显示面板的测试方法及装置技术领域
本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板的测试方法及
装置。
背景技术
现有显示装置的生产工艺中，Mura(显示亮度不均匀)是一类很
容易出现并严重影响显示效果的不良。例如在AMOLED(Active-Matrix
OrganicLightEmittingDiode，有源矩阵有机发光二极体)显示装置中，
薄膜晶体管的阈值电压漂移、OLED器件的老化以及不同像素间工艺
差异都可能导致不同像素间发光亮度的差异，在画面上呈现出暗点、
暗区或者条纹，严重影响正常的画面显示效果。为避免出现该类不良
的显示面板按照正常流程制成产品并流通向市场、导致人力和物力上
的浪费，需要在生产过程中非常准确而及时地检测出具有该类不良的
样品。对此，现有技术虽然可以通过点灯测试从外观上检测出一些明
显的Mura不良，但是外观上的发光情况并不能详尽地反映出像素之间
在亮度上的细微的差别，因此很容易造成Mura不良的漏检，使得具有
该类不良的样品进入到之后的工序中，造成人力和物力上的浪费。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种显示面板的测试方法及
装置，可以解决现有技术中Mura不良容易漏检的问题。
第一方面，本发明提供一种显示面板的测试方法，包括：
向所述显示面板输出预设测试画面的数据信号，以使设置在所述
显示面板的每一像素区域内的发光元件按照所述预设测试画面发光；
每一所述像素区域内的发光元件连接一开关单元，所述开关单元用于
在所述开关单元的第一端处为有效电平时将发光元件的第一端处的电
压传导至所述开关单元的第二端；
向设置在所述显示面板内的扫描单元输出启动信号，以使所述扫
描单元按照预设时序依次向所连接的多行第一扫描线输出开关单元的
有效电平；任一所述开关单元的第一端连接一行所述第一扫描线；
接收来自设置在所述显示面板内的传感单元的传感信号；所述传
感信号包括每一所述发光元件的第一端的电压值信息，由所述传感单
元配合所述预设时序接收来自多列传感线的电压信号后得到；其中，
任一所述开关单元的第二端连接一列所述传感线；连接同一行的所述
第一扫描线的任意两个所述开关单元连接不同列的所述传感线；
将所述传感信号中每一所述发光元件的第一端的电压值信息与所
述预设测试画面进行比较，以得到测试结果。
可选地，所述将所述传感信号中每一所述发光元件的第一端的电
压值信息与所述预设测试画面进行比较，以得到测试结果，包括：
根据所述预设测试画面计算得到每一所述发光元件的第一端的标
准电压值；
将每一所述发光元件的第一端的电压值与所述标准电压值进行比
较，并在差值超过预设阈值时生成异常信号；
接收所述异常信号，并在检测结果画面中将位置坐标与该异常信
号对应的像素显示为异常像素。
可选地，所述接收来自设置在所述显示面板内的传感单元的传感
信号，包括：
对接收到的传感信号进行下述的一项或多项的处理：信号失真补
偿、滤波、功率放大、模数转换。
可选地，所述开关单元包括第三晶体管，所述第三晶体管的栅极
连接一行所述第一扫描线，源极与漏极中的一个连接所述发光元件的
第一端，另一个连接一列所述传感线。
可选地，所述多个像素区域呈行列设置；任一行所述第一扫描线
位于相邻两行的像素区域之间；任一列所述传感线位于相邻两列的像
素区域之间。
第二方面，本发明还提供了一种显示面板的测试装置，包括：
第一输出单元，用于向所述显示面板输出预设测试画面的数据信
号，以使所述多个发光元件按照所述预设测试画面发光；每一所述像
素区域内的发光元件连接一开关单元，所述开关单元用于在所述开关
单元的第一端处为有效电平时将发光元件的第一端处的电压传导至所
述开关单元的第二端；
第二输出单元，用于向所述扫描单元输出启动信号，以使所述扫
描单元按照预设时序依次向所述多行第一扫描线输出所述开关单元的
有效电平；任一所述开关单元的第一端连接一行所述第一扫描线；
接收单元，用于接收来自所述传感单元的信号以生成传感信号；
所述传感信号包括每一所述发光元件的第一端的电压值信息，由所述
传感单元配合所述预设时序接收来自多列传感线的电压信号后得到；
任一所述开关单元的第二端连接一列所述传感线；连接同一行的所述
第一扫描线的任意两个所述开关单元连接不同列的所述传感线；
比较单元，用于将所述传感信号中每一所述发光元件的第一端的
电压值信息与所述预设测试画面进行比较，以得到测试结果。
可选地，所述接收单元具体用于对接收到的信号进行下述的一项
或多项的处理：信号失真补偿、滤波、功率放大、模数转换。
可选地，所述比较单元具体包括：
计算模块，用于根据所述预设测试画面计算得到每一所述发光元
件的第一端的标准电压值；
比较模块，用于将每一所述发光元件的第一端的电压值与所述标
准电压值进行比较，并在差值超过预设阈值时生成异常信号；
显示模块，用于接收所述异常信号，并在检测结果画面中将位置
坐标与该异常信号对应的像素显示为异常像素。
可选地，所述开关单元包括第三晶体管，所述第三晶体管的栅极
连接一行所述第一扫描线，源极与漏极中的一个连接所述发光元件的
第一端，另一个连接一列所述传感线。
可选地，所述多个像素区域呈行列设置；任一行所述第一扫描线
位于相邻两行的像素区域之间；任一列所述传感线位于相邻两列的像
素区域之间。
由上述技术方案可知，本发明基于显示面板内的开关单元、第一
扫描线和传感线的设置，可以实现发光元件的第一端处电压值的获取；
从而，可以在测试时通过比较这一电压值与理论值之间的差别就可以
实现Mura不良的检测。相比于现有技术而言，本发明直接以量化的数
值来检测Mura不良的存在，不仅具有更高的准确程度，还可以实现检
测过程的自动化，有利于提高工艺流程中测试过程的进行效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面
将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单的介绍，显
而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普
通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附
图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例中一种显示面板的结构示意图；
图2是本发明一个实施例中一种显示面板在像素区域内的电路结
构图；
图3是本发明一个实施例中一种显示面板的测试装置的结构框图；
图4是本发明一个实施例中的数据比较器的结构示意图；
图5是本发明一个实施例中一种显示面板的测试方法的步骤流程
示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结
合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、
完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是
全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有
作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护
的范围。
图1是本发明一个实施例中一种显示面板的结构示意图。参见图
1，该显示面板包括分别设置在多个像素区域P0内的多个发光元件L0。
可以理解的是，该发光元件可以是任意一种并可用于发光显示的电子
器件，例如有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode，OLED)或
者半导体发光二极管(SemiconductorLightEmittingDiode，LED)等等。
需要说明的是，图1仅以四行五列的像素区域作为示例，实际应用场
景下可以根据显示需要设置像素区域和发光元件的数量。
在此基础之上，上述显示面板还包括开关单元11、扫描单元12和
传感单元13，具体来说：
上述开关单元11设置在每一像素区域P0内，用于在开关单元11
的第一端(如图1中开关单元11的上端)为有效电平时将发光元件L0
的第一端(如图1中发光元件L0的上端)处的电压传导至开关单元11
的第二端(如图1中开关单元11的右端)。其中需要说明的是，有效
电平是开关单元11的一项参量，具体可以包括一个或一个以上的电压
数值范围；由此，开关单元11的上述功能可由现有技术中的电子元器
件或其组合实现，例如霍尔开关、晶体管或者数字开关电路等等，本
领域技术人员可以根据需要进行选取和设置，本发明对此不做限制。
上述扫描单元12与多行第一扫描线(如图1所示的G1、G2、G3、
G4等四行第一扫描线)相连，用于按照预设时序逐行地向多行第一扫
描线输出开关单元11的有效电平。同时如图1所示，任一开关单元11
的第一端连接一行第一扫描线，从而在扫描单元12向任一行的第一扫
描线输出开关单元11的有效电平的期间，与该第一扫描线相连的所有
开关元件11就可以将所在像素区域P0内的发光元件L0的第一端处的
电压传导至开关单元11的第二端。需要说明的是，上述预设时序包括
了向每行第一扫描线输出上述有效电平的持续时间，以及向多行第一
扫描线输出上述有效电平的先后顺序。而可以理解的是，该扫描单元
12的上述功能可由现有技术中的信号发生电路或其改型来实现，比如
采用多级移位寄存器在时钟信号的作用下依次输出每行第一扫描线的
上述有效电平，本领域技术人员可以根据需要进行选取和设置，本发
明对此不做限制。
上述传感单元13与多列传感线(如图1所示的S1、S2、S3、S4、
S5等五列传感线)相连，用于配合上述预设时序接收来自多列传感线
的电压信号。同时如图1所示，任一开关单元11的第二端连接一列传
感线，而且，连接同一行的所述第一扫描线的任意两个所述开关单元
连接不同列的所述传感线。从而，在任一开关元件11将所在像素区域
P0内的发光元件L0的第一端处的电压传导至开关单元11的第二端时，
该传感单元13就可以通过与该开关单元11相连的传感线接收其电压
信号，从而获取到发光元件L0的第一端处的电压的具体数值。需要说
明的是，由于开关元件11的开启时间和顺序由上述预设时序决定，因
此传感单元13需要配合该预设时序才能按照预定的顺序通过上述多列
传感线实现所有发光元件L0的第一端处的电压的具体数值的获取。而
可以理解的是，该传感单元13的功能可以通过现有的信号采集电路或
其改型来实现，比如传感单元13可以在电压信号的接收顺序上依次包
括缓冲器(Buffer)、模数转换器(Analog-to-DigitalConverter，ADC)
和存储器，本领域技术人员可以根据需要进行选取和设置，本发明对
此不做限制。
可以看出，本发明实施例基于显示面板内的开关单元、第一扫描
线和传感线的设置，可以实现发光元件的第一端处电压值的获取；从
而，可以在测试时通过比较这一电压值与理论值之间的差别就可以实
现Mura不良的检测。相比于现有技术而言，本发明实施例直接以量
化的数值来检测Mura不良的存在，不仅具有更高的准确程度，还可
以实现检测过程的自动化，有利于提高工艺流程中测试过程的效率。
另外需要说明的是，如图1所示的显示面板的结构中，多个像素
区域P0呈行列设置，而任一行第一扫描线位于相邻两行的像素区域P0
之间、任一列传感线位于相邻两列的像素区域P0之间。由此，本发明
实施例中第一扫描线和传感线的设置方式与现有技术中栅线和数据线
的设置方式一致，有利于实现降低布线难度，并实现扫描驱动电路和
数据驱动电路的复用。而在本发明的其他实施例中，像素区域P0的排
列方式可以不严格地按照行列方式进行设置，例如行向交错或者列向
交错的排列方式。而在任意一种排列方式下，由于显示面板中任一开
关单元的第一端连接一行第一扫描线，任一开关单元的第二端连接一
列传感线，因此只要满足与同一行第一扫描线相连的任意两个开关单
元分别连接不同列的传感线这一条件，就可以实现显示面板中多个发
光元件的第一端处电压值的获取并解决现有技术中Mura不良容易漏
检的问题，因此本发明对此不做限制。
作为一种具体的示例，图2是本发明一个实施例中一种显示面板
在像素区域内的电路结构图。参见图2，本发明实施例中，每一上述像
素区域内除了上述发光元件L0和开关单元11之外，还设有与发光元
件L0的第一端(如图2中发光元件L0的上端)相连的像素电路14，
且每一像素区域内的像素电路14连接一行第二扫描线和一列数据线，
用于在第二扫描线上为有效电平时接收来自数据线的数据电压，并根
据数据电压的幅值向发光元件提供驱动电流。可以理解的是，第二扫
描线可以设有多行，并与图1所示的多行第一扫描线成对设置；数据
线可以设有多列，并与图1所示的多列扫描线成对设置。具体地，任
一行第二扫描线可位于相邻两行的像素区域之间；任一列数据线位于
相邻两列的像素区域之间。举例来说，图2所示的像素区域内的像素
电路14连接第二扫描线Gm′和数据线Dn，其中的第二扫描线Gm′与
第一扫描线Gm是一对平行设置的行向导线，而数据线Dn与传感线
Sn是一对平行设置的列向导线。可以理解的是，随着多行第二扫描线
逐行地输出有效电平，任一像素电路可以在所连接的第二扫描线上为
有效电平时根据所连接的数据线上的数据电压的幅值，向所在像素区
域内的发光元件提供驱动电流。从而，可以在适当的时序配合下完成
每一像素区域内的发光元件的驱动电流的设置，从而实现整个显示面
板的发光显示。当然，视显示需求的不同，上述第二扫描线与数据线
可以在本发明的其他实施例中具有不同的具体设置方式(例如具有不
同的数量或位置)，本发明对此不做限制。
作为一种具体的像素电路14的电路结构示例，图2内的像素电路
14具体包括第一晶体管T1、第二晶体管T2和第一电容C1，其中：第
一晶体管T1的栅极连接第一电容C1的第一端，源极与漏极中的一个
连接偏置电压线VDD，另一个连接第一电容C1的第二端及发光元件
的第一端L0；第二晶体管T2的栅极连接一行第二扫描线Gm′，源极
与漏极中的一个连接一列数据线Dn，另一个连接第一电容C1的第一
端。可以理解的是，图2中第一电容C1的上端为上述第一电容C1的
第一端，而下端为上述第一电容C1的第二端。而且，由于图2所示出
的第一晶体管T1和第二晶体管T2均为N型晶体管，因此第一晶体管
T1与偏置电压线VDD相连的电极为漏极，与第一电容C1的第二端相
连的电极为源极；第二晶体管T2与数据线Dn相连的电极为漏极，与
第一电容C1的第一端相连的电极为源极。可以理解的是，若第一晶体
管T1和第二晶体管T2均为P型晶体管，则需要将上述源极与漏极的
连接关系相互交换；特别地，在晶体管具有源极与漏极对称的结构时，
可以将源极与漏极视为不作特别区分的两个电极。
由此，在第二扫描线Gm′输出该像素电路14的有效电平——高电
平(由N型的第二晶体管T2的器件特性决定)时，第二晶体管T2可
以开启，使得数据线Dn上的数据电压为第一电容C1充电；从而，工
作在线性区的第一晶体管T1的栅极与源极之间的电压差(可以决定流
经第一晶体管T1漏极和源极的最大电流的大小)由第一电容C1所存
储的电荷量决定，即间接地由数据线Dn上的数据电压的幅值决定，因
而第一晶体管T1可以在偏置电压线VDD(可以施加有发光元件的偏
置高电压ELVDD)与发光元件L0第二端所连接的公共电压线(可以
施加有发光元件的偏置低电压ELVSS)之间形成大小由该数据电压的
幅值决定的驱动电流，实现上述像素电路14的功能。当然，该像素电
路14可以在本发明的其他实施例中具有进一步的附加结构或者具有其
他不同的电路结构，举例来说可以参照现有技术中OLED显示装置中
像素电路的结构进行设置，本发明对此不做限制。
另外，在图2所示的电路结构中，上述开关单元11具体包括一第
三晶体管T3，该第三晶体管T3的栅极连接第一扫描线Gm，源极与漏
极中的一个连接发光元件L0的第一端，另一个连接传感线Sn。可以
理解的是，虽然图2中示出的第三晶体管T3为N型晶体管(与传感线
Sn相连的电极为源极，与发光元件L0的第一端相连的电极为漏极)，
但在本发明的其他实施例中可以为P型晶体管(与传感线Sn相连的电
极为漏极，与发光元件L0的第一端相连的电极为源极)，本发明对此
不做限制。特别地，在晶体管具有源极与漏极对称的结构时，可以将
源极与漏极视为不作特别区分的两个电极。由此，在第一扫描线Gm
上为有效电平——高电平(由N型的第三晶体管T3的器件特性决定)
时，该第三晶体管T3可以导通其源极和漏极，从而实现上述开关单元
11的功能。可以理解的是，采用晶体管形成上述开关单元11可以与现
有的显示面板的制作工艺相适应，有利于成本的降低和性能的提升。
需要说明的是，图2中将二极管的阳极作为上述发光元件的第一
端仅是一种示例，在本发明的其他实施例中还可以将二极管的阴极作
为上述发光元件的第一端，并将发光元件的第二端转为连接上述偏置
高电压ELVDD，将在第一晶体管连接的偏置电压线上施加上述偏置低
电压ELVSS，从而同样可以实现发光元件的第一端处的电压的检测。
基于同样的发明构思，本发明实施例提供一种显示装置，该显示
装置包括上述任意一种的显示面板。需要说明的是，该显示装置可以
为电子纸、手机、平板电脑、电视机、笔记本电脑、数码相框、导航
仪等任何具有显示功能的产品或部件，例如可以是一种OLED显示器，
本发明对此不做限制。由于该显示装置包括了上述任意一种的显示面
板，因此同样可以实现检测过程的自动化，有利于提高工艺流程中测
试过程的进行效率。
基于上述任意一种显示面板的结构，图3是本发明一个实施例中
一种显示面板的测试装置的结构框图。参见图3，该装置包括：
第一输出单元31，用于向显示面板输出预设测试画面的数据信号，
以使多个发光元件按照预设测试画面发光；
第二输出单元32，用于向扫描单元输出启动信号，以使扫描单元
按照预设时序依次向多行第一扫描线输出开关单元的有效电平；
接收单元33，用于接收来自传感单元的信号以生成传感信号，传
感信号包括每一发光元件的第一端的电压值信息；
比较单元34，用于将传感信号与预设测试画面进行比较，以得到
测试结果。
具体地，举例来说：
上述第一输出单元31可以包括与显示面板的显示信号输入端口相
连的测试画面信号源，从而可以将预设测试画面(例如单色画面、条
纹画面、预设图片画面等等)的显示信号作用于发光元件的发光控制，
使得显示面板内的多个发光元件按照该预设测试画面发光。
上述第二输出单元32可以包括脉冲信号发生器，从而可以在一特
定的第一时间段内向包括多级移位寄存器单元的扫描单元输出作为启
动信号的脉冲信号，使得在此后的每一时间段内扫描单元都向多行第
一扫描线中的一行输出上述开关单元的有效电平。
可以理解的是，传感单元33可以在每一时间段内通过多列扫描线
接收到一组电压值，并按照顺序地存储至内部的一存储器中。对此，
上述接收单元33可以包括传感单元中的存储器的读取组件，从而可以
依照顺序生成数字的传感信号，该传感信号包括每一行每一列像素区
域内发光元件第一端的电压值的信息(也就是说同时包括任一发光元
件所在的像素区域的位置标识以及该发光元件的电压值，比如由幅值
代表电压值的多个子脉冲形成的信号)。在较为优选的实施方式中，该
接收单元33可以具体用于对接收到的信号进行下述的一项或多项的处
理：信号失真补偿、滤波、功率放大、模数转换。可以理解的是，传
感线上的寄生电容效应会影响读取速度并造成信号衰减和输出信号失
真，因此在该接收单元中进行的信号处理可以消除传感信号在这些方
面的受到的影响，提高检测的准确性。
基于传感单元33得到的传感信号(表示发光元件的第一端处的电
压的实际测量值)和预设测试画面(表示发光元件的第一端处的电压
的标准电压值)，比较单元34可以通过例如信号比较电路的形式实现
Mura(显示亮度不均匀)不良的检测。比如在产生Mura不良时，故障
点处的像素区域内发光元件第一端处的电压的实际测量值会明显偏离
于标准电压值，因此可以通过这一点来进行Mura不良的检测。
作为一种具体的示例，上述可比较单元34可以具体包括未在附图
中示出的下述结构：
计算模块34a，用于根据所述预设测试画面计算得到每一所述发光
元件的第一端的标准电压值；
比较模块34b，用于将每一所述发光元件的第一端的电压值与所述
标准电压值进行比较，并在差值超过预设阈值时生成异常信号；
显示模块34c，用于接收所述异常信号，并在检测结果画面中将位
置坐标与该异常信号对应的像素显示为异常像素。
举例来说，上述计算模块34a可以包括运算关系固定的逻辑运算
电路，用以具体在数字信号的形式下进行输入的显示信号向每一发光
元件的第一端的标准电压值的转换。而上述比较模块34b可以具体包
括如图4所示的一个或一个以上的数据比较器，以实现电压的实际测
量值与标准电压值之间的比较。具体来说，可以将传感信号中的每一
个电压值Vs与计算模块34a得到的标准电压值Vd对应地分别输入至
数据比较器的两个输入端，从而该数据比较器输出的电压差值Vout就
反映了发光元件L0第一端处电压的实际测量值与标准电压值之间的差
别。从而，在电压差值超过了预先设定的阈值，或者与标准电压值之
间的比例超过预设比例时，比较模块34b就可以生成异常信号，以表
示某一像素区域内的发光元件的驱动电压出现了异常。最后，显示模
块34c可以通过逻辑运算器的结构来将异常信号处理为检测结果画面，
具体可以通过标红、点亮、闪烁等任意的显示方式来在相应的位置坐
标处标示出异常像素的存在，以尽可能直观地向检测人员展示出发光
元件上加载的电压是否正常的情况。
当然，虽然上述电路工作原理主要以数字信号的处理方式来进行
描述，然而可以理解的是如图4所示的数据比较器除了可以是数字电
路下的差值计算电路之外，还可以是模拟电路下的差分放大器，其也
可以实现两个电压在数值上的比较，从而基于此可以通过模拟信号的
处理方式实现上述比较单元34的功能，本发明对此不做限制。
可以看出的是，本发明实施例的测试装置可以与上述任意一种的
显示面板相互配合，以实现Mura不良的检测，可以解决现有技术中
Mura不良容易漏检的问题，不仅具有更高的准确程度，还可以实现检
测过程的自动化，有利于提高工艺流程中测试过程的进行效率。
基于同样的发明构思，图5是本发明一个实施例中一种显示面板
的测试方法的步骤流程示意图。参见图5，该测试方法基于上述任意一
种的显示面板，具体包括：
步骤501：向显示面板输出预设测试画面的数据信号，以使多个发
光元件按照预设测试画面发光；
步骤502：向扫描单元输出启动信号，以使扫描单元按照预设时序
依次向多行第一扫描线输出开关单元的有效电平；
步骤503：接收来自传感单元的传感信号，传感信号包括每一发光
元件的第一端的电压值信息；
步骤504：将传感信号中每一发光元件的第一端的电压值信息与预
设测试画面进行比较，以得到测试结果。
可以理解的是，步骤501至步骤504分别对应于上述第一输出单
元31、第二输出单元32、接收单元33和比较单元34的功能，因而可
以具有相应的具体实现方式，在此不再赘述。可以看出，本发明实施
例的测试方法可以与上述任意一种的显示面板相互配合，以实现Mura
不良的检测，可以解决现有技术中Mura不良容易漏检的问题，不仅具
有更高的准确程度，还可以实现检测过程的自动化，有利于提高工艺
流程中测试过程的进行效率。
在本发明的描述中需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方
位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述
本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特
定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限
制。除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应
做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体
地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可
以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域
的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的
具体含义。
本发明的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本
发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，
并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理
解。
类似地，应当理解，为了精简本发明公开并帮助理解各个发明方
面中的一个或多个，在上面对本发明的示例性实施例的描述中，本发
明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。
然而，并不应将该公开的方法解释呈反映如下意图：即所要求保护的
本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确
切地说，如权利要求书所反映的那样，发明方面在于少于前面公开的
单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此
明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的
单独实施例。
应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行
限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可
设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考
符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利
要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除
存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件
以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利
要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。
单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词
解释为名称。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，
而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，
本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载
的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替
换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各
实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的
范围当中。