POWEREDUSB端口测试装置.pdf

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摘要
申请专利号:

CN200910308512.3

申请日:

2009.10.20

公开号:

CN102043701A

公开日:

2011.05.04

当前法律状态:

终止

有效性:

无权

法律详情:

未缴年费专利权终止IPC(主分类):G06F 11/267申请日:20091020授权公告日:20121121终止日期:20131020|||授权|||实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/267申请日:20091020|||公开

IPC分类号:

G06F11/267

主分类号:

G06F11/267

申请人:

鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司

发明人:

丛卫东

地址:

518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

优先权:

专利代理机构:

代理人:

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内容摘要

一种PoweredUSB端口测试装置,包括一用于连接待测PoweredUSB端口的PoweredUSB插头、一采集所述PoweredUSB插头接收的信号的单片机及若干与所述单片机相连的发光二极管,当所述单片机采集到的信号符合要求时,其上对应的发光二极管发光。本发明PoweredUSB端口测试装置简单、体积小、成本低廉,可以用来测试各种PoweredUSB端口。

权利要求书

1: 一种 PoweredUSB 端口测试装置, 包括一 PoweredUSB 插头、 一电源开关、 一单片机 及第一至第四发光二极管, 所述 PoweredUSB 插头包括第一至第八插孔, 所述第一至第四插 孔分别对应 PoweredUSB 端口的 5V 电源引脚、 两数据引脚及接地引脚, 所述第五至第八插 孔分别对应 PoweredUSB 端口的一接地引脚、 两供电引脚及一接地引脚, 所述第一插孔连接 至所述电源开关的第一端, 所述电源开关的第二端通过一第一电阻连接至所述第一发光二 极管的阳极, 所述第一发光二极管的阴极连接至所述第四插孔并接地, 所述第二及第三插 孔分别连接至所述单片机的第一及第二数据引脚, 所述第五及第八插孔均接地, 所述第六 及第七插孔均依次通过一第二电阻及一第三电阻接地, 所述第二及第三电阻之间的节点连 接至所述单片机的第三数据引脚, 所述电源开关的第二端还依次通过一第四电阻及一第五 电阻接地、 通过一第六电阻连接至所述第二发光二极管的阳极、 通过一第七电阻连接至所 述第三发光二极管的阳极、 通过一第八电阻连接至所述第四发光二极管的阳极及连接至 所述单片机的第一电源引脚, 所述第四及第五电阻的节点连接至所述单片机第四数据引 脚, 所述第二至第四发光二极管的阴极连接至所述单片机的第五至第七数据引脚, 当所述 PoweredUSB 插头插接至一待测 PoweredUSB 端口上且所述电源开关闭合时, 所述第一发光 二极管发光, 如果所述单片机正常工作, 则所述第二二极管发光, 如果所述单片机采集到的 待测 PoweredUSB 端口中的供电引脚的电压在正常的范围内时, 则所述第三发光二极管发 光, 如果所述单片机采集到的待测 PoweredUSB 端口中的 5V 电源引脚的电压在正常的范围 内时, 则所述第四发光二极管发光。
2: 如权利要求 1 所述的 PoweredUSB 端口测试装置, 其特征在于 : 所述 PoweredUSB 端 口测试装置还包括一高精度参考电压源芯片, 所述单片机的第二电源引脚通过所述高精度 参考电压源芯片提供一高精度的参考电压。
3: 如权利要求 1 所述的 PoweredUSB 端口测试装置, 其特征在于 : 所述 PoweredUSB 端 口测试装置还包括一与所述单片机的第三电源引脚及第八、 第九数据引脚相连的软件更新 烧录接口, 以更新所述单片机的内部程序。
4: 如权利要求 1 所述的 PoweredUSB 端口测试装置, 其特征在于 : 所述 PoweredUSB 端 口测试装置还包括一与所述单片机的第十及第十一数据引脚相连的温度传感器芯片及一 与所述单片机的第十二数据引脚相连的第五发光二极管, 所述温度传感器芯片用于感测所 述 PoweredUSB 插头在插接到待测 PoweredUSB 端口后的温度, 如果所述温度传感器芯片感 测到温度超出设定值时, 则所述第五发光二极管发光。
5: 如权利要求 1 所述的 PoweredUSB 端口测试装置, 其特征在于 : 所述 PoweredUSB 端 口测试装置还包括一与所述单片机的第十三数据引脚相连的第六发光二极管, 如果所述单 片机采集到的待测 PoweredUSB 端口中的供电引脚的电压不在正常的范围内时, 则所述第 六发光二极管发光。
6: 如权利要求 1 所述的 PoweredUSB 端口测试装置, 其特征在于 : 所述 PoweredUSB 端 口测试装置还包括一与所述单片机的第十四数据引脚相连的第七发光二极管, 如果所述单 片机采集到的待测 PoweredUSB 端口中的 5V 电源引脚的电压不在正常的范围内时, 则所述 第七发光二极管发光。

说明书


PoweredUSB 端口测试装置

    【技术领域】
     本发明涉及一种通信端口测试装置, 特别涉及一种用于测试 PoweredUSB 端口的 测试装置。背景技术
     随着电子设备的飞速发展, 电子设备上的各种端口也随之不断革新, 例如 USB 端 口, 目前已经出现了升级版 USB 端口, 业界称之为 PoweredUSB 端口, 该种 PoweredUSB 端口 与之前的标准 USB 端口的区别在于, 该 PoweredUSB 端口又增加了四个电源引脚, 以实现额 外的供电功能。
     图 1 示意出了一种 PoweredUSB 端口, 其可设置于很多电子设备上如计算机, 其中 引脚 1-4 与现有的标准 USB 端口相同, 包括一 5V 电源引脚 1、 两数据引脚 2-3 及一接地引 脚 4, 引脚 5-8 是额外增加的四个引脚, 包括两个供电引脚 6-7 及两个接地引脚 5 及 8。该 四个引脚 5-8 可提供额外的电压给电子设备供电, 一般包括 5V、 12V、 24V 三种电压模式。
     由于针对 PoweredUSB 端口的测试不但要测试标准引脚 1-4 具有的标准 USB 端口 功能, 还要兼顾测试额外增加的供电引脚 5-8 的电压输出是否符合要求。因此, 设计一种用 于测试 PoweredUSB 端口的测试装置是业界需要解决的问题。 发明内容
     鉴 于 上 述 内 容, 有 必 要 提 供 一 种 PoweredUSB 端 口 测 试 装 置, 以方便测试 PoweredUSB 端口。
     一种 PoweredUSB 端口测试装置, 包括一 PoweredUSB 插头、 一电源开关、 一单片机 及第一至第四发光二极管, 所述 PoweredUSB 插头包括第一至第八插孔, 所述第一至第四插 孔分别对应 PoweredUSB 端口的 5V 电源引脚、 两数据引脚及接地引脚, 所述第五至第八插 孔分别对应 PoweredUSB 端口的一接地引脚、 两供电引脚及一接地引脚, 所述第一插孔连接 至所述电源开关的第一端, 所述电源开关的第二端通过一第一电阻连接至所述第一发光二 极管的阳极, 所述第一发光二极管的阴极连接至所述第四插孔并接地, 所述第二及第三插 孔分别连接至所述单片机的第一及第二数据引脚, 所述第五及第八插孔均接地, 所述第六 及第七插孔均依次通过一第二电阻及一第三电阻接地, 所述第二及第三电阻之间的节点连 接至所述单片机的第三数据引脚, 所述电源开关的第二端还依次通过一第四电阻及一第五 电阻接地、 通过一第六电阻连接至所述第二发光二极管的阳极、 通过一第七电阻连接至所 述第三发光二极管的阳极、 通过一第八电阻连接至所述第四发光二极管的阳极及连接至 所述单片机的第一电源引脚, 所述第四及第五电阻的节点连接至所述单片机第四数据引 脚, 所述第二至第四发光二极管的阴极连接至所述单片机的第五至第七数据引脚, 当所述 PoweredUSB 插头插接至一待测 PoweredUSB 端口上且所述电源开关闭合时, 所述第一发光 如果所述单片机采集到的 二极管发光, 如果所述单片机正常工作, 则所述第二二极管发光, 待测 PoweredUSB 端口中的供电引脚的电压在正常的范围内时, 则所述第三发光二极管发光, 如果所述单片机采集到的待测 PoweredUSB 端口中的 5V 电源引脚的电压在正常的范围 内时, 则所述第四发光二极管发光。
     上述 PoweredUSB 端口测试装置通过所述 PoweredUSB 插头接收待测 PoweredUSB 端口的信号, 并通过所述单片机进行采集, 当采集到的信号符合要求时, 对应的发光二极管 发光, 本发明 PoweredUSB 端口测试装置简单、 体积小、 成本低廉, 可以测试各种 PoweredUSB 端口。 附图说明
     下面参照附图结合具体实施方式对本发明作进一步的描述。
     图 1 为现有 PoweredUSB 端口的示意图。
     图 2 为本发明 PoweredUSB 端口测试装置较佳实施方式的示意图。
     图 3 为本发明 PoweredUSB 端口测试装置较佳实施方式的电路图。 具体实施方式
     请参照图 2 及图 3, 本发明 PoweredUSB 端口测试装置 100 用于测试一电子设备上 的 PoweredUSB 端口, 其较佳实施方式包括一测试箱体 10 及一测试电路 20, 其中所述测试电 路 20 的一部分设置于所述测试箱体 10 的外侧, 另一部分设置于所述测试箱体 10 内, 后续 会详细指出。 所述测试电路 20 包括一 PoweredUSB 插头 21、 一电源开关 22、 一高精度参考电压 源芯片 U1( 如型号为 REF3120AIDBZT)、 一单片机 U2( 如型号为 PIC18F2455-I/SPREL)、 一 温度传感器芯片 U3( 如型号为 LM75BIMX-3)、 一晶振 X、 一软件更新烧录接口 J( 如型号为 HB11061)、 一二极管 D、 七个发光二极管 D1-D7、 十四个电阻 R1-R14、 及九个电容 C1-C9。其 中, 所述 PoweredUSB 插头 21 通过一 USB 线缆 24 穿过所述测试箱体 10 上的通孔 ( 未标号 ) 与所述测试电路 20 的对应组件相连, 所述电源开关 22 及所述发光二极管 D1-D7 均设置于 所述测试箱体 10 的壳体表面上, 除所述 PoweredUSB 插头 21、 所述电源开关 22 及所述发光 二极管 D1-D7 以外的其它组件则均设置于所述测试箱体 10 的壳体内部。
     所述 PoweredUSB 插头 21 包括八个插孔 1a-8a, 当所述 PoweredUSB 插头 21 对应插 接至待测 PoweredUSB 端口内时, 所述插孔 1a-4a 分别对应连接待测 PoweredUSB 端口的 5V 电源引脚、 两数据引脚及接地引脚, 所述插孔 5a-8a 分别对连接待测 PoweredUSB 端口的一 接地引脚、 两供电引脚及一接地引脚。
     在所述测试电路 20 内部, 所述 PoweredUSB 插头 21 的插孔 1a 连接所述电源开关 22 的第一端, 所述电源开关 22 的第二端通过电阻 R1 连接至发光二极管 D1 的阳极, 所述发 光二极管 D1 的阴极连接至所述 PoweredUSB 插头 21 的插孔 4a 并接地。 所述 PoweredUSB 插 头 21 的插孔 2a 及 3a 分别连接至所述单片机 U2 的数据引脚 15 及 16。所述电容 C1 及 C2 均串联在所述电源开关 22 的第二端与所述插孔 4a 之间。所述 PoweredUSB 插头 21 的插孔 5a 及 8a 均接地, 所述插孔 6a 及 7a 均依次通过所述电阻 R10 及 R11 接地, 所述电阻 R10 及 R11 之间的节点连接至所述单片机 U2 的数据引脚 2。
     所述电源开关 22 的第二端还依次通过电阻 R12 及 R13 接地、 通过电阻 R3 连接至 所述发光二极管 D2 的阳极、 通过电阻 R4 连接至所述发光二极管 D3 的阳极、 通过电阻 R5 连
     接至所述发光二极管 D4 的阳极、 通过电阻 R7 连接至所述发光二极管 D5 的阳极、 通过电阻 R8 连接至所述发光二极管 D6 的阳极、 通过电阻 R9 连接至所述发光二极管 D7 的阳极、 连接 至所述高精度参考电压源芯片 U1 的输入端 In、 所述二极管 D 的阴极、 依次通过电阻 R2 及电 容 C6 接地、 连接至所述软件更新烧录接口 J 的引脚 5、 连接至单片机 U2 的电源引脚 20、 及 连接至温度传感器芯片 U3 的电压引脚 8。
     所述电阻 R12 及 R13 的节点连接至单片机 U2 的数据引脚 3。所述高精度参考电压 源芯片 U1 的输入端 In 与接地端 GND 之间串联所述电容 C5, 所述高精度参考电压源芯片 U1 的输出端 Out 连接至所述单片机 U2 的数据引脚 5, 所述高精度参考电压源芯片 U1 的接地端 GND 接地并连接至所述单片机 U2 的电源引脚 8。所述晶振 X 的第一端连接至所述单片机 U2 的时钟引脚 9 及通过电容 C3 接地, 所述晶振 X 的第二端通过电阻 R6 连接至所述单片机 U2 的时钟引脚 10 及通过电容 C4 接地。所述发光二极管 D2-D4 的阴极分别连接至所述单片机 U2 的数据引脚 11-13, 所述单片机 U2 的电源引脚 14 通过电容 C9 接地。所述单片机 U2 的 电源引脚 1 通过电阻 R14 连接至所述电阻 R2 与电容 C6 的节点及所述软件更新烧录接口 J 的引脚 6。所述二极管 D 的阳极连接至所述电阻 R2 与电容 C6 的节点, 所述电容 C7 连接在 所述软件更新烧录接口 J 的引脚 5 与 4 之间, 所述软件更新烧录接口 J 的引脚 4 接地。所 述软件更新烧录接口 J 的引脚 2 及 3 分别连接至所述单片机 U2 的数据引脚 27 及 28。
     所述发光二极管 D5-D7 的阴极分别连接至所述单片机 U2 的数据引脚 23-25, 所述 电容 C8 连接在所述单片机 U2 的电源引脚 19 与 20 之间, 所述单片机 U2 的电源引脚 19 接 地。所述单片机 U2 的数据引脚 21 及 22 分别连接至所述温度传感器芯片 U3 的引脚 1 及 2。 所述温度传感器芯片 U3 的引脚 4 及 5-7 接地。其中, 所述单片机 U2 集成了 USB 通讯模块 以及模 / 数电压转换模块, 同时具有 I2C 通讯功能及数字 I/O 接口, 其内具体程序可根据实 际测试需要加以设计, 芯片型号及引脚连接可根据实际需要加以设计。所述晶振 X 为所述 单片机 U2 提供工作频率。
     其中, 所述温度传感器芯片 U3 用于感测所述 PoweredUSB 端口测试装置 100 在插 接到待测 PoweredUSB 端口后的温度。为保证测试采集电压的精度, 所述高精度参考电压源 芯片 U1 提供了一个高精度的参考电压 ( 如 2V) 给所述单片机 U2。所述软件更新烧录接口 J 用于对单片机 U2 内的程序更新, 已符合新的测试要求。 在其它实施方式中, 如果测试要求 不是很高的话, 也可以删除所述温度传感器芯片 U3、 所述高精度参考电压源芯片 U1( 可将 所述 5V 电源 VCC 直接连接至所述单片机 U2 的数据引脚 5) 及所述软件更新烧录接口 J, 以 进一步降低成本。
     测 试 时, 将 所 述 PoweredUSB 端 口 测 试 装 置 100 的 PoweredUSB 插 头 21 插 接 至 电子设备的待测 PoweredUSB 端口 ( 未示出 ) 上, 开启所述电子设备的电源并按下所述 PoweredUSB 端口测试装置 100 的电源开关 22, 此时所述 PoweredUSB 端口测试装置 100 即 开始测试待测 PoweredUSB 端口的性能是否符合要求, 所述发光二极管 D1 发光, 指示测试开 始。
     如果单片机 U2 正常工作, 则单片机 U2 的内部过程控制所述发光二极管 D2 发光, 反之如果熄灭则说明单片机 U2 工作异常。 如果所述单片机 U2 采集到的待测 PoweredUSB 端 口中的供电引脚的电压在正常的范围内时, 则所述发光二极管 D3 发光而发光二极管 D6 熄 灭, 反之如果发光二极管 D3 熄灭而发光二极管 D6 发光则说明所述供电引脚工作异常。如果所述单片机 U2 采集到的待测 PoweredUSB 端口中的 5V 电源引脚的电压在正常的范围内 时, 则所述发光二极管 D4 发光而发光二极管 D7 熄灭, 反之如果发光二极管 D4 熄灭而发光 二极管 D7 发光则说明所述 5V 电源引脚工作异常。如果温度传感器芯片 U3 感测到的测试 装置 100 的温度超出设定值时, 则所述发光二极管 D5( 如果删除了温度传感器芯片 U3, 则对 应删除 ) 发光。其中, 所述发光二极管 D6 及 D7 可以删除。所述电容 C1-C9 均起到滤波的 作用, 也可根据需要删除, 以降低成本。
     本发明 PoweredUSB 端口测试装置 100 简单、 体积小、 成本低廉, 可以测试各种 PoweredUSB 端口。

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资源描述

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1、10申请公布号CN102043701A43申请公布日20110504CN102043701ACN102043701A21申请号200910308512322申请日20091020G06F11/26720060171申请人鸿富锦精密工业(深圳)有限公司地址518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号申请人鸿海精密工业股份有限公司72发明人丛卫东54发明名称POWEREDUSB端口测试装置57摘要一种POWEREDUSB端口测试装置,包括一用于连接待测POWEREDUSB端口的POWEREDUSB插头、一采集所述POWEREDUSB插头接收的信号的单片机及若干与所述单片机相连的发。

2、光二极管,当所述单片机采集到的信号符合要求时,其上对应的发光二极管发光。本发明POWEREDUSB端口测试装置简单、体积小、成本低廉,可以用来测试各种POWEREDUSB端口。51INTCL19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书4页附图2页CN102043704A1/1页21一种POWEREDUSB端口测试装置,包括一POWEREDUSB插头、一电源开关、一单片机及第一至第四发光二极管,所述POWEREDUSB插头包括第一至第八插孔,所述第一至第四插孔分别对应POWEREDUSB端口的5V电源引脚、两数据引脚及接地引脚,所述第五至第八插孔分别对应POWEREDUS。

3、B端口的一接地引脚、两供电引脚及一接地引脚,所述第一插孔连接至所述电源开关的第一端,所述电源开关的第二端通过一第一电阻连接至所述第一发光二极管的阳极,所述第一发光二极管的阴极连接至所述第四插孔并接地,所述第二及第三插孔分别连接至所述单片机的第一及第二数据引脚,所述第五及第八插孔均接地,所述第六及第七插孔均依次通过一第二电阻及一第三电阻接地,所述第二及第三电阻之间的节点连接至所述单片机的第三数据引脚,所述电源开关的第二端还依次通过一第四电阻及一第五电阻接地、通过一第六电阻连接至所述第二发光二极管的阳极、通过一第七电阻连接至所述第三发光二极管的阳极、通过一第八电阻连接至所述第四发光二极管的阳极及连。

4、接至所述单片机的第一电源引脚,所述第四及第五电阻的节点连接至所述单片机第四数据引脚,所述第二至第四发光二极管的阴极连接至所述单片机的第五至第七数据引脚,当所述POWEREDUSB插头插接至一待测POWEREDUSB端口上且所述电源开关闭合时,所述第一发光二极管发光,如果所述单片机正常工作,则所述第二二极管发光,如果所述单片机采集到的待测POWEREDUSB端口中的供电引脚的电压在正常的范围内时,则所述第三发光二极管发光,如果所述单片机采集到的待测POWEREDUSB端口中的5V电源引脚的电压在正常的范围内时,则所述第四发光二极管发光。2如权利要求1所述的POWEREDUSB端口测试装置,其特征。

5、在于所述POWEREDUSB端口测试装置还包括一高精度参考电压源芯片,所述单片机的第二电源引脚通过所述高精度参考电压源芯片提供一高精度的参考电压。3如权利要求1所述的POWEREDUSB端口测试装置,其特征在于所述POWEREDUSB端口测试装置还包括一与所述单片机的第三电源引脚及第八、第九数据引脚相连的软件更新烧录接口,以更新所述单片机的内部程序。4如权利要求1所述的POWEREDUSB端口测试装置,其特征在于所述POWEREDUSB端口测试装置还包括一与所述单片机的第十及第十一数据引脚相连的温度传感器芯片及一与所述单片机的第十二数据引脚相连的第五发光二极管,所述温度传感器芯片用于感测所述P。

6、OWEREDUSB插头在插接到待测POWEREDUSB端口后的温度,如果所述温度传感器芯片感测到温度超出设定值时,则所述第五发光二极管发光。5如权利要求1所述的POWEREDUSB端口测试装置,其特征在于所述POWEREDUSB端口测试装置还包括一与所述单片机的第十三数据引脚相连的第六发光二极管,如果所述单片机采集到的待测POWEREDUSB端口中的供电引脚的电压不在正常的范围内时,则所述第六发光二极管发光。6如权利要求1所述的POWEREDUSB端口测试装置,其特征在于所述POWEREDUSB端口测试装置还包括一与所述单片机的第十四数据引脚相连的第七发光二极管,如果所述单片机采集到的待测PO。

7、WEREDUSB端口中的5V电源引脚的电压不在正常的范围内时,则所述第七发光二极管发光。权利要求书CN102043701ACN102043704A1/4页3POWEREDUSB端口测试装置技术领域0001本发明涉及一种通信端口测试装置,特别涉及一种用于测试POWEREDUSB端口的测试装置。背景技术0002随着电子设备的飞速发展,电子设备上的各种端口也随之不断革新,例如USB端口,目前已经出现了升级版USB端口,业界称之为POWEREDUSB端口,该种POWEREDUSB端口与之前的标准USB端口的区别在于,该POWEREDUSB端口又增加了四个电源引脚,以实现额外的供电功能。0003图1示意。

8、出了一种POWEREDUSB端口,其可设置于很多电子设备上如计算机,其中引脚14与现有的标准USB端口相同,包括一5V电源引脚1、两数据引脚23及一接地引脚4,引脚58是额外增加的四个引脚,包括两个供电引脚67及两个接地引脚5及8。该四个引脚58可提供额外的电压给电子设备供电,一般包括5V、12V、24V三种电压模式。0004由于针对POWEREDUSB端口的测试不但要测试标准引脚14具有的标准USB端口功能,还要兼顾测试额外增加的供电引脚58的电压输出是否符合要求。因此,设计一种用于测试POWEREDUSB端口的测试装置是业界需要解决的问题。发明内容0005鉴于上述内容,有必要提供一种POW。

9、EREDUSB端口测试装置,以方便测试POWEREDUSB端口。0006一种POWEREDUSB端口测试装置,包括一POWEREDUSB插头、一电源开关、一单片机及第一至第四发光二极管,所述POWEREDUSB插头包括第一至第八插孔,所述第一至第四插孔分别对应POWEREDUSB端口的5V电源引脚、两数据引脚及接地引脚,所述第五至第八插孔分别对应POWEREDUSB端口的一接地引脚、两供电引脚及一接地引脚,所述第一插孔连接至所述电源开关的第一端,所述电源开关的第二端通过一第一电阻连接至所述第一发光二极管的阳极,所述第一发光二极管的阴极连接至所述第四插孔并接地,所述第二及第三插孔分别连接至所述单。

10、片机的第一及第二数据引脚,所述第五及第八插孔均接地,所述第六及第七插孔均依次通过一第二电阻及一第三电阻接地,所述第二及第三电阻之间的节点连接至所述单片机的第三数据引脚,所述电源开关的第二端还依次通过一第四电阻及一第五电阻接地、通过一第六电阻连接至所述第二发光二极管的阳极、通过一第七电阻连接至所述第三发光二极管的阳极、通过一第八电阻连接至所述第四发光二极管的阳极及连接至所述单片机的第一电源引脚,所述第四及第五电阻的节点连接至所述单片机第四数据引脚,所述第二至第四发光二极管的阴极连接至所述单片机的第五至第七数据引脚,当所述POWEREDUSB插头插接至一待测POWEREDUSB端口上且所述电源开关。

11、闭合时,所述第一发光二极管发光,如果所述单片机正常工作,则所述第二二极管发光,如果所述单片机采集到的待测POWEREDUSB端口中的供电引脚的电压在正常的范围内时,则所述第三发光二极管发说明书CN102043701ACN102043704A2/4页4光,如果所述单片机采集到的待测POWEREDUSB端口中的5V电源引脚的电压在正常的范围内时,则所述第四发光二极管发光。0007上述POWEREDUSB端口测试装置通过所述POWEREDUSB插头接收待测POWEREDUSB端口的信号,并通过所述单片机进行采集,当采集到的信号符合要求时,对应的发光二极管发光,本发明POWEREDUSB端口测试装置简。

12、单、体积小、成本低廉,可以测试各种POWEREDUSB端口。附图说明0008下面参照附图结合具体实施方式对本发明作进一步的描述。0009图1为现有POWEREDUSB端口的示意图。0010图2为本发明POWEREDUSB端口测试装置较佳实施方式的示意图。0011图3为本发明POWEREDUSB端口测试装置较佳实施方式的电路图。具体实施方式0012请参照图2及图3,本发明POWEREDUSB端口测试装置100用于测试一电子设备上的POWEREDUSB端口,其较佳实施方式包括一测试箱体10及一测试电路20,其中所述测试电路20的一部分设置于所述测试箱体10的外侧,另一部分设置于所述测试箱体10内,。

13、后续会详细指出。0013所述测试电路20包括一POWEREDUSB插头21、一电源开关22、一高精度参考电压源芯片U1如型号为REF3120AIDBZT、一单片机U2如型号为PIC18F2455I/SPREL、一温度传感器芯片U3如型号为LM75BIMX3、一晶振X、一软件更新烧录接口J如型号为HB11061、一二极管D、七个发光二极管D1D7、十四个电阻R1R14、及九个电容C1C9。其中,所述POWEREDUSB插头21通过一USB线缆24穿过所述测试箱体10上的通孔未标号与所述测试电路20的对应组件相连,所述电源开关22及所述发光二极管D1D7均设置于所述测试箱体10的壳体表面上,除所述。

14、POWEREDUSB插头21、所述电源开关22及所述发光二极管D1D7以外的其它组件则均设置于所述测试箱体10的壳体内部。0014所述POWEREDUSB插头21包括八个插孔1A8A,当所述POWEREDUSB插头21对应插接至待测POWEREDUSB端口内时,所述插孔1A4A分别对应连接待测POWEREDUSB端口的5V电源引脚、两数据引脚及接地引脚,所述插孔5A8A分别对连接待测POWEREDUSB端口的一接地引脚、两供电引脚及一接地引脚。0015在所述测试电路20内部,所述POWEREDUSB插头21的插孔1A连接所述电源开关22的第一端,所述电源开关22的第二端通过电阻R1连接至发光二。

15、极管D1的阳极,所述发光二极管D1的阴极连接至所述POWEREDUSB插头21的插孔4A并接地。所述POWEREDUSB插头21的插孔2A及3A分别连接至所述单片机U2的数据引脚15及16。所述电容C1及C2均串联在所述电源开关22的第二端与所述插孔4A之间。所述POWEREDUSB插头21的插孔5A及8A均接地,所述插孔6A及7A均依次通过所述电阻R10及R11接地,所述电阻R10及R11之间的节点连接至所述单片机U2的数据引脚2。0016所述电源开关22的第二端还依次通过电阻R12及R13接地、通过电阻R3连接至所述发光二极管D2的阳极、通过电阻R4连接至所述发光二极管D3的阳极、通过电阻。

16、R5连说明书CN102043701ACN102043704A3/4页5接至所述发光二极管D4的阳极、通过电阻R7连接至所述发光二极管D5的阳极、通过电阻R8连接至所述发光二极管D6的阳极、通过电阻R9连接至所述发光二极管D7的阳极、连接至所述高精度参考电压源芯片U1的输入端IN、所述二极管D的阴极、依次通过电阻R2及电容C6接地、连接至所述软件更新烧录接口J的引脚5、连接至单片机U2的电源引脚20、及连接至温度传感器芯片U3的电压引脚8。0017所述电阻R12及R13的节点连接至单片机U2的数据引脚3。所述高精度参考电压源芯片U1的输入端IN与接地端GND之间串联所述电容C5,所述高精度参考电。

17、压源芯片U1的输出端OUT连接至所述单片机U2的数据引脚5,所述高精度参考电压源芯片U1的接地端GND接地并连接至所述单片机U2的电源引脚8。所述晶振X的第一端连接至所述单片机U2的时钟引脚9及通过电容C3接地,所述晶振X的第二端通过电阻R6连接至所述单片机U2的时钟引脚10及通过电容C4接地。所述发光二极管D2D4的阴极分别连接至所述单片机U2的数据引脚1113,所述单片机U2的电源引脚14通过电容C9接地。所述单片机U2的电源引脚1通过电阻R14连接至所述电阻R2与电容C6的节点及所述软件更新烧录接口J的引脚6。所述二极管D的阳极连接至所述电阻R2与电容C6的节点,所述电容C7连接在所述软。

18、件更新烧录接口J的引脚5与4之间,所述软件更新烧录接口J的引脚4接地。所述软件更新烧录接口J的引脚2及3分别连接至所述单片机U2的数据引脚27及28。0018所述发光二极管D5D7的阴极分别连接至所述单片机U2的数据引脚2325,所述电容C8连接在所述单片机U2的电源引脚19与20之间,所述单片机U2的电源引脚19接地。所述单片机U2的数据引脚21及22分别连接至所述温度传感器芯片U3的引脚1及2。所述温度传感器芯片U3的引脚4及57接地。其中,所述单片机U2集成了USB通讯模块以及模/数电压转换模块,同时具有I2C通讯功能及数字I/O接口,其内具体程序可根据实际测试需要加以设计,芯片型号及引。

19、脚连接可根据实际需要加以设计。所述晶振X为所述单片机U2提供工作频率。0019其中,所述温度传感器芯片U3用于感测所述POWEREDUSB端口测试装置100在插接到待测POWEREDUSB端口后的温度。为保证测试采集电压的精度,所述高精度参考电压源芯片U1提供了一个高精度的参考电压如2V给所述单片机U2。所述软件更新烧录接口J用于对单片机U2内的程序更新,已符合新的测试要求。在其它实施方式中,如果测试要求不是很高的话,也可以删除所述温度传感器芯片U3、所述高精度参考电压源芯片U1可将所述5V电源VCC直接连接至所述单片机U2的数据引脚5及所述软件更新烧录接口J,以进一步降低成本。0020测试时。

20、,将所述POWEREDUSB端口测试装置100的POWEREDUSB插头21插接至电子设备的待测POWEREDUSB端口未示出上,开启所述电子设备的电源并按下所述POWEREDUSB端口测试装置100的电源开关22,此时所述POWEREDUSB端口测试装置100即开始测试待测POWEREDUSB端口的性能是否符合要求,所述发光二极管D1发光,指示测试开始。0021如果单片机U2正常工作,则单片机U2的内部过程控制所述发光二极管D2发光,反之如果熄灭则说明单片机U2工作异常。如果所述单片机U2采集到的待测POWEREDUSB端口中的供电引脚的电压在正常的范围内时,则所述发光二极管D3发光而发光二。

21、极管D6熄灭,反之如果发光二极管D3熄灭而发光二极管D6发光则说明所述供电引脚工作异常。如说明书CN102043701ACN102043704A4/4页6果所述单片机U2采集到的待测POWEREDUSB端口中的5V电源引脚的电压在正常的范围内时,则所述发光二极管D4发光而发光二极管D7熄灭,反之如果发光二极管D4熄灭而发光二极管D7发光则说明所述5V电源引脚工作异常。如果温度传感器芯片U3感测到的测试装置100的温度超出设定值时,则所述发光二极管D5如果删除了温度传感器芯片U3,则对应删除发光。其中,所述发光二极管D6及D7可以删除。所述电容C1C9均起到滤波的作用,也可根据需要删除,以降低成本。0022本发明POWEREDUSB端口测试装置100简单、体积小、成本低廉,可以测试各种POWEREDUSB端口。说明书CN102043701ACN102043704A1/2页7图1图2说明书附图CN102043701ACN102043704A2/2页8图3说明书附图CN102043701A。

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