边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置与方法 【技术领域】
本发明涉及边际扫瞄测试界面技术，尤指一种适用于边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置与方法。
背景技术
随着晶片封装及多层印刷电路板技术的复杂化，传统以针床的测试方式已难于和印刷电路板上的节点接触，且由于表面粘着技术的成熟化，使得IC多已直接粘着在电路的表面上，因而造成IC内部讯号直接量测的困难。为解决此一问题，边际扫瞄(Boundary scan)技术便因应而生，例如JTAG(Joint Test Action Group)的boundary scan，其正式标准名称为IEE1149.1，及IEEE119.4的Digtal Test Access Port界面，便定义了可用于测试IC的边际扫瞄测试界面，其主要是以序列扫瞄链(Serial scan chain)来进行集成电路内部模组的测试，如图1所示为JTAG的界面架构，其采用五根讯号脚位(TDI，TDO，TMS，TCK，nTRST)作为扫瞄链资料的操作，其中，TDI脚位是作为序列资料输入、TDO脚位是作为序列资料输出、TMS脚位是作为模式选择输入、TCK脚位是作为时脉讯号输入、而nTRST脚位则提供系统重置的功能，而如图所示，JTAG架构包含有一测试存取接口(Test Access Port，TAP)控制器11、一测试资料暂存器12(Test data register)、一指令暂存器13、及一解码器14等。
在测试资料暂存器12中，一组扫瞄链暂存器121(Scan chain register)是提供作为一扫瞄链(Scan chain)，可储存TDI脚住所输入的串列资料，一识别码暂存器122用以储存特殊的编号，其仅供输出，一旁通暂存器123是用以将TDI脚位的输入直接传递至TDO脚位以输出的。
该指令暂存器13用以储存TDI脚位所输入的序列指令，并由一解码器14解码以控制该TAP控制器11的运作。
该TAP控制器11即依TMS脚位的输入而进行状态移转，且依据测试资料暂存器12地资料及解码器14的解码结果而运作，图2显示出该TAP控制器11的状态移转图，其是在TCK的正缘时取样TMS的讯号而作状态移转，如图所示，在初始时，TAP控制器11是在Test-LogicReset状态，之后，其可能进入闲置处理21、资料暂存器处理22、以及指令暂存器处理23等三部分状态，其中，如TMS输入为1，Test-LogicReset状态保持不变，当TMS输入为0时，状态移转为闲置处理21的Run-Test/Idle状态；于Run-Test/Idle状态时，如TMS输入为0，Run-Test/Idle状态保持不变，当TMS输入为1时，状态移转为资料暂存器处理22的Select-DR-Scan状态；于Select-DR-Scan状态时，如TMS输入为0，则进入Capture-DR状态，进而进行对于测试资料暂存器12的处理，当TMS输入为1时，状态移转为指令暂存器处理23的Select-IR-Scan状态；于Select-IR-Scan状态时，如TMS输入为0，则进入Capture-IR状态，进而进行对于指令暂存器13的处理，当TMS输入为1时，状态移转为初始时的Test-Logic Reset状态。
以上述JTAG的架构，对于控制讯号的传递或暂存器的存取，均透过TDI与TDO脚位来读写，然而，TDI及TDO的资料读写有其循序性，容易为人所检测。因此无法保护例如机密性的控制讯号。但在现今处理器的开发中，常会遇到要保护开发工具，不被他人盗用的状况。故如何在边际扫瞄测试界面标准中保护机密性的控制讯号的传输，便成为一亟待解决的课题。
【发明内容】
本发明的主要目的是在提供一种边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置与方法，其无需经由标准的输入输出脚位即可输入讯号，而实现在边际扫瞄测试界面标准中保护机密性控制讯号的传输的目的。
本发明的另一目的是在提供一种边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置与方法，以便能在相容于边际扫瞄测试界面标准下，解析出机密性的控制讯号，而完全不影响边际扫瞄测试界面所有状态与资料的路径。
为实现上述目的，本发明提出一种边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，该边际扫瞄测试界面是依据一预定的状态移转图而运作，该状态移转图根据一输入而进行状态移转，其中，所进行的状态移转包括至少一无作用状态回圈，该装置包括：一状态检测器，用以监测该输入，以当检测出有一第一预设输入串时，产生一第一资料的输出，之后，当检测出有一第二预设输入串时，产生一第二资料的输出，其中，该第一预设输入串及第二预设输入串是符合该无作用的状态回圈的不同输入串。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其更包括一移位暂存器，用以储存该状态检测器所输出的第一及第二资料的组合。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其中，该边际扫瞄测试界面为一JTAG界面，该输入为一TMS输入。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其中，该边际扫瞄测试界面为一IEEE1149.1界面，该输入为一TMS输入。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其中，该边际扫瞄测试界面为一IEEE1149.4的Digtial Test Access Port界面，该输入为一TMS输入。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其中，该状态移转图是初始于一Test-Logic Reset状态，且在TMS输入为1时状态保持不变，当TMS输入为0时，状态移转为Run-Test/Idle状态，且在TMS输入为0，状态保持不变，当连续三个TMS输入为1时，状态移转为Test-Logic Reset状态，而形成该至少一无作用状态回圈。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其中，该第一预设输入串为‘0111’，该第二预设输入串为‘1’。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其中，该第一资料为‘1’，该第二资料为‘0’。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其中，该第一预设输入串为‘0111’，该第二预设输入串为‘1’，当中代表至少一个0。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其中，该第一资料为‘1’，该第二资料为‘0’。
为实现上述目的，本发明提供的一种边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的方法，该边际扫瞄测试界面是依据一预定的状态移转图而运作，该状态移转图根据一输入而进行状态移转，其中，所进行的状态移转包括至少一无作用状态回圈，该方法包括：
(A)监测该输入，以当检测出有一第一预设输入串时，产生一第一资料的输出，其中，该第一预设输入串是符合该无作用的状态回圈的一输入串；
(B)监测该输入，当检测出有一第二预设输入串时，产生一第二资料的输出，其中，该第二预设输入串是不同于该第一预设输入串且符合该无作用的状态回圈的输入串。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的方法，其更包括一步骤(C)以储存该输出的第一及第二资料的组合。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的方法，其中，该边际扫瞄测试界面为一JTAG界面，该输入为一TMS输入。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的方法，其中，该边际扫瞄测试界面为一IEEE1149.1界面，该输入为一TMS输入。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的方法，其中，该边际扫瞄测试界面为一符合IEEE1149.4的Digital Test Access Port界面，该输入为一TMS输入。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的方法，其中，该状态移转图是初始于一Test-Logic-Reset状态，且在TMS输入为1时状态保持不变，当TMS输入为0时，状态移转为Run-Test/Idle状态，且在TMS输入为0，状态保持不变，当连续三个TMS输入为1时，状态移转为Test-Logic Reset状态，而形成该至少一无作用状态回圈。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的方法，其中，于步骤(A)中，该第一预设输入串为‘0111’，该第一资料为‘1’，且于步骤(B)中，该第二预设输入串为‘1’，该第二资料为‘0’。
所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的方法，其中，于步骤(A)中，该第一预设输入串为‘0111’，该第一资料为‘1’，当中代表至少一个0，且于步骤(B)中，该第二预设输入串为‘1’，该第二资料为‘0’。
由以上的说明可知，本发明通过由使用边际扫瞄测试界面的状态移转图中无作用的状态回圈来传输隐藏讯号，无需经由标准的资料输入输出脚位即可输入讯号，可达成在边际扫瞄测试界面中保护机密性控制讯号的传输的目的，且完全不影响边际扫瞄测试界面所有状态与资料的路径，而完全相容于标准的边际扫瞄测试界面。
【附图说明】
图1是为公知JTAG界面的架构图；
图2是为JTAG界面的TAP控制器的状态移转图；
图3是依据本发明的边际扫瞄测试界面的架构图；
图4是显示TAP控制器的状态移转图中的无作用的状态回圈；
图5是为依据本发明的边际扫瞄测试界面的机密资料检测器的电路图；
图6是为状态检测器的运作流程图。
【具体实施方式】
为能让贵审查委员能更了解本发明的技术内容，特举一较佳具体实施例说明如下。
有关本发明的边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置与方法，请先参照图3所示的架构图，其包含有一TAP控制器31、一测试资料暂存器32、一指令暂存器33、一解码器34、及一机密资料检测器35，其中，本发明的边际扫瞄测试界面可为JTAG、IEEE1149.1、IEEE1149.4或其他相似的界面，于本实施例中，边际扫瞄测试界面是为一JTAG界面，故这些TAP控制器31、测试资料暂存器32、指令暂存器33、及解码器34是依JTAG的标准而运作，其采用序列资料输入(TDI)、序列资料输出(TDO)、模式选择输入(TMS)、时脉讯号输入(TCK)、系统重置(nTRST)等五根讯号脚位来作为扫瞄链资料的操作，而前述机密资料检测器35是可依据TMS讯号而实现机密讯号的输入。
再请参照图2所示，由JTAG标准所定义的状态移转图可知，在初始状态下，此状态转移图在Test-Logic Reset状态。欲使JTAG界面不动作时，TMS脚位输入是持续为1(亦即，有一连串的‘1’的输入)，使其保持在Test-Logic Reset状态，当欲作动JTAG界面时，才将TMS输入改变为0以进行状态移转，然而，为避免在一连串的1中误产生一个0而错误地作动JTAG，因此，在TMS脚位输入为0而移转至Run-Test/Idle状态后，如TMS脚位输入仍持续为1，则状态将经由Select-DR-Scan状态、Select-IR-Scan状态、而移转回初始的Test-LogicReset状态，实质上仅执行了一个无作用的状态回圈，而不会进入任何实际动作的状态，因而避免误动作的产生。
图4绘示出前述无作用的状态回圈，在符合此无作用的状态回圈的TMS输入，均不会在JTAG界面产生任何实际的动作，因此，本发明是通过由定义至少二个符合此无作用的状态回圈的TMS输入串，以分别作为两种不同资料A及B的输入，于本实施例中，A为二进制的0，B为二进制的1，且如图所示，本发明是较佳地定义TMS输入串‘0111’为输入资料B(＝1)，及定义随后的TMS输入串‘1’为输入资料A(-0)。除此之外，由于Run-Testdata/Idle状态在输入0时均不改其状态，因此，亦可定义TMS输入串‘0111’为输入资料A或者输入资料B，其中代表至少一个0。
再请参照图5所示前述机密资料检测器35的电路图，其包括一状态检测器51、一移位暂存器52，该状态检测器51的运作流程图如图6所示，其输入TCK、TMS及由TAP控制器31产生的JTAG状态，以在判定该TAP控制器31的状态为初始的Test-Logic Reset状态时，开始监测TMS输入，而当检测出有一TMS输入串‘0111’时，在其资料输出端511产生一资料B(＝1)的输出(步骤S601)，之后，当检测出有一TMS输入串‘1’时，在其资料输出端511产生一资料A(＝0)的输出(步骤S602)，而此资料输出端511有输出时，所输出的资料组合则存入该移位暂存器52中。因此，通过由在TMS脚位输入适当的字串的组合，便可在状态检测器51的资料输出端511产生所要输入的资料组合，此资料组合是暂存于该移位暂存器52中，因而达成传输隐藏讯号的目的。
上述实施例仅是为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围自应以专利范围所述为准，而非仅限于上述实施例。