光盘及光盘装置.pdf

本发明提供一种光盘。在从光入射侧观察位于里侧的第一信息记录层，设置再生专用的控制数据区域(304a)、第一测试区域(306a)、以及第二测试区域(315a)，在位于跟前侧的第二信息记录层，在控制数据区域(304a)的对面的位置设置第三测试区域(304b)，在第二测试区域(315a)的对面的位置设置第四测试区域(315b)。这样，在可记录的两层光盘中，在哪一层都可实现精度优良的记录学习。

1.  一种光盘装置，用于对光盘进行信息的记录或再生，所述光盘包括第一信息记录层和第二信息记录层，所述第一信息记录层中形成有：预先记录有控制数据的读出专用的控制数据区域；位于所述控制数据区域的外周的第一测试区域；和位于所述第一测试区域的外周的第二测试区域，所述第二信息记录层的记录再生用的光入射面与所述第一信息记录层的记录再生用的光入射面在同一侧，且该第二信息记录层中形成有：位于所述控制数据区域的半径位置的第三测试区域；和位于所述第二测试区域的半径位置的第四测试区域，
该光盘装置包括：
光头，其将光照射到所述光盘，并输出与来自所述光盘的反射光相对应的信号；
光头驱动机构，其根据规定的记录条件来驱动所述光头；和
控制机构，其根据从所述光头输出的所述信号来控制所述光头驱动机构；
所述控制机构在所述第二测试区域或所述第四测试区域进行学习之前，在所述第一测试区域或所述第三测试区域进行学习，确定对所述第一信息记录层或所述第二信息记录层的记录再生条件。

光盘及光盘装置
本申请是申请日为2005年9月26日、申请号为200580018569.X、发明名称为“光盘及光盘装置”的发明专利申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及具有两个信息记录层并在各层具有测试区域的光盘。另外，本发明还涉及对所述光盘进行记录的光盘装置。测试区域用于调整驱动的各种条件、例如用于学习记录条件。
背景技术
近年来，随着光盘的高密度化、大容量化的不断发展，确保光盘的可靠性变得尤为重要。为了确保该可靠性，在对这种光盘进行记录或再生的光盘装置中，进行记录学习来求得对光盘进行的记录再生条件(参照专利文献1)。
记录学习是指，使与照射到光盘上的激光脉冲相关的脉冲条件最佳的动作。脉冲条件是指，例如包括与记录时照射到光盘上的激光脉冲的功率值、或者激光脉冲的产生时序及长度等相关的条件。
另外，正盛行如下的技术的开发：相对于记录再生用的光束，在位于跟前侧的位置还配置半透明的信息记录层，使其和里侧的信息记录层构成两层，使记录容量倍增。即使是这样的两层光盘也需要记录学习，分别在相对于光束位于跟前侧的层(称作L1层)和里侧的层(称作L0层)，在记录数据之前进行记录条件的学习(参照专利文献2)。
但是，在以往的记录学习中，有可能会出现无法在L0层提取最佳的记录条件的现象。具体而言，在记录学习中，还考虑以比适于记录数据的记录功率(设为Pwo1)高很多的测试记录功率来记录测试信号。因此认为：即使是在记录功率Pwo1的条件下L1层的记录的有无不会对L0层的记录品质带来影响的光盘，在上述那样的测试记录功率下，光束通过L1层时受到强度变化等的影响，得不到L0层的记录功率的最佳值(设为Pwo0)
专利文献1：特开2001-338422号公报
专利文献2：特开2000-311346号公报
发明内容
本发明鉴于上述问题而实现，目的在于提供一种光盘装置，在具有两层可记录的信息记录层的光盘中，任一层都可以实现精度优良的记录学习。本发明的另一个目的在于提供一种利用所述光盘进行记录学习的光盘装置。
本发明的光盘是可以记录用户数据，且具有记录再生用光的光入射面相同的第一和第二两个信息记录层的光盘。第一信息记录层至少包括：用于调整驱动的各种条件的位于内周的第一测试区域、用于调整驱动的各种条件的位于外周的第二测试区域、和用于记录用户数据的第一数据记录区域。第二信息记录层至少包括：用于调整驱动的各种条件的位于内周的第三测试区域、用于调整驱动的各种条件的位于外周的第四测试区域、和用于记录用户数据的第二数据记录区域。第一测试区域和第三测试区域被配置在相互不重合的半径位置。第二测试区域和第四测试区域被配置在相互大致相同的半径位置。由此，达到上述目的。
这里，例如，第一信息记录层是离光入射面远的一侧的层，第二信息记录层是离光入射面近的一侧的层。第一测试区域和第三测试区域可以是用于学习内周的记录条件的区域。第二测试区域和第四测试区域可以是用于学习外周的记录条件的区域。
还可以具有下述特征：第一信息记录层至少包括读出专用的控制数据区域，在控制数据区域的对面的位置，配置第三测试区域。
还可以具有下述特征：控制数据区域通过压纹状的凹坑、波动凹槽、或波动凹坑，预先记录控制数据。
还可以具有下述特征：在第一信息记录层中，从内周侧开始按照顺序至少配置控制数据区域、第一测试区域、第一数据记录区域；在第二信息记录层中，从内周侧开始按照顺序至少配置第三测试区域、第二数据记录区域。
还可以具有下述特征：第一测试区域的最内周的半径R1和第三测试区域的最外周的半径R2之间的差，在第一信息记录层的轨道的偏心量和第二信息记录层的轨道的偏心量之和以上。
还可以具有下述特征：将与第一信息记录层的轨道的偏心量和第二信息记录层的轨道的偏心量之和相当的距离、和读出光被汇聚于第一信息记录层时第二信息记录层中的读出光的光束半径相加而得到一距离，半径R1和半径R2之间的差在所得到的距离以上。
还可以具有下述特征：将与第一信息记录层的轨道的偏心量和第二信息记录层的轨道的偏心量之和相当的距离、和第一信息记录层的轨道始端的半径位置公差与第二信息记录层的轨道始端的半径位置公差之和相加而得到一距离，半径R1和半径R2之间的差在所得到的距离以上。
还可以具有下述特征：从光入射面至第一信息记录层的距离，与具有单一的信息记录层的光盘中的、光入射面与单一的信息记录层之间的距离相等。
还可以具有下述特征：在控制数据区域存储着与第一信息记录层相关的控制数据，和与第二信息记录层相关的控制数据双方。
还可以具有下述特征：从内周侧向外周侧或从外周侧向内周侧连续地进行向测试区域的写入。
还可以具有下述特征：数据的写入从第一信息记录层向第二信息记录层连续地进行，第一信息记录层是相对于光入射面在里侧的层，第二信息记录层是相对于光入射面在跟前侧的层。
另外本发明的光盘装置，是用于对权利要求1～11中任一项的光盘进行记录的光盘装置，包括：光头、光头驱动机构和控制机构。光头将光照射到光盘，并输出与来自光盘的反射光相对应的信号。光头驱动机构根据规定的记录条件来驱动光头。控制机构根据从光头输出的信号来控制光头驱动机构。控制机构在第一测试区域和第三测试区域进行记录学习，确定对第一信息记录层和第二信息记录层的每一个的最佳记录条件。
(发明效果)
根据本发明的两层光盘，由于是第一测试区域和第三测试区域不重合的结构，所以即使当因位于光入射侧跟前位置的信息记录层的记录状态使得透过的光束的强度受到影响时，也可以在里侧的信息记录层进行适当的记录学习。
另外，由于是在数据记录区域的外周设置第二测试区域和第四测试区域，所以即使在外周也可以进行记录学习，能够遍及数据记录区域整个面进行良好的记录。
另外，由于是第二测试区域和第四测试区域重叠的结构，所以可以减少数据记录区域的记录容量的缩小。
附图说明
图1是表示本发明实施方式一的光盘101的结构的示意图；
图2是表示本发明实施方式一的两层光盘的结构的图；
图3是表示本发明实施方式一的两层光盘的区域结构的图；
图4是表示本发明实施方式一的光盘区域主要部分的半径位置关系的配置图；
图5是表示轨道的偏心量与(R1-R2)的关系的图；
图6是表示轨道始端位置的公差与(R1-R2)的关系的图；
图7是表示激光的光束半径与(R1-R2)的关系的图；
图8是表示本发明实施方式二的光盘区域主要部分的半径位置关系的配置图；
图9是表示光盘装置的概要的框图；
图10是对记录学习进行说明的流程图。
图中：101-光盘；102-轨道；201-基板；202-第一信息记录层；203-空白层；204-第二信息记录层；205-光透过层；304a-控制数据区域；306a-第一测试区域；304b-第三测试区域；315a-第二测试区域；315b-第四测试区域。
具体实施方式
本发明的光盘在L0层和L1层双方都具有测试区域，在成为基准面的L0层具有：压纹(emboss)状的凹坑(pit)、由摇摆(wobble)凹槽或摇摆凹坑构成的控制数据区域，在L0控制数据区域的对面的位置配置L1层的测试区域。
下面，参照附图对本发明的实施方式进行说明。
(实施方式一)
图1表示本发明实施方式一的光盘101的结构，尤其表示第一信息记录层的结构。
在光盘101，以同心圆状形成有多个轨道(track)102。或者也可以在光盘101以螺旋状形成有单一的轨道102，也可以以螺旋状形成有多个轨道102。
光盘101的区域包括预记录区域103和可记录区域104。
在预记录区域103存储有为了访问光盘101所需的各种参数。
在可记录区域104进行记录学习或用户数据的记录再生。
图2表示本发明的单面两层型光盘的结构。
在图2中，201是基板，202是第一信息记录层，203是粘接树脂等的空白(space)层，204是第二信息记录层，205是光透过层。从光透过层205一侧对光盘照射激光，在第一信息记录层(L0层)202以及第二信息记录层(L1层)204记录并再生数据。
在本实施方式的两层光盘中，第一信息记录层202相对于光入射面的位置(轴向位置)，与只具有一个信息记录层的单层光盘(未图示)的信息记录层相对于光入射面的位置(轴向位置)相同。
对第一信息记录层202以及第二信息记录层204，也可以以螺旋状形成轨道，还可以以螺旋状形成多个轨道。
图3表示图2所示的两层光盘上配置的区域的结构。
第一信息记录层的预记录区域301a是如下所示的区域：通过形成在基板201或空白层203的轨道的摇摆形状、或者压纹凹坑、或者波动的压纹凹坑等来记录两层光盘的识别信息等的信息。
预记录区域301a包括：作为缓冲区的保护区域303a；和控制数据区域304a，其至少记录如下信息中的至少一个作为光盘的识别信息：盘类型、盘尺寸、盘结构、沟道位(channel bit)、数据区段配置、记录线速度、可再生最大功率、记录功率信息、记录脉冲信息、盘固有信息。
控制数据区域304a包括与第一信息记录层相关的信息和与第二信息记录层相关的信息两者。
第二信息记录层的预记录区域301b至少包括作为缓冲区的保护区域303b。
第一信息记录层的可记录区域302a，在预记录区域301a和可记录区域302a的轨道间距不同时也可以用作轨道间距的过渡区域，包括；保护区域305a、第一测试区域306a、缓冲区域307a、用于存储光盘的各种特性等的信息的驱动管理信息区域308a、缓冲区域309a、记录用户数据等的用户数据记录区域310a、第二测试区域315a、缓冲区域311a、用于将来扩展的保留区域312a、缓冲区域313a和保护区域314a。
第二信息记录层的可记录区域302b包括第三测试区域304b和保护区域305b，保护区域305b被配置在与第一信息记录层的保护区域305a相同的半径位置。
此外，第二信息记录层的第三测试区域304b被配置在与第一信息记录层的控制数据区域304a相同的半径位置，或者外周侧半径位置相等地配置。
第二信息记录层的可记录区域302b包括用于将来扩展的保留区域306b、缓冲区域307b以及保留区域308b，分别与第一信息记录层的第一测试区域306a、缓冲区域307a以及驱动管理信息区域308a配置在相同的半径位置。
另外，第二信息记录层的可记录区域302b包括缓冲区域309b、记录用户数据等的用户数据记录区域310b、第四测试区域315b、缓冲区域311b、用于将来扩展的保留区域312b、缓冲区域313b和保护区域314b，分别与第一信息记录层的缓冲区域309a、用户数据记录区域310a、第二测试区域315a、缓冲区域311a、用于将来扩展的保留区域312a、缓冲区域313a、保护区域314a配置在相同的半径位置。
用图4表示以上说明的光盘区域的主要部分的半径位置关系的配置图。
在图4中，上部分表示第一信息记录层的保护区域303a、控制数据区域304a、保护区域305a、第一测试区域306a、缓冲区域307a、驱动管理信息区域308a、缓冲区域309a、用户数据记录区域310a和第二测试区域315a。在该图中，下部表示第二信息记录层的保护区域303b、第三测试区域304b、保护区域305b、保留区域306b、缓冲区域307b、保留区域308b、缓冲区域309b、用户数据记录区域310b和第四测试区域315b。
第三测试区域304b被配置在与控制数据区域304a相对的半径位置(重叠的半径位置)，第三测试区域304b的最外周半径R2与控制数据区域304a的最外周半径相同，且其最内周半径大于等于控制数据区域304a的最内周半径。由于控制数据区域304a的控制数据仅通过将光束照到凹坑或轨道的摇摆形状并检测反射光量而被再生，所以在光束透过第二信息记录层时，即使受到因第三测试区域304b的记录状态带来的强度变化，也几乎不会对控制数据的再生信号品质产生影响。
另外，第三测试区域304b被配置在与第一测试区域306a不同的半径，所以正确地进行第一层的记录学习，且不会对第一测试区域306a造成影响。
第四测试区域315b被配置在与第二测试区域315a相对的大致相同的半径位置。可以在大致相同的半径位置进行配置是因为：只要在内周的第一测试区域306a和第三测试区域304b进行了记录学习之后，就能以接近最佳功率的功率进行外周的第二测试区域315a和第四测试区域315b的记录学习，所以透过率变化等对其他层造成的影响小。通过该配置，即使在外周也可以进行记录学习，可以补偿因倾斜(tilt)等引起的外周的记录特性的变化，在盘整个面得到更好的记录品质。另外，由于可配置在相同的半径，所以可以减少用户数据的记录容量的缩小。
另外，本实施方式的光盘为两层，但在考虑只具有所述第一信息记录层的单层光盘时，由于在这样的单层光盘没有第二信息记录层，所以不需要用于避开来自第二信息记录层的测试区域的影响的区域。在本实施方式的光盘中，通过将控制数据区域304a被配置在与第三测试区域304b重叠的半径，从而不需要与第三测试区域304b对置地在第一信息记录层追加区域，所以可以采用与上述单层光盘相同的区域结构。例如，可以让用户数据记录区域310a以及310b的最内周半径R0与单层光盘相同，所以也不会缩小用户数据的记录容量。因此，在单层光盘和两层光盘，用户数据记录区域的半径和地址不变，所以用光盘装置进行记录再生时，光束的访问也变得容易，可以避免用户数据等的记录容量的缩小。
另外，在控制数据区域304a和第一测试区域306a之间，存在保护区域305a，具有与第一测试区域306a的最内周半径R1和第三测试区域304b的最外周半径R2之间的差相当的宽度。
考虑第一信息记录层的轨道的偏心量Δe1、第二信息记录层的轨道的偏心量Δe2、激光被汇聚于一方信息记录层时的另一方信息记录层中的激光的光束半径D、第一信息记录层的轨道始端的半径位置的公差Δr1、第二信息记录层的轨道始端的半径位置的公差Δr2等，来设定保护区域305a的宽度(R1-R2)。更详细地说，如图5所示，即使在各个信息记录层的轨道分别只偏心了Δe1、Δe2的情况下，也按照在第一测试区域306a和第三测试区域304b不重合的半径位置进行配置的方式，来确定保护区域305a的宽度(R1-R2)。即，保护区域305a的宽度(R1-R2)被确定为至少在Δe1+Δe2以上。另外，如图6所示，即使各个信息记录层的轨道始端的半径位置分别具有公差Δr1、Δr2，按照在第一测试区域306a和第三测试区域304b不重合的半径位置进行配置的方式，来确定保护区域305a的宽度(R1-R2)。即，保护区域305a的宽度(R1-R2)被确定为至少在Δr1+Δr2以上。另外，如图7所示，当激光被汇聚于一方的层的测试区域时，按照不对另一方的层的测试区域照射激光的方式，来确定保护区域305a的宽度(R1-R2)。即，保护区域305a的宽度(R1-R2)被确定为至少在D以上。
由此，即使存在轨道的偏心或公差时，也可以使第一测试区域306a和第三测试区域304b不重合，可以适当地进行记录学习。一般，由于存在轨道的偏心或公差在两层之间为相反方向的情况，还存在同时发生的情况，所以假定为最差的情况，则保护区域305a的宽度(R2-R1)被设定为在Δe1+Δe2+Δr1+Δr2+D以上。
此外，通过采用该结构，由于在控制数据区域304a存储着第一信息记录层和第二信息记录层双方的记录脉冲等介质固有信息，所以存在如下优点：首先若访问第一信息记录层则可获得所有识别信息，光盘驱动的启动动作变快。
另外，在本实施方式的两层光盘中对用户数据进行记录再生的光盘装置，一般对于单层光盘也能记录再生用户数据。本实施方式的两层光盘，由于在相对于光入射面与单层光盘的信息记录层位于相同位置的第一信息记录层配置控制数据区域304a，所以在将该两层光盘装在光盘装置中时，可以在光学上相同的条件下将光束照射于控制数据区域304a。由此，存在可顺畅地读取识别信息的效果。
(实施方式二)
图8表示本发明的其他实施方式中的光盘区域的主要部分的半径位置关系的配置图。
在该图中，上部分表示第一信息记录层的保护区域503a、控制数据区域504a、保护区域505a、第一测试区域506a、缓冲区域507a、驱动管理信息区域508a、缓冲区域509a、用户数据记录区域510a和第二测试区域515a。在该图中，下部表示第二信息记录层的保护区域503b、第三测试区域504b、保留区域505b、保护区域506b、保留区域507b、缓冲区域508b、保留区域509b、缓冲区域510b、用户数据记录区域511b和第四测试区域515b。其他的结构以及各区域的内容与图3所示的实施方式1的两层光盘实质相同，所以省略详细的说明。
第三测试区域504b被配置在与控制数据区域504a相对的半径位置，其最内周半径R3大于等于控制数据区域504a的最内周半径R4，且其最外周半径R5比控制数据区域504a的最外周半径小。由于控制数据区域504a的控制数据仅通过将光束照到凹坑或轨道的摇摆形状并检测反射光量而被再生，所以在光束透过第二信息记录层时，即使受到因第三测试区域504b的记录状态而引起的强度变化，也几乎不会对控制数据的再生信号品质产生影响。
另外，第三测试区域504b配置在与第一测试区域506a不同的半径，所以能正确地进行第一层的记录学习，且不会对第一测试区域506a造成影响。
第四测试区域515b被配置在与第二测试区域515a相对的大致相同的半径位置。可以在大致相同的半径位置进行配置是因为：只要在内周的第一测试区域506a和第三测试区域504b进行了记录学习之后，就能以接近最佳功率的功率进行外周的第二测试区域515a和第四测试区域515b的记录学习，所以透过率变化等对其他层造成的影响小。通过该配置，即使在外周也可以进行记录学习，可以补偿因倾斜引起的外周的记录特性的变化，在盘整个面得到更好的记录品质。另外，由于可以配置在相同的半径，所以可以减少用户数据的记录容量的缩小。
此外，本实施方式的光盘为两层，但在考虑只具有所述第一信息记录层的单层光盘时，由于在这样的单层光盘没有第二信息记录层，所以不需要用于避开来自第二信息记录层的测试区域的影响的区域。在本实施方式的光盘中，通过将控制数据区域504a配置在与第三测试区域504b重叠的半径，从而不需要与第三测试区域504b对置地在第一信息记录层追加区域，所以可以采用与上述单层光盘相同的区域结构。例如，可以使用户数据记录区域510a以及511b的最内周半径R0与单层光盘相同，所以也不会缩小用户数据的记录容量。因此，在单层光盘和两层光盘，用户数据记录区域的半径和地址不变，所以用光盘装置进行记录再生时，光束的访问也变得容易。
另外，若在紧邻第三测试区域504b的外侧配置保留区域505b，并使其与保护区域506b相接，则在第一测试区域506a的最内周半径R1和第三测试区域504b的最外周半径R5之间设置间隔(R1-R5)。考虑第一信息记录层的轨道的偏心量Δe1、第二信息记录层的轨道的偏心量Δe2、激光被汇聚于一方信息记录层时的另一方信息记录层中的激光的光束半径D、第一信息记录层的轨道始端的半径位置的公差Δr1、第二信息记录层的轨道始端的半径位置的公差Δr2等，来设定所述间隔(R1-R5)。详细而言，与实施方式一记载的内容同样，间隔(R1-R5)被确定为至少在Δe1+Δe2以上、Δr1+Δr2以上、或D以上。
由此，即使存在轨道的偏心或公差时，也可以使第一测试区域506a和第三测试区域504b不重合，可以适当地进行记录学习。一般，由于存在轨道的偏心或公差在两个层之间为相反方向的情况，还存在同时发生的情况，所以假定为最差的情况，则间隔(R1-R5)被设定为在Δe1+Δe2+Δr1+Δr2+D以上。
而且，在本实施方式的光盘中，不仅是保护区域506b，还可使用保留区域505b，在两个测试区域之间设置所希望的间隙。由于可以相应地减小保护区域505a以及保护区域506b的宽度，所以可以进一步抑制用户数据等的记录容量的缩小。
此外，通过采用该结构，由于在控制数据区域504a存储着第一信息记录层和第二信息记录层双方的记录脉冲等介质固有信息，所以存在如下的优点：首先若访问第一信息记录层则可获得所有识别信息，光盘驱动的启动动作变快。
另外，在本实施方式1及2所示的光盘中，如图3的箭头316a和316b所示那样确定记录再生的方向，在第一信息记录层中，若从内周侧向外周侧连续记录用户数据而全部都是第一信息记录层的用户数据记录区域，则也可以从第二信息记录层的外周向内周侧记录用户数据。在该情况下，当对第一信息记录层记录用户数据时，光束透过的第二信息记录层完全为未记录状态。因此，即使在最佳记录功率Pwo1的条件下，对于未记录状态也可以使用受到透过光影响的记录材料，从而第二信息记录层的材料的选择范围变广。即便使用这样的记录材料，若采用所述构成，则第一测试区域506a和第三测试区域504b也不会像所述那样重叠，所以当然可以适当地进行记录学习。尤其是，在仅可进行一次记录的Write-once型(追记型)的光盘中，由于一般可以如所述那样从内周向外周或从外周向内周连续地记录，所以采用所述构成的效果明显。
另外，至少可以将向各测试区域的写入方向规定为从内周侧向外周侧、或从外周侧向内周侧进行。这样一来，尤其在追记型的光盘中，具有各测试区域的空区域容易识别的优点。当然，也可以不确定记录再生的方向，随机使用盘整体。
另外，为了在以上的实施方式一和二中使预记录区域、尤其是控制数据区域304a以及504a中的识别信息的再生稳定，还可以使轨道间距比可记录区域宽。在该情况下，在第二信息记录层中，由于预记录区域仅为保护区域303b以及503b，所以也可以使保护区域303b以及503b的轨道间距与可记录区域相同。
另外，在以上的实施方式一和二中，也可以在测试区域内设置缓冲区域。另外，还可在保护区域、保留区域和缓冲区域写入一些数据。
(实施方式三)
利用图9以及图10，对实施方式一或二中说明的光盘进行记录的光盘装置进行说明。
图9是表示光盘装置600的概要的框图。
在图9中，601是光盘。光盘601具有实施方式一或二中说明的结构。其中，光盘装置600可以对具有以往的结构的光盘、例如单层光盘进行记录。
而且，602是半导体激光器，603是校准(collimate)透镜，604是分束器，605是汇聚机构，606是聚光透镜，607是光检测机构，608是再生信号运算机构，609是聚焦控制机构，610是跟踪控制机构，611是执行元件，612是控制器，613是激光器驱动机构，615是信号处理部。
在此，通过半导体激光器602、校准透镜603、分束器604、汇聚机构605、聚光透镜606、光检测机构607、执行元件611等构成光头。另外，通过聚焦控制机构609、跟踪控制机构610、激光器驱动机构613等构成光头驱动机构。另外，通过再生信号运算机构608、控制器612等构成控制机构。
下面，对再生动作进行说明。
光盘601是例如具有两个信息面的光盘，光点被汇聚于光盘601的两个信息面中的任意一方来读出信息。
从半导体激光器602射出的光束通过校准透镜603、分束器604、汇聚机构605，而被聚光于光盘601上的两个信息面中的一方。被聚光的光点在光盘601上被反射衍射，通过汇聚机构605、分束器604、聚光透镜606，被聚光于光检测机构607。被聚光的光输出与光检测机构上的各受光元件A、B、C、D的光量对应的电压信号，在再生信号运算机构(再生信号运算电路)608中对所述电压信号进行运算。
再生信号运算机构608的输出、即FE信号被发送到聚焦控制机构609。再生信号运算机构608的输出、即TE信号被发送到跟踪控制机构610。再生信号运算机构608的输出、即RF信号被发送到控制器612。
聚焦控制机构609通过与FE信号对应的电压输出，来驱动执行元件611，并在光盘601的两个信息面中的任意一个面上对光点进行聚焦位置控制。
跟踪控制机构610通过与TE信号对应的电压输出，来驱动执行元件611，并在光盘601的两个信息面中任意一个面上所希望的跟踪位置对光点进行跟踪位置控制。通过被聚焦位置控制以及跟踪位置控制后的光点，读出光盘上的预置凹坑(pre-pit)或相变化光盘的反射率不同的浓淡的标志和空间，从而读出记录于光盘上的信息。
控制器612根据RF信号，检测光点汇聚于光盘601上的两个信息面中的哪个面上。更具体而言，控制器612根据地址值检测光点汇聚于哪个面上。控制器612控制聚焦控制机构609、跟踪控制机构610、激光器驱动机构613。
结合图10，对记录条件学习的步骤进行说明。
若需要记录条件学习，则控制器612对聚焦控制机构609、跟踪控制机构610做出指示，并访问第一信息记录层的第一测试区域(步骤701)。
然后，控制器612对激光器驱动机构613、聚焦控制机构609、跟踪控制机构610做出指示，在第一测试区域学习记录条件。例如，对激光器驱动机构613做出指示，以各种记录功率尝试记录，求得最佳记录功率，或者对聚焦控制机构609做出指示，在各种聚焦位置尝试记录来求得最佳记录功率，或者对跟踪控制机构610做出指示，在各种跟踪位置进行尝试记录来求得最佳跟踪位置等(步骤702)。
接着，控制器612对聚焦控制机构609和控制机构610做出指示，访问第二信息记录层的第三测试区域(步骤703)。
而后，控制器612对激光器驱动机构613、聚焦控制机构609、跟踪控制机构610做出指示，在第三测试区域学习记录条件。例如，对激光器驱动机构613做出指示，以各种记录功率尝试记录，求得最佳记录功率，或者对聚焦控制机构609做出指示，在各种聚焦位置进行尝试记录来求得最佳聚焦位置，或者对跟踪控制机构610做出指示，在各种跟踪位置尝试记录来求得最佳跟踪位置(步骤704)。
图10的记录条件学习的步骤在需要记录条件学习时，可以在任何时间进行。
(其他)
如上所述，使用本发明的优选的实施方式对本发明进行了例示，但本发明并非限定于所述的实施方式来解释。本发明仅通过技术方案的范围限定，并由该范围来解释。本领域技术人员根据本发明的具体优选的实施方式的记载，根据本发明的记载以及技术常识可以在等效的范围内实施。在本说明书中引用的专利、专利申请以及文献，其内容本身与本说明书中记载的内容同样，其内容可以作为对本说明书的参考而被援用。
(工业上的可利用性)
本发明在要求提供可记录的两层光盘的任一层都可以实现精度优良的记录学习的光盘的领域是有用的。