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1、10申请公布号CN102347049A43申请公布日20120208CN102347049ACN102347049A21申请号201010299456422申请日20100927201017120720100729JPG11B20/1820060171申请人蒂雅克股份有限公司地址日本东京都72发明人久保充正亲松刚74专利代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司11219代理人谢丽娜关兆辉54发明名称盘检查装置57摘要本发明提供一种不进行硬件的微调整等就能够抑制装置间的检查结果的偏差的盘检查装置。用于检查盘的盘检查装置包括由光拾取器等构成的RF信号取得机构，根据向盘照射重放用激光时得到的反射光的。
2、强度，取得RF信号；解码部40，对输入的RF信号进行纠错的同时进行解码，并输出纠错后的解码数据及出错率；和S/N比调整部42，能够使由上述RF信号取得机构取得并且向解码部40输入之前的RF信号的S/N比劣化为以下的值，即，使得检查品质已知的基准盘时从上述解码部40输出的特定跳动值下的出错率收敛于规定的范围内的值。30优先权数据51INTCL19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书8页附图6页CN102347069A1/1页21一种用于检查盘的盘检查装置，其特征在于，包括RF信号取得机构，根据向盘照射重放用激光时得到的反射光的强度，取得RF信号；解码机构，对输入的RF。
3、信号进行纠错的同时进行解码，并输出纠错后的解码数据及出错率；和S/N比调整机构，能够使由上述RF信号取得机构取得并且向解码机构输入之前的RF信号的S/N比劣化为以下的值，即，使得检查品质已知的基准盘时从上述解码机构输出的特定跳动值下的出错率收敛于规定的范围内的值。2根据权利要求1所述的盘检查装置，其特征在于，上述S/N比调整机构通过对输入到上述解码机构前的RF信号附加白噪声，而使S/N比劣化。3根据权利要求2所述的盘检查装置，其特征在于，上述S/N比调整机构使输入到上述解码机构前的RF信号劣化为以下的值，即，使得检查上述基准盘时从上述解码机构输出的特定跳动值下的出错率和预先规定的基准值间的差最。
4、小的值。4根据权利要求13中任一项所述的盘检查装置，其特征在于，还包括系数乘法机构，该系数乘法机构使从上述解码机构输出的出错率与系数相乘，并将该系数乘法计算后的出错率作为该盘检查装置的检查结果输出，上述系数能够调整为使得检查上述基准盘时在特定跳动值下得到的出错率成为预先规定的基准值的值。5根据权利要求4所述的盘检查装置，其特征在于，上述解码机构包括维特比解码机构，对附加上述噪声后的信号进行维特比解码；和主解码机构，对从上述维特比解码机构输出的数据进行纠错的同时进行解码，并输出纠错后的解码数据和出错率，所述盘检查装置还包括维特比调整机构，该维特比调整机构能够调整上述维特比解码机构的出错率纠正能力。
5、，以使检查上述基准盘时从上述解码机构输出的特定跳动值下的出错率成为收敛于上述规定范围内的值。6根据权利要求5所述的盘检查装置，其特征在于，上述维特比调整机构通过改变在维特比纠正处理中使用的路径存储的存储长度，来调整纠正能力。7一种盘检查装置的调整方法，所述盘检查装置包括解码机构，该解码机构对重放盘时得到的RF信号进行纠错的同时进行解码，并输出纠错后的解码数据和出错率，所述调整方法的特征在于，包括S/N比调整步骤，使输入到上述解码机构的RF信号的S/N比劣化为以下的值，即，使得检查品质已知的基准盘时从上述解码机构输出的特定跳动值下的出错率收敛于规定的范围内的值。权利要求书CN102347049A。
6、CN102347069A1/8页3盘检查装置技术领域0001本发明涉及用于检查盘的盘检查装置。背景技术0002一直以来，能够通过照射激光进行数据的记录重放的光盘等记录介质盘广为人知。在这种盘中，会因经年劣化等导致数据的记录品质劣化，并根据情况而存在难以重放数据、信息损失等情况。在用盘来记录保管各种信息的盘存档DISCARCHIVE中，这样的因盘的劣化而引起的信息损失成为很大的问题。因此，在盘存档中，要求定期检查保管的大量的盘的品质。此外，在进行盘的租借或销售的盘的租借店或二手销售店中，也要求在该光盘的租借、销售之前，检查该盘的品质。0003由于这样的问题，以往提出了很多用于高速检查盘是否良好的。
7、装置。这种检查装置大多具备与通常的盘重放装置同样的盘驱动。并且，检查装置大多用该盘驱动来检查对盘进行重放时的重放品质、例如根据出错率等来检查盘的品质。0004专利文献1JP特开平10302412号公报0005但是，该出错检出量取决于各检查装置中搭载的光功率单元、数据处理的硬件，存在即使在检查同一个盘时也会因检查装置的不同而导致结果不同的情况。结果存在以下问题按照各个检查装置，产生检查结果的偏差，无法正确检查品质。当然，通过更换或微调整配件以使OPU、数据处理的硬件的特性一致，可以减轻这种问题。但是，各种硬件的更换、微调整会产生成本增加、工时增加的新问题。0006另外，在专利文献1中公开了通过变。
8、更在维特比解码处理中使用的路径存储长度来提高出错率的技术，但在这种技术中无法将出错灵敏度过低的检查装置的出错灵敏度修改为适当值。发明内容0007因此，本发明的目的在于提供一种不进行硬件的微调整等就能抑制装置间检查结果的偏差的盘检查装置。0008本发明的盘检查装置是用于检查盘的盘检查装置，其特征在于，包括RF信号取得机构，根据向盘照射重放用激光时得到的反射光的强度，取得RF信号；解码机构，对输入的RF信号进行纠错的同时进行解码，并输出纠错后的解码数据及出错率；和S/N比调整机构，能够使由上述RF信号取得机构取得并且向解码机构输入之前的RF信号的S/N比劣化为以下的值，即，使得检查品质已知的基准盘。
9、时从上述解码机构输出的特定跳动值下的出错率收敛于规定的范围内的值。0009在优选方式中，上述S/N比调整机构通过对输入到上述解码机构前的RF信号附加白噪声，而使S/N比劣化。在其他的优选方式中，上述S/N比调整机构使输入到上述解码机构前的RF信号劣化为以下的值，即，使得检查上述基准盘时从上述解码机构输出的特定跳动值下的出错率和预先规定的基准值间的差最小的值。说明书CN102347049ACN102347069A2/8页40010在其他的优选方式中，还包括系数乘法机构，该系数乘法机构使从上述解码机构输出的出错率与系数相乘，并将该系数乘法计算后的出错率作为该盘检查装置的检查结果输出，上述系数能够调。
10、整为使得检查上述基准盘时在特定跳动值下得到的出错率成为预先规定的基准值的值。0011在其他的优选方式中，上述解码机构包括维特比解码机构，对附加上述噪声后的信号进行维特比解码；和主解码机构，对从上述维特比解码机构输出的数据进行纠错的同时进行解码，并输出纠错后的解码数据和出错率，所述盘检查装置还包括维特比调整机构，该维特比调整机构能够调整上述维特比解码机构的出错率纠正能力，以使检查上述基准盘时从上述解码机构输出的特定跳动值下的出错率成为收敛于上述规定范围内的值。此时优选，上述维特比调整机构通过改变在维特比纠正处理中使用的路径存储的存储长度，来调整纠正能力。0012作为本发明的另一方面的盘检查装置的。
11、调整方法，所述盘检查装置包括解码机构，该解码机构对重放盘时得到的RF信号进行纠错的同时进行解码，并输出纠错后的解码数据和出错率，所述调整方法的特征在于，包括S/N比调整步骤，使输入到上述解码机构的RF信号的S/N比劣化为以下的值，即，使得检查品质已知的基准盘时从上述解码机构输出的特定跳动值下的出错率收敛于规定的范围内的值。0013根据本发明，由于RF信号的S/N比能够在一定范围内劣化，因此即使是出错灵敏度过低的检查装置，也能够调整成接近基准检查装置的出错灵敏度。结果，不进行硬件的微调整等就能抑制装置间检查结果的偏差。附图说明0014图1是表示本发明实施方式的盘检查装置的结构的框图。0015图2。
12、是表示解码单元的详细结构的框图。0016图3是表示各个装置的出错灵敏度差异的图表。0017图4是表示出错灵敏度调整的流程的流程图。0018图5是表示噪声强度/存储长度调整的流程的流程图。0019图6是表示校正系数的计算/设定的流程的流程图。0020图7是表示对检查装置A、B进行了噪声强度/存储长度调整的结果的图表。0021图8是表示对检查装置A进行了系数乘法计算的结果的图表。0022符号说明002310盘检查装置；12主轴马达；16光拾取器；18螺纹马达；14SP驱动器；20SLD驱动器；22LD驱动器；25ACT驱动器；26RF电路；28地址解码电路；30伺服处理器；32系统控制器；36解码。
13、单元；40解码部；42S/N比调整部；44维特比调整部；46系数乘法部；48AD变换器；50自适应滤波器；52维特比解码器；54纠错器；56噪声发生器；58加法器；100盘。具体实施方式0024下面参照附图对本发明的实施方式进行说明。图1是本发明实施方式的盘检查装置10的结构框图。该盘检查装置10是用于检查有无难以进行盘100例如DVD、CD、蓝光盘等的重放的问题缺陷的装置。以下对该盘检查装置10进行详细说明。说明书CN102347049ACN102347069A3/8页50025作为检查对象的CD、DVD等盘100由主轴马达SP12驱动旋转。主轴马达12由SP驱动器14驱动，SP驱动器14由。
14、伺服处理器30进行伺服控制以成为预期的旋转速度。0026光拾取器16与盘100相对配置，包括用于向盘100照射激光的激光二极管LD、接受来自盘100的反射光并将其变换为电信号的光电探测器。光拾取器16由螺纹马达SLD18向盘100的半径方向驱动，螺纹马达18由SLD驱动器20驱动。SLD驱动器20与SP驱动器14同样地由伺服处理器30进行伺服控制。此外，光拾取器16的激光二极管由LD驱动器22驱动，LD驱动器22由自动功率控制电路APC24控制以使驱动电流为预期的值。APC24及LD驱动器22根据来自系统控制器32的指令来控制激光二极管的发光量。在图中LD驱动器22与光拾取器16分开设置，但也。
15、可以将LD驱动器22搭载在光拾取器16上。此外，在光拾取器16上设置有用于驱动物镜的促动器ACT，该促动器由ACT驱动器25驱动。该ACT驱动器25由伺服处理器30进行伺服控制以成为预期的驱动量。0027在检查盘100时，对记录在盘100上的数据进行重放，而在执行该重放时，从光拾取器16的激光二极管照射重放功率的激光，将其反射光用光电探测器变换成电信号并作为RF信号输出。0028来自光拾取器16的RF信号被供给到RF电路26。RF电路26根据RF信号生成聚焦出错信号、跟踪出错信号，并提供到伺服处理器30。伺服处理器30根据这些出错信号对光拾取器16进行伺服控制，将光拾取器16维持为在聚焦ONF。
16、OCUS状态及在轨道ONTRACK状态。此外，RF电路26将RF信号中包含的地址信号经由二值化电路34提供到地址解码电路28。地址解码电路28根据二值化后的地址信号对盘100的地址数据进行解调，并提供到伺服处理器30、系统控制器32。0029此外，RF电路26还将RF信号经由二值化电路34提供到解码单元36。在解码单元36中，对二值化后的RF信号进行解码，并且输出该盘100的出错率。在盘检查装置10中，根据由该解码单元36算出的出错率，判定盘100是否良好。关于该解码单元36的具体情况在以后说明。0030系统控制器32是控制系统整体的动作的部位。本实施方式的系统控制器32，在检测到盘100的装。
17、填时，控制各部位的动作以执行盘100检查处理，该检查处理判定该盘100是否良好、具体地说判定盘100有无难以重放的程度的问题即有无缺陷。最终，根据从解码单元36输出的出错率来判定盘100是否良好，并将其判定结果经由接口电路I/F42提示给用户。此外，该系统控制器32还根据来自用户的指示适当执行解码单元36的出错灵敏度的调整动作，对此在以后详细说明。0031这样的盘检查装置10中的检查结果，希望在所有的检查装置中同等。即，希望在检查某基准盘时得到的出错率在任一个检查装置中都是同等的。但是，出错率乃至出错检出量取决于由光拾取器16等构成的光功率单元OPU、数据检测的硬件，即使是同一种类的检查装置，。
18、大多也会产生偏差。其结果，即使是检查同一盘100，也会出现在某检查装置中判定为良品而在另一检查装置中判定为不良品的情况，存在用户无法正确判断盘100的品质的问题。0032为了避免这种问题，还考虑了对各检查装置各自得到的出错率进行校正以便成为与基准的检查装置同等的灵敏度。即，考虑了以下方法等用基准检查装置以及需要校正的检查装置双方来检查一个基准盘，对检查装置得到的出错率进行校正以成为与由基准检查说明书CN102347049ACN102347069A4/8页6装置得到的出错率相同的值。但是，由于S/N比和出错率的关系为指数函数关系，因此在装置间的检测出错的差异较大时，在上述方法下无法校正。对此，参。
19、照图3进行说明。0033图3是表示通过基准检查装置和其他的检查装置A、B对品质已知的基准盘进行检查的结果的图表。图3中横轴表示跳动JITTER，纵轴表示检测出的出错率。此外，在图3中，白圈表示基准检查装置的检查结果，黑三角表示检查装置A的检查结果，黑方块表示检查装置B的检查结果。0034本来希望在检查装置A、B中均检测出与基准检查装置同等的出错率。但是，由于OPU、数据检测的硬件的差异，如检查装置A所示，在应检测K附近DVD设计中PISUM8280LINE280/1664017附近的出错率的跳动13附近，基本没有检测到出错，检测出错数基本为零。如该检查装置A这样检测出错数基本为零时，无论乘以什。
20、么样的数值，都难以将该出错率校正为与基准装置同等的值。0035反之，如检查装置B那样出错灵敏度很高、在跳动13附近超过出错检测的界限值时，得到的检测出错数也成为无意义的数值。无论对这种无意义的数值乘以什么样的系数来进行校正，都难以得到与基准检查装置同等的出错率。即，如检查装置A、B这样与基准检查装置相比出错灵敏度大幅不同时，仅通过对得到的出错率乘以系数进行校正，难以调整为与基准检查装置同等的出错灵敏度。0036因此，在本实施方式中，为了能够调整检查装置的出错灵敏度，使解码单元36的结构成为特殊的结构。以下对解码单元36的结构进行详细说明。0037图2是解码单元36的详细框图。解码单元36如上所。
21、述，用于对RF信号解码并且输出该盘100的出错率，具有解码部40、S/N比调整部42、维特比调整部44以及系数乘法部46。0038解码部40对RF信号进行纠错的同时进行解码，并输出纠错后的解码数据以及出错率LN。该解码部40包括AD变换器48、自适应滤波器50、维特比解码器52、纠错器54。AD变换器48将输入的模拟信号变换成数字信号。自适应滤波器50为了在后段进行的解码处理，对于输入的RF信号，在适于处于后段的解码器的频率特性进行波形等效处理。在本实施方式中，作为解码器使用维特比解码器52，因此自适应滤波器对于输入的RF信号在PRPARTIALRESPONSE，部分响应特性进行波形等效处理。。
22、0039维特比解码器52根据从自适应滤波器50输出的信号，通过维特比解码方法生成解码数据。维特比解码方法是如下的解码方法从考虑的解码数据值中选择似乎最确信的、即最似然的解码数据值，生成解码数据系列。通过设置这种维特比解码器52，可以改善出错率界限。即，可以防止如图3所示例的检查装置B那样在跳动较低的阶段便超出出错检测界限。然而，在维特比解码下的纠错能力过高时，可能会如图3所示例的检查装置A那样，即使跳动较高也几乎检测不到出错。因此，在本实施方式中，使维特比解码器52的路径存储长度能够调整。即，维特比解码器52通常具有通道时钟N个的路径存储。并且公知，该路径存储的存储长度越长，解码数据的准确度越。
23、高，另外也越容易产生容易受到盘缺陷的影响或解码的延迟增大的问题。在本实施方式中，为了可以进行适当的盘检查，可以通过维特比调整部44使该路径存储长度可变，对此在以后说明。0040纠错器54对从维特比解码器52输出的数据进行纠错的同时进行解码，作为输出纠错后的解码数据及出错率的主解码机构发挥作用。更具体地说，纠错器54对从维特比解说明书CN102347049ACN102347069A5/8页7码器52输出的解码信号，利用里德所罗门乘积码方式，以由16扇区构成的1个ECC块为单位进行纠错处理。并且，纠错器输出通过该纠错处理得到的出错率以及纠错后的解码数据。0041S/N比调整部42用于使输入到上述解。
24、码部40的RF信号的S/N比劣化，包括产生噪声的噪声发生器56；和加法器58，将从该噪声发生器56输出的噪声与输入到解码部40的RF信号相加。在此，作为附加的噪声，可以使用在所有的强度下具有相同强度的白噪声等。此外，劣化程度可以通过变更RF信号的振幅和相加的噪声的振幅的比率来调整。因此，可以通过变更相加的噪声的振幅来调整劣化程度，反之，也可以通过变更RF信号的振幅来调整劣化程度。0042无论怎样，通过这样加上噪声使RF信号的S/N比劣化，出错的检测变得容易，可以防止如图3所示例的检查装置A那样出错率几乎为零的现象。其结果，可以对从解码部40输出的出错率LN施加某种校正，输出与基准的检查装置基本。
25、同等的出错率。由该S/N比调整部42调整的S/N比的劣化程度相加的噪声强度根据在由检查装置检查基准盘时得到的出错率来设定，对此在以后说明。0043维特比调整部44用于调整维特比解码器52的纠错能力。如上所述，维特比解码器42具有通道时钟的N个的路径存储，通过调整该路径存储长度，解码数据的准确度改变。维特比调整部44用于变更该路径存储长度。在该维特比调整部44中，通过加长路径存储长度，可以降低如图3所示例的检查装置B那样早早超出出错检测界限的检查装置的出错灵敏度。反之，通过缩短路径存储长度，可以提高如检查装置A那样几乎检测不到出错的检查装置的出错灵敏度。通过该维特比调整部44调整的路径存储长度的。
26、值，根据在用检查装置检查基准盘时得到的出错率来设定，对此在以后说明。0044系数乘法部46使从纠错器输出的出错率LN与预定的系数相乘而进行校正。该校正后的出错率LM作为该检查装置中的检查结果进行处理。在本实施方式中，利用一次函数LMALNB来校正出错率。在此，LN是校正前的出错率、即从纠错器54输出的出错率，LM是校正后的出错率、即从系数乘法器46输出并作为改检查装置中的检查结果处理的出错率。该一次函数中的系数A、B的具体数值也根据由检查装置检查基准盘时得到的出错率来设定，对此在以后说明。0045接下来对调整该盘检查装置10的出错灵敏度的流程进行说明。图4是表示出错灵敏度调整的流程的流程图。出。
27、错灵敏度的调整处理主要分为噪声强度/存储长度的调整处理S10和校正系数A、B的计算处理S12。图5、6是表示各处理S10、S12的详细流程的流程图。以下参照图5、图6对各处理的流程详细说明。0046首先参照图5说明噪声强度/存储长度的调整处理。在该处理中，以使调整对象的检查装置在基准的检查装置的出错阈值附近具有出错检测灵敏度的方式，调整相加的噪声强度和维特比解码器52的路径存储长度。具体地说，使特定的跳动值G1下的出错率L1收敛在规定的范围。在此，特定的跳动值G1是通过基准的检查装置测定了基准出错率K1的跳动值。调整出错灵敏度时，预先通过基准的检查装置测定基准盘，取得该基准跳动值G1。此外，规。
28、定的范围是指，通过在后段进行的系数乘法计算能够调整为与基准检查装置同等的出错灵敏度的范围。即，在如图3的检查装置A那样几乎检测不到出错、基准跳动值G1下的出错率L1几乎为零的状态下，之后乘以什么样的系数都难以具有与基准检查装置同等的出错灵敏度。反之，在如图3的检查装置B那样在基准跳动值G1的阶段检测出错超出说明书CN102347049ACN102347069A6/8页8界限值的情况下，也是无论乘以什么样的系数都难以具有与基准检查装置同等的出错灵敏度。因此，在本实施方式中，调整与RF信号相加的噪声强度、在维特比解码器52中使用的路径存储长度，成为可以通过在后段进行的系数乘法计算将从解码部40输出。
29、的出错率校正为与基准检查装置同等的出错灵敏度的范围。0047另外，在本实施方式中，为了可以进行更适当的校正，在调整对象的检查装置中设定噪声强度/路径存储长度，以使检查基准盘时得到的基准跳动值G1下的出错率L1和预先规定的基准出错率K1的差最小。以下，对该处理的流程进行详细说明。0048在调整噪声强度/存储长度时，首先将参数I、J初始化，设定为I0、J0S16。然后，将维特比解码器52中使用的路径存储长度设定为PI，此外将噪声发生器56中产生的噪声的强度设定为NJS18、S20。在该状态下，由调整对象的检查装置进行基准盘的检查，取得基准跳动值G1下的出错率LNJ，并将得到的出错率LNJ存储到存储。
30、器中S22、S24。若能得到一个出错率，则确认参数J是否在最大值J以下S26。在JJ时，使参数J增加，并将噪声强度设定为新的值NJS28、S20。并且，再度检查基准盘，取得并存储基准跳动值G1下的出错率LNJS22、S24。反复进行该处理直到JJ为止，然后确认参数I是否在最大值I以下S30。在II时，使参数I增加并将路径存储长度设定为新的值PIS32、S18。并且，直到II为止反复进行上述处理。0049所有的处理完成后，得到I1J1个出错率LNJ。系统控制器32从存储于存储器中的这些出错率LNJ中，确定与基准出错率K1的误差最小的出错率LNJS34。并且，将取得了该确定的出错率LNJ时的噪声强。
31、度NJ、路径存储长度PI，分别作为该检查装置所使用的噪声强度及路径存储长度，设定到S/N比调整部42及维特比调整部44中S34。0050通过这样调整噪声强度、路径存储长度，可以使通过检查装置得到的出错率接近基准的检查装置的出错率。其结果，即使不进行OPU、数据检测的硬件的更换、微调整，也可以通过之后进行的系数乘法计算进行校正。0051图7是表示对检查装置A、B进行了该噪声强度、存储长度调整处理的结果的图表。在图7中，白圈表示基准检查装置的出错率，黑三角表示检查装置A的调整前的出错率，白三角表示检查装置A的调整后的出错率，黑方块表示检查装置B的调整前的出错率，白方块表示检查装置B的调整后的出错率。
32、。0052由该图7可知，通过调整噪声强度、存储长度，调整前基本为零的检查装置A的出错率接近基准检查装置的出错率。此外可知，同样地，在调整前超过了界限值的检查装置B的出错率也通过调整噪声强度、存储长度而接近基准检查装置的出错率。0053另外，通过执行图5所示的处理，在如检查装置A那样出错灵敏度过低的检查装置的情况下，将相加的噪声强度设定得较强，且将维特比解码器52中使用的路径存储长度设定得较短。此外，在如检查装置B那样出错灵敏度过高的检查装置中，将相加的噪声强度设定为零，且将维特比解码器52中使用的路径存储长度设定得较长。0054这样的噪声强度/存储长度的调整处理结束后，接着执行校正系数的计算/。
33、设定S12。图6是表示该校正系数的计算/设定处理的详细流程的流程图。计算系数乘法部46中使用的校正系数A、B时，首先用调整对象的检查装置检查基准盘，取得基准跳动值G1、G2下的出错率L1、L2S40。在此，基准跳动值G1、G2是在用基准检查装置检查基准盘时测定出基准出错率K1、K2的跳动值。说明书CN102347049ACN102347069A7/8页90055在取得基准跳动值G1、G2下的出错率L1、L2后，接着将基准出错率K1、K2和得到的出错率L1、L2代入到以下的公式1、2中，计算在系数乘法部46中使用的一次函数LMALNB的校正系数A、BS42。0056公式10057公式20058另。
34、外，该公式1、公式2是接下来的联立方程式的解。用通过该公式1、2求出的校正系数来校正测定出错率，从而基准跳动值G1、G2下的校正后的出错率与基准出错率K1、K2相等。00590060求出校正系数A、B的值后，系统控制器32将得到的校正系数A、B设定到系数乘法部46中S44。之后，由该校正系数A、B校正后的出错率被作为该检查装置中的检查结果值处理。0061另外，在本实施方式中，为了防止校正后的出错率LM成为负值，对于出错率L1以下的测定值，用LMK1/L1LN来校正。此外，即使是出错率L1以上的测定值，在校正值LM为负值时，可以将校正值固定为零。0062图8是表示通过该系数乘法部46校正了检查装。
35、置A的结果的图表。在图8中，白圈表示基准检查装置的出错率，白三角表示检查装置A的校正前的出错率仅进行了噪声加法计算、路径存储长度调整的状态的出错率，实线表示用上述一次函数校正后的检查装置A的出错率。0063由图8可知，通过用一次函数校正，得到比较接近基准检查装置的值的出错率，出错灵敏度接近基准检查装置。其结果，即使是本来出错灵敏度非常低的检查装置A，也可以输出与基准检查装置同样的出错率。这样通过系数乘法计算进行校正，从而可以使检查装置的输出接近基准检查装置，可以降低各个装置的检查结果的偏差。0064另外，在本实施方式中，利用一次函数进行出错率的校正，但也可以利用更多次的函数进行出错率的校正。例。
36、如，可以利用二次函数LMAX2BXC来进行出错率的校正。在此，设XLNL1、BK1/L1、CK1，并将LMK2、LNL2代入到二次函数中，则成为0065K2AL2L12BL2L1K1，0066二次函数的系数A成为00670068另外，在利用二次函数LMAX2BXC来进行校正时，出错率L1以下的测定值也优选用LMK1/L1LN来校正。0069图8中的虚线表示用该二次函数校正了检查装置A的结果。由该图8可知，通过利用二次函数校正出错率，可以使校正后的出错率更为接近基准的检查装置的出错率。其结果，可以更加降低各个装置的检查结果的偏差。说明书CN102347049ACN102347069A8/8页10。
37、0070由以上说明可知，在本实施方式中，可以在各个检查装置中调整出错灵敏度。其结果，可以吸收根据OPU、数据检测的硬件而微妙变化的出错灵敏度在各个装置中的差异。换言之，根据本实施方式，不需要为了调整出错灵敏度而更换、微调整OPU、数据检测的硬件等。其结果，可以通过比较简易的操作降低检查结果的偏差。说明书CN102347049ACN102347069A1/6页11图1说明书附图CN102347049ACN102347069A2/6页12图2说明书附图CN102347049ACN102347069A3/6页13图3图4说明书附图CN102347049ACN102347069A4/6页14图5说明书附图CN102347049ACN102347069A5/6页15图6图7说明书附图CN102347049ACN102347069A6/6页16图8说明书附图CN102347049A。