一种安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台.pdf

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摘要
申请专利号:

CN201410078557.7

申请日:

2014.03.05

公开号:

CN103901062A

公开日:

2014.07.02

当前法律状态:

授权

有效性:

有权

法律详情:

授权|||实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/20申请日:20140305|||公开

IPC分类号:

G01N23/20

主分类号:

G01N23/20

申请人:

中国科学院青海盐湖研究所

发明人:

杨波; 韩丽

地址:

810008 青海省西宁市新宁路18号

优先权:

专利代理机构:

深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316

代理人:

宋鹰武;沈祖锋

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内容摘要

本发明涉及一种安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台,所述样品台开设有用于容纳所述样品的样品槽,其特征在于,所述样品槽内装有用于填充所述样品与样品槽之间间隙、并固定所述样品的玻璃粉末。本发明能较好地代替现有技术中的橡皮泥,从而排除橡皮泥衍射峰的干扰。此外,不同于传统样品台上通过添加支撑件、且在操作过程中既要固定样品又要固定支撑架,避免了繁琐的操作,本发明可以对较厚的块状样品进行测试。

权利要求书

权利要求书
1.  一种安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台,所述样品台开设有用于容纳所述样品的样品槽,其特征在于,所述样品槽内装有用于填充所述样品与样品槽之间间隙、并固定所述样品的玻璃粉末。

2.  根据权利要求1所述的安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台,其特征在于,装于所述样品槽内的玻璃粉末表面为水平。

3.  根据权利要求1所述的安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台,其特征在于,所述玻璃粉末为玻璃经砸碎、研磨所得的粉末。

4.  根据权利要求3所述的安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台,其特征在于,所述玻璃粉末直径小于30微米。

5.  根据权利要求1所述的安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台,其特征在于,所述样品槽为金属样品槽。

说明书

说明书一种安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台
【技术领域】
本发明涉及一种安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台。
【背景技术】
粉末X射线衍射仪是一种测试粉末样品的物相及相对含量的大型精密仪器。广泛应用于材料科学,地质,化工,冶金,陶瓷及制药等行业。利用粉末X射线衍射仪进行测定时,传统方法需将样品研磨制成粉末后再进行测试。现有技术中的X射线衍射仪都是利用测角仪样品架上的三个触点接触样品台基准平面,从而确定样品测试面,并且测试过程中样品台保持稳定而不转动。大多数生产厂家提供的也是用于测试粉末样品的玻璃样品浅槽,无法用于固体块状、片状样品,不规则样品及不宜研磨的样品(如珠宝首饰等)的测试。因此,为了拓展仪器的使用测试范围,有必要开发研制一种可以测试固体块状、片状样品和不规则样品的样品台。
刘秋朝等人对X射线衍射仪的样品架进行了改进,对于小尺寸块状样品或薄膜样品,采用在样品背面加橡皮泥,用玻璃片压在样品架上的方法固定,通过裁剪样品架,使得大尺寸样品可方便的固定和测量,但是由于在测试时,橡皮泥也会产生衍射,在测试过程中不可避免的会引入橡皮泥的衍射峰;中国专利ZL200720174416.0公开了一种便于对薄片状固体样品进行测试的衍射仪样品台,该专利通过在传统样品台上添加支撑件实现的,在操作过程中既要固定样品又要固定支撑架,操作较繁琐,也无法测较厚的块状样品;中国专利ZL200420092151.6和中国专利CN201653939U公开了一种X射线衍射仪用固体块状样品架,通过安装在基座中部的弹簧将样品顶压到样品测试面基准挡板框上实现的,该样品台比较适合块状样品测试,但需要具备样品测试面基准挡板,样品台部件也较多,制作要求较高,且会对样品造成裁剪破坏。因此,寻找一种制作简单、操作方便、对样品无破坏、适合X射线粉末衍射仪的固体块状样品测试的样品台显得尤为必要。
【发明内容】
本发明旨在解决上述现有技术中存在的问题,提出一种安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台,所述样品台开设有用于容纳所述样品的样品槽,其特征在于,所述样品槽内装有用于填充所述样品与样品槽之间间隙、并固定所述样品的玻璃粉末。
本发明能较好地代替现有技术中的橡皮泥,从而排除橡皮泥衍射峰的干扰。此外,本发明不同于传统样品台上通过添加支撑件、且在操作过程中既要固定样品又要固定支撑架,避免了繁琐的操作,可以对较厚的块状样品和不规则样品或不宜研磨的样品(如珠宝,首饰等)进行测试。
【附图说明】
图1为本发明一实施例的安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台结构图。
图2为本发明一实施例的放置固体块状样品待测试的样品台结构图。
【具体实施方式】
下面结合具体实施例及附图对本发明作进一步详细说明。下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明的技术方案,而不应当理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中,术语“内”、“外”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明而不是要求本发明必须以特定的方位构造和操作,因此不应当理解为对本发明的限制。
本发明提供一种安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台。
如图1所示,所述样品台10开设有用于容纳所述样品的样品槽11,样品槽11内装有用于填充所述样品与样品槽11之间间隙、并用于固定所述样品的玻璃粉末12。
以荷兰帕纳科X’Pert Pro用于固体块状样品测试的样品台为例,首先通过机械加工制作一个可以安装到衍射仪器上的样品台,在所述样品台上开设有用 于容纳所述样品的样品槽。在一优选实施例中,所述样品槽的尺寸为34mm×20mm,所述样品槽距离所述样品台边缘分别约为15mm、7mm。
优选取一定量的玻璃,先砸碎,再用球磨机和研钵先后研磨之,得到玻璃粉末,所述玻璃粉末直径优选为30微米以下。将所述玻璃粉末填充在所述样品槽中,填满后用玻璃片压平,使得所述玻璃粉末经压平后表面为水平。
如图2所示,当需对固体块状样品20进行测试时,只需将固体样品20的一面磨平,且样品20的尺寸小于所述样品槽11尺寸即可。将样品20轻轻放置于盛有玻璃粉末的样品槽11内,用玻璃片轻轻压平之和样品槽11一样的高度后便可以进行X射线衍射测试。
由于玻璃为非晶,在X射线照射下不会产生衍射峰,因此能较好地代替现有技术中的橡皮泥,从而排除橡皮泥衍射峰的干扰。此外,本发明不同于传统样品台上通过添加支撑件、且在操作过程中既要固定样品又要固定支撑架,避免了繁琐的操作,可以对较厚的块状样品进行测试。
虽然本发明参照当前的较佳实施方式进行了描述,但本领域的技术人员应能理解,上述较佳实施方式仅用来解释和说明本发明的技术方案,而并非用来限定本发明的保护范围,任何在本发明的精神和原则范围之内,所做的任何修饰、等效替换、变形、改进等,均应包含在本发明的权利要求保护范围之内。

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1、(10)申请公布号 CN 103901062 A (43)申请公布日 2014.07.02 CN 103901062 A (21)申请号 201410078557.7 (22)申请日 2014.03.05 G01N 23/20(2006.01) (71)申请人 中国科学院青海盐湖研究所 地址 810008 青海省西宁市新宁路 18 号 (72)发明人 杨波 韩丽 (74)专利代理机构 深圳市科进知识产权代理事 务所 ( 普通合伙 ) 44316 代理人 宋鹰武 沈祖锋 (54) 发明名称 一种安装于粉末 X 射线衍射仪测试固体块状 样品的样品台 (57) 摘要 本发明涉及一种安装于粉末 X 射。

2、线衍射仪测 试固体块状样品的样品台, 所述样品台开设有用 于容纳所述样品的样品槽, 其特征在于, 所述样品 槽内装有用于填充所述样品与样品槽之间间隙、 并固定所述样品的玻璃粉末。本发明能较好地代 替现有技术中的橡皮泥, 从而排除橡皮泥衍射峰 的干扰。 此外, 不同于传统样品台上通过添加支撑 件、 且在操作过程中既要固定样品又要固定支撑 架, 避免了繁琐的操作, 本发明可以对较厚的块状 样品进行测试。 (51)Int.Cl. 权利要求书 1 页 说明书 2 页 附图 2 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书1页 说明书2页 附图2页 (10)申请公布号 CN。

3、 103901062 A CN 103901062 A 1/1 页 2 1. 一种安装于粉末 X 射线衍射仪测试固体块状样品的样品台, 所述样品台开设有用于 容纳所述样品的样品槽, 其特征在于, 所述样品槽内装有用于填充所述样品与样品槽之间 间隙、 并固定所述样品的玻璃粉末。 2. 根据权利要求 1 所述的安装于粉末 X 射线衍射仪测试固体块状样品的样品台, 其特 征在于, 装于所述样品槽内的玻璃粉末表面为水平。 3. 根据权利要求 1 所述的安装于粉末 X 射线衍射仪测试固体块状样品的样品台, 其特 征在于, 所述玻璃粉末为玻璃经砸碎、 研磨所得的粉末。 4. 根据权利要求 3 所述的安装于。

4、粉末 X 射线衍射仪测试固体块状样品的样品台, 其特 征在于, 所述玻璃粉末直径小于 30 微米。 5. 根据权利要求 1 所述的安装于粉末 X 射线衍射仪测试固体块状样品的样品台, 其特 征在于, 所述样品槽为金属样品槽。 权 利 要 求 书 CN 103901062 A 2 1/2 页 3 一种安装于粉末 X 射线衍射仪测试固体块状样品的样品台 【技术领域】 0001 本发明涉及一种安装于粉末 X 射线衍射仪测试固体块状样品的样品台。 【背景技术】 0002 粉末 X 射线衍射仪是一种测试粉末样品的物相及相对含量的大型精密仪器。广泛 应用于材料科学, 地质, 化工, 冶金, 陶瓷及制药等行。

5、业。利用粉末 X 射线衍射仪进行测定 时, 传统方法需将样品研磨制成粉末后再进行测试。现有技术中的 X 射线衍射仪都是利用 测角仪样品架上的三个触点接触样品台基准平面, 从而确定样品测试面, 并且测试过程中 样品台保持稳定而不转动。大多数生产厂家提供的也是用于测试粉末样品的玻璃样品浅 槽, 无法用于固体块状、 片状样品, 不规则样品及不宜研磨的样品 (如珠宝首饰等) 的测试。 因此, 为了拓展仪器的使用测试范围, 有必要开发研制一种可以测试固体块状、 片状样品和 不规则样品的样品台。 0003 刘秋朝等人对 X 射线衍射仪的样品架进行了改进, 对于小尺寸块状样品或薄膜样 品, 采用在样品背面加。

6、橡皮泥, 用玻璃片压在样品架上的方法固定, 通过裁剪样品架, 使得 大尺寸样品可方便的固定和测量, 但是由于在测试时, 橡皮泥也会产生衍射, 在测试过程中 不可避免的会引入橡皮泥的衍射峰 ; 中国专利 ZL200720174416.0 公开了一种便于对薄片 状固体样品进行测试的衍射仪样品台, 该专利通过在传统样品台上添加支撑件实现的, 在 操作过程中既要固定样品又要固定支撑架, 操作较繁琐, 也无法测较厚的块状样品 ; 中国专 利 ZL200420092151.6 和中国专利 CN201653939U 公开了一种 X 射线衍射仪用固体块状样品 架, 通过安装在基座中部的弹簧将样品顶压到样品测试。

7、面基准挡板框上实现的, 该样品台 比较适合块状样品测试, 但需要具备样品测试面基准挡板, 样品台部件也较多, 制作要求较 高, 且会对样品造成裁剪破坏。因此, 寻找一种制作简单、 操作方便、 对样品无破坏、 适合 X 射线粉末衍射仪的固体块状样品测试的样品台显得尤为必要。 【发明内容】 0004 本发明旨在解决上述现有技术中存在的问题, 提出一种安装于粉末 X 射线衍射仪 测试固体块状样品的样品台, 所述样品台开设有用于容纳所述样品的样品槽, 其特征在于, 所述样品槽内装有用于填充所述样品与样品槽之间间隙、 并固定所述样品的玻璃粉末。 0005 本发明能较好地代替现有技术中的橡皮泥, 从而排除。

8、橡皮泥衍射峰的干扰。 此外, 本发明不同于传统样品台上通过添加支撑件、 且在操作过程中既要固定样品又要固定支撑 架, 避免了繁琐的操作, 可以对较厚的块状样品和不规则样品或不宜研磨的样品 (如珠宝, 首饰等) 进行测试。 【附图说明】 0006 图1为本发明一实施例的安装于粉末X射线衍射仪测试固体块状样品的样品台结 构图。 说 明 书 CN 103901062 A 3 2/2 页 4 0007 图 2 为本发明一实施例的放置固体块状样品待测试的样品台结构图。 【具体实施方式】 0008 下面结合具体实施例及附图对本发明作进一步详细说明。 下面详细描述本发明的 实施例, 所述实施例的示例在附图中。

9、示出, 其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类 似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的, 仅 用于解释本发明的技术方案, 而不应当理解为对本发明的限制。 0009 在本发明的描述中, 术语 “内” 、“外” 、“纵向” 、“横向” 、“上” 、“下” 、“顶” 、“底” 等指 示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系, 仅是为了便于描述本发明而不是 要求本发明必须以特定的方位构造和操作, 因此不应当理解为对本发明的限制。 0010 本发明提供一种安装于粉末 X 射线衍射仪测试固体块状样品的样品台。 0011 如图1所示, 所述样品台10开设有用于容。

10、纳所述样品的样品槽11, 样品槽11内装 有用于填充所述样品与样品槽 11 之间间隙、 并用于固定所述样品的玻璃粉末 12。 0012 以荷兰帕纳科X Pert Pro用于固体块状样品测试的样品台为例, 首先通过机械加 工制作一个可以安装到衍射仪器上的样品台, 在所述样品台上开设有用于容纳所述样品的 样品槽。 在一优选实施例中, 所述样品槽的尺寸为34mm20mm, 所述样品槽距离所述样品台 边缘分别约为 15mm、 7mm。 0013 优选取一定量的玻璃, 先砸碎, 再用球磨机和研钵先后研磨之, 得到玻璃粉末, 所 述玻璃粉末直径优选为 30 微米以下。将所述玻璃粉末填充在所述样品槽中, 填。

11、满后用玻璃 片压平, 使得所述玻璃粉末经压平后表面为水平。 0014 如图 2 所示, 当需对固体块状样品 20 进行测试时, 只需将固体样品 20 的一面磨 平, 且样品 20 的尺寸小于所述样品槽 11 尺寸即可。将样品 20 轻轻放置于盛有玻璃粉末的 样品槽 11 内, 用玻璃片轻轻压平之和样品槽 11 一样的高度后便可以进行 X 射线衍射测试。 0015 由于玻璃为非晶, 在 X 射线照射下不会产生衍射峰, 因此能较好地代替现有技术 中的橡皮泥, 从而排除橡皮泥衍射峰的干扰。 此外, 本发明不同于传统样品台上通过添加支 撑件、 且在操作过程中既要固定样品又要固定支撑架, 避免了繁琐的操作, 可以对较厚的块 状样品进行测试。 0016 虽然本发明参照当前的较佳实施方式进行了描述, 但本领域的技术人员应能理 解, 上述较佳实施方式仅用来解释和说明本发明的技术方案, 而并非用来限定本发明的保 护范围, 任何在本发明的精神和原则范围之内, 所做的任何修饰、 等效替换、 变形、 改进等, 均应包含在本发明的权利要求保护范围之内。 说 明 书 CN 103901062 A 4 1/2 页 5 图 1 说 明 书 附 图 CN 103901062 A 5 2/2 页 6 图 2 说 明 书 附 图 CN 103901062 A 6 。

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