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1、(10)申请公布号 CN 103927963 A (43)申请公布日 2014.07.16 CN 103927963 A (21)申请号 201410009748.8 (22)申请日 2014.01.09 2013-002213 2013.01.10 JP G09G 3/20(2006.01) (71)申请人 三菱电机株式会社 地址 日本东京都 (72)发明人 奧本和范 (74)专利代理机构 北京天昊联合知识产权代理 有限公司 11112 代理人 何立波 张天舒 (54) 发明名称 显示装置及其检查方法 (57) 摘要 本发明涉及显示装置及其检查方法， 其目的 在于提供一种能减小半导体芯片搭载。
2、区域的尺寸 的技术。显示装置具有设置了显示区域 (11) 和 第一及第二半导体芯片搭载区域 (31a、 31b) 的基 板(1)。 在第一及第二半导体芯片搭载区域(31a、 31b) 设置的第一及第二引出布线断线检查用 TFT(351a、 351b) 的沟道宽度比在显示区域 (11) 和第一及第二半导体芯片搭载区域 (31a、 31b) 以 外设置的第一及第二检查用 TFT(611a、 611b) 的 沟道宽度小。 (30)优先权数据 (51)Int.Cl. 权利要求书 3 页 说明书 11 页 附图 6 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书3页 说明书1。
3、1页 附图6页 (10)申请公布号 CN 103927963 A CN 103927963 A 1/3 页 2 1. 一种显示装置， 具有设置有显示区域以及半导体芯片搭载区域的基板， 其特征在于， 在所述显示区域设置有多个半导体开关元件、 与所述多个半导体开关元件的栅极电极 连接的多个栅极信号线、 与所述多个半导体开关元件的源极电极连接的多个源极信号线， 在所述半导体芯片搭载区域设置有与半导体芯片连接的输出端子即多个第一输出端 子以及多个第二输出端子， 该多个第一输出端子以及多个第二输出端子经由多个第一以及 第二引出布线分别与所述多个栅极信号线以及所述多个源极信号线连接， 所述显示装置具备 ：。
4、 多个第一检查用半导体开关元件， 设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域 以外的所述基板上， 能根据共同施加的栅极电位对向所述多个栅极信号线的检查信号的输 入进行统一控制 ； 多个第二检查用半导体开关元件， 设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域 以外的所述基板上， 能根据共同施加的栅极电位对向所述多个源极信号线的检查信号的输 入进行统一控制 ； 多个第一引出布线断线检查用半导体开关元件， 设置在所述半导体芯片搭载区域内， 能根据共同施加的栅极电位对经由所述多个第一输出端子以及所述多个第一引出布线的 向所述多个栅极信号线的检查信号的输入进行统一控制 ； 以及 多个第二引出布线断线检。
5、查用半导体开关元件， 设置在所述半导体芯片搭载区域内， 能根据共同施加的栅极电位对经由所述多个第二输出端子以及所述多个第二引出布线的 向所述多个源极信号线的检查信号的输入进行统一控制， 各所述第一引出布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度比各所述第一检查用半 导体开关元件的沟道宽度小， 各所述第二引出布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度 比各所述第二检查用半导体开关元件的沟道宽度小。 2. 根据权利要求 1 所述的显示装置， 其特征在于， 还具备 ： 第一检查用信号线， 经由所述多个第一检查用半导体开关元件与所述多个栅极信号线 连接 ； 第二检查用信号线， 经由所述多个第二检查用半导体开关元。
6、件与所述多个源极信号线 连接 ； 第一引出布线断线检查用信号线， 经由所述多个第一引出布线断线检查用半导体开关 元件以及所述多个第一引出布线与所述多个栅极信号线连接 ； 以及 第二引出布线断线检查用信号线， 经由所述多个第二引出布线断线检查用半导体开关 元件以及所述多个第二引出布线与所述多个源极信号线连接， 第一引出布线断线检查用信号线的布线宽度比所述第一检查用信号线的布线宽度小， 第二引出布线断线检查用信号线的布线宽度比所述第二检查用信号线的布线宽度小。 3. 根据权利要求 1 或 2 所述的显示装置， 其特征在于， 在所述显示装置中显示图像时， 对所述多个第一以及第二检查用半导体开关元件、。
7、 以 及所述多个第一以及第二引出布线断线检查用半导体开关元件的任意一个都施加截止电 压的栅极电位。 4. 一种显示装置的检查方法， 所述显示装置具有设置有显示区域以及半导体芯片搭载 区域的基板， 其特征在于， 权 利 要 求 书 CN 103927963 A 2 2/3 页 3 在所述显示区域设置有多个半导体开关元件、 与所述多个半导体开关元件的栅极电极 连接的多个栅极信号线、 与所述多个半导体开关元件的源极电极连接的多个源极信号线， 在所述半导体芯片搭载区域设置有与半导体芯片连接的输出端子即多个第一输出端 子以及多个第二输出端子， 该多个第一输出端子以及多个第二输出端子经由多个第一以及 第二。
8、引出布线分别与所述多个栅极信号线以及所述多个源极信号线连接， 所述显示装置具备 ： 多个第一检查用半导体开关元件， 设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域 以外的所述基板上， 能根据共同施加的栅极电位对向所述多个栅极信号线的检查信号的输 入进行统一控制 ； 多个第二检查用半导体开关元件， 设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域 以外的所述基板上， 能根据共同施加的栅极电位对向所述多个源极信号线的检查信号的输 入进行统一控制 ； 多个第一引出布线断线检查用半导体开关元件， 设置在所述半导体芯片搭载区域内， 能根据共同施加的栅极电位对经由所述多个第一输出端子以及所述多个第一引出布线的 。
9、向所述多个栅极信号线的检查信号的输入进行统一控制 ； 以及 多个第二引出布线断线检查用半导体开关元件， 设置在所述半导体芯片搭载区域内， 能根据共同施加的栅极电位对经由所述多个第二输出端子以及所述多个第二引出布线的 向所述多个源极信号线的检查信号的输入进行统一控制， 各所述第一引出布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度比各所述第一检查用半 导体开关元件的沟道宽度小， 各所述第二引出布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度 比各所述第二检查用半导体开关元件的沟道宽度小， 所述显示装置的检查方法具备如下工序 ： (a) 从所述多个第一检查用半导体开关元件向所述栅极信号线输入交替施加设置于所 述显示区。
10、域的所述半导体开关元件的导通电压与截止电压的检查信号， 进行使用了所述多 个第一以及第二检查用半导体开关元件的检查 ； 以及 (b) 从所述多个第一引出布线断线检查用半导体开关元件向所述栅极信号线输入持续 施加设置于所述显示区域的所述半导体开关元件的导通电压的检查信号， 进行使用了所述 多个第一以及第二引出布线断线检查用半导体开关元件的检查。 5. 一种显示装置， 具有设置有显示区域以及半导体芯片搭载区域的基板， 其特征在于， 在所述显示区域设置有多个半导体开关元件、 与所述多个半导体开关元件的栅极电极 连接的多个栅极信号线、 与所述多个半导体开关元件的源极电极连接的多个源极信号线， 在所述半。
11、导体芯片搭载区域设置有与半导体芯片连接的输出端子即多个第一输出端 子以及多个第二输出端子， 该多个第一输出端子以及多个第二输出端子经由多个第一以及 第二引出布线分别与所述多个栅极信号线以及所述多个源极信号线连接， 并且， 在关于所 述多个第一以及第二输出端子与所述多个第一以及第二引出布线相反方向分别设置有分 别与所述多个第一以及第二输出端子电连接的多个第一以及第二检查端子， 所述多个第一检查端子的至少一部分沿所述相反方向以外的第一预定方向排列， 所述 多个第二检查端子的至少一部分沿所述相反方向以外的第二预定方向排列， 所述显示装置具备 ： 权 利 要 求 书 CN 103927963 A 3 。
12、3/3 页 4 多个第一检查用半导体开关元件， 设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域 以外的所述基板上， 能根据共同施加的栅极电位对向所述多个栅极信号线的检查信号的输 入进行统一控制 ； 以及 多个第二检查用半导体开关元件， 设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域 以外的所述基板上， 能根据共同施加的栅极电位对向所述多个源极信号线的检查信号的输 入进行统一控制。 6. 根据权利要求 5 所述的显示装置， 其特征在于， 在截面图的高度方向上， 所述多个第一以及第二检查端子的上端的位置相同。 7. 根据权利要求 5 或 6 所述的显示装置， 其特征在于， 关于所述多个第一以及第二输出。
13、端子中的任意的相邻的两个输出端子， 一个输出端子 位于对应于另一个输出端子和与其电连接的所述检查端子之间的相邻位置。 8. 一种显示装置的检查方法， 所述显示装置具有设置有显示区域以及半导体芯片搭载 区域的基板， 其特征在于， 在所述显示区域设置有多个半导体开关元件、 与所述多个半导体开关元件的栅极电极 连接的多个栅极信号线、 与所述多个半导体开关元件的源极电极连接的多个源极信号线， 在所述半导体芯片搭载区域设置有与半导体芯片连接的输出端子即多个第一输出端 子以及多个第二输出端子， 该多个第一输出端子以及多个第二输出端子经由多个第一以及 第二引出布线分别与所述多个栅极信号线以及所述多个源极信号。
14、线连接， 并且， 在关于所 述多个第一以及第二输出端子与所述多个第一以及第二引出布线相反方向分别设置有分 别与所述多个第一以及第二输出端子电连接的多个第一以及第二检查端子， 所述多个第一检查端子的至少一部分沿所述相反方向以外的第一预定方向排列， 所述 多个第二检查端子的至少一部分沿所述相反方向以外的第二预定方向排列， 所述显示装置具备 ： 多个第一检查用半导体开关元件， 设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域 以外的所述基板上， 能根据共同施加的栅极电位对向所述多个栅极信号线的检查信号的输 入进行统一控制 ； 以及 多个第二检查用半导体开关元件， 设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载。
15、区域 以外的所述基板上， 能根据共同施加的栅极电位对向所述多个源极信号线的检查信号的输 入进行统一控制， 所述显示装置的检查方法具备如下工序 ： (a) 从所述多个第一检查用半导体开关元件向所述栅极信号线输入交替施加设置于所 述显示区域的所述半导体开关元件的导通电压与截止电压的检查信号， 进行使用了所述多 个第一以及第二检查用半导体开关元件的检查 ； 以及 (b) 在所述多个第一检查端子的沿所述第一预定方向排列的所述至少一部分同时连接 跨过它们的一个第一检查针， 从该第一检查针经由所述多个第一引出布线向所述多个栅极 信号线统一输入检查信号， 并且， 在所述多个第二检查端子的沿所述第二预定方向排。
16、列的 所述至少一部分同时连接跨过它们的一个第二检查针， 从该第二检查针经由所述多个第二 引出布线向所述多个源极信号线统一输入检查信号。 权 利 要 求 书 CN 103927963 A 4 1/11 页 5 显示装置及其检查方法 技术领域 0001 本发明涉及设置有多个半导体开关元件的显示装置及其检查方法。 背景技术 0002 已知如下方法 ： 利用显示装置具备的显示面板的像素的点亮 / 非点亮， 对在显示 面板的显示区域设置的半导体开关元件的栅极信号线及源极信号线的断线或像素的缺陷 等进行检查。作为该检查方法之一， 已知如下方法 ： 使检查针接触到检查用端子之后， 将向 多个栅极信号线及源极。
17、信号线的检查信号的输入利用与它们连接的多个检查用半导体开 关元件进行统一控制， 由此， 统一检查多个栅极信号线及源极信号线。 0003 根据这样的统一检查的方法， 与单独探测多个栅极信号线及源极信号线的端子的 检查方法不同， 检查装置不受显示面板的分辩率及半导体芯片的设计(例如， 凸起数等)的 影响， 所以能实现通用且廉价的检查。 0004 此外， 在上述检查方法中， 以往， 在搭载有半导体芯片的半导体芯片搭载区域， 设 置有包含上述多个检查用半导体开关元件等的点亮检查电路。但是， 伴随着半导体芯片的 小型化及显示面板的窄边框化， 需要减小半导体芯片搭载区域的尺寸， 因此， 考虑将点亮检 查电。
18、路分割为多个并将它们设置在半导体芯片搭载区域以外的区域。 0005 但是， 这次发生如下问题 ： 不能够对连接半导体芯片搭载区域与显示区域之间的 引出布线的断线进行检查。因此， 为了解决该问题， 提议如下方法 ： 将目的仅在于检查引出 布线的断线的检查电路设置在半导体芯片搭载区域 ( 例如， 专利文献 1)。 0006 现有技术文献 专利文献 专利文献 1 ： 日本特开 2011-154161 号公报。 0007 如上述那样， 半导体芯片存在小型化倾向， 例如， 设置在半导体芯片的两个长边的 一个上的多个输出凸起与设置在该长边的另一上的输入凸起之间的距离 ( 半导体芯片的 短边的长度 ) 变短。
19、。可以说该倾向对显示面板的窄边框化的实现来说是优选的。 0008 但是， 为了实现显示面板的窄边框化， 不仅半导体芯片， 搭载有半导体芯片的上述 半导体芯片搭载区域的尺寸也需要减小 ( 特别是， 缩短与输入凸起及输出凸起连接的输入 端子和输出端子之间的距离)。 但是， 通常在半导体芯片搭载区域已经设置有将输入凸起端 子彼此连结的布线等各种布线及电路， 所以， 如果不对专利文献 1 那样的用于检查引出布 线的检查电路进行研究而设置在半导体芯片搭载区域， 那么被认为不能够减小该半导体芯 片搭载区域的尺寸。 发明内容 0009 因此， 本发明是鉴于上述问题而提出的， 其目的在于提供一种能减小半导体芯。
20、片 搭载区域的尺寸的技术。 0010 本发明的显示装置是具有设置有显示区域以及半导体芯片搭载区域的基板的显 说 明 书 CN 103927963 A 5 2/11 页 6 示装置。在所述显示区域设置有多个半导体开关元件、 与所述多个半导体开关元件的栅极 电极连接的多个栅极信号线、 与所述多个半导体开关元件的源极电极连接的多个源极信号 线。 在所述半导体芯片搭载区域设置有与半导体芯片连接的输出端子即多个第一输出端子 以及多个第二输出端子， 该多个第一输出端子以及多个第二输出端子经由多个第一以及第 二引出布线分别与所述多个栅极信号线以及所述多个源极信号线连接。所述显示装置具 备 ： 多个第一检查用。
21、半导体开关元件， 设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域 以外的所述基板上， 能根据共同施加的栅极电位对向所述多个栅极信号线的检查信号的输 入进行统一控制 ； 多个第二检查用半导体开关元件， 设置在所述显示区域以及所述半导体 芯片搭载区域以外的所述基板上， 能根据共同施加的栅极电位对向所述多个源极信号线的 检查信号的输入进行统一控制。 另外， 所述显示装置还具备 ： 多个第一引出布线断线检查用 半导体开关元件， 设置在所述半导体芯片搭载区域内， 能根据共同施加的栅极电位对经由 所述多个第一输出端子以及所述多个第一引出布线的向所述多个栅极信号线的检查信号 的输入进行统一控制 ； 多个第二引。
22、出布线断线检查用半导体开关元件， 设置在所述半导体 芯片搭载区域内， 能根据共同施加的栅极电位对经由所述多个第二输出端子以及所述多个 第二引出布线的向所述多个源极信号线的检查信号的输入进行统一控制。 各所述第一引出 布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度比各所述第一检查用半导体开关元件的沟道 宽度小， 各所述第二引出布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度比各所述第二检查用 半导体开关元件的沟道宽度小。 0011 发明效果 根据本发明， 因为能缩小多个第一以及第二引出布线断线检查用半导体开关元件的沟 道宽度， 所以能减小它们的尺寸。 因此， 能减小设置有多个第一以及第二引出布线断线检查 用半导体。
23、开关元件的半导体芯片搭载区域的尺寸。 附图说明 0012 图 1 是表示实施方式 1 的显示装置的结构的电路图。 0013 图 2 是表示实施方式 1 的显示装置的检查方法的图。 0014 图 3 是表示实施方式 2 的显示装置的结构的放大平面图。 0015 图 4 是表示实施方式 3 的显示装置的结构的电路图。 0016 图 5 是表示实施方式 4 的显示装置的结构的放大平面图。 0017 图 6 是表示实施方式 5 的显示装置的结构的放大平面图。 具体实施方式 0018 图 1 是表示本发明的实施方式 1 的显示装置 ( 显示面板 ) 的结构的电路图。此外， 图 1 所示的本实施方式 1 。
24、的显示装置的各构成要素的附图标记也附加于其他实施方式的显示 装置中相同或类似的构成要素。 0019 如图 1 所示， 本实施方式 1 的显示装置具备设置有由虚线所示的显示区域 11 及半 导体芯片搭载区域 ( 这里为第一及第二半导体芯片搭载区域 31a、 31b) 的基板 1、 由双点划 线所示的栅极驱动电路 32a 及源极驱动电路 32b 而构成。 说 明 书 CN 103927963 A 6 3/11 页 7 0020 在显示区域 11 设置有排列成矩阵状的多个半导体开关元件 ( 这里为多个显示用 TFT(Thin Film Transistor)12)、 与多个显示用 TFT12 的栅极。
25、电极连接的多个栅极信号线 13、 与多个显示用 TFT12 的源极电极连接的多个源极信号线 14。此外， 多个栅极信号线 13 沿 X 方向延伸且沿 Y 方向排列， 多个源极信号线 14 沿 Y 方向延伸且沿 X 方向排列。 0021 第一半导体芯片搭载区域 31a 是搭载有半导体芯片 ( 这里为栅极驱动电路 32a) 的区域。在该第一半导体芯片搭载区域 31a 设置有与栅极驱动电路 32a 的输出凸起 ( 未图 示)连接的多个第一输出端子33a、 与栅极驱动电路32a的输入凸起(未图示)连接的多个 第一输入端子 34a、 后述的第一引出布线断线检查电路 35a。 0022 如图 1 所示， 。
26、多个第一输出端子 33a 经由第一引出布线 51a 分别与显示区域 11 的 多个栅极信号线 13 连接， 多个第一输入端子 34a 与驱动电路 71 电连接。 0023 根据这样的结构， 驱动电路 71 经由多个第一输入端子 34a 向栅极驱动电路 32a 输 出驱动信号， 栅极驱动电路32a根据该驱动信号， 经由多个第一输出端子33a及第一引出布 线 51a 等对多个显示用 TFT12 进行控制 ( 驱动 )。 0024 接着， 对第二半导体芯片搭载区域31b进行说明。 该第二半导体芯片搭载区域31b 是搭载有半导体芯片 ( 这里为源极驱动电路 32b) 的区域。在该第二半导体芯片搭载区域。
27、 31b， 与上述的第一半导体芯片搭载区域 31a 同样地， 设置有与源极驱动电路 32b 的输出凸 起 ( 未图示 ) 连接的多个第二输出端子 33b、 与源极驱动电路 32b 的输入凸起 ( 未图示 ) 连 接的多个第二输入端子 34b、 后述的第二引出布线断线检查电路 35b。 0025 如图 1 所示， 多个第二输出端子 33b 经由第二引出布线 51b 分别与显示区域 11 的 多个源极信号线 14 连接， 多个第二输入端子 34b 与驱动电路 71 电连接。 0026 根据这样的结构， 驱动电路 71 经由多个第二输入端子 34b 向源极驱动电路 32b 输 出驱动信号， 源极驱动。
28、电路32b根据该驱动信号， 经由多个第二输出端子33b及第二引出布 线 51b 等对多个显示用 TFT12 进行控制 ( 驱动 )。 0027 根据以上的本实施方式 1 的显示装置， 栅极驱动电路 32a 及源极驱动电路 32b 根 据来自驱动电路 71 的驱动信号对在显示区域 11 设置的多个显示用 TFT12 进行控制 ( 驱 动 )。由此， 本实施方式 1 的显示装置能在显示区域 11 显示所希望的图像。 0028 并且， 该显示装置 ( 显示面板 ) 不仅在第一及第二半导体芯片搭载区域 31a、 31b 内具备上述的第一及第二引出布线断线检查电路 35a、 35b， 还在显示区域 11。
29、 和第一及第二 半导体芯片搭载区域 31a、 31b 以外的基板 1 上具备第一及第二点亮检查电路 61a、 61b。 0029 简单说明这些检查电路 61a、 61b、 35a、 35b， 第一及第二点亮检查电路 61a、 61b 能 进行在显示区域 11 设置的上述的多个栅极信号线 13 及源极信号线 14 的断线或短路、 像素 的缺陷 ( 亮点、 黑点 ) 或显示不均等的检查。另一方面， 第一及第二引出布线断线检查电路 35a、 35b能对分别将显示区域11与第一及第二半导体芯片搭载区域31a、 31b连接的上述的 第一及第二引出布线 51a、 51b 进行断线等的检查。接着， 依次说明。
30、第一及第二点亮检查电 路 61a、 61b 和第一及第二引出布线断线检查电路 35a、 35b 的详细情况。 0030 与显示区域 11 相比设置在 +X 侧的第一点亮检查电路 61a 具备具有沿 Y 方向延伸设置 的部分及沿 X 方向延伸设置的部分的一条 L 形的检查用信号线 LTSW、 沿 Y 方向延伸设置的 两条检查用信号线 LTGO、 LTGE、 沿 Y 方向排列的多个第一检查用半导体开关元件 ( 这里是 说 明 书 CN 103927963 A 7 4/11 页 8 多个第一检查用 TFT611a) 而构成。 0031 检查用信号线 LTSW 的沿 Y 方向延伸设置的部分与端子 TS。
31、W 连接， 并且， 与多个第 一检查用 TFT611a 的栅极电极共同连接。 0032 作为第一检查用信号线的检查用信号线 LTGO 与端子 TGO 连接， 并且， 经由第一检 查用 TFT611a 与显示区域 11 的多个栅极信号线 13 中的从上侧 (+Y 侧 ) 开始配置为第奇数 个的栅极信号线 13 连接。 0033 作为第一检查用信号线的检查用信号线 LTGE 与端子 TGE 连接， 并且， 经由第一检 查用 TFT611a 与显示区域 11 的多个栅极信号线 13 中的从上侧 (+Y 侧 ) 开始配置为第偶数 个的栅极信号线 13 连接。 0034 多个第一检查用 TFT611a 。
32、能根据从端子 TSW( 检查用信号线 LTSW) 共同施加的栅 极电位， 对从端子 TGO、 TGE( 检查用信号线 LTGO、 LTGE) 向多个栅极信号线 13 的检查信号的 输入 ( 非输入 ) 进行统控制一。并且， 以上说明的结构是一例， 并不限于此， 第一点亮检查 电路 61a 的结构要素的数量、 方向及形状等可以适当变更。 0035 与显示区域 11 相比设置在 +Y 侧的第二点亮检查电路 61b 具备上述的 L 形的检查用信 号线 LTSW、 具有沿 Y 方向延伸设置的部分及沿 X 方向延伸设置的部分的 L 形的三条检查用 信号线 LTSR、 LTSG、 LTSB、 沿 X 方向。
33、排列的多个第二检查用半导体开关元件 ( 这里是多个第 二检查用 TFT611b) 而构成。 0036 检查用信号线 LTSW 的沿 X 方向延伸设置的部分与多个第二检查用 TFT611b 的栅 极电极共同连接。不仅如此， 如上所述那样， 检查用信号线 LTSW 的沿 Y 方向延伸设置的部 分与多个第一检查用 TFT611a 的栅极电极共同连接， 所以， 检查用信号线 LTSW 能向多个第 一及第二检查用 TFT611a、 611b 施加共同的栅极电位。 0037 作为第二检查用信号线的检查用信号线 LTSR 与端子 TSR 连接， 并且， 经由第二检 查用 TFT611b 和显示区域 11 的。
34、多个源极信号线 14 中的与红色像素相关的源极信号线 14 连接。 0038 作为第二检查用信号线的检查用信号线 LTSG 与端子 TSG 连接， 并且， 经由第二检 查用 TFT611b 和显示区域 11 的多个源极信号线 14 中的与绿色像素相关的源极信号线 14 连接。 0039 作为第二检查用信号线的检查用信号线 LTSB 与端子 TSB 连接， 并且， 经由第二检 查用 TFT611b 和显示区域 11 的多个源极信号线 14 中的与蓝色像素相关的源极信号线 14 连接。 0040 多个第二检查用 TFT611b 能根据从端子 TSW( 检查用信号线 LTSW) 共同施加的栅 极电位。
35、， 对从端子 TSR、 TSG、 TSB( 检查用信号线 LTSR、 LTSG、 LTSB) 向多个源极信号线 14 的 检查信号的输入 ( 非输入 ) 进行统一控制。并且， 以上说明的结构是一例， 并不限于此， 第 二点亮检查电路 61b 的结构要素的数量、 方向及形状等可以适当变更。 0041 根据以上的第一及第二点亮检查电路 61a、 61b， 在向端子 TSW 施加了导通电压的 栅极电位的情况下， 多个第一及第二检查用 TFT611a、 611b 统一变为导通状态。在该情况 下， 能从端子 TGO、 TGE 分别向第奇数个、 第偶数个栅极信号线 13 输入检查信号， 并且， 能从 端子。
36、 TSR、 TSG、 TSB 分别向红色像素、 绿色像素、 蓝色像素的源极信号线 14 输入检查信号。 说 明 书 CN 103927963 A 8 5/11 页 9 因此， 在向很多栅极信号线13及源极信号线14统一输入检查信号的情况下， 通过着眼于所 希望的像素是否点亮， 能检查该栅极信号线13及源极信号线14的断线或短路、 像素的缺陷 ( 亮点、 黑点 ) 或显示不均等。 0042 在第一半导体芯片搭载区域 31a 设置的第一引出布线断线检查电路 35a 具备沿 X 方向 延伸设置的两条检查用信号线 LOSW、 LOCG、 沿 X 方向排列的多个第一引出布线断线检查用 半导体开关元件 (。
37、 这里为多个第一引出布线断线检查用 TFT351a) 而构成。 0043 检查用信号线 LOSW 与端子 OSW 连接， 并且， 与多个第一引出布线断线检查用 TFT351a 的栅极电极共同连接。 0044 作为第一引出布线断线检查用信号线的检查用信号线 LOCG 与端子 OCG 连接， 并 且， 经由多个第一引出布线断线检查用 TFT351a、 多个第一输出端子 33a 及第一引出布线 51a 而与多个栅极信号线 13 连接。 0045 多个第一引出布线断线检查用 TFT351a 能根据从端子 OSW( 检查用信号线 LOSW) 共同施加的栅极电位， 对从端子 OCG( 检查用信号线 LOC。
38、G) 经由多个第一输出端子 33a 及多 个第一引出布线51a向多个栅极信号线13的检查信号的输入(非输入)进行统一控制。 并 且， 以上说明的结构是一例， 并不限于此， 第一引出布线断线检查电路 35a 的结构要素的数 量、 方向及形状等可以适当变更。 0046 在第二半导体芯片搭载区域 31b 设置的第二引出布线断线检查电路 35b 具备沿 X 方向 延伸设置的两条检查用信号线 LOSW、 LOCS、 沿 X 方向排列的多个第二引出布线断线检查用 半导体开关元件 ( 这里为多个第二引出布线断线检查用 TFT351b) 而构成。 0047 检查用信号线 LOSW 与端子 OSW 连接， 并且。
39、， 与多个第二引出布线断线检查用 TFT351b 的栅极电极共同连接。 0048 作为第二引出布线断线检查用信号线的检查用信号线 LOCS 与端子 OCS 连接， 并 且， 经由多个第二引出布线断线检查用 TFT351b、 多个第二输出端子 33b 及多个第二引出布 线 51b， 与多个源极信号线 14 连接。 0049 多个第二引出布线断线检查用 TFT351b 能根据从端子 OSW( 检查用信号线 LOSW) 共同施加的栅极电位， 对从端子 OCS( 检查用信号线 LOCS) 经由多个第二输出端子 33b 及多 个第二引出布线51b向多个源极信号线14的检查信号的输入(非输入)进行统一控制。
40、。 此 外， 以上说明的结构是一例， 并不限于此， 第二引出布线断线检查电路 35b 的构成要素的数 量、 方向及形状等可以适当变更。 0050 根据以上的第一及第二引出布线断线检查电路 35a、 35b， 在向两个端子 OSW 施加 导通电压的栅极电位的情况下， 多个第一及第二引出布线断线检查用 TFT351a、 351b 统一 变为导通状态。在该情况下， 能从端子 OCG 经由多个第一引出布线 51a 向多个栅极信号线 13 输入检查信号， 并且， 能从端子 OCS 经由多个第二引出布线 51b 向多个源极信号线 14 输 入检查信号。因此， 在向很多第一及第二引出布线 51a、 51b 。
41、统一输入检查信号的情况下， 通 过着眼于是否有从显示区域 11 的一端跨到另一端的亮线 ( 常白的情况 )， 能检查在该第一 及第二引出布线 51a、 51b 是否有断线。 0051 说 明 书 CN 103927963 A 9 6/11 页 10 在本实施方式1中， 在使用了第一及第二引出布线断线检查电路35a、 35b的检查时， 通 过对多个第一及第二引出布线断线检查用 TFT351a、 351b 的驱动条件 ( 控制条件 ) 进行研 究， 能缩小第一及第二引出布线断线检查电路 35a、 35b 的尺寸。下面， 与使用了第一及第二 点亮检查电路 61a、 61b 的检查相比较， 对此详细说。
42、明。 0052 此外， 以下将使用了第一及第二点亮检查电路 61a、 61b 的检查、 即使用了多个第 一及第二检查用 TFT611a、 611b 的检查称为 “统一驱动显示检查” ， 并且， 将使用了第一及第 二引出布线断线检查电路 35a、 35b 的检查、 即使用了多个第一及第二引出布线断线检查用 TFT351a、 351b 的检查称为 “引出布线断线检查” 。 0053 图2(a)及图2(b)是表示统一驱动显示检查时的多个第一及第二检查用TFT611a、 611b 的驱动条件 ( 控制条件 ) 的图， 图 2(c) 及图 2(d) 是表示引出布线断线检查时的多个 第一及第二引出布线断线。
43、检查用 TFT351a、 351b 的驱动条件 ( 控制条件 ) 的图。另外， 图 2(a) 及图 2(b) 所示的统一驱动显示检查与图 2(c) 及图 2(d) 所示的引出布线断线检查分 别进行。 0054 以下， 为了使说明容易， 将输入到端子 TSW 的检查信号记载为检查信号 TSW， 输入 到端子 TGO、 TGE、 TSR、 TSG、 TSB、 Vcom、 OSW、 OCG、 OCS 的检查信号也同样地记载。 0055 如图 2(a) 及图 2(b) 所示， 以产品使用时的驱动条件为基础来设定统一驱动显示 检查中的检查信号的驱动频率或电压等。具体地说， 通过向端子 TSW 施加图 2。
44、(a) 所示的恒 定的导通电压， 将多个第一及第二检查用 TFT611a、 611b 持续且统一地变为导通状态。 0056 并且， 从上述导通状态的多个第一检查用TFT611a向栅极信号线13输入交替地施 加显示用 TFT12 的导通电压与截止电压的检查信号 TGO、 TGE， 由此， 进行上述统一驱动显示 检查。 这里， 导通电压的频率和导通电压及截止电压的值如上所述， 设定得与产品使用时的 条件同等。在该情况下， 通常将截止电压的期间设定得比导通电压的期间长。 0057 另外， 关于从上述导通状态的多个第二检查用TFT611b输入到源极信号线14的检 查信号 TSR、 TSG、 TSB， 。
45、如图 2(b) 所示那样根据从多个第一检查用 TFT611a 输入到栅极信 号线 13 的检查信号 TGO、 TGE 来设定。当 TGO 导通时， TSR 为正极性 ( 与 Vcom 相比为高电 位 )， TSG 及 TSB 为负极性 ( 与 Vcom 相比为低电位 )， 当 TGE 导通时， TSR 为负极性， TSG 及 TSB 为正极性。因此， 能对模拟地点反转驱动的显示进行检查。 0058 另一方面， 如图2(c)及图2(d)所示， 引出布线断线检查中的检查信号的驱动频率 或电压等并不以产品使用时的驱动条件为基础。具体地说， 向端子 OSW 施加图 2(c) 所示的 恒定的导通电压， 。
46、由此， 将多个第一及第二引出布线断线检查用 TFT351a、 351b 持续且统一 地变为导通状态。 0059 并且， 从上述导通状态的多个第一引出布线断线检查用 TFT351a 向栅极信号线 13 输入持续地施加显示用 TFT12 的导通电压的检查信号 OCG， 由此， 进行上述引出布线断线检 查。即， 输入到栅极信号线 13 的检查信号 OCG 以仅存在导通电压的期间的方式设定。 0060 由此， 当引出布线断线检查时， 从多个第一引出布线断线检查用 TFT351a 经由栅 极信号线 13 输入到显示用 TFT12 的信号为 DC 信号 ( 直流信号 )， 所以不必关注多个第一 引出布线断。
47、线检查用 TFT351a 的充电能力。因此， 能缩小多个第一引出布线断线检查用 TFT351a的沟道宽度。 具体地说， 能使各第一引出布线断线检查用TFT351a的沟道宽度比各 第一检查用 TFT611a 的沟道宽度小。 说 明 书 CN 103927963 A 10 7/11 页 11 0061 另外， 利用上述那样的检查信号 OCG 的输入， 在显示区域 11 设置的显示用 TFT12 的充电期间延长(充电期间持续)， 所以， 能降低与源极信号线14连接的多个第二引出布线 断线检查用 TFT351b 的充电能力。因此， 能缩小多个第二引出布线断线检查用 TFT351b 的 沟道宽度。具体地。
48、说， 能使各第二引出布线断线检查用 TFT351b 的沟道宽度比各第二检查 用 TFT611b 的沟道宽度小。 0062 并且， 优选将向与源极信号线14连接的多个第二引出布线断线检查用TFT351b的 栅极电极的导通电压设定得高， 将栅极信号线 13 的导通电压设定得高， 或者将源极信号的 频率设定得低。在该情况下， 得到与上述同样的效果， 能缩小与源极信号线 14 连接的多个 第二引出布线断线检查用 TFT351b 的沟道宽度。 0063 综上所述， 根据本实施方式 1 的显示装置及其检查方法， 能缩小多个第一及第二 引出布线断线检查用 TFT351a、 351b 的沟道宽度， 所以能减小。
49、它们的尺寸。因此， 能减小设 置了多个第一及第二引出布线断线检查用 TFT351a、 351b 的第一及第二半导体芯片搭载区 域 31a、 31b 的尺寸。 0064 另外， 当引出布线断线检查时， 向端子 TSW 施加截止电压的栅极电位， 使得第一及 第二检查用TFT611a、 611b变为截止状态(未图示)。 同样地， 当统一驱动显示检查时， 向端 子OSW施加截止电压的栅极电位， 使得第一及第二引出布线断线检查用TFT351a、 351b变为 截止状态 ( 未图示 )。由此， 能防止在各检查时经由不适当的 TFT 而引起短路或电流泄漏。 0065 本发明的实施方式 2 是以上述的实施方式 1 为基本结构的变形例。 0066 如上所述， 在引出布线断线检查中， 着眼于是否有从显示区域 11 的一端跨到另一 端的亮线(常白的情况)， 而不着眼于在显示区域11的像素显示中是否有显示不均。 即， 在 第一及第二引出布线断线检查电路 35a、 35b 中不必关注电阻分布引起的显示面板面内的 不均。 0067 因此， 在。