板对板连接器及其测试方法 【技术领域】
本发明有关于一种板对板连接器及其测试方法。
背景技术
随着科技的演进，各种电子装置已经成为一般人生活中随处可见的必备用品。电子装置中所使用的各式电路板或电子适配卡，常需彼此互相连接，以提供电流或其它信号通过，此时必须使用连接器(connector)以达到这一效果。连接两块电路板的连接器一般称为板对板连接器(board-to-boardconnector)，其广泛使用于计算机、数字相机、汽车工业等各类电子产品的中。
图1表示一般常见的板对板连接器的构造。一般常见的板对板连接器具有一本体10以及一挠性电路板(FPC)20。本体的结构可再参见图2，其由一基座部分构成，基座部分上设有两排互相对应的接脚(Pin)，以下分别称的为第一排接脚14与第二排接脚12。挠性电路板部分20上则设置有由第一排接脚14连接而延伸出的第一接线25，其构造与尺寸可依板对板连接器的用途而加以改变。
板对板连接器在制造时，必须经过一连串的测试流程，确定板对板连接器的质量合格后，方能进行正常使用。一般而言，测试流程的中对本体10所进行的主要测试，如图3所述，包含有通电测试(L/O Test)S10，老化测试(Burn-in Test)S20，以及出货前的最终测试(F/I Test)S30。进行这些测试时，必须将板对板连接器的本体10连接于测试器具以进行测试，而在测试完成之后再由测试器具取下。因此，板对板连接器在出货前的生产制造过程中，一般至少需要经过三次以上的连接/拆卸操作。
然而，由于这些测试操作以自动化方式进行，因此在反复对同一板对板连接器的本体10进行连接/拆卸操作之后，有时会产生本体10地损伤，例如图4所示，第一排接脚14与第二排接脚12突出于本体10的部份可能产生接脚凹陷125的现象，因而使得本体10产生接触不良的问题，连带影响板对板连接器的可靠度。
【发明内容】
因此，本发明的一目的即在于提出一种板对板连接器及其测试方法，针对常规板对板连接器在测试时因反复连接而造成损伤的问题，在制造板对板连接器时即先保留一多余的挠性电路板部分，用以进行部分测试流程，如此即可减少测试时对板对板连接器所造成的损伤，提高其可靠度。
本发明揭示一种板对板连接器及其测试方法，板对板连接器做成具有一本体、第一挠性电路板部分以及第二挠性电路板部分的结构，其中本体具有一基座部分以及设置在基座部分而互相对应的第一排接脚与第二排接脚，第一挠性电路板部分具有连接于第一排接脚的第一接线，而第二挠性电路板部分具有第三排接脚以及连接第三排接脚与第二排接脚的多个第二接线。当板对板连接器进行测试时，以第三排接脚先进行非最终测试，然后才以本体进行该板对板连接器的最终测试(F/I Test)；最后，去除第二挠性电路板部分。
本发明中，板对板连接器的非最终测试一般包含通电测试(L/O Test)与老化测试(Burn-in Test)。
为使本发明的所述及其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举具体的较佳实施例，并配合所附图式做详细说明。
【附图说明】
图1是常规板对板连接器的示意图。
图2是图1中本体的示意图。
图3是板对板连接器制造过程中的测试过程的示意图。
图4是表示常规板对板连接器因测试而产生破坏的示意图。
图5是本发明一实施例的板对板连接器的示意图。
图6是所述实施例中板对板连接器在出货前去除第二挠性电路板部分30的示意图。
符号说明
10～本体；
12～第二排接脚；
14～第一排接脚；
125～接脚凹陷；
20～第一挠性电路板部分；
25～第一接线；
30～第二挠性电路板部分；
35～第三排接脚。
【具体实施方式】
以下以一较佳实施例说明本发明的板对板连接器及其测试方法。在此必须说明，本实施例的说明及其图式并非用以限定本发明的板对板连接器及其测试方法；换言的，本发明的保护范围应以后附的权利要求所界定者为准。
请参见图5，说明本实施例的板对板连接器。本实施例的板对板连接器做成具有一本体10、第一挠性电路板部分20以及第二挠性电路板部分30的结构。本体10的结构与图1及图2所示的常规板对板连接器类似，具有一基座部分分，以及设置在基座部分而互相对应的第一排接脚14与第二排接脚12。第一挠性电路板部分20也与图1所示的常规板对板连接器类似，具有连接于第一排接脚14的第一接线25。本实施例的第二挠性电路板部分30则为制造时额外保留的部分，其上设置有对应于第二排接脚12的第三排接脚35，以及连接第三排接脚35与第二排接脚12的多个第二接线。
在此必须说明，由于每一板对板连接器所应用的领域及其功能均具有差异，因此其接脚数、接线排列、第一挠性电路板部分20或第二挠性电路板部分30的形状、或是本体10的形状或尺寸等，均会因功能需求不同而有所差异，并不限于图5所示的结构。
以下请参见图3的测试流程，说明本实施例的板对板连接器测试方法。当如图5般的板对板连接器进行制造时，必须进行经过一连串的测试流程，确定板对板连接器的质量合格后，方能进行正常使用。此时，在进行非最终测试时，例如图3所示的通电测试(L/O Test)S10以及老化测试(Burn-inTest)S20等，则以第二挠性电路板部分30的第三排接脚35先进行非最终测试；如此，虽然第三排接脚35需要反复连接于测试器具，在测试完成之后再由测试器具卸下，可能因反复的连接/拆卸操作而造成损伤，但本体10的结构则完全不会产生损伤。
然后，在板对板连接器即将出货前，欲进行最终测试S30时，由于必须确保本体10的操作功能确实正常，因此才以本体10进行最终测试。如此，即可将常规测试操作中至少需要三次以上的连接/拆卸操作，简化为一次连接拆卸操作，可大幅降低本体10的结构产生损伤的机率。
最后，在出货前，可将用以进行测试的第二挠性电路板部分30加以去除，以还原成如图6所示的形状。此时，板对板连接器的结构即仅具有本体10与第一挠性电路板部分20，与常规结构相同。如此，即使第三排接脚35因测试而产生损伤，但由于第二挠性电路板部分30在出货前已经去除，因此客户所收到的板对板连接器并未损伤，且可正常操作，不会产生接触不良的问题。因此，利用本发明，可大幅提升板对板连接器产品的可靠度。
本发明针对常规板对板连接器在测试时因反复连接而造成损伤的问题，在制造板对板连接器时即先保留多余的第二挠性电路板部分30，用以进行部分测试流程。由于挠性电路板的制造容易，成本低廉，因此只需增加少许成本，即可大幅减少测试时对板对板连接器所造成的损伤机率，提高板对板连接器的可靠度。
综上所述，虽然本发明已以一较佳实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可进行各种更动与修改，因此本发明的保护范围当视所提出的权利要求限定的范围为准。