双基面高度卡尺.pdf

本发明公开了一种双基面高度卡尺，包括底座、垂直于底座的尺身、尺身上滑动的尺框和尺框上的测量爪(杆)，所述底座具有双基面结构，即底座的下平面为下测量基面和底座的上表面为上测量基面，所述测量爪(杆)为两个，分别对应于上、下测量基面；上测量基面为曲面或平面；所述测量爪(杆)与尺框固定连接或与尺框采用可拆卸方式连接。本发明既可以利用底座的下测量基面与平板结合对工件进行测量或划线，又能利用底座的上测量基面和相应测量爪(杆)单独测量工件的直径、高度、深度等尺寸，也可对小型工件进行划线等操作，比普通高度卡尺扩大了适用范围。

1、  双基面高度卡尺，包括底座(1)、垂直于底座(1)的尺身(2)、尺身(2)上滑动的尺框(3)和尺框(3)上的测量爪或测量杆(4)，其特征在于：所述底座(1)具有双基面结构，即底座(1)的下表面为一个与平板结合的下测量基面(5)，上表面为一个单独的上测量基面(6)；所述测量爪或测量杆(4)有两个测头，分别对应于上、下测量基面(6、5)。

2、  根据权利要求1所述的双基面高度卡尺，其特征在于：所述底座(1)的上测量基面(6)为平面或曲面，与相应测量爪或测量杆(4)的测头结合，可单独对工件进行测量。

3、  根据权利要求2所述的双基面高度卡尺，其特征在于：所述曲面为圆柱面、球面或其他曲面。

4、  根据权利要求1～3中任何一种所述的双基面高度卡尺，其特征在于：所述测量爪或测量杆(4)与尺框(3)既可固定连接，也可与尺框(3)活动连接或可拆连接。

双基面高度卡尺
(一)技术领域：
本发明涉及卡尺，具体说是一种双基面高度卡尺。
(二)背景技术：
普通高度卡尺包括底座，垂直于底座的尺身，尺身上滑动的尺框，尺框上的测量爪(杆)，底座下平面为测量基面，需要放置在测量平板上配合测量爪才能对工件进行测量或划线。
普通高度卡尺只有一个测量基面，测量范围小，适用性不广。
(三)发明内容：
针对普通高度卡尺的不足之处，本发明设计了一种测量功能得到拓展的双基面高度卡尺。
能够实现上述目的的双基面高度卡尺，包括底座、垂直于底座的尺身、尺身上滑动的尺框和尺框上的测量爪或测量杆，，所不同的是所述底座具有双基面结构，即不仅底座的下平面与普通高度卡尺一致为下测量基面(与平板结合)，并且底座的上表面也设计成上测量基面；为与上、下测量基面配合使用对待测工件进行测量，所述测量爪或杆设置为两个。
所述上测量基面设计成曲面或平面。
所述曲面可以是圆柱面、球面或其他曲面。
所述测量爪或测量杆与尺框可固定连接，或与尺框采用活动连接或可拆卸方式连接。
本发明的优点：
本发明的双测量基面，既可以利用底座的下测量基面与平板结合对工件进行测量或划线，又能利用底座的上测量基面和相应测量爪或测量杆单独测量工件的直径、高度、深度等尺寸，也可对小型工件进行划线等操作，比普通高度卡尺扩大了适用范围。
(四)附图说明：
图1为普通高度卡尺一种实施方式的结构示意图。
图2为本发明一种实施方式的结构示意图。
图3为本发明另一种实施方式的结构示意图。
图号标识：1、底座；2、尺身；3、尺框；4、测量爪或测量杆；5、下测量基面；6、上测量基面；7、夹持框。
(五)具体实施方式：
本发明可以在如图1所示的普通高度卡尺上实现，普通高度卡尺由底座1、尺身2、尺框3和测量爪4组成，底座1的下平面为下测量基面5，尺身2垂直设于底座1的上表面，尺框3滑动配合在尺身2上，尺框3上固定向底座1左方平伸的左测量爪4，左测量爪4与下测量基面5配合进行测量。
利用本发明，将底座1的上表面设置成上测量基面6，上测量基面6可以是所需曲面或者平面，如图2所示的上测量基面6为与下测量基面5平行的平面，尺框3上另设置一朝底座1右方平伸的右测量爪4，右测量爪4与上测量基面6配合进行测量。
如图3所示，左、右二个测量爪4可以与尺框3固定连接，也可以采用拆卸结构，如左、右二个测量爪4为一整体，用左、右夹持框7安装于尺框3。