探针模块技术领域
本发明与电子对象的检测有关；特别是指一种探针模块。
背景技术
按，探针模块设置于一检测机与一待测电子对象之间，用以传送检测机的检测信
号至待测电子对象。图1为现有的探针模块1，包含二基板10及多个探针12，且各该基板10上
布设有二导电线102，该些导电线102的一端电性连接一检测机(图未示)。该些探针12以焊
接的方式分别设置于该基板10且分别电性连该些导电线102的另一端。该些基板10于一待
侧电子对象的上方14，且该些基板10平行于该待测电子对象的一待测面14a，该些探针用以
点测该待测电子对象14的待测面14a。
现有的探针模块1的基板10通常具有一定的宽度，当二个基板10相靠近时，二个基
板10上的探针12受基板10宽度的限制而无法相互靠近，使得该二基板10在水平方向上，将
占去相当的空间。因此，现有的探针模块1只能用于点测尺寸较大的待测电子对象14。
随着科技的进步，待测电子对象的尺寸愈趋减小，而习用的探针模块1便无法满足
检测小尺寸待测电子对象的需求。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的用于提供一种探针模块，可应用于检测尺寸较小的待测
电子对象。
缘以达成上述目的，本发明所提供探针模块，设置于一检测机与一待测电子对象
之间，该待测电子对象具有一待测面；该探针模块包含二基板、至少二导电线与至少二探
针，其中各该基板由绝缘材料所制成，各该基板具有相背对的二平面，该二平面之间的距离
为该基板的厚度；各该基板的各该平面不平行于该待测电子对象的该待测面；其中一该基
板的一该平面与另一该基板的一该平面相邻，且该二基板相邻的二个平面之间的最短距离
小于该二基板另外两个平面之间的最短距离；该二导电线分别设置于该些基板上，且各该
导电线的一端供电性连接至该检测机；该二探针分别电性连接该二导电线的另一端，各该
探针供点测该待测电子对象的该待测面。
本发明的效果在于，探针模块的基板可相对该待测面立起，当二个基板相靠近时，
在水平方向上不会受到基板宽度的限制，因此，二个基板上的探针可以更靠近，使得本发明
的探针模块相较于相应的探针模块可应用于点测较小尺寸的待测电子对象。
附图说明
图1是现有的探针模块的俯视图。
图2是本发明第一较佳实施例探针模块的立体图。
图3是第一较佳实施例探针模块的俯视图。
图4是第一较佳实施例探针模块的局部侧视图。
图5是第一较佳实施例基板的立体图。
图6是第一较佳实施例基板的另一立体图。
图7是本发明第二较佳实施例探针模块的立体图。
图8是第二较佳实施例基板的立体图。
图9是第二较佳实施例基板的另一立体图。
附图标记说明
现有技术
1 探针模块
10 基板 102 导电线 12 探针
14 待测电子对象 14a 待测面
本发明
2 探针模块
20 载板 202 穿孔 204 顶面
206 底面 22 基板 22a 平面
24 第一板段 242 第一侧缘 244 外侧缘
26 第二板段 262 第二侧缘 28 第三板段
282 第三侧缘 284 延伸段 284a 底侧缘
30 导电线 32 接头 322 信号电极
324 金属壳体 34 探针 342 悬臂段
344 针尖段
A 待测电子对象 A01 待测面
D1 最短距离 D2 最短距离
θ 夹角
3 探针模块
36 载板 362 穿孔 38 基板
382 平面 382a 凹槽 40 第一板段
402 侧缘 402a 开放端 42 第三板段
422 侧缘 422a 开放端 44 导电线
442 第一段 444 第二段 46 接头
48 探针
具体实施方式
为能更清楚地说明本发明，兹举较佳实施例并配合图式详细说明如后，请参图2所
示，为本发明第一较佳实施例的探针模块2，其设置于一检测机(图未示)与一待测电子对象
A之间，且该待测电子对象A具有一待测面A01。该探针模块2包含一载板20、多个基板22、多
条导电线30、多个接头32与多个探针34。
该载板20为绝缘材料所制成，在本实施例中该载板20为印刷电路板，该载板20具
有一穿孔202贯穿该载板20的顶面204与底面206。请配合图3与图4，该待测电子对象A位于
该载板20的下方且于该穿孔202的正投影范围内，该待测电子对象A的待测面A01与该载板
20的顶面204、底面206呈平行。
续参见图3，各该基板22由绝缘材料所制成，在本实施例中各该基板22为印刷电路
板，各该基板22具有相背对的二平面22a，该二平面22a之间的距离即为该基板22的厚度。相
邻二个基板22之中，其中一该基板22的一该平面22a与另一该基板22的一该平面22a相邻，
且二相邻基板22的二个平面22a之间的最短距离D1小于该二基板22另外两个平面22a之间
的最短距离D2。本实施例中，相邻二个基板22二相邻的平面22a为相互垂直，但不以此为限，
也可为二相邻的平面22a相平行，或夹角小于180度。
请配合图4至图6，各该基板22具有依序连接的一第一板段24、一第二板段26与一
第三板段28，其中该第一板段24位于该第二板段26与该检测机之间，该第二板段26位于该
第一板段24与该第三板段28之间。该第一板段24具有二个相平行的第一侧缘242及连接于
该二第一侧缘242之间的一外侧缘244。该第二板段26具有二个相平行的第二侧缘262，该第
二板段26位于下方的第二侧缘262结合于该载板20的顶面204，由此，使各该基板22直立地
设置于该载板20的顶面204，且各该基板22的各该平面22a在本实施例中实质上垂直于该待
测电子对象A的该待测面A01。该第二板段26位于上方的该第二侧缘262与该第一板段24位
于上方的该第一侧缘242之间夹一夹角θ，该夹角θ大于90度，使该第一板段24相对该载板20
穿孔202的中心往外倾斜且该外侧缘244由上而下倾斜。
该第三板段28位于该载板20的穿孔202的正投影范围内且具有一第三侧缘282邻
近该穿孔202的中心，该第三侧缘282实质上垂直于该载板20的顶面204、底面206及该待测
电子对象的待测面A01。此外，该第三板段28更向下延伸穿过该载板20的穿孔202而形成一
延伸段284，该延伸段284具有位于最底端的一底侧缘284a，该底侧缘284a连接于该基板22
的该二平面22a之间。
该些导电线30在本实施中以线路布局的方式分别布设于各该基板22的二个该平
面22a上，且各该导电线30于各该基板22的各该平面22a由第一板段24延伸至第三板段28而
止于平面22a与底侧缘284a连接处。
请配合图5与图6，各该接头32设置于各该基板22的第一板段24 的外侧缘244上，
各该接头32具有相隔离的一信号电极322与一金属壳体324，该信号电极322及该金属壳体
324以焊接的方式分别电性连接该基板22二个平面22a上的二导电线30的一端，使每一该基
板22上二个导电线30通过一该接头32电性连接至该检测机。
各该探针34在本实施例中为悬臂式探针，具有一悬臂段342与一针尖段344，该些
探针34每两个一组设置于各该基板22上的第三板段28的延伸段284，详而言之，每一组的二
该探针34的悬臂段342以焊接的方式分别电性连接于每一该基板22上的该二导电线30的另
一端，且连接于基板22的底侧缘284a与二个平面22a的连接处，使该些探针34位于该穿孔
202的正投影范围内，而各该基板22的第三板段28位于各该探针34与各该基板22的第二板
段26之间。该些探针34的针尖段344供点测该待测电子对象A的该待测面A01。
通过将该些基板22以直立的方式设置，可以让该些基板22在排列时可以更紧密，
在水平方向上不会受到基板22宽度所影响，使得该探针模块2相较于习用技术可应用于测
试尺寸更小的待测电子对象A。实务上，只要基板平行于该待测面A01，且相邻该二基板22的
二个平面22a之间的最短距离小于该二基板22另外两个平面22a之间的最短距离，即可达到
使两个基板22上的探针34比习用的探针模块的探针更接近的效果。
此外，由于该些基板的第一板段24相对穿孔202往外倾斜，因此，得以增加各该接
头32彼此相隔的距离，让用户在将外部的信号线连接至该些接头32时，有更多的操作空间。
又，各该基板22的第三侧缘282垂直于待测电子对象A，因此，在垂直方向上，第三侧缘282不
会遮挡到探针34的针尖段344，在以探针34点测待测电子对象A时，用户可清楚地看到探针
34的针尖。
图7为本发明第二较佳实施例的探针模块3，其具有大致相同于第一实施例的结
构，同样包含一载板36、多个基板38、多条导电线44、多个接头46与多个探针48。请参图8与
图9，本实施例与第一实施例不同之处在于，各该基板38的其中一平面382具有一凹槽382a，
该凹槽382a由第一板段40延伸至第三板段42，且该凹槽382a于该第一板段40的一侧缘402
(本实施例为外侧缘)与该第三板段42的一侧缘422(本实施例为第三侧缘)分别形成二开放
端402a，422a，且该些基板38的凹槽382a于二个开放端402a，422a之间的长度相同。
此外，本实施例的导电线44为同轴电缆线，各该导电线44具有相连接的一第一段
442与一第二段444，该第一段442的长度大于该第二段444的长度，各该导电线44的该第一
段442嵌入各该基板38的凹槽382a中。各该导电线44的第一段442的一端伸出第一板段40上
的该开放端402a而与一该接头46电性连接；各该导电线44的第二段444伸出第三板段42上
的开放端422a，且穿过该载板36的穿孔362而位于该穿孔362的正投影范围内。各该探针48
连接于各该导电线44第二段444的一端，而位于该穿孔362的正投影范围内。
通过基板38上的凹槽382a可固定导电线44，避免探针48点测待测电子对象A时，导
电线44受到反作用力而往上移动距离过大。再者，因为第一段442长度占整条导电线44长度
较大的比例，通过该些凹槽382a的长度相同的设计，可以让该些导电线44的第一段442长度
相等，以减少该些导电线44长度的误差，减少该些导电线44之间阻抗不匹配的情形。
综上所述，本发明通过基板不平行于待测电子对象的待测面的设计，有效增加待
测电子对象上方的可用空间。当二个基板相靠近时，在水平方向上不会受到基板宽度的限
制，因此，二个基板上的探针可以更靠近，让探针模块可以应用于更小的待测电子对象。本
发明也增加更多的可用空间，而可以设置更多的基板、导电线及探点，以供点测接点更多的
待测电子对象。
以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详
细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡
在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保
护范围之内。