新型综合验光试戴架.pdf

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摘要
申请专利号:

CN201621167793.7

申请日:

20161102

公开号:

CN206586921U

公开日:

20171027

当前法律状态:

有效性:

有效

法律详情:

IPC分类号:

A61B3/04,A61B3/036,A61B3/08,A61B3/09

主分类号:

A61B3/04,A61B3/036,A61B3/08,A61B3/09

申请人:

闵国光,羊红军

发明人:

闵国光,羊红军

地址:

518000 广东省深圳市福田区职业技能训练中心宿舍

优先权:

CN201621167793U

专利代理机构:

深圳市凯达知识产权事务所

代理人:

刘大弯;杨会军

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内容摘要

本实用新型公开了一种新型综合验光试戴架,包括:头戴架、屈光度测量装置、散光测量装置和双眼平衡检测装置,所述的屈光度测量装置位于头戴架的内部,在头戴架上设有旋转装置,所述散光装置和双眼平衡检测装置可以在头戴架上自由转动。本实用新型技术方案:不仅可用于验光,还可用于斜弱视、立体视、双眼视及调节滞后和调节超前等功能检查,也可用于斜视、弱视训练与屈光矫正后的试戴。

权利要求书

1.一种新型综合验光试戴架,包括:头戴架、屈光度测量装置、散光测量装置和双眼平衡检测装置,其特征在于:所述的屈光度测量装置位于头戴架的内部,在头戴架上设有旋转装置,所述屈光度测量装置、散光装置和双眼平衡检测装置可以在头戴架上自由转动。 2.根据权利要求1所述的综合验光试戴架,其特征在于:所述的屈光度测量装置包括近视屈光度测量装置和远视屈光度测量装置。 3.根据权利要求1所述的综合验光试戴架,其特征在于:所述头戴架的下部于头部接触部设有垫体。 4.根据权利要求1所述的综合验光试戴架,其特征在于:进一步包括遮盖装置,所述的遮盖装置位于选装装置上,所述的遮盖装置位于近视屈光度测量装置和远视屈光度测量装置上。 5.根据权利要求4所述的综合验光试戴架,其特征在于:进一步包括视孔装置,所述的视孔装置位于选装装置上,所述的旋转装置位于近视屈光度测量装置和远视屈光度测量装置上。

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及一种验光设备,更确切地说是一种头戴多功能综合验光架。

【背景技术】

目前市场上的综合验光设备存在以下问题:价格高昂,成本高,每套在几万至几十万元不等;结构复杂,体积大,导致其移动困难,使用地点受限;转轮系统存在光学缺陷,在矫正高度屈光不正时,验光误差大,影响验光参数可靠性,进而诱发近感知调节,严重影响检查结果的准确性。

【实用新型内容】

针对上述技术问题,本实用新型提供了一种新型综合验光试戴架。

一种新型综合验光试戴架,包括:头戴架、屈光度测量装置、散光测量装置和双眼平衡检测装置,其特征在于:所述的屈光度测量装置位于头戴架的内部,在头戴架上设有旋转装置,所述屈光度测量装置、散光装置和双眼平衡检测装置可以在头戴架上自由转动。

提供一种综合验光试戴架,所述的屈光度测量装置包括近视屈光 度测量装置和远视屈光度测量装置,远视屈光度测量装置位于近视屈光度测量装置的外侧。

提供一种综合验光试戴架,所述头戴架的下部于头部接触部设有垫体。

提供一种综合验光试戴架,进一步包括遮盖装置,所述的遮盖装置位于选装装置上,所述的遮盖装置位于近视屈光度测量装置和远视屈光度测量装置上。

提供一种综合验光试戴架,进一步包括视孔装置,所述的视孔装置位于选装装置上,所述的旋转装置位于近视屈光度测量装置和远视屈光度测量装置上。

本实用新型技术方案:不仅可用于验光,还可用于斜弱视、立体视、双眼视及调节滞后和调节超前等功能检查,也可用于斜视、弱视训练与屈光矫正后的试戴。

【附图说明】

图1是本实用新型综合验光试戴架结构示意图;

图2是本实用新型综合验光试戴架头戴架结构示意图;

图3是本实用新型综合验光试戴架旋转装置结构示意图。

【具体实施方式】

下面结合图1-3对本实用新型技术方案进行详细介绍。

一种新型综合验光试戴架,包括:头戴架10、屈光度测量装置20、 散光测量装置30和双眼平衡检测装置40,屈光度测量装置20固定在头戴架10的内部,在头戴架上设有旋转装置50,所述屈光度测量装置、散光装置和双眼平衡检测装置可以在头戴架上自由转动。

所述头戴架的下部于头部接触部设有垫体11。

所述的屈光度测量装置包括近视屈光度测量装置21和远视屈光度测量装置22,远视屈光度测量装置22位于近视屈光度测量装置21的外侧。

所述散光测量装置用于检查散光,精调散光的轴与度。

所述双眼平衡检测装置用于测量双眼平衡与调节平衡。

所述近视屈光度的测量装置:以0.25D做为梯度进行屈光度的转换,检测近视度数。

所述远视屈光度的测量装置:以0.25D做为梯度进行屈光度的转换,检测远视度数。

所述头戴架用于固定综合验光训练架在验光者头戴的位置。

所述视孔装置采用平光片,用于单眼检测屈光不正而设置的窗口。

所述遮盖装置用于单眼检测时遮盖另一只不测眼。

所述转换装置可以360°自由旋转,根据验光需要,任意调整屈光度。

本实用新型技术方案:不仅可用于验光,还可用于斜弱视、立体视、双眼视及调节滞后和调节超前等功能检查,也可用于斜视、弱视训练与屈光矫正后的试戴。

以上实施例为本实用新型的优选实施例,本实用新型不限于上述实施例,对于本领域普通技术人员而言,在不背离本实用新型技术原理的基础上所做的任何显而易见的改动,都属于本实用新型的构思和所附权利要求的保护范围。

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资源描述

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1、(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 (45)授权公告日 (21)申请号 201621167793.7 (22)申请日 2016.11.02 (73)专利权人 闵国光 地址 518000 广东省深圳市福田区职业技 能训练中心宿舍 专利权人 羊红军 (72)发明人 闵国光 羊红军 (74)专利代理机构 深圳市凯达知识产权事务所 44256 代理人 刘大弯 杨会军 (51)Int.Cl. A61B 3/04(2006.01) A61B 3/036(2006.01) A61B 3/08(2006.01) A61B 3/09(2006.01) (54)实用新型。

2、名称 新型综合验光试戴架 (57)摘要 本实用新型公开了一种新型综合验光试戴 架, 包括: 头戴架、 屈光度测量装置、 散光测量装 置和双眼平衡检测装置, 所述的屈光度测量装置 位于头戴架的内部, 在头戴架上设有旋转装置, 所述散光装置和双眼平衡检测装置可以在头戴 架上自由转动。 本实用新型技术方案: 不仅可用 于验光, 还可用于斜弱视、 立体视、 双眼视及调节 滞后和调节超前等功能检查, 也可用于斜视、 弱 视训练与屈光矫正后的试戴。 权利要求书1页 说明书2页 附图2页 CN 206586921 U 2017.10.27 CN 206586921 U 1.一种新型综合验光试戴架, 包括: 。

3、头戴架、 屈光度测量装置、 散光测量装置和双眼平 衡检测装置, 其特征在于: 所述的屈光度测量装置位于头戴架的内部, 在头戴架上设有旋转 装置, 所述屈光度测量装置、 散光装置和双眼平衡检测装置可以在头戴架上自由转动。 2.根据权利要求1所述的综合验光试戴架, 其特征在于: 所述的屈光度测量装置包括近 视屈光度测量装置和远视屈光度测量装置。 3.根据权利要求1所述的综合验光试戴架, 其特征在于: 所述头戴架的下部于头部接触 部设有垫体。 4.根据权利要求1所述的综合验光试戴架, 其特征在于: 进一步包括遮盖装置, 所述的 遮盖装置位于选装装置上, 所述的遮盖装置位于近视屈光度测量装置和远视屈光。

4、度测量装 置上。 5.根据权利要求4所述的综合验光试戴架, 其特征在于: 进一步包括视孔装置, 所述的 视孔装置位于选装装置上, 所述的旋转装置位于近视屈光度测量装置和远视屈光度测量装 置上。 权 利 要 求 书 1/1 页 2 CN 206586921 U 2 新型综合验光试戴架 【技术领域】 0001 本实用新型涉及一种验光设备, 更确切地说是一种头戴多功能综合验光架。 【背景技术】 0002 目前市场上的综合验光设备存在以下问题: 价格高昂, 成本高, 每套在几万至几十 万元不等; 结构复杂, 体积大, 导致其移动困难, 使用地点受限; 转轮系统存在光学缺陷, 在 矫正高度屈光不正时, 。

5、验光误差大, 影响验光参数可靠性, 进而诱发近感知调节, 严重影响 检查结果的准确性。 【实用新型内容】 0003 针对上述技术问题, 本实用新型提供了一种新型综合验光试戴架。 0004 一种新型综合验光试戴架, 包括: 头戴架、 屈光度测量装置、 散光测量装置和双眼 平衡检测装置, 其特征在于: 所述的屈光度测量装置位于头戴架的内部, 在头戴架上设有旋 转装置, 所述屈光度测量装置、 散光装置和双眼平衡检测装置可以在头戴架上自由转动。 0005 提供一种综合验光试戴架, 所述的屈光度测量装置包括近视屈光 度测量装置和 远视屈光度测量装置, 远视屈光度测量装置位于近视屈光度测量装置的外侧。 0。

6、006 提供一种综合验光试戴架, 所述头戴架的下部于头部接触部设有垫体。 0007 提供一种综合验光试戴架, 进一步包括遮盖装置, 所述的遮盖装置位于选装装置 上, 所述的遮盖装置位于近视屈光度测量装置和远视屈光度测量装置上。 0008 提供一种综合验光试戴架, 进一步包括视孔装置, 所述的视孔装置位于选装装置 上, 所述的旋转装置位于近视屈光度测量装置和远视屈光度测量装置上。 0009 本实用新型技术方案: 不仅可用于验光, 还可用于斜弱视、 立体视、 双眼视及调节 滞后和调节超前等功能检查, 也可用于斜视、 弱视训练与屈光矫正后的试戴。 【附图说明】 0010 图1是本实用新型综合验光试戴。

7、架结构示意图; 0011 图2是本实用新型综合验光试戴架头戴架结构示意图; 0012 图3是本实用新型综合验光试戴架旋转装置结构示意图。 【具体实施方式】 0013 下面结合图1-3对本实用新型技术方案进行详细介绍。 0014 一种新型综合验光试戴架, 包括: 头戴架10、 屈光度测量装置20、 散光测量装置30 和双眼平衡检测装置40, 屈光度测量装置20固定在头戴架10的内部, 在头戴架上设有旋转 装置50, 所述屈光度测量装置、 散光装置和双眼平衡检测装置可以在头戴架上自由转动。 0015 所述头戴架的下部于头部接触部设有垫体11。 0016 所述的屈光度测量装置包括近视屈光度测量装置2。

8、1和远视屈光度测量装置22, 远 说 明 书 1/2 页 3 CN 206586921 U 3 视屈光度测量装置22位于近视屈光度测量装置21的外侧。 0017 所述散光测量装置用于检查散光, 精调散光的轴与度。 0018 所述双眼平衡检测装置用于测量双眼平衡与调节平衡。 0019 所述近视屈光度的测量装置: 以0.25D做为梯度进行屈光度的转换, 检测近视度 数。 0020 所述远视屈光度的测量装置: 以0.25D做为梯度进行屈光度的转换, 检测远视度 数。 0021 所述头戴架用于固定综合验光训练架在验光者头戴的位置。 0022 所述视孔装置采用平光片, 用于单眼检测屈光不正而设置的窗口。。

9、 0023 所述遮盖装置用于单眼检测时遮盖另一只不测眼。 0024 所述转换装置可以360 自由旋转, 根据验光需要, 任意调整屈光度。 0025 本实用新型技术方案: 不仅可用于验光, 还可用于斜弱视、 立体视、 双眼视及调节 滞后和调节超前等功能检查, 也可用于斜视、 弱视训练与屈光矫正后的试戴。 0026 以上实施例为本实用新型的优选实施例, 本实用新型不限于上述实施例, 对于本 领域普通技术人员而言, 在不背离本实用新型技术原理的基础上所做的任何显而易见的改 动, 都属于本实用新型的构思和所附权利要求的保护范围。 说 明 书 2/2 页 4 CN 206586921 U 4 图1 图2 说 明 书 附 图 1/2 页 5 CN 206586921 U 5 图3 说 明 书 附 图 2/2 页 6 CN 206586921 U 6 。

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