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1、(10)申请公布号 CN 103926481 A (43)申请公布日 2014.07.16 CN 103926481 A (21)申请号 201310044115.6 (22)申请日 2013.02.04 102101698 2013.01.16 TW G01R 31/00(2006.01) (71)申请人 颀邦科技股份有限公司 地址 中国台湾新竹科学工业园区新竹市东 区力行五路 3 号 (72)发明人 陈俊宪 谢连滋 孙崇哲 周博生 (74)专利代理机构 北京中原华和知识产权代理 有限责任公司 11019 代理人 寿宁 张华辉 (54) 发明名称 智能卡测试装置 (57) 摘要 本发明是有关。
2、于一种智能卡测试装置， 其用 以测试智能卡， 各该智能卡具有第一连接垫及第 二连接垫， 该智能卡测试装置具有第一测试模块 及第二测试模块， 该第一测试模块具有第一电路 板、 第一探针座、 压合板及第一探针组， 各该第一 探针组对应各该第一连接垫， 以测试各该第一连 接垫， 该第二测试模块具有第二探针座、 基座及第 二探针组， 各该第二探针组对应各该第二连接垫， 以测试各该第二连接垫， 该第一测试模块测试各 该智能卡的该第一导接垫， 该第二测试模块测试 各该智能卡的该第二导接垫， 可简化所述智能卡 的测试流程。 (30)优先权数据 (51)Int.Cl. 权利要求书 2 页 说明书 6 页 附图。
3、 10 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书2页 说明书6页 附图10页 (10)申请公布号 CN 103926481 A CN 103926481 A 1/2 页 2 1. 一种智能卡测试装置， 其供测试智能卡， 各该智能卡具有上表面、 下表面、 第一连接 垫、 第二连接垫及封胶体， 该第一连接垫位于该上表面， 该第二连接垫及该封胶体位于该下 表面， 其特征在于该智能卡测试装置包括 ： 第一测试模块， 其具有第一电路板、 第一探针座、 压合板及第一探针组， 该第一探针座 位于该第一电路板及该压合板之间， 该第一探针座具有第一表面、 第二表面、 第一通孔、。
4、 本 体部及定位凸部， 该第一表面朝向该第一电路板， 该第二表面朝向该压合板， 各该第一通孔 连通该第一表面及该第二表面， 该定位凸部凸出于该本体部， 各该第一探针组结合于该第 一电路板， 各该第一探针组并贯穿各该第一通孔， 且各该第一探针组凸出于该第二表面， 该 压合板具有多个显露孔， 各该显露孔显露各该第一探针组， 其中各该第一探针组对应各该 第一连接垫 ； 以及 第二测试模块， 其具有第二探针座、 基座及第二探针组， 该第二探针座具有第三表面、 第四表面及第二通孔， 该第三表面朝向该压合板， 该第四表面朝向该基座， 各该第二通孔连 通该第三表面及该第四表面， 各该第二探针组结合于该基座，。
5、 各该第二探针组并贯穿各该 第二通孔， 且各该第二探针组凸出于该第三表面， 其中， 各该第二探针组对应各该第二连接 垫。 2. 根据权利要求 1 所述的智能卡测试装置， 其特征在于其中该第一测试模块具有限 位件， 该第一探针座具有限位槽， 该限位槽凹设于该第一表面， 该限位件具有限位部及结合 部， 该限位部设置于该限位槽， 该结合部结合于该压合板。 3. 根据权利要求 1 所述的智能卡测试装置， 其特征在于其中该第一测试模块具有弹性 件， 各该弹性件位于该第一探针座及该压合板之间， 各该弹性件具有第一端及第二端， 各该 第一端抵触该第一探针座， 各该第二端抵触该压合板。 4. 根据权利要求 1。
6、 所述的智能卡测试装置， 其特征在于其中该压合板具有定位凹槽， 该第一探针座的该定位凸部能移动的容置于该定位凹槽。 5. 根据权利要求 4 所述的智能卡测试装置， 其特征在于其中该压合板具有压合面， 该 定位凹槽具有槽底面， 该压合面朝向该第二测试模块， 各该显露孔连通该压合面及该槽底 面。 6. 根据权利要求 1 所述的智能卡测试装置， 其特征在于其中该第一测试模块另具有导 引柱， 该第一探针座具有导引孔， 各该导引孔位于该本体部， 各该导引柱结合于该压合板， 且各该导引柱能移动的容置于该导引孔。 7. 根据权利要求 1 所述的智能卡测试装置， 其特征在于其中该第一探针组具有第一探 针套、 。
7、第一探针及第一弹性件， 该第一探针及该第一弹性件设置于该第一探针套中， 且该第 一探针凸出于该第一探针套。 8. 根据权利要求 1 所述的智能卡测试装置， 其特征在于其中该第二探针座具有让位凹 槽， 各该让位凹槽凹设于该第二探针座的该第三表面， 且各该让位凹槽对应各该封胶体以 容置各该智能卡的该封胶体。 9. 根据权利要求 8 所述的智能卡测试装置， 其特征在于其中各该让位凹槽连通各该第 二通孔。 10. 根据权利要求 1 所述的智能卡测试装置， 其特征在于其中该第二测试模块具有承 载座及活动杆， 该基座设置于该承载座， 该活动杆顶抵该承载座， 使该承载座能上下移动。 权 利 要 求 书 CN。
8、 103926481 A 2 2/2 页 3 11. 根据权利要求 10 所述的智能卡测试装置， 其特征在于其中该基座具有第二电路板 及板体， 该第二电路板结合于该板体， 且该板体位于该第二电路板及承载座之间。 12. 根据权利要求 1 所述的智能卡测试装置， 其特征在于其中该第二探针组具有第二 探针套、 第二探针及第二弹性件， 该第二探针及该第二弹性件设置于该第二探针套中， 且该 第二探针凸出于该第二探针套。 权 利 要 求 书 CN 103926481 A 3 1/6 页 4 智能卡测试装置 技术领域 0001 本发明涉及一种智能卡测试装置， 特别是涉及一种关于可测试位于智能卡的上表 面的。
9、第一连接垫与位于智能卡的下表面的第二连接垫的智能卡测试装置。 背景技术 0002 请参阅图11， 一种用以测试智能卡的测试装置， 该测试装置300具有测试平台310 及多个探针 320， 所述探针 320 设置于该测试平台 310， 该智能卡 400 具有多个连接垫 410， 各该探针 320 对应各该连接垫 410， 以测试各该连接垫 410 是否正常， 由于该测试装置 300 仅能测试位于该智能卡400的上表面420的连接垫410， 若要测试位于该智能卡400的下表 面 430 的连接垫 410， 则需在完成测试该智能卡 400 的上表面 420 的连接垫 410 后， 再将该 智能卡 4。
10、00 翻面进行测试位于下表面 430 的连接垫 410， 而造成测试流程上的繁复与困难。 0003 有鉴于上述现有的智能卡测试装置存在的缺陷， 本发明人基于从事此类产品设计 制造多年丰富的实务经验及专业知识， 并配合学理的运用， 积极加以研究创新， 以期创设一 种新型的智能卡测试装置， 能够改进一般现有的智能卡测试装置， 使其更具有实用性。 经过 不断的研究、 设计， 并经过反复试作样品及改进后， 终于创设出确具实用价值的本发明。 发明内容 0004 本发明的主要目的在于， 克服现有的智能卡测试装置存在的缺陷， 而提供一种用 以测试卡的智能卡测试装置， 借由第一测试模块及第二测试模块可测试位于。
11、智能卡的上表 面的第一连接垫及位于智能卡的下表面的第二连接垫， 以简化测试的流程， 从而更加适于 实用。 0005 本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。 依据本发明提出 的一种智能卡测试装置， 其供测试智能卡， 各该智能卡具有上表面、 下表面、 第一连接垫、 第 二连接垫及封胶体， 该第一连接垫位于该上表面， 该第二连接垫及该封胶体位于该下表面， 其中该智能卡测试装置包括第一测试模块及第二测试模块， 该第一测试模块具有第一电路 板、 第一探针座、 压合板及多个第一探针组， 该第一探针座位于该第一电路板及该压合板之 间， 该第一探针座具有第一表面、 第二表面、 第一通孔、 本。
12、体部及定位凸部， 该第一表面朝向 该第一电路板， 该第二表面朝向该压合板， 各该第一通孔连通该第一表面及该第二表面， 该 定位凸部凸出于该本体部， 各该第一探针组结合于该第一电路板， 各该第一探针组并贯穿 各该第一通孔， 且各该第一探针组凸出于该第二表面， 该压合板具有显露孔， 各该显露孔显 露各该第一探针组， 其中各该第一探针组对应各该第一连接垫， 该第二测试模块具有第二 探针座、 基座及第二探针组， 该第二探针座具有第三表面、 第四表面及第二通孔， 该第三表 面朝向该压合板， 该第四表面朝向该基座， 各该第二通孔连通该第三表面及该第四表面， 各 该第二探针组结合于该基座， 各该第二探针组并。
13、贯穿各该第二通孔， 且各该第二探针组凸 出于该第三表面， 其中， 各该第二探针组对应各该第二连接垫。 0006 本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。 说 明 书 CN 103926481 A 4 2/6 页 5 0007 前述的智能卡测试装置， 其中该第一测试模块具有限位件， 该第一探针座具有限 位槽， 该限位槽凹设于该第一表面， 该限位件具有限位部及结合部， 该限位部设置于该限位 槽， 该结合部结合于该压合板。 0008 前述的智能卡测试装置， 其中该第一测试模块具有弹性件， 各该弹性件位于该第 一探针座及该压合板之间， 各该弹性件具有第一端及第二端， 各该第一端抵触。
14、该第一探针 座， 各该第二端抵触该压合板。 0009 前述的智能卡测试装置， 其中该压合板具有定位凹槽， 该第一探针座的该定位凸 部能移动的容置于该定位凹槽。 0010 前述的智能卡测试装置， 其中该压合板具有压合面， 该定位凹槽具有槽底面， 该压 合面朝向该第二测试模块， 各该显露孔连通该压合面及该槽底面。 0011 前述的智能卡测试装置， 其中该第一测试模块另具有导引柱， 该第一探针座具有 导引孔， 各该导引孔位于该本体部， 各该导引柱结合于该压合板， 且各该导引柱能移动的容 置于该导引孔。 0012 前述的智能卡测试装置， 其中该第一探针组具有第一探针套、 第一探针及第一弹 性件， 该第。
15、一探针及该第一弹性件设置于该第一探针套中， 且该第一探针凸出于该第一探 针套。 0013 前述的智能卡测试装置， 其中该第二探针座具有让位凹槽， 各该让位凹槽凹设于 该第二探针座的该第三表面， 且各该让位凹槽对应各该封胶体以容置各该智能卡的该封胶 体。 0014 前述的智能卡测试装置， 其中各该让位凹槽连通各该第二通孔。 0015 前述的智能卡测试装置， 其中该第二测试模块具有承载座及活动杆， 该基座设置 于该承载座， 该活动杆顶抵该承载座， 使该承载座能上下移动。 0016 前述的智能卡测试装置， 其中该基座具有第二电路板及板体， 该第二电路板结合 于该板体， 且该板体位于该第二电路板及承载。
16、座之间。 0017 前述的智能卡测试装置， 其中该第二探针组具有第二探针套、 第二探针及第二弹 性件， 该第二探针及该第二弹性件设置于该第二探针套中， 且该第二探针凸出于该第二探 针套。 0018 本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。 本发明借由该第一测试模块 测试所述智能卡的该第一连接垫， 并由该第二测试模块测试所述智能卡的第二连接垫， 以 简化智能卡的测试流程。 本发明在技术上有显著的进步， 并具有明显的积极效果， 诚为一新 颖、 进步、 实用的新设计。 0019 上述说明仅是本发明技术方案的概述， 为了能够更清楚了解本发明的技术手段， 而可依照说明书的内容予以实施， 并且为了让。
17、本发明的上述和其他目的、 特征和优点能够 更明显易懂， 以下特举较佳实施例， 并配合附图， 详细说明如下。 附图说明 0020 图 1 是依据本发明的一个实施例， 一种智能卡测试装置的立体图。 0021 图 2 是依据本发明的一个实施例， 一种第一测试模块的分解立体图。 0022 图 3 是依据本发明的一个实施例， 该第一测试模块的侧面剖视图。 说 明 书 CN 103926481 A 5 3/6 页 6 0023 图 4 是依据本发明的一个实施例， 一种第二测试模块的分解立体图。 0024 图 5 是依据本发明的一个实施例， 该第二测试模块的侧面剖视图。 0025 图 6 是依据本发明的一个。
18、实施例， 一种测试平台、 智能卡及该智能卡测试装置的 立体图。 0026 图 7 是依据本发明的一个实施例， 所述智能卡的仰视图。 0027 图 8 是依据本发明的一个实施例， 所述智能卡的俯视图。 0028 图 9 是依据本发明的一个实施例， 该智能卡测试装置测试所述智能卡的流程图。 0029 图 10 是依据本发明的一个实施例， 该智能卡测试装置测试所述智能卡的流程图。 0030 图 11 是现有习知的测试装置的侧面剖视图。 0031 【主要元件符号说明】 0032 100 ： 智能卡测试装置 110 ： 第一测试模块 0033 111 ： 第一电路板 112 ： 第一探针座 0034 1。
19、12a ： 第一表面 112b ： 第二表面 0035 112c ： 第一通孔 112d ： 本体部 0036 112e ： 定位凸部 112f ： 限位槽 0037 112g ： 导引孔 113 ： 压合板 0038 113a ： 显露孔 113b ： 定位凹槽 0039 113c ： 压合面 113d ： 槽底面 0040 114 ： 第一探针组 114a ： 第一探针套 0041 114b ： 第一探针 114c ： 第一弹性件 0042 115 ： 限位件 115a ： 限位部 0043 115b ： 结合部 116 ： 弹性件 0044 116a ： 第一端 116b ： 第二端 0。
20、045 117 ： 导引柱 120 ： 第二测试模块 0046 121 ： 第二探针座 121a ： 第三表面 0047 121b ： 第四表面 121c ： 第二通孔 0048 121d ： 让位凹槽 122 ： 基座 0049 122a ： 第二电路板 122b ： 板体 0050 123 ： 第二探针组 123a ： 第二探针套 0051 123b ： 第二探针 123c ： 第二弹性件 0052 124 ： 承载座 125 ： 活动杆 0053 200 ： 智能卡 210 ： 上表面 0054 220 ： 下表面 230 ： 第一连接垫 0055 240 ： 第二连接垫 250 ： 封。
21、胶体 0056 300 ： 测试装置 310 ： 测试平台 0057 320 ： 探针 400 ： 智能卡 0058 410 ： 连接垫 420 ： 上表面 0059 430 ： 下表面 500 ： 测试平台 0060 510 ： 导轨 511 ： 导轨面 说 明 书 CN 103926481 A 6 4/6 页 7 0061 520 ： 调整件 600 ： 传动件 0062 G1 ： 第一间距 具体实施方式 0063 为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效， 以下结合 附图及较佳实施例， 对依据本发明提出的智能卡测试装置其具体实施方式、 结构、 特征及其 功效， 详细说。
22、明如后。 0064 请参阅图 1， 其为本发明的一个实施例， 一种智能卡测试装置 100， 其包括第一测 试模块 110 及第二测试模块 120， 在本实施例中， 该第二测试模块 120 位于该第一测试模块 110 的下方， 请参阅图 1、 图 2 及图 3， 该第一测试模块 110 具有第一电路板 111、 第一探针座 112、 压合板 113、 第一探针组 114、 限位件 115、 弹性件 116 及导引柱 117， 该第一探针座 112 位于该第一电路板111及该压合板113之间， 该第一探针座112具有第一表面112a、 第二表 面112b、 第一通孔112c、 本体部112d、 定。
23、位凸部112e、 限位槽112f及导引孔112g， 该第一表 面 112a 朝向该第一电路板 111， 该第二表面 112b 朝向该压合板 113， 各该第一通孔 112c 连 通该第一表面 112a 及该第二表面 112b， 该定位凸部 112e 凸出于该本体部 112d， 该限位槽 112f凹设于该第一表面112a， 各该导引孔112g位于该本体部112d， 各该第一探针组114结 合于该第一电路板111， 各该第一探针组114并贯穿各该第一通孔112c， 且各该第一探针组 114凸出于该第二表面112b， 该压合板113及该第一探针座112的间距有第一间距G1， 且该 压合板 113 具。
24、有显露孔 113a、 定位凹槽 113b 及压合面 113c， 各该显露孔 113a 显露各该第 一探针组 114， 该第一探针座 112 的该定位凸部 112e 可移动的容置于该定位凹槽 113b 中， 且该定位凹槽 113b 具有槽底面 113d， 该压合面 113c 朝向该第二测试模块 120， 各该显露孔 113a 连通该压合面 113c 及该槽底面 113d， 该第一探针组 114 具有第一探针套 114a、 第一 探针 114b 及第一弹性件 114c， 该第一探针 114b 及该第一弹性件 114c 设置于该第一探针 套 114a 中， 且该第一探针 114b 凸出于该第一探针套。
25、 114a， 该限位件 115 具有限位部 115a 及结合部 115b， 该限位部 115a 设置于该限位槽 112f， 该结合部 115b 结合于该压合板 113， 以限制该压合板 113 仅能于该第一间距 G1 中移动， 各该弹性件 116 位于该第一探针座 112 及该压合板113之间， 各该弹性件116具有第一端116a及第二端116b， 各该第一端116a抵 触该第一探针座 112， 各该第二端 116b 抵触该压合板 113， 当该压合板 113 受到外力顶抵而 朝向该第一探针座 112 移动并压缩所述弹性件 116， 所述弹性件 116 提供该压合板 113 压 合力量， 各该。
26、导引柱 117 结合于该压合板 113， 且各该导引柱 117 可移动的容置于该导引孔 112g， 以导引该压合板 113 进行直线运动。 0065 请参阅图 4 及图 5， 该第二测试模块 120 具有第二探针座 121、 基座 122、 第二探针 组 123、 承载座 124 及活动杆 125， 该第二探针座 121 具有第三表面 121a、 第四表面 121b、 第 二通孔121c及让位凹槽121d， 该第三表面121a朝向该压合板113， 该第四表面121b朝向该 基座122， 各该第二通孔121c连通该第三表面121a及该第四表面121b， 各该让位凹槽121d 凹设于该第三表面 1。
27、21a， 在本实施例中， 各该让位凹槽 121d 连通各该第二通孔 121c， 或在 其他实施例中， 各该让位凹槽121d与各该第二通孔121c是分别凹设于该第三表面121a， 其 并无连通的关系， 在本实施例中， 该基座 122 位于该第二探针座 121 及该承载座 124 之间， 且该基座 122 设置于该承载座 124， 该活动杆 125 顶抵该承载座 124， 使该承载座 124 可上 说 明 书 CN 103926481 A 7 5/6 页 8 下移动， 或在其他实施例中， 该活动杆 125 是直接带动该基座 122， 使该基座 122 可上下移 动， 该基座 122 具有第二电路板。
28、 122a 及板体 122b， 该第二电路板 122a 结合于该板体 122b， 且该板体 122b 位于该第二电路板 122a 及承载座 124 之间， 各该第二探针组 123 结合于该 基座 122 的该第二电路板 122a， 且各该第二探针组 123 并贯穿各该第二通孔 121c， 且各该 第二探针组 123 凸出于该第三表面 121a， 该第二探针组 123 具有第二探针套 123a、 第二探 针 123b 及第二弹性件 123c， 该第二探针 123b 及该第二弹性件 123c 设置于该第二探针套 123a 中， 且该第二探针 123b 凸出于该第二探针套 123a。 0066 请参。
29、阅图 6， 为本发明设置于测试平台 500， 以测试智能卡 200， 该测试平台 500 具 有二个导轨 510 及二个调整件 520， 各该导轨 510 具有导轨面 511， 所述导轨面 511 用以承 载所述智能卡 200， 使所述智能卡 200 可在所述导轨面 511 上移动， 所述调整件 520 是用以 调整所述导轨 510 的位置， 使所述智能卡 200 可对正该第一测试模块 110 及该第二测试模 块 120， 请参阅图 6、 图 7 及图 8， 各该智能卡 200 具有上表面 210、 下表面 220、 第一连接垫 230、 第二连接垫240及封胶体250， 该第一连接垫230位。
30、于该上表面210， 该第二连接垫240 及该封胶体 250 位于该下表面 220， 请参阅图 9， 当所述智能卡 200 由所述导轨 510 输送至 测试位置时， 各该第一探针组 114 对应各该第一连接垫 230 以测试各该第一连接垫 230 是 否正常， 各该第二探针组 123 对应各该第二连接垫 240 以测试各该第二连接垫 240 是否正 常， 各该让位凹槽 121d 对应各该封胶体 250 以容置各该封胶体 250， 以避免各该智能卡 200 在测试时， 所述封胶体 250 因该压合板 113 的压合而损坏。 0067 所述智能卡 200 的测试流程如下， 首先， 请参阅图 6 及图。
31、 9， 以一个传动件 600( 可 选自气压缸或油压缸 ) 带动该活动杆 125， 并使该承载座 124 顶推该基座 122， 使该第二探 针座 121 上升至与所述导轨 510 的该导轨面 511 同高， 由于所述第二探针组 123 是凸出于 该第二探针座 121 的第三表面 121a， 因此， 所述智能卡 200 受到所述第二探针组 123 的顶 推而高于所述导轨面 511， 接着， 请参阅图 10， 以另一个传动件 ( 图未绘出 ) 带动该第一测 试模块 110 下降， 使该压合板 113 抵触所述智能卡 200 的该第一连接垫 230， 进而使得位于 所述下表面 220 的该第二连接垫。
32、 240 抵压所述第二探针组 123， 并压缩各该第二探针组 123 的该第二弹性件 123c， 使该第二探针 123b 下降至与该第三表面 121a 同高， 且各该第二探 针123b抵触位于各该下表面220的各该第二连接垫240， 最后， 该第一测试模块110再往下 降， 使各该第一探针组 114 的该第一探针 114b 可经由该压合板 113 的所述显露孔 113a 抵 触位于各该上表面210的各该第一连接垫230， 分别以该第一测试模块110及该第二测试模 块 120 测试所述智能卡 200 的该第一连接垫 230 及该第二连接垫 240， 在本实施例中， 该智 能卡测试装置 100 可。
33、同时测试 16 片智能卡 200， 或者在其他实施例中， 该智能卡测试装置 100 可测试更多或较少的智能卡 200。 0068 本发明借由该第一测试模块110测试所述智能卡200的该第一连接垫230， 并由该 第二测试模块120测试所述智能卡200的第二连接垫240， 以简化所述智能卡200的测试流 程。 0069 以上所述， 仅是本发明的较佳实施例而已， 并非对本发明做任何形式上的限制， 虽 然本发明已以较佳实施例揭露如上， 然而并非用以限定本发明， 任何熟悉本专业的技术人 员， 在不脱离本发明技术方案范围内， 当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰 为等同变化的等效实施例， 但凡是。
34、未脱离本发明技术方案的内容， 依据本发明的技术实质 说 明 书 CN 103926481 A 8 6/6 页 9 对以上实施例所做的任何简单修改、 等同变化与修饰， 均仍属于本发明技术方案的范围内。 说 明 书 CN 103926481 A 9 1/10 页 10 图 1 说 明 书 附 图 CN 103926481 A 10 2/10 页 11 图 2 说 明 书 附 图 CN 103926481 A 11 3/10 页 12 图 3 说 明 书 附 图 CN 103926481 A 12 4/10 页 13 图 4 说 明 书 附 图 CN 103926481 A 13 5/10 页 14 图 5 说 明 书 附 图 CN 103926481 A 14 6/10 页 15 图 6 说 明 书 附 图 CN 103926481 A 15 7/10 页 16 图 7 说 明 书 附 图 CN 103926481 A 16 8/10 页 17 图 8 说 明 书 附 图 CN 103926481 A 17 9/10 页 18 图 9 说 明 书 附 图 CN 103926481 A 18 10/10 页 19 图 10 图 11 说 明 书 附 图 CN 103926481 A 19 。