《振子、振荡器、电子设备、移动体和振子的制造方法.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《振子、振荡器、电子设备、移动体和振子的制造方法.pdf(25页珍藏版)》请在专利查询网上搜索。
1、10申请公布号CN104113301A43申请公布日20141022CN104113301A21申请号201410155968122申请日20140417201308720820130418JPH03H9/02200601H03H9/24200601H03H3/00720060171申请人精工爱普生株式会社地址日本东京都72发明人稻叶正吾岩本修74专利代理机构北京三友知识产权代理有限公司11127代理人李辉黄纶伟54发明名称振子、振荡器、电子设备、移动体和振子的制造方法57摘要本发明提供振子、振荡器、电子设备、移动体和振子的制造方法,不会延长振子的梁(BEAM)的长度,能够应对小型化,制造成品。
2、率稳定,驱动频率更低。MEMS振子(100)具有基板(1);下部电极(10),其设置在基板(1)的主面上;固定部(23),其设置在所述主面上;以及上部电极(20),其从基板(1)分离并支承在固定部(23)上,上部电极(20)是具有在俯视基板(1)时与下部电极(10)重合的区域的振动体,在包含作为所述振动体的上部电极(20)的振动的波腹部的区域(D1)中具有加重部(50)。30优先权数据51INTCL权利要求书2页说明书13页附图9页19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书2页说明书13页附图9页10申请公布号CN104113301ACN104113301A1/2页21一种振子。
3、,其特征在于,该振子具有基板;下部电极,其配置在所述基板上;固定部,其配置在所述基板上;以及上部电极,其与所述基板分离并支承在所述固定部上,所述上部电极是具有在俯视所述基板时与所述下部电极重合的区域的振动体,在包含作为所述振动体的所述上部电极的振动的波腹部的区域D1中具有加重部。2根据权利要求1所述的振子,其特征在于,该振子具有所述区域D1的厚度T1比包含作为所述振动体的所述上部电极的振动的波节部的区域D2的厚度T2厚的部分。3根据权利要求2所述的振子,其特征在于,在从所述基板的主面朝向所述上部电极的方向上,所述厚度T1比所述厚度T2厚。4根据权利要求2所述的振子,其特征在于,在从所述上部电极。
4、朝向所述基板的主面的方向上,所述厚度T1比所述厚度T2厚。5根据权利要求4所述的振子,其特征在于,所述加重部以随着从所述上部电极接近所述基板的方向而变细的方式突出地设置。6根据权利要求4或5所述的振子,其特征在于,所述基板的厚度方向上的所述加重部的厚度为所述下部电极与所述上部电极之间的间隙的三分之一以下。7根据权利要求2所述的振子,其特征在于,所述固定部通过从所述固定部延伸的支承部支承所述振动的波节部,由所述上部电极和所述加重部构成的构造体是具有从所述振动的波节部辐射状地延伸的2N个梁的2N次对称的旋转对称体,其中,N为自然数。8一种振子的制造方法,其特征在于,该制造方法包括以下工序在基板的主。
5、面上层叠第1导电体层的工序;对所述第1导电体层进行成形而形成下部电极的工序;以与所述下部电极重合的方式层叠第1牺牲层的工序;对所述第1牺牲层进行成形而形成使所述下部电极的至少一部分露出的第1开口部的工序;以与所述第1牺牲层以及所述第1开口部重合的方式层叠第2导电体层的工序;对所述第2导电体层进行成形而形成作为振动体的上部电极、固定部、支承部的工序,该上部电极具有在俯视所述基板时与所述下部电极重合的区域,该固定部具有与所述第1开口部重合的区域,该支承部从所述固定部延伸并与作为所述上部电极的振动的波节部的位置连接;以与所述上部电极、所述固定部、所述支承部重合的方式层叠第2牺牲层的工序;对所述第2牺。
6、牲层进行成形而形成使如下区域露出的第2开口部的工序,该区域包含作为所述上部电极的振动的波腹部的位置;以与所述第2牺牲层以及所述第2开口部重合的方式层叠第3导电体层的工序;对所述第3导电体层进行成形而在与所述第2开口部重合的位置形成加重部的工序;权利要求书CN104113301A2/2页3以及蚀刻去除所述第1牺牲层和所述第2牺牲层的工序。9一种振荡器,其特征在于,该振荡器具有权利要求1所述的振子。10一种电子设备,其特征在于,该电子设备具有权利要求1所述的振子。11一种移动体,其特征在于,该移动体具有权利要求1所述的振子。权利要求书CN104113301A1/13页4振子、振荡器、电子设备、移动。
7、体和振子的制造方法技术领域0001本发明涉及振子、振荡器、电子设备、移动体和振子的制造方法。背景技术0002一般公知有具有利用半导体细微加工技术形成的被称为MEMS(MICROELECTROMECHANICALSYSTEM)器件的机械可动的构造体的电子机械系统构造体(例如振子、滤波器、传感器、马达等)。其中,与此前的使用了石英或电介质的振子/谐振器相比,MEMS振子容易组入半导体电路进行制造,有利于细微化、高功能化,因此其利用范围较广。0003作为现有的MEMS振子的代表例,公知有在与设有振子的基板面平行的方向上振动的梳型振子和在基板的厚度方向上振动的梁型振子。梁型振子是由形成在基板上的固定电。
8、极和与基板分离配置的可动电极等构成的振子,根据可动电极的支承方法,公知有单臂支承梁型(CLAMPEDFREEBEAM)、双臂支承梁型(CLAMPEDCLAMPEDBEAM)、双端自由梁型(FREEFREEBEAM)等。0004在专利文献1中公开了如下的单臂支承梁型的MEMS振子具有固定电极和可动电极,利用通过对两个电极间施加的交流电压而产生的静电力驱动可动电极(使可动电极振动)。在这种单臂支承梁型的振子中,其驱动频率是振子具有的固有振动的频率,该固有振动频率由构成可动电极的梁的材质和形状(长度和厚度等)决定。例如,通过使梁的厚度更厚、梁的长度更短,能够得到驱动频率更高的振子。相反,通过使梁的厚。
9、度更薄、梁的长度更长,能够得到驱动频率更低的振子。0005专利文献1日本特开2010162629号公报0006但是,在利用这种方法构成低驱动频率的振子的情况下、即例如在延长梁的长度的情况下,存在MEMS振子的大小(占有面积)增大的课题。并且,由于MEMS振子的大小增大,用于将MEMS振子密封在减压环境中的腔的强度降低,还存在利用MEMS振子的设备的耐久性和可靠性降低的问题。0007并且,在使梁的厚度更薄、梁的长度更长的情况下,在其制造工序中,产生梁的粘附现象,还存在无法得到充分的制造成品率的课题。粘附现象是如下现象为了形成MEMS构造体,在蚀刻去除牺牲层时,微细的构造体(该情况下是作为可动电极。
10、的梁)附着于基板或其他构造体。并且,在使梁的长度更长的情况下,蚀刻去除牺牲层的时间延长,还存在制造工序的生产能力降低的问题。发明内容0008本发明是为了解决上述课题中的至少一部分而完成的,能够作为以下的应用例或方式来实现。0009应用例1本应用例的振子的特征在于,该振子具有基板;下部电极,其配置在所述基板上;固定部,其配置在所述基板上;以及上部电极,其与所述基板分离并支承在所述固定部上,所述上部电极是具有在俯视所述基板时与所述下部电极重合的区域的振动说明书CN104113301A2/13页5体,在包含作为所述振动体的所述上部电极的振动的波腹部的区域D1中具有加重部。0010根据本应用例,振子具。
11、有基板、设置在基板的主面上的下部电极和固定部、与基板分离且支承在固定部上的上部电极,上部电极构成为具有在俯视基板时与下部电极重合的区域的振动体。因此,本振子能够构成为通过对下部电极和上部电极施加的交流电压而在基板的厚度方向上振动的静电型的梁型振子。0011并且,根据本应用例,振子在包含振动体(上部电极)的振动的波腹部的区域D1中具有加重部。通过在包含振动的波腹部的区域中具有加重部,与不具有加重部的情况相比,能够使振子的固有振动频率更低。即,能够在不延长振子所具有的梁(上部电极)的长度的情况下使驱动频率更低。换言之,在相同驱动频率的振子的情况下,根据本实施方式,能够使梁(上部电极)的长度更短。其。
12、结果,能够使振子整体的大小更加小型化。并且,通过使振子更加小型,例如,在为了使振动体的振动特性更好、提高可靠性和耐环境性而收纳在腔内、成为密封在减压环境中的构造的情况下,能够使腔的尺寸更小。其结果,腔的刚性等强度更高,所以,能够进一步提高振子的可靠性和耐环境性。0012并且,由于能够使振子的梁(上部电极)的长度更短,所以,例如,在形成振子作为MEMS构造体的制造工序中,能够抑制由于粘附而引起的成品率降低。具体而言,在基板的主面上形成分离的上部电极的制造工序中,即使在蚀刻液或清洗液的表面张力等作用的情况下,由于以与基板分离的方式被固定部支承的上部电极的长度较短,所以,上部电极很难保持附着在基板的。
13、主面上的状态。即,能够抑制粘附现象。0013应用例2在上述应用例的振子中,其特征在于,所述加重部具有在所述基板的厚度方向上、所述上部电极的所述区域D1的厚度T1比包含作为所述振动体的所述上部电极的振动的波节部的区域D2的厚度T2厚的部分。0014根据本应用例,加重部具有在基板的厚度方向上、上部电极的区域D1的厚度T1比包含上部电极的振动的波节部的区域D2的厚度T2厚的部分。即,通过使上部电极的区域D1的尺寸形状变粗(变厚)来构成加重部。由于不是使用与上部电极不同的材料作为加重部的结构,所以,能够更加简便地制造。0015应用例3在上述应用例的振子中,其特征在于,在从所述基板的主面朝向所述上部电极。
14、的方向上,所述厚度T1比所述厚度T2厚。0016根据本应用例,在从基板的主面朝向上部电极的方向上,厚度T1比厚度T2厚。即,加重部形成在上部电极的上侧(远离基板的主面的一侧)。通过这样构成,能够不改变下部电极与上部电极的间隙的距离而具有加重部。其结果,在构成为通过对下部电极和上部电极施加的交流电压而在基板的厚度方向上振动的静电型的梁型振子的情况下,不会对上部电极的可动范围(振幅)造成影响,并且,不会给电气特性带来较大变化,能够使驱动频率更低。0017应用例4在上述应用例的振子中,其特征在于,在从所述上部电极朝向所述基板的主面的方向上,所述厚度T1比所述厚度T2厚。0018根据本应用例,在从上部。
15、电极朝向基板的主面的方向上,厚度T1比厚度T2厚。即,加重部形成在上部电极的下侧(接近基板的主面的一侧)。通过这样构成,在制造工序中,能够抑制由于粘附而引起的成品率降低。具体而言,在基板的主面上形成分离的上部电极的制造工序中,即使在蚀刻液或清洗液的表面张力等作用的情况下,由于在上部电极的区域说明书CN104113301A3/13页6D1中具有向基板的主面方向突出的加重部,所以,上部电极很难保持附着在基板的主面上的状态。即,能够抑制粘附现象。0019应用例5在上述应用例的振子中,其特征在于,所述加重部以随着从所述上部电极接近所述基板的方向而变细的方式突出地设置。0020根据本应用例,以随着从上部。
16、电极接近基板的方向而变细的方式,突出设置形成在上部电极的下侧(接近基板的主面的一侧)的加重部。通过这样构成,在制造工序中,能够进一步有效抑制由于粘附而引起的成品率降低。具体而言,在基板的主面上形成分离的上部电极的制造工序中,即使在蚀刻液或清洗液的表面张力等作用的情况下,由于在上部电极的区域D1中具有以有棱角的形状向基板的主面方向突出的加重部,所以,上部电极更难保持附着在基板的主面上的状态。即,能够进一步有效抑制粘附现象。0021应用例6在上述应用例的振子中,其特征在于,所述基板的厚度方向上的所述加重部的厚度为所述下部电极与所述上部电极之间的间隙的三分之一以下。0022根据本应用例,形成在上部电。
17、极的下侧(接近基板的主面的一侧)的加重部构成为,基板的厚度方向上的加重部的厚度为下部电极与上部电极的间隙的三分之一以下。因此,在构成为通过对下部电极和上部电极施加的交流电压而在基板的厚度方向上振动的静电型的梁型振子的情况下,加重部的最下表面与下部电极的间隙至少具有除了加重部以外的间隙的三分之二以上的间隙。因此,不会对上部电极的可动范围(振幅)造成较大影响,能够使驱动频率更低。0023应用例7在上述应用例的振子中,其特征在于,所述固定部通过从所述固定部延伸的支承部支承所述振动的波节部,由所述上部电极和所述加重部构成的构造体是具有从所述振动的波节部辐射状地延伸的2N个梁的2N次对称的旋转对称体,其。
18、中,N为自然数。0024根据本应用例,固定部通过从固定部延伸出的支承部支承振动的波节部,由上部电极和加重部构成的构造体是具有从振动的波节部辐射状延伸的2N个梁的2N次对称的旋转对称体,其中,N为自然数。即,即使构成为在上部电极的区域D1中具有加重部,由于包含加重部的形状由旋转对称体构成,所以,也能够保持振动的平衡。例如,在将振子构成为在基板的厚度方向上振动的梁型振子的情况下,通过使彼此相邻的梁的振动的相位相反,在振动的波节部,振动体整体的振动平衡,所以,能够抑制来自支承部支承的振动的波节部的振动泄漏。在与基板面平行的方向振动的梳型振子中也同样,能够抑制来自支承部支承的振动的波节部的振动泄漏。其。
19、结果,在设置加重部的情况下,也能够抑制振动效率的降低。0025应用例8本应用例的振子的制造方法的特征在于,该制造方法包括以下工序在基板的主面上层叠第1导电体层的工序;对所述第1导电体层进行成形而形成下部电极的工序;以与所述下部电极重合的方式层叠第1牺牲层的工序;对所述第1牺牲层进行成形而形成使所述下部电极的至少一部分露出的第1开口部的工序;以与所述第1牺牲层以及所述第1开口部重合的方式层叠第2导电体层的工序;对所述第2导电体层进行成形而形成作为振动体的上部电极、固定部、支承部的工序,该上部电极具有在俯视所述基板时与所述下部电极重合的区域,该固定部具有与所述第1开口部重合的区域,该支承部从所述固。
20、定部延伸并与作为所述上部电极的振动的波节部的位置连接;以与所述上部电极、所述固定部、所述支承部重合的方式层叠第2牺牲层的工序;对所述第2牺牲层进行成形而形成使如下区域露出的第2开口部的工序,该区域包含作为所述上部电极的振动的波腹部的位说明书CN104113301A4/13页7置;以与所述第2牺牲层以及所述第2开口部重合的方式层叠第3导电体层的工序;对所述第3导电体层进行成形而在与所述第2开口部重合的位置形成加重部的工序;以及蚀刻去除所述第1牺牲层和所述第2牺牲层的工序。0026根据本应用例的振子的制造方法,形成具有基板、设置在基板的主面上的下部电极和固定部、与基板分离且支承在从固定部延伸出的支。
21、承部上的上部电极的振子。并且,上部电极构成为具有在俯视基板时与下部电极重合的区域的振动体。因此,通过本应用例的振子的制造方法得到的振子能够构成为通过对下部电极和上部电极施加的交流电压而在基板的厚度方向上振动的静电型的梁型振子。0027并且,根据本应用例的振子的制造方法,振子在包含振动体(上部电极)的振动的波腹部的区域D1中具有加重部。通过在包含振动的波腹部的区域中具有加重部,与不具有加重部的情况相比,能够使振子的固有振动频率更低。即,能够在不延长振子所具有的梁(上部电极)的长度的情况下使驱动频率更低。换言之,在相同驱动频率的振子的情况下,根据本实施方式,能够使梁(上部电极)的长度更短。其结果,。
22、能够使振子整体的大小更加小型化。并且,通过使振子更加小型,例如,在为了使振动体的振动特性更好、提高可靠性和耐环境性而收纳在腔内、成为密封在减压环境中的构造的情况下,能够使腔的尺寸更小。其结果,腔的刚性等强度更高,所以,能够进一步提高振子的可靠性和耐环境性。0028并且,由于能够使振子的梁(上部电极)的长度更短,所以,在制造工序中,能够抑制由于粘附而引起的成品率降低。具体而言,在基板的主面上形成分离的上部电极的工序中,即使在蚀刻液或清洗液的表面张力等作用的情况下,由于以与基板分离的方式通过固定部支承的上部电极的长度较短,所以,上部电极很难保持附着在基板的主面上的状态。即,能够抑制粘附现象。002。
23、9应用例9本应用例的振荡器的特征在于,该振荡器具有上述应用例的振子。0030根据本应用例,作为振荡器,通过利用即使是更低频率也不会大型化的、更加小型化的振子,能够提供更低频域所需的频率下的更小型的振荡器。0031应用例10本应用例的电子设备的特征在于,该电子设备具有上述应用例的振子。0032根据本应用例,作为电子设备,通过利用即使是更低频率也不会大型化的、更加小型化的振子,能够提供更低频域所需的频率下的更小型的电子设备。0033应用例11本应用例的移动体的特征在于,该移动体具有上述应用例的振子。0034根据本应用例,作为移动体,通过利用即使是更低频率也不会大型化的、更加小型化的振子,能够提供空。
24、间实用性更加优良的移动体。附图说明0035图1中的(A)(D)是实施方式1的振子的俯视图和剖面图。0036图2是图1中的(A)的BB1B2剖面的示意图。0037图3中的(A)(G)是依次示出实施方式2的振子的制造方法的工序图。0038图4中的(A)(G)是依次示出实施方式3的振子的制造方法的工序图。0039图5是示出具有实施方式1的振子的振荡器的结构例的概略图。0040图6中的(A)是示出作为电子设备的一例的移动型的个人计算机的结构的立体说明书CN104113301A5/13页8图,(B)是示出作为电子设备的一例的便携电话机的结构的立体图。0041图7是示出作为电子设备的一例的数字照相机的结构。
25、的立体图。0042图8是概略地示出作为移动体的一例的汽车的立体图。0043图9是变形例1的振子的剖面示意图。0044图10是关于变形例2的振子示意地示出上部电极的变形的例子的剖面图、立体图和俯视图。0045标号说明00461基板;3氮化膜;4第1导电体层;5第1牺牲层;6第2导电体层;7第2牺牲层;8第3导电体层;10下部电极;11第1下部电极;11A布线;12第2下部电极;12A布线;20上部电极;23固定部;25支承部;30第1开口部;31第2开口部;50加重部。具体实施方式0047下面,参照附图对实现本发明的实施方式进行说明。以下是本发明的一个实施方式,并不限定本发明。另外,在以下的各图。
26、中,为了容易理解说明,有时利用与实际不同的尺度进行记载。0048(实施方式1)0049首先,对作为实施方式1的振子的MEMS振子100进行说明。0050图1的(A)是MEMS振子100的俯视图,图1的(B)是图1的(A)的AA剖面图,图1的(C)是图1的(A)的BB剖面图,图1的(D)是图1的(A)的CC剖面图。0051MEMS振子100是静电型的梁型振子,其具有形成在基板上的下部电极(固定电极)、以及与基板以及固定电极分离地形成的上部电极(可动电极)。通过对层叠在基板的主面和下部电极上的牺牲层进行蚀刻,与基板以及下部电极分离地形成上部电极。0052另外,牺牲层是由氧化膜等临时形成的层,在其上。
27、下或周围形成必要的层后,通过蚀刻而去除。通过去除牺牲层,在上下或周围的各层间形成所需的间隙或空洞,或分离地形成所需的构造体。0053下面,对MEMS振子100的结构进行说明。利用后述的实施方式对MEMS振子100的制造方法进行说明。0054MEMS振子100具有基板1、设置在基板1的主面上的下部电极10(第1下部电极11、第2下部电极12)、设置在所述主面上的固定部23、从固定部23延伸的支承部25、以及与基板1分离并支承在固定部23(具体而言为从固定部23延伸的支承部25)的上部电极20。0055上部电极20是具有在俯视基板1时与下部电极10重合的区域的振动体,在包含作为振动体的上部电极20。
28、的振动的波腹部的区域D1中具有加重部50。0056另外,这里,振动的波腹部是指振子中的振幅最大的部分,振动的波节部是指不振动的部分或振动极小的部分。0057作为优选例,基板1使用硅基板。在基板1上依次层叠有氧化膜2、氮化膜3,在基板1的主面(氮化膜3的表面)的上部形成有下部电极10(第1下部电极11、第2下部电极12)、上部电极20、固定部23、支承部25等。说明书CN104113301A6/13页90058另外,这里,假设在基板1的厚度方向上、在基板1的主面上依次层叠氧化膜2和氮化膜3的方向为上方向进行说明。0059下部电极10中的第2下部电极12是将固定部23固定在基板1上、并且经由固定部。
29、23和支承部25对上部电极20施加电位的固定电极,通过光刻(包括蚀刻加工。以下同样)对层叠在氮化膜3上的第1导电体层4进行构图,由此,如图1的(A)所示,形成为H形状。并且,第2下部电极12通过布线12A与外部电路(省略图示)连接。0060固定部23分别设置在H形状的第2下部电极12的4个端部。通过光刻对隔着层叠在第1导电体层4的上层的牺牲层而层叠的第2导电体层6进行构图,由此形成固定部23。另外,固定部23的一部分通过设置在牺牲层上的开口部而直接层叠在第2下部电极12上。0061作为优选例,第1导电体层4和第2导电体层6分别使用导电性的多晶硅,但是不限于此。0062上部电极20是具有从中央部。
30、辐射状地延伸的2N个梁的2N次对称的旋转对称体,其中自然数N2。具体而言,如图1的(A)所示,是通过从上部电极20的中央部延伸的4个梁而呈十字形状的可动电极(振动体),中央部由从设置在周围的4个固定部23延伸的4个支承部25支承。通过光刻对隔着层叠在第1导电体层4的上层的牺牲层而层叠的第2导电体层6进行构图,由此形成上部电极20。即,4个固定部23、4个支承部25和上部电极20一体成形。0063并且,H形状的第2下部电极12和十字形状的上部电极20以在俯视基板1时各自的中心部大致一致的方式重合地配置。0064下部电极10中的第1下部电极11是固定电极,通过光刻对层叠在氮化膜3上的第1导电体层4。
31、进行构图,由此形成第1下部电极11,该第1下部电极11与在俯视基板1时重合的上部电极20之间被施加交流电压。第1下部电极11以在正面观察图1的(A)时与从上部电极20的中央部沿纵方向(AA方向)延伸的2个梁重合的方式设置在2个位置,通过布线11A与外部电路连接。0065第1下部电极11由与第2下部电极12相同的层即第1导电体层4形成。因此,第1下部电极11与对上部电极20施加电位的作为固定电极的第2下部电极12之间需要电绝缘,各自的图案(第1下部电极11和第2下部电极12)分离。用于进行该分离的间隙的阶梯差(凹凸)作为凹凸形状转印到上部电极20上,该上部电极20由隔着层叠在第1导电体层4的上层。
32、的牺牲层而层叠的第2导电体层6形成。具体而言,如图1的(B)所示的E部那样,在图案的分离部中,在上部电极20上形成凹凸形状。设上部电极20是具有从中央部辐射状延伸的2N个(在本实施方式中N2)的梁的2N次对称的旋转对称体,但是,不包含由于这种下层凹凸的影响或制造的尺寸偏差等引起的微小的形状的差异而设为旋转对称。0066在这种结构中,MEMS振子100构成为静电振子,通过从外部电路经由布线11A、12A对第1下部电极11与上部电极20之间施加的交流电压,上部电极20的4个梁的前端区域作为振动的波腹进行振动。在图1的(A)中,(/)的记号以包含其相位关系的方式示出作为振动的波腹在上下方向(基板1的。
33、厚度方向)上振动的部分。例如,在的梁向上方向(远离基板1的方向)运动的情况下,表示相邻的梁向的下方向(接近基板1的方向)运动。0067图2是示意地示出图1的(A)的BB1B2剖面的剖面图。说明书CN104113301A7/13页100068如图2所示,上部电极20在包含作为振动体的振动的波腹部(上部电极20的4个梁的前端区域)的区域D1中具有加重部50。0069加重部50由在基板1的厚度方向上、上部电极20的区域D1的厚度T1比包含作为振动体的上部电极20的振动的波节部的区域D2的厚度T2厚的部分(图2中由厚度T3所示的部分)构成。并且,在从基板1的主面朝向上部电极20的方向上,厚度T1比厚度。
34、T2厚。即,加重部50设置在上部电极20的上部。0070加重部50使用与上部电极20所使用的材料相同的材料。即,使用导电性的多晶硅。但是,与上部电极20同样,不限于此。0071一般地,在设构成振动体的材料的密度为、杨氏模数为E、振动体的梁的长度为L、梁的厚度为T时,梁型振子的固有振动频率F可以通过下式(1)表现。0072式10073因此,在希望不改变构成振子的材料及其膜厚(梁的厚度)而得到更低的固有振动频率F的情况下,需要使梁的长度L更大(长)。0074另一方面,在设梁的弹簧常数为K、质点的质量为M时,单质点体系的梁型振子的固有振动频率F可以通过下式(2)表现。0075式20076即,在希望得。
35、到更低的固有振动频率F的情况下,只要使梁的前端部的质量M更大(重)即可。0077加重部50是对应于该质量M而发挥功能的加重部,根据加重部50的大小(厚度T3和宽度)和区域D1内的重心位置,上部电极20振动的固有振动频率F变化。因此,根据期望的驱动频率,适当决定它们(加重部50的大小、重心位置)。0078如上所述,根据本实施方式的MEMS振子100,能够得到以下的效果。0079MEMS振子100在包含振动体(上部电极20)的振动的波腹部的区域D1中具有加重部50。通过在包含振动的波腹部的区域D1中具有加重部50,与不具有加重部50的情况相比,能够使MEMS振子100的固有振动频率F更低。即,能够。
36、在不延长MEMS振子100所具有的梁(上部电极20)的长度的情况下使驱动频率更低。换言之,在相同驱动频率的振子的情况下,根据本实施方式,能够使梁(上部电极20)的长度更短。其结果,能够使MEMS振子100整体的大小更加小型化。并且,通过使MEMS振子100更加小型,例如,在为了使振动体的振动特性更好、提高可靠性和耐环境性而收纳在腔内、成为密封在减压环境中的构造的情况下,能够使腔的尺寸更小。其结果,腔的刚性等强度更高,所以,能够进一步提高振子的可靠性和耐环境性。0080并且,由于能够使MEMS振子100所具有的梁(上部电极)的长度更短,所以,例如,在MEMS振子100的制造工序中,能够抑制由于粘。
37、附而引起的成品率降低。具体而言,在基板1的主面上形成分离的上部电极20的制造工序中,即使在蚀刻液或清洗液的表面张力等作用的情况下,由于以与基板1分离的方式被固定部23支承的上部电极20的长度较短,所以,上部电极20很难保持附着在基板1的主面上的状态。即,能够抑制粘附现象。说明书CN104113301A108/13页110081并且,加重部50由在基板1的厚度方向上、上部电极20的区域D1的厚度T1比包含上部电极20的振动的波节部的区域D2的厚度T2厚的部分构成。即,加重部50是通过使上部电极20的区域D1的尺寸形状变粗(变厚)而构成的。由于不是使用与上部电极20不同的材料来作为加重部50的结构。
38、,所以,能够更加简便地制造。0082并且,在从基板1的主面朝向上部电极20的方向上,厚度T1比厚度T2厚。即,加重部50形成在上部电极20的上侧(远离基板1的主面的一侧)。通过采用这样的结构,能够在不改变下部电极10与上部电极20的间隙的距离的情况下具有加重部50。其结果,在构成为通过对下部电极10和上部电极20施加的交流电压而在基板1的厚度方向上振动的静电型的梁型振子的情况下,能够使驱动频率F更低,而不会对上部电极20的可动范围(振幅)造成影响,并且,不会给电气特性带来较大变化。0083(实施方式2)0084接着,作为实施方式2,说明实施方式1的振子(MEMS振子100)的制造方法。在说明时。
39、,对于与上述实施方式相同的结构部位,使用相同标号并省略重复说明。0085图3的(A)(G)是依次示出MEMS振子100的制造方法的工序图。利用图1的(A)的AA剖面图和CC剖面图示出各个工序中的MEMS振子100的状态。0086本实施方式的振子的制造方法包括以下工序在基板1的主面上层叠第1导电体层4的工序;对第1导电体层4进行成形而形成下部电极10的工序;以与下部电极10重合的方式层叠第1牺牲层5的工序;对第1牺牲层5进行成形而形成使下部电极10的至少一部分露出的第1开口部30的工序;以与第1牺牲层5以及第1开口部30重合的方式层叠第2导电体层6的工序;对第2导电体层6进行成形而形成具有在俯视。
40、基板1时与下部电极10重合的区域的作为振动体的上部电极20、具有与第1开口部30重合的区域的固定部23、从固定部23延伸并与作为上部电极20的振动的波节部的位置连接的支承部25(图1的(A)的工序;以与上部电极20、固定部23、支承部25重合的方式层叠第2牺牲层7的工序;对第2牺牲层7进行成形而形成使包含作为上部电极20的振动的波腹部的位置的区域露出的第2开口部31的工序;以与第2牺牲层7以及第2开口部31重合的方式层叠第3导电体层8的工序;对第3导电体层8进行成形而在与第2开口部31重合的位置形成加重部50的工序;以及蚀刻去除第1牺牲层5和第2牺牲层7的工序。0087下面,参照图3的(A)(。
41、G)进行具体说明。0088图3的(A)准备基板1,在主面上层叠氧化膜2。作为优选例,氧化膜2作为半导体工艺的元件分离层,由一般的LOCOS(LOCALOXIDATIONOFSILICON)氧化膜形成,但是,根据半导体工艺的发展阶段,例如,也可以是基于STI(SHALLOWTRENCHISOLATION)法的氧化膜。0089接着,层叠作为绝缘层的氮化膜3。作为氮化膜3,通过LPCVD(LOWPRESSURECHEMICALVAPORDEPOSITION)对SI3N4进行成膜。氮化膜3对于对牺牲层进行释放蚀刻时使用的作为蚀刻液的缓冲氢氟酸(BUFFEREDHYDROGENFLUORIDE)具有耐性。
42、,作为蚀刻阻挡层发挥功能。0090图3的(B)接着,在氮化膜3上层叠第1导电体层4。第1导电体层4是构成下部电极10(第1下部电极11、第2下部电极12)、布线11A、12A(参照图1的(A)等的多晶硅层,在层叠后进行离子注入而使其具有规定的导电性。接着,通过光刻对第1导电体层4说明书CN104113301A119/13页12进行构图,形成第1下部电极11、第2下部电极12、布线11A、12A。0091图3的(C)接着,以至少与下部电极10、布线11A、12A重合的方式层叠第1牺牲层5。第1牺牲层5是用于形成第1下部电极11以及第2下部电极12与上部电极20之间的间隙并使上部电极20分离的牺牲。
43、层,由CVD(CHEMICALVAPORDEPOSITION)氧化膜形成。0092接着,通过光刻对第1牺牲层5进行构图,形成使第2下部电极12的一部分露出的第1开口部30。第1开口部30形成使固定部23与第2下部电极12接合并固定的接合区域。由于接合区域是经由支承部25在基板1上支承上部电极20的区域,所以,开口出可得到所需刚度的面积。0093接着,以与第1牺牲层5以及第1开口部30重合的方式层叠第2导电体层6。第2导电体层6是与第1导电体层4相同的多晶硅层。0094图3的(D)接着,通过光刻对第2导电体层6进行构图,形成上部电极20、固定部23、从固定部23延伸并与作为上部电极20的振动的波。
44、节部的位置连接的支承部25(图1的(A)。如图1的(A)所示,上部电极20作为具有在俯视基板1时与第1下部电极11以及第2下部电极12重合的区域的电极,上部电极20的形状形成为2N个梁从上部电极20的中央部辐射状地延伸而成为2N次对称的旋转对称体,其中,自然数N2。并且,在层叠后进行离子注入而使其具有规定的导电性。0095图3的(E)接着,以至少与上部电极20、固定部23、支承部25重合的方式层叠第2牺牲层7,通过光刻进行构图,形成使包含作为上部电极20的振动的波腹部的位置的区域D1(图2)露出的第2开口部31。接着,以与第2牺牲层7以及第2开口部31重合的方式层叠第3导电体层8。第3导电体层。
45、8是与第1导电体层4、第2导电体层6相同的多晶硅层。0096图3的(F)接着,通过光刻对第3导电体层8进行构图,在与第2开口部31重合的位置形成加重部50。0097图3的(G)接着,使基板1暴露在蚀刻液(缓冲氢氟酸)中,对第1牺牲层5和第2牺牲层7进行蚀刻去除(释放蚀刻),由此形成第1下部电极11以及第2下部电极12与上部电极20之间的间隙,使上部电极20分离。0098通过以上工序,形成MEMS振子100。0099另外,MEMS振子100优选设置在密封为减压状态的空洞部(腔)中。因此,在制造MEMS振子100时,一并形成了用于形成空洞部的牺牲层以及形成包围该牺牲层的侧壁部、空洞部的盖的密封层等。
46、,但是这里省略说明。0100如上所述,根据本实施方式的振子的制造方法,能够得到以下的效果。0101通过本实施方式的制造方法得到的MEMS振子100在包含振动体(上部电极20)的振动的波腹部的区域D1中具有加重部50。通过在包含振动的波腹部的区域D1中具有加重部50,与不具有加重部50的情况相比,能够使MEMS振子100的固有振动频率F更低。即,能够在不延长MEMS振子100所具有的梁(上部电极20)的长度的情况下使驱动频率更低。换言之,在相同驱动频率的振子的情况下,根据本实施方式,能够使梁(上部电极20)的长度更短。其结果,能够使MEMS振子100整体的大小更加小型化。并且,通过使MEMS振子。
47、100更加小型,例如,在为了使振动体的振动特性更好、提高可靠性和耐环境性而收纳在腔内、说明书CN104113301A1210/13页13成为密封在减压环境中的构造的情况下,能够使腔的尺寸更小。其结果,腔的刚性等强度更高,所以,能够进一步提高振子的可靠性和耐环境性。0102并且,由于能够使MEMS振子100的梁(上部电极)的长度更短,所以,在制造工序中,能够抑制由于粘附而引起的成品率降低。具体而言,在基板1的主面上形成分离的上部电极20的工序中,即使在蚀刻液或清洗液的表面张力等作用的情况下,由于以与基板1分离的方式被固定部23支承的上部电极20的长度较短,所以,上部电极20很难保持附着在基板1的。
48、主面上的状态。即,能够抑制粘附现象。0103另外,在上述实施方式中,在将加重部50设置在上部电极20的上部(基板1的厚度方向)的方法中,说明了将第3导电体层8层叠在上部电极20的上部进行构图的方法,但是,不限于该方法。例如,也可以是如下方法利用加重部50所需的厚度的第2导电体层6临时形成上部电极20,接着,通过半蚀刻等将除了加重部50以外的上部电极20的上表面去除,以在区域D1中形成加重部50。0104(实施方式3)0105接着,作为实施方式3,说明实施方式1的振子(MEMS振子100)的制造方法。在说明时,对于与上述实施方式相同的结构部位,使用相同标号省略重复的说明。0106图4的(A)(G。
49、)是依次示出MEMS振子100的制造方法的工序图。利用图1的(A)的AA剖面图和CC剖面图示出各个工序中的MEMS振子100的状态。0107在实施方式2的制造方法中,说明了在首先形成的上部电极20的上部设置加重部50的方法,但是不限于此。在实施方式3的振子的制造方法中,首先形成加重部50,在其上部形成上部电极20。0108下面,参照图4的(A)(G)进行具体说明。0109图4的(A)(C)通过与图3的(A)(C)相同的工序,进行到层叠第2导电体层6的工序为止。并且,在层叠第2导电体层6后进行离子注入而使其具有规定的导电性。0110图4的(D)接着,通过光刻对第2导电体层6进行构图,形成加重部50和固定部23的第1层。0111图4的(E)接着,以至少与加重部50、固定部23(固定部23的第1层)重合的方式层叠第3导电体层8。第3导电体层8是与第1导电体层4、第2导电体层6相同的多晶硅层。0112图4的(F)接着,通过光刻对第3导电体层8进行构图,形成上部电极20、固定部23的第2层、从固定部23延伸并与作为上部电极20的振动的波节部的位置连接的支承部25(图1的(A)。如图1的(A)所示,上部电极20作为具有在俯视基板1时与第1下部电极11以及第2下部电极12重合的区域的电极,上部电极20的形状形成为2N个梁从上部电极20的中央部辐射状地延伸而成为2N次对。