地址比如009作为测试向量B的起始地址，并将其暂存在寄存器R2中，等测试向量B下载完成后通过地址控制器读取此时的存储器的地址比如015作为测试向量B的终止地址，并将其存储在寄存器R3中；要将测试向量C下载到存储器中，要先通过地址控制器读取此时存储器的地址比如016作为测试向量C的起始地址，并将其暂存在寄存器R4中，等测试向量C下载完成后通过地址控制器读取此时的存储器的地址，比如0。
10、33作为测试向量C的终止地址，并将其存储在寄存器R5中；要将测试向量D下载到存储器中，要先通过地址控制器读取此时存储器的地址比如034作为测试向量D的起始地址，并将其暂存在寄存器R6中，等测试向量D下载完成后通过地址控制器读取此时的存储器的地址比如055作为测试向量D的终止地址，并将其存储在寄存器R7中。当需要发送测试向量B时，只要在寄存器R2中找到相应测试向量B的起始地址009，然后开始输出，等地址到达终止地址即寄存器R3中的值033时停止发送。同理，当需要发送测试向量D时，只要在寄存器R6中找到相应测试向量D的起始地址034，然后开始输出，等地址到达终止地址即寄存器R7中的值055时停止发。
11、送。从上述论述可知，所述各测试向量均可通过地址控制器的控制下载到存储器中并用寄存器记录各个测试向量在存储器中的起始地址和终止地址，将其暂存在所述寄存器中。当需要发送哪一段测试向量时，读取相应测试向量的起始地址和终止地址并通过地址控制器输出所述存储器中起始地址和终止地址间地址段的内容完成测试向量的输出。0011由于本发明可将各测试向量通过地址控制器依次下载到存储器中，即存储器中可一次性的存储多个测试向量，所以调用各测试向量就更加容易；而寄存器是记录各个测试向量在存储器中的起始地址和终止地址，当需要发送某一测试向量时只需要找到相应测试向量的起始地址和终止地址然后通过地址控制器输出起始地址和终止地址之间的存储器内容就可完成对相应测试向量的选择性输出，所以输出效率大大提高；且所有测试向量均可下载到存储器中，所以可选择性的输出各测试向量，也增强了操作的便捷性。说明书CN102103643ACN102103646A1/1页5图1说明书附图CN102103643A。