晶体管检测装置【技术领域】
本发明涉及一种检测装置，特别是涉及一种晶体管检测装置。
【背景技术】
晶体管(例如SO-8、SOT363、SOT23、SOT-113、TO92)在使用前一般需要
进行检测，以验证其功能正常。以SO-8为例，其包括一个G极(栅极)引脚、
三个S极(源极)引脚、四个D极(漏极)引脚。
请参阅图1，图1为晶体管功能测试的一电路图。该功能测试为测试源极和
漏极之间的电阻RDS，该电路需要在晶体管10的源极和漏极之间串接第一电源
11及第一电阻12，在晶体管10的栅极和漏极之间串接第二电源13及第二电阻
14。
请参阅图2，图2绘示为图1晶体管功能测试电路的实物连接示意图。如图
所示，所述晶体管10的一个四个漏极引脚、三个源极引脚、一个栅极引脚分别
通过第一焊点15、第二焊点16、第三焊点17焊接于印刷线路板18上，直流电
源19提供上述第一电源11及第二电源13，再通过导线连接以形成图1中的电
路。所述导线的一端焊接在所述第一焊点15、第二焊点16、第三焊点17上，
另一端连接所述第一电阻12、第二电阻14或所述直流电源19。
然而，采用上述方式连接的测试电路，由于是使用具有夹具的导线连接所
述电子元器件，并且该些电子元器件焊接在一电路板上。一方面，在检测时接
线拆线的流程较繁琐；另一方面，因导线的夹具的散热性能较差，且高温焊接
后所述晶体管功能参数不良可能会导致测试数据不准。
有鉴于此，实有必要开发一种晶体管检测装置，以解决上述问题。
【发明内容】
因此，本发明的目的是提供一种晶体管检测装置，解决晶体管功能测试时
接线拆线流程繁琐，以及因导线的夹具的散热性能较差，且高温焊接后所述晶
体管功能参数不良导致测试数据不准的问题。
为了达到上述目的，本发明提供的晶体管检测装置，用来检测晶体管的性
能，包括：
基板，其上设有若干个固定孔，所述固定孔之间存在一定间距；
电阻，其安插固定于所述基板的固定孔上；
弹簧引脚，具有一弹簧及两导电引脚，所述两导电引脚安装于该弹簧之上，
其中一导电引脚连接所述电阻的一端，另一导电引脚连接所述晶体管的其中一
引脚；
电源，具有两组电源输出口，所述两组电源输出口各具有一正极输出端口
和一负极输出端口；
连接导线，其一端连接于所述电源上，另一端具有夹持件，所述夹持件对
应夹持所述电阻的另一端。
可选的，所述弹簧引脚的两导电引脚可进行旋转。
可选的，所述电阻至少2个。
可选的，所述电阻阻值在10Ω姆至100KΩ之间。
可选的，所述电源为直流电源。
可选的，所述电阻的阻值对应所述晶体管测试用电阻的阻值。
相较于现有技术，利用本发明的晶体管检测装置，只需依据测试所需求阻
值的电阻，将其固定在所述基板上，再将所述弹簧引脚的其中一导电引脚连接
所述电阻，另一导电引脚连接所述晶体管的栅极引脚、源极引脚或者漏极引脚
上。由于是将电阻固定在基板上，而所述晶体管的栅极引脚、源极引脚、漏极
引脚与电阻之间的连接是通过弹簧引脚连接来完成，无须焊接。因此，既解决
了测试时接线拆线的繁琐流程，又可避免因导线夹具的散热性能差，且高温焊
接后所述晶体管功能参数不良导致测试数据不准的问题。
【附图说明】
图1绘示晶体管功能测试的一电路图。
图2绘示图1晶体管功能测试电路的实物连接示意图。
图3绘示本发明的晶体管检测装置的结构示意图。
图4绘示本发明的晶体管检测装置一较佳实施例的装置结构示意图。
【具体实施方式】
请参阅图3，图3绘示本发明塑胶补偿植钉装置的结构示意图。
为了达到上述目的，本发明提供的晶体管功能测试装置，用来检测晶体管
10的性能，其包括：
基板20，其上设有若干个固定孔，所述固定孔之间存在一定间距；
电阻21，其安插固定于所述基板20的固定孔上；
弹簧引脚22，具有一弹簧223及两导电引脚，所述两导电引脚安装于所述
弹簧223之上，其中一导电引脚221连接所述电阻21的一端，另一导电引脚222
连接所述晶体管10的其中一引脚；
电源23，具有两组电源输出口(231，232)，所述两组电源输出口(231，
232)各具有一正极输出端口和一负极输出端口；
连接导线24，其一端连接于所述电源23上，另一端具有夹持件25，所述
夹持件25对应夹持所述电阻21的另一端。
其中，所述弹簧引脚22的两导电引脚可进行旋转。
其中，所述弹簧引脚22至少为2个，以便晶体管10放置方位不同时，使
其栅极、源极或者漏极引脚通过所述弹簧引脚22便捷地连接至所述电阻21。
其中，所述电阻21至少为2个。
其中，所述电阻21的阻值在10Ω姆至100KΩ之间。
其中，所述电源23为直流电源。
其中，所述电阻21的阻值对应所述晶体管测试用电阻的阻值。
其中，所述晶体管、电阻及弹簧引脚安插于所述基板之上，测试完成之后
可拆卸，以利回收使用。
请再参阅图4，图4绘示本发明的晶体管检测装置一较佳实施例的装置结构
示意图。
于本实施例中，该晶体管检测装置检测晶体管10源极和漏极之间的电阻RDS。
于本实施例中，所述第一弹簧引脚22的一导电引脚221连接所述第一电阻
21的一端，另一导电引脚222连接所述晶体管10的漏极引脚。
于本实施例中，所述电源输出口231的负极输出端口通过连接导线24连接
至所述晶体管10的源极引脚，其正极输出端口通过连接导线24连接至第一电
阻21的另一端。
于本实施例中，所述第二弹簧引脚26的一导电引脚262连接所述第二电阻
27的一端，另一导电引脚261连接所述晶体管10的栅极引脚。
于本实施例中，所述电源输出口232的负极输出端口通过连接导线24连接
至所述晶体管10的源极引脚，其正极输出端口通过连接导线24连接至第二电
阻27的另一端。
于本实施例中，所述晶体管10是以SO-8为例，其它类型的晶体管10(例
如SOT363、SOT23、SOT-113、TO92)也可以使用上述测试装置。
相较于现有技术，利用本发明的晶体管检测装置，只需依据测试所需求阻
值的电阻21，将其固定在所述基板20上，再通过弹簧引脚(22，26)将所述晶
体管的栅极引脚、源极引脚、漏极引脚与电阻之间直接连接，无须进行焊接。
因此，本发明的晶体管检测装置既解决了测试时接线拆线的繁琐流程，又可避
免因导线夹具的散热性能差，且高温焊接后所述晶体管功能参数不良导致测试
数据不准的问题。