光雕片聚焦误差信号校正方法.pdf

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摘要
申请专利号:

CN200910175906.6

申请日:

2009.09.18

公开号:

CN102024467A

公开日:

2011.04.20

当前法律状态:

实审

有效性:

审中

法律详情:

实质审查的生效IPC(主分类):G11B 7/09申请日:20090918|||公开

IPC分类号:

G11B7/09

主分类号:

G11B7/09

申请人:

广明光电股份有限公司

发明人:

赖俊文; 黄伟庭; 郭起祥

地址:

中国台湾桃园县

优先权:

专利代理机构:

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人:

史新宏

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内容摘要

一种光雕片聚焦误差信号校正方法,移动光学读取头至聚焦参考面;利用径向电压移动物镜至预定个校正位置,进行聚焦操作,寻找最佳增益值校正各校正位置聚焦误差信号的不对称性,并记录径向电压及其最佳增益值;根据记录的径向电压及最佳增益值,近似最佳增益值曲线;根据驱动物镜的径向电压,由最佳增益值曲线内外插取得最佳增益值,以校正光雕片聚焦误差信号的不对称性。

权利要求书

1: 一种光雕片聚焦误差信号校正方法,其步骤包含 : (1) 设定聚焦参考面 ; (2) 移动光学读取头至该聚焦参考面 ; (3) 利用径向电压移动物镜至预定个校正位置,进行聚焦操作且寻找最佳增益值校正 各校正位置聚焦误差信号的不对称性,并记录各校正位置径向电压及最佳增益值 ; (4) 根据记录的径向电压及最佳增益值,近似最佳增益值曲线 ;及 (5) 根据驱动物镜的径向电压,由最佳增益值曲线取得最佳增益值,校正光雕片聚焦 误差信号的不对称性。
2: 根据权利要求 1 所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该聚焦参考面为一光盘 片。
3: 根据权利要求 1 所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该步骤 (3) 的最佳增益 值使不对称性的聚焦误差信号的正半周期振幅等于负半周期振幅。
4: 根据权利要求 1 所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该步骤 (3) 进行聚焦操 作后调整聚焦误差信号的信号电平。
5: 根据权利要求 1 所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该步骤 (5) 的最佳增益 值是由最佳增益值曲线内或外差取得。
6: 一种光雕片聚焦误差信号校正方法,其步骤包含 : (1) 将光雕片置入光驱,且不转动光雕片 ; (2) 移动光学读取头至光雕片的操作特征区后静止不动 ; (3) 利用预设径向电压径向移动物镜至一校正位置,进行聚焦操作,取得聚焦误差信 号且调整聚焦误差信号的电平 ; (4) 寻找最佳增益值,校正聚焦误差信号的不对称性,并记录该校正位置的径向电压 及最佳增益值 ; (5) 检查是否已记录预定个校正位置?若未达到预定个校正位置则回至步骤 (3),若 已记录预定个校正位置则进入步骤 (6) ; (6) 根据记录的径向电压及最佳增益值,近似最佳增益值曲线 ;及 (7) 读取操作特征区,根据驱动物镜的径向电压,由最佳增益值曲线取得最佳增益 值,以校正光雕片聚焦误差信号的不对称性。
7: 根据权利要求 6 所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该预设径向电压为不相 同径向电压,以获得分散的校正位置。
8: 根据权利要求 6 所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该预设径向电压为等差 径向电压,以获得分散的校正位置。
9: 根据权利要求 6 所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该步骤 (4) 的最佳增益 值使不对称性的聚焦误差信号的正半周期振幅等于负半周期振幅。
10: 根据权利要求 6 所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该步骤 (4) 是转动光 雕片且移动光学读取头以读取操作特征区。
11: 根据权利要求 6 所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该步骤 (7) 的最佳增 益值是由最佳增益值曲线内或外差取得。

说明书


光雕片聚焦误差信号校正方法

    技术领域 本发明有关一种光驱,尤其是关于光驱的光学读取头在光雕片标签面内环聚焦 时,校正聚焦误差信号对称性的方法。
     背景技术 一般的光盘片有两面,一面为数据面,一面为标签面,已知制作标签的方法为 利用笔或标签贴纸在标签面上做记号以为识别。 近来发展出光雕 (Light Scribe) 标签的技 术,利用光驱的光学读取头 (Pick-up Head) 发射一激光,将使用者所需的图形文字刻划 在光雕片的标签面上,制作美观且个人化的光盘片。
     如图 1 所示,为先前技术光学读取头读写光雕片标签面示意图。 其中光雕片 10 标签面内环包含了一操作特征区 (Control Feature Zone)11,操作特征区 11 内缘部分设 置有 400 个幅丝 (Spoke)12,前述幅丝 12 以等角度的方式平均分布在操作特征区 11 内 缘。 通过对幅丝 12 的读取与判断,提供光学读取头 20 在标签区 13 进行描绘时相对位置 的角度定位。 操作特征区 11 外缘部分则提供了光雕片 10 的相关信息记号,例如 :媒体 ID(Media ID Field)、锯齿型式样 (saw-tooth) 以及索引标记 (index mark) 等,而数据记号 区及非数据记号区是以相差较大光反射率的材质区分。
     由于光雕片 10 的制造厂商、制程及材料有所差异,光学读取头 20 为在标签区 13 描绘出正确的图形文字,必须在进行描绘之前,先读取光雕片 10 操作特征区 11 所记 录的相关信息,以便将描绘光雕片 10 的策略参数调整至最佳状态。 读取信息时,先前 技术的光学读取头 20,利用不同大小的电压形成电磁力,驱动由弹线 21 悬浮支撑的物镜 (Lens)22 上下左右移动,并对由主轴马达 23 转动光雕片 10 的操作特征区 11 发射一激光 束,根据光检测器 24 中各受光部 A、 B、 C 及 D 所接收反射光点 (Spot)25 的光通量,由 (A+C)-(B+D) 经放大器 26 放大信号,计算得到聚焦误差信号 (Focusing Error Signal,简 称 FE)。 利用零穿越的聚焦误差信号 S 曲线 (S-curve),让物镜 22 聚焦锁定在操作特征 区 11 位置,以利光学读取头 20 正确读取操作特征区 11 的信息。
     然而,光学读取头 20 的光路设计、制造及组装误差,会造成受光部 (A+C) 与 (B+D) 受光不对称,导致产生上下不对称的聚焦误差信号,而无法正确聚焦。 先前技术 虽然使用固定的增益值 G 校正受光部,使 FE = G(A+C)-(B+D),以消除聚焦误差信号 的上下不对称性。 但是固定的增益值 G 一般是以物镜 22 位于光学读取头 20 中心取得。 当物镜 22 移离光学读取头 20 中心,因光路变化及物镜 22 角度偏移,反射光点 (Spot)25 不对称照射状态亦随之改变。 固定的增益值 G 对其他物镜 22 位置,不是太大就是可能过 小,并无法改善聚焦误差信号的不对称性,甚至恶化不对称性,进而容易导致聚焦伺服 无法正确地进行聚焦。 尤其在读取光雕片 10 操作特征区的数据时,操作特征区的聚焦误 差信号原属较差,再加上光反射率较差的非数据记号区,不对称性聚焦误差信号的较小 一半信号将再急遽萎缩,以致漏失聚焦误差信号而失焦,增加重新聚焦读取时间,降低 标签描绘的效率。 因此,先前技术光驱的光学读取头在改善聚焦误差信号的对称上,仍
     有问题亟待解决。 发明内容 本发明的目的在于提供一种光雕片聚焦误差信号校正方法,通过径向校正光学 读取头的聚焦误差信号对称的最佳增益值,以改善聚焦误差信号的对称性。
     本发明另一目的在于提供一种光雕片聚焦误差信号校正方法,通过近似最佳增 益值曲线,加强光雕片操作特征区的聚焦伺服,以降低聚焦的失败机会。
     本发明再一目的在于提供一种光雕片聚焦误差信号校正方法,通过内或外插近 似最佳增益值曲线,取得聚焦误差信号对称的最佳增益值,正确读取操作特征区的数 据,以利描绘标签。
     为了达到前述发明的目的,本发明的光雕片聚焦误差信号校正方法,设定聚焦 参考面 ;移动光学读取头至该聚焦参考面 ;利用径向电压移动物镜至预定个校正位置, 进行聚焦操作且寻找最佳增益值校正各校正位置聚焦误差信号的不对称性,并记录各校 正位置径向电压及最佳增益值 ;根据记录的径向电压及最佳增益值,近似最佳增益值曲 线 ;根据驱动物镜的径向电压,由最佳增益值曲线取得最佳增益值,校正光雕片聚焦误 差信号的不对称性。
     本发明的光雕片聚焦误差信号校正方法,在绘制光雕片时,将光雕片置入光 驱,且不转动光雕片 ;移动光学读取头至光雕片的操作特征区后静止不动 ;利用不相同 或等差的预设径向电压径向移动物镜至一校正位置,进行聚焦操作,取得聚焦误差信号 且调整聚焦误差信号的电平 ;寻找最佳增益值,校正聚焦误差信号的不对称性,并记录 该校正位置的径向电压及最佳增益值 ;检查已记录预定个校正位置,根据记录的径向电 压及最佳增益值,近似最佳增益值曲线 ;读取操作特征区,根据驱动物镜的径向电压, 由最佳增益值曲线取得最佳增益值,以校正光雕片聚焦误差信号的不对称性。
     附图说明
     图 1 为先前技术光学读取头读写光雕片标签面的示意图。
     图 2(a) 至 (d) 为本发明光学读取头在校正位置校正聚焦误差信号的示意图。
     图 3 为本发明操作特征区聚焦误差信号校正的示意图。
     图 4 为本发明校正过程产生的聚焦误差信号。
     图 5 为本发明校正过程的最佳增益值。
     图 6 为本发明近似的最佳增益值曲线。
     图 7 为本发明光雕片聚焦误差信号对称校正方法的流程图。
     [ 主要元件标号说明 ]
     30 光学读取头 31 光雕片 32 操作特征区
     33 物镜 34 光检测器 35 反射光点 具体实施方式
     有关本发明为达成上述目的,所采用的技术手段及其功效,兹举较佳实施例, 并配合图式加以说明如下。请参考图 2(a) 至 (d),图 2(a) 至 (d) 为本发明光学读取头在校正位置校正聚焦 误差信号过程的示意图。 如图 2(a) 所示,进行校正时,将光学读取头 30 移动对准一聚焦 参考面后静止不动,聚焦参考面为例如一般光盘片的数据面等可聚焦的平面,本实施例 的聚焦参考面系以光雕片 31 的操作特征区 32 为例,且让光雕片 31 静止不转动,以免光 反射率相差较大的数据记号区及非数据记号区交叉通过,干扰校正。 光学读取头 30 再以 一径向电压 Vt,驱动物镜 33 沿着平行光雕片 31 标签面的径向方向 T 移动至一校正位置。 接着利用聚焦电压 Vf,驱动物镜 33 沿着垂直光雕片 31 标签面的聚焦方向 F 移动。 如图 2(b) 所示,在该校正位置,当聚焦电压 Vf 随着时间的增加,驱动物镜 33 沿着聚焦方向 F 向上移动,使由物镜 33 投射光束的焦点接近并穿越操作特征区 32,进行聚焦操作。 如 图 2(c) 所示,在该校正位置,物镜 33 完成聚焦操作后,光学读取头 30 会产生一不对称 的 S 曲线聚焦误差信号,聚焦误差信号的正半周期振幅 H 不等于负半周期的振幅 h,且聚 焦误差信号电平有所偏移,需先调整内部电路的偏压使聚焦误差信号以电平 L 为准。 如 图 2(d) 所示,再根据聚焦误差信号不相同大小振幅的正半周期及负半周期,寻找一增益 值 G,将负半周期振幅 h 乘上增益值 G 进行校正,使得正半周期振幅 H 等于负半周期振 幅 h 乘以增益值 G,即 H = h×G,以取得该校正位置的最佳增益值 G,完成一校正位置 的校正操作。
     请同时参考图 3、图 4 以及图 5,图 3 为本发明在操作特征区聚焦误差信号校正 的示意图,图 4 为校正过程产生的聚焦误差信号,图 5 为校正的最佳增益值曲线。 如图 3 所示,本实施例以可聚焦的光雕片 31 操作特征区 32 作为聚焦参考面。 操作特征区 32 的 径向宽度约为 650μm,进行校正过程中,光学读取头 30 静止不动对着操作特征区 32, 在光学读取头 30 中以不同的径向电压 Vt 驱动物镜 33 至数个分散的校正位置,本实施例 中利用五个不同的径向电压 Vt1、 Vt2、 Vt3、 Vt4、 Vt5,将物镜 33 移动至五个间距约为 150μm 的校正位置。 并利用光检测器 34 接收每一校正位置激光束经过操作特征区 32 反 射的反射光点 35,以产生聚焦误差信号。
     如图 4 所示,依照前述图 2 对单一校正位置校正聚焦误差信号的过程,一一分别 对各校正位置进行聚焦操作,可获得各校正位置聚焦误差信号的 S 曲线,各 S 曲线具有不 同大小的正半周期振幅 H1、 H2、 H 3、 H4、 H5 与负半周期振幅 h1、 h2、 h3、 h4、 h5, 调整电平 L 使得各校正位置的 S 曲线信号基准一致。 如图 5 所示,对各校正位置分别寻 找最佳增益值 G,以调整各校正位置不对称的聚焦误差信号 S 曲线,让各校正位置聚焦误 差信号 S 曲线的正半周期振幅等于负半周期振幅,即 H1 = h1×G1、 H2 = h2×G2、 H3 = h3×G3、H4 = h4×G4、H5 = h5×G5。 分别记录各校正位置的径向电压 Vt1、Vt2、 Vt3、 Vt4、 Vt5 及其相对的最佳增益值 G1、 G2、 G3、 G4、 G5。
     如图 6 所示,为近似的最佳增益值曲线。 根据前述记录各校正位置的径向电压 Vt1、 Vt2、 Vt3、 Vt4、 Vt5 为横坐标,而其相对的最佳增益值 G1、 G2、 G3、 G4、 G5 为 纵坐标,可近似出该光学读取头的最佳增益值曲线。 当光学读取头以任一径向电压 Vtn 驱动物镜移动一距离,进行聚焦伺服时,就可根据径向电压 Vtn,由最佳增益值曲线内或 外插出,相对应的最佳增益值 Gn,使该校正位置的不对称的聚焦误差信号 S 曲线,在增 益校正后,正半周期振幅等于负半周期振幅,达到校正聚焦误差信号的对称性的目的。
     请参考图 7,图 7 为本发明光雕片聚焦误差信号对称校正方法的流程图。 本发明利用最佳增益值曲线径向校正聚焦误差信号对称性的详细步骤说明如下 :首先在步骤 R1 开始校正程序,将光雕片置入光驱,不转动标签面且正对光学读取头 ;进入步骤 R2 移动 光学读取头至操作特征区后静止不动 ;在步骤 R3,利用预设径向电压径向移动物镜至一 校正位置,该预设径向电压可为不相同或等差径向电压,以获得分散的校正位置 ;进入 步骤 R4 在校正位置进行聚焦,以取得聚焦误差信号的 S 曲线 ;进入步骤 R5,调整聚焦误 差信号 S 曲线的信号电平 ;进入步骤 R6 寻找最佳增益值,校正聚焦误差信号 S 曲线的正 半周期振幅等于负半周期振幅,并记录该校正位置的径向电压及最佳增益值 ;在步骤 R7 检查是否已记录预定个校正位置?若未达到预定个校正位置则回至步骤 R3,若已记录预 定个校正位置则进入步骤 R8。
     在步骤 R8,根据前述记录各校正位置的径向电压及其最佳增益值,近似光学读 取头的最佳增益值曲线 ;再进入步骤 R9,转动光雕片,并移动光学读取头读取操作特征 区 ;在步骤 R10 根据光学读取头驱动物镜的径向电压,由最佳增益值曲线内或外插出, 相对应的最佳增益值 ;步骤 R11 校正聚焦误差信号 S 曲线的不对称性,让正半周期振幅 等于负半周期振幅。 最后步骤 R12,读取操作特征区后,结束校正。
     因此,本发明光雕片聚焦误差信号校正方法,即可通过径向校正聚焦误差信号 对称的最佳增益值,近似最佳增益值曲线,利用内或外插近似最佳增益值曲线,取得聚 焦误差信号对称的最佳增益值,改善聚焦误差信号的对称性,避免光雕片操作特征区不 良的聚焦特性,加强光雕片操作特征区的聚焦伺服,降低聚焦的失败机会,正确读取操 作特征区的数据,以利描绘标签。
     以上所述者,仅用以方便说明本发明的较佳实施例,本发明的范围不限于该等 较佳实施例,凡依本发明所做的任何变更,于不脱离本发明的精神下,皆属本发明权利 要求的范围。

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1、10申请公布号CN102024467A43申请公布日20110420CN102024467ACN102024467A21申请号200910175906622申请日20090918G11B7/0920060171申请人广明光电股份有限公司地址中国台湾桃园县72发明人赖俊文黄伟庭郭起祥74专利代理机构北京市柳沈律师事务所11105代理人史新宏54发明名称光雕片聚焦误差信号校正方法57摘要一种光雕片聚焦误差信号校正方法,移动光学读取头至聚焦参考面;利用径向电压移动物镜至预定个校正位置,进行聚焦操作,寻找最佳增益值校正各校正位置聚焦误差信号的不对称性,并记录径向电压及其最佳增益值;根据记录的径向电压及。

2、最佳增益值,近似最佳增益值曲线;根据驱动物镜的径向电压,由最佳增益值曲线内外插取得最佳增益值,以校正光雕片聚焦误差信号的不对称性。51INTCL19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书4页附图5页CN102024481A1/1页21一种光雕片聚焦误差信号校正方法,其步骤包含1设定聚焦参考面;2移动光学读取头至该聚焦参考面;3利用径向电压移动物镜至预定个校正位置,进行聚焦操作且寻找最佳增益值校正各校正位置聚焦误差信号的不对称性,并记录各校正位置径向电压及最佳增益值;4根据记录的径向电压及最佳增益值,近似最佳增益值曲线;及5根据驱动物镜的径向电压,由最佳增益值曲线取得最。

3、佳增益值,校正光雕片聚焦误差信号的不对称性。2根据权利要求1所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该聚焦参考面为一光盘片。3根据权利要求1所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该步骤3的最佳增益值使不对称性的聚焦误差信号的正半周期振幅等于负半周期振幅。4根据权利要求1所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该步骤3进行聚焦操作后调整聚焦误差信号的信号电平。5根据权利要求1所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该步骤5的最佳增益值是由最佳增益值曲线内或外差取得。6一种光雕片聚焦误差信号校正方法,其步骤包含1将光雕片置入光驱,且不转动光雕片;2移动光学读取头至光雕片的操作特征区后静止不动;3利用预设。

4、径向电压径向移动物镜至一校正位置,进行聚焦操作,取得聚焦误差信号且调整聚焦误差信号的电平;4寻找最佳增益值,校正聚焦误差信号的不对称性,并记录该校正位置的径向电压及最佳增益值;5检查是否已记录预定个校正位置若未达到预定个校正位置则回至步骤3,若已记录预定个校正位置则进入步骤6;6根据记录的径向电压及最佳增益值,近似最佳增益值曲线;及7读取操作特征区,根据驱动物镜的径向电压,由最佳增益值曲线取得最佳增益值,以校正光雕片聚焦误差信号的不对称性。7根据权利要求6所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该预设径向电压为不相同径向电压,以获得分散的校正位置。8根据权利要求6所述的光雕片聚焦误差信号校正方法。

5、,其中该预设径向电压为等差径向电压,以获得分散的校正位置。9根据权利要求6所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该步骤4的最佳增益值使不对称性的聚焦误差信号的正半周期振幅等于负半周期振幅。10根据权利要求6所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该步骤4是转动光雕片且移动光学读取头以读取操作特征区。11根据权利要求6所述的光雕片聚焦误差信号校正方法,其中该步骤7的最佳增益值是由最佳增益值曲线内或外差取得。权利要求书CN102024467ACN102024481A1/4页3光雕片聚焦误差信号校正方法技术领域0001本发明有关一种光驱,尤其是关于光驱的光学读取头在光雕片标签面内环聚焦时,校正聚焦误差。

6、信号对称性的方法。背景技术0002一般的光盘片有两面,一面为数据面,一面为标签面,已知制作标签的方法为利用笔或标签贴纸在标签面上做记号以为识别。近来发展出光雕LIGHTSCRIBE标签的技术,利用光驱的光学读取头PICKUPHEAD发射一激光,将使用者所需的图形文字刻划在光雕片的标签面上,制作美观且个人化的光盘片。0003如图1所示,为先前技术光学读取头读写光雕片标签面示意图。其中光雕片10标签面内环包含了一操作特征区CONTROLFEATUREZONE11,操作特征区11内缘部分设置有400个幅丝SPOKE12,前述幅丝12以等角度的方式平均分布在操作特征区11内缘。通过对幅丝12的读取与判。

7、断,提供光学读取头20在标签区13进行描绘时相对位置的角度定位。操作特征区11外缘部分则提供了光雕片10的相关信息记号,例如媒体IDMEDIAIDFIELD、锯齿型式样SAWTOOTH以及索引标记INDEXMARK等,而数据记号区及非数据记号区是以相差较大光反射率的材质区分。0004由于光雕片10的制造厂商、制程及材料有所差异,光学读取头20为在标签区13描绘出正确的图形文字,必须在进行描绘之前,先读取光雕片10操作特征区11所记录的相关信息,以便将描绘光雕片10的策略参数调整至最佳状态。读取信息时,先前技术的光学读取头20,利用不同大小的电压形成电磁力,驱动由弹线21悬浮支撑的物镜LENS2。

8、2上下左右移动,并对由主轴马达23转动光雕片10的操作特征区11发射一激光束,根据光检测器24中各受光部A、B、C及D所接收反射光点SPOT25的光通量,由ACBD经放大器26放大信号,计算得到聚焦误差信号FOCUSINGERRORSIGNAL,简称FE。利用零穿越的聚焦误差信号S曲线SCURVE,让物镜22聚焦锁定在操作特征区11位置,以利光学读取头20正确读取操作特征区11的信息。0005然而,光学读取头20的光路设计、制造及组装误差,会造成受光部AC与BD受光不对称,导致产生上下不对称的聚焦误差信号,而无法正确聚焦。先前技术虽然使用固定的增益值G校正受光部,使FEGACBD,以消除聚焦误。

9、差信号的上下不对称性。但是固定的增益值G一般是以物镜22位于光学读取头20中心取得。当物镜22移离光学读取头20中心,因光路变化及物镜22角度偏移,反射光点SPOT25不对称照射状态亦随之改变。固定的增益值G对其他物镜22位置,不是太大就是可能过小,并无法改善聚焦误差信号的不对称性,甚至恶化不对称性,进而容易导致聚焦伺服无法正确地进行聚焦。尤其在读取光雕片10操作特征区的数据时,操作特征区的聚焦误差信号原属较差,再加上光反射率较差的非数据记号区,不对称性聚焦误差信号的较小一半信号将再急遽萎缩,以致漏失聚焦误差信号而失焦,增加重新聚焦读取时间,降低标签描绘的效率。因此,先前技术光驱的光学读取头在。

10、改善聚焦误差信号的对称上,仍说明书CN102024467ACN102024481A2/4页4有问题亟待解决。发明内容0006本发明的目的在于提供一种光雕片聚焦误差信号校正方法,通过径向校正光学读取头的聚焦误差信号对称的最佳增益值,以改善聚焦误差信号的对称性。0007本发明另一目的在于提供一种光雕片聚焦误差信号校正方法,通过近似最佳增益值曲线,加强光雕片操作特征区的聚焦伺服,以降低聚焦的失败机会。0008本发明再一目的在于提供一种光雕片聚焦误差信号校正方法,通过内或外插近似最佳增益值曲线,取得聚焦误差信号对称的最佳增益值,正确读取操作特征区的数据,以利描绘标签。0009为了达到前述发明的目的,本。

11、发明的光雕片聚焦误差信号校正方法,设定聚焦参考面;移动光学读取头至该聚焦参考面;利用径向电压移动物镜至预定个校正位置,进行聚焦操作且寻找最佳增益值校正各校正位置聚焦误差信号的不对称性,并记录各校正位置径向电压及最佳增益值;根据记录的径向电压及最佳增益值,近似最佳增益值曲线;根据驱动物镜的径向电压,由最佳增益值曲线取得最佳增益值,校正光雕片聚焦误差信号的不对称性。0010本发明的光雕片聚焦误差信号校正方法,在绘制光雕片时,将光雕片置入光驱,且不转动光雕片;移动光学读取头至光雕片的操作特征区后静止不动;利用不相同或等差的预设径向电压径向移动物镜至一校正位置,进行聚焦操作,取得聚焦误差信号且调整聚焦。

12、误差信号的电平;寻找最佳增益值,校正聚焦误差信号的不对称性,并记录该校正位置的径向电压及最佳增益值;检查已记录预定个校正位置,根据记录的径向电压及最佳增益值,近似最佳增益值曲线;读取操作特征区,根据驱动物镜的径向电压,由最佳增益值曲线取得最佳增益值,以校正光雕片聚焦误差信号的不对称性。附图说明0011图1为先前技术光学读取头读写光雕片标签面的示意图。0012图2A至D为本发明光学读取头在校正位置校正聚焦误差信号的示意图。0013图3为本发明操作特征区聚焦误差信号校正的示意图。0014图4为本发明校正过程产生的聚焦误差信号。0015图5为本发明校正过程的最佳增益值。0016图6为本发明近似的最佳。

13、增益值曲线。0017图7为本发明光雕片聚焦误差信号对称校正方法的流程图。0018主要元件标号说明001930光学读取头31光雕片32操作特征区002033物镜34光检测器35反射光点具体实施方式0021有关本发明为达成上述目的,所采用的技术手段及其功效,兹举较佳实施例,并配合图式加以说明如下。说明书CN102024467ACN102024481A3/4页50022请参考图2A至D,图2A至D为本发明光学读取头在校正位置校正聚焦误差信号过程的示意图。如图2A所示,进行校正时,将光学读取头30移动对准一聚焦参考面后静止不动,聚焦参考面为例如一般光盘片的数据面等可聚焦的平面,本实施例的聚焦参考面系以。

14、光雕片31的操作特征区32为例,且让光雕片31静止不转动,以免光反射率相差较大的数据记号区及非数据记号区交叉通过,干扰校正。光学读取头30再以一径向电压VT,驱动物镜33沿着平行光雕片31标签面的径向方向T移动至一校正位置。接着利用聚焦电压VF,驱动物镜33沿着垂直光雕片31标签面的聚焦方向F移动。如图2B所示,在该校正位置,当聚焦电压VF随着时间的增加,驱动物镜33沿着聚焦方向F向上移动,使由物镜33投射光束的焦点接近并穿越操作特征区32,进行聚焦操作。如图2C所示,在该校正位置,物镜33完成聚焦操作后,光学读取头30会产生一不对称的S曲线聚焦误差信号,聚焦误差信号的正半周期振幅H不等于负半。

15、周期的振幅H,且聚焦误差信号电平有所偏移,需先调整内部电路的偏压使聚焦误差信号以电平L为准。如图2D所示,再根据聚焦误差信号不相同大小振幅的正半周期及负半周期,寻找一增益值G,将负半周期振幅H乘上增益值G进行校正,使得正半周期振幅H等于负半周期振幅H乘以增益值G,即HHG,以取得该校正位置的最佳增益值G,完成一校正位置的校正操作。0023请同时参考图3、图4以及图5,图3为本发明在操作特征区聚焦误差信号校正的示意图,图4为校正过程产生的聚焦误差信号,图5为校正的最佳增益值曲线。如图3所示,本实施例以可聚焦的光雕片31操作特征区32作为聚焦参考面。操作特征区32的径向宽度约为650M,进行校正过。

16、程中,光学读取头30静止不动对着操作特征区32,在光学读取头30中以不同的径向电压VT驱动物镜33至数个分散的校正位置,本实施例中利用五个不同的径向电压VT1、VT2、VT3、VT4、VT5,将物镜33移动至五个间距约为150M的校正位置。并利用光检测器34接收每一校正位置激光束经过操作特征区32反射的反射光点35,以产生聚焦误差信号。0024如图4所示,依照前述图2对单一校正位置校正聚焦误差信号的过程,一一分别对各校正位置进行聚焦操作,可获得各校正位置聚焦误差信号的S曲线,各S曲线具有不同大小的正半周期振幅H1、H2、H3、H4、H5与负半周期振幅H1、H2、H3、H4、H5,调整电平L使得。

17、各校正位置的S曲线信号基准一致。如图5所示,对各校正位置分别寻找最佳增益值G,以调整各校正位置不对称的聚焦误差信号S曲线,让各校正位置聚焦误差信号S曲线的正半周期振幅等于负半周期振幅,即H1H1G1、H2H2G2、H3H3G3、H4H4G4、H5H5G5。分别记录各校正位置的径向电压VT1、VT2、VT3、VT4、VT5及其相对的最佳增益值G1、G2、G3、G4、G5。0025如图6所示,为近似的最佳增益值曲线。根据前述记录各校正位置的径向电压VT1、VT2、VT3、VT4、VT5为横坐标,而其相对的最佳增益值G1、G2、G3、G4、G5为纵坐标,可近似出该光学读取头的最佳增益值曲线。当光学读。

18、取头以任一径向电压VTN驱动物镜移动一距离,进行聚焦伺服时,就可根据径向电压VTN,由最佳增益值曲线内或外插出,相对应的最佳增益值GN,使该校正位置的不对称的聚焦误差信号S曲线,在增益校正后,正半周期振幅等于负半周期振幅,达到校正聚焦误差信号的对称性的目的。0026请参考图7,图7为本发明光雕片聚焦误差信号对称校正方法的流程图。本发明说明书CN102024467ACN102024481A4/4页6利用最佳增益值曲线径向校正聚焦误差信号对称性的详细步骤说明如下首先在步骤R1开始校正程序,将光雕片置入光驱,不转动标签面且正对光学读取头;进入步骤R2移动光学读取头至操作特征区后静止不动;在步骤R3,。

19、利用预设径向电压径向移动物镜至一校正位置,该预设径向电压可为不相同或等差径向电压,以获得分散的校正位置;进入步骤R4在校正位置进行聚焦,以取得聚焦误差信号的S曲线;进入步骤R5,调整聚焦误差信号S曲线的信号电平;进入步骤R6寻找最佳增益值,校正聚焦误差信号S曲线的正半周期振幅等于负半周期振幅,并记录该校正位置的径向电压及最佳增益值;在步骤R7检查是否已记录预定个校正位置若未达到预定个校正位置则回至步骤R3,若已记录预定个校正位置则进入步骤R8。0027在步骤R8,根据前述记录各校正位置的径向电压及其最佳增益值,近似光学读取头的最佳增益值曲线;再进入步骤R9,转动光雕片,并移动光学读取头读取操作。

20、特征区;在步骤R10根据光学读取头驱动物镜的径向电压,由最佳增益值曲线内或外插出,相对应的最佳增益值;步骤R11校正聚焦误差信号S曲线的不对称性,让正半周期振幅等于负半周期振幅。最后步骤R12,读取操作特征区后,结束校正。0028因此,本发明光雕片聚焦误差信号校正方法,即可通过径向校正聚焦误差信号对称的最佳增益值,近似最佳增益值曲线,利用内或外插近似最佳增益值曲线,取得聚焦误差信号对称的最佳增益值,改善聚焦误差信号的对称性,避免光雕片操作特征区不良的聚焦特性,加强光雕片操作特征区的聚焦伺服,降低聚焦的失败机会,正确读取操作特征区的数据,以利描绘标签。0029以上所述者,仅用以方便说明本发明的较佳实施例,本发明的范围不限于该等较佳实施例,凡依本发明所做的任何变更,于不脱离本发明的精神下,皆属本发明权利要求的范围。说明书CN102024467ACN102024481A1/5页7图1说明书附图CN102024467ACN102024481A2/5页8图2说明书附图CN102024467ACN102024481A3/5页9图3图4说明书附图CN102024467ACN102024481A4/5页10图5图6说明书附图CN102024467ACN102024481A5/5页11图7说明书附图CN102024467A。

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