《探头校准装置.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《探头校准装置.pdf（13页珍藏版）》请在专利查询网上搜索。
1、(10)申请公布号 CN 103645455 A (43)申请公布日 2014.03.19 CN 103645455 A (21)申请号 201310705549.6 (22)申请日 2013.12.19 G01R 35/00(2006.01) G01R 29/08(2006.01) (71)申请人 北京无线电计量测试研究所 地址 100854 北京市海淀区 142 信箱 408 分 箱 (72)发明人 黄建领 康宁 姚利军 沈涛 (74)专利代理机构 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人 张文祎 (54) 发明名称 探头校准装置 (57) 摘要 本发明公开了一种探头校准装置， 该校准。
2、装 置包括定位基准盘、 第一校准支架和第二校准支 架 ； 第一校准支架包括第一支撑底盘、 一端设置 在第一支撑底盘上的第一支撑柱和设置在第一支 撑柱另一端的第一测量组件 ； 第二校准支架包括 第二支撑底盘、 一端设置在第二支撑底盘上的第 二支撑柱和设置在第二支撑柱另一端的第二测量 组件 ； 定位基准盘通过第一连接板与第一校准支 架连接， 第一连接板一端与定位基准盘铰接， 另一 端与第一支撑底盘固定连接 ； 第一校准支架通过 第二连接板与第二校准支架连接， 第二连接板的 一端与第一支撑底盘铰接， 另一端与第二支撑底 盘铰接。 通过简单的旋转移动即可调整探头位置， 从而提高测试精度， 工作效率。 。
3、(51)Int.Cl. 权利要求书 2 页 说明书 6 页 附图 4 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书2页 说明书6页 附图4页 (10)申请公布号 CN 103645455 A CN 103645455 A 1/2 页 2 1. 一种探头校准装置， 其特征在于 ： 该校准装置包括定位基准盘、 第一校准支架和第 二校准支架 ； 所述第一校准支架包括第一支撑底盘、 一端设置在第一支撑底盘上的第一支撑柱和设 置在第一支撑柱另一端的第一测量组件 ； 所述第二校准支架包括第二支撑底盘、 一端设置在第二支撑底盘上的第二支撑柱和设 置在第二支撑柱另一端的第二测量组。
4、件 ； 所述定位基准盘通过第一连接板与第一校准支架连接， 所述第一连接板一端与所述定 位基准盘铰接， 另一端与第一支撑底盘固定连接 ； 所述第一校准支架通过第二连接板与第二校准支架连接， 所述第二连接板的一端与第 一支撑底盘铰接， 另一端与第二支撑底盘铰接 ； 所述第一测量组件包括第一测量横杆和设置在其上并依次连接的第一场强探头、 第一 巴伦和第一光电转换模块， 所述第二测量组件包括第二测量横杆和设置在其上并依次连接 的第二场强探头、 第二巴伦和第二光电转换模块。 2. 根据权利要求 1 所述的校准装置， 其特征在于 ： 所述第二支撑底盘上还设有水平的 地探头定位支架， 所述地探头定位支架的一。
5、端与第二支撑底盘连接， 另一端头位于第二场 强探头竖向中心轴线上。 3. 根据权利要求 1 所述的校准装置， 其特征在于 ： 所述定位基准盘上设有第一定位孔， 所述第一连接板上设有与所述第一定位孔匹配对应的第一定位销 ； 所述第一支撑底盘上设 有第二定位孔， 所述第二连接板上设有与所述第二定位孔匹配对应的第二定位销 ； 第二支 撑底盘上设有第三定位孔， 所述第二连接板上设有与所述第三定位孔匹配对应的第三定位 销 ； 所述定位基准盘的中心设有基准孔。 4. 根据权利要求 1 所述的校准装置， 其特征在于 ： 所述第一场强探头的竖向中心轴线 与第一支撑柱轴线之间的距离为 45.2cm， 所述第二场。
6、强探头的竖向中心轴线与第二支撑柱 轴线之间的距离为 45.2cm， 所述定位基准盘的竖向中心轴线与第一支撑柱轴线之间的距离 为 45.2cm， 所述第一支撑柱轴线与第二支撑柱轴线之间的距离范围为 60 90cm。 5. 根据权利要求 4 所述的校准装置， 其特征在于 ： 所述第一支撑柱轴线与第二支撑柱 轴线之间的距离为 60cm。 6. 根据权利要求 4 所述的校准装置， 其特征在于 ： 所述第一支撑柱轴线与第二支撑柱 轴线之间的距离为 90cm。 7. 根据权利要求 4 所述的校准装置， 其特征在于 ： 所述第一定位孔包括第一孔、 第二孔 和第三孔， 所述第一孔与第二孔之间的夹角为 45 度。
7、， 第二孔与第三孔之间的夹角为 45 度 ； 所述第二定位孔包括第四孔和第五孔， 所述第四孔与第五孔之间的夹角范围为 178 176 度 ； 所述第三定位孔包括第六孔、 第七孔、 第八孔和第九孔， 所述第六孔与第七孔之间的夹 角范围为 26 40 度， 第七孔与第八孔之间的夹角范围为 156 144 度， 第八孔与第九孔之 间的夹角范围为 26 40 度。 8. 根据权利要求 7 所述的校准装置， 其特征在于 ： 所述第四孔与第五孔之间的夹角为 178 度， 所述第六孔与第七孔之间的夹角为 26 度， 第七孔与第八孔之间的夹角为 156 度， 第 八孔与第九孔之间的夹角为 26 度。 9. 根。
8、据权利要求 7 所述的校准装置， 其特征在于 ： 所述第四孔与第五孔之间的夹角为 权 利 要 求 书 CN 103645455 A 2 2/2 页 3 176 度， 所述第六孔与第七孔之间的夹角为 40 度， 第七孔与第八孔之间的夹角为 144 度， 第 八孔与第九孔之间的夹角为 40 度。 10. 根据权利要求 1 所述的校准装置， 其特征在于 ： 所述第一支撑柱为可调节高度的结 构， 所述第二支撑柱为可调节高度的结构。 权 利 要 求 书 CN 103645455 A 3 1/6 页 4 探头校准装置 技术领域 0001 本发明涉及一种探头校准支架， 特别涉及一种利用三旋转轴进行多测试面多。
9、测试 位置点的探头校准支架。 背景技术 0002 随着科学技术的发展， 大量电子设备应用在军用装备、 民用设施方面， 电磁脉冲能 量一旦侵入， 可使设备中的电子元器件失效或永久损坏， 造成大范围的指挥、 控制、 通信系 统瘫痪。 电磁脉冲是短暂瞬变的强电磁辐射现象， 电磁脉冲有自然产生的也有人为制造的， 最常见的自然产生的电磁脉冲是雷电电磁脉冲和静电放电电磁脉冲。 人造的电磁脉冲又分 为核爆炸电测脉冲和普通电磁脉冲。核爆炸产生的电磁脉冲峰值场强可达 50 100kV/m， 美、 俄等世界军事强国都在进行高功率微波武器的开发， 电磁脉冲弹就是一种新概念的电 磁武器， 虽然电磁脉冲持续的时间非常短。
10、暂， 但瞬间释放的能量巨大。 无论哪种激发方式产 生的电磁脉冲耦合进入电子系统后都会对电子元器件、 线路乃至整个系统产生影响， 严重 时可使系统遭到破坏瘫痪， 电力网断路， 金属管线及地下电缆通信网等都受到影响， 从而陷 入无电源、 无通信、 无计算机的三无世界， 其破坏力号称 “第二原子弹” 。 0003 如何提高战时军用武器、 设备和民用设备的抗电磁脉冲性能， 保证设备在受到电 磁脉冲辐射后能继续正常工作成为研究的重点。美国和俄罗斯对电磁脉冲有广泛、 深入的 研究， 并且十分重视武器装备电子环境效应和防护加固技术， 并竭力研究和发展电磁脉冲 武器。 同时， 他们已经建有多种大型电磁脉冲测试。
11、系统除将其作为科学研究的基础设施外， 主要用于测试电磁脉冲武器的效力和各种电子系统的防护能力。 0004 为了进行电气电子产品、 武器装备等抗电磁脉冲能力的检验、 考核和验收， 美国率 先在美军标 MIL-STD-461F 中提出了辐射敏感度试验方法， 我国参照此标准形成了国军标 GJB151A/GJB152A， 其中的 RS105 测试项， 详细规定了电磁脉冲测试的方法和等级。美军标 461F 中 RS105 试验项目对瞬变电磁场场均匀性要求的测试位置点是， 传输线距离地面 1 米 的正方形均匀区域四个顶点和中心位置点， 其中中心位置点为参考点， 测试时参考探头位 置保持不动。当前的实验室测。
12、试装置在空间不同平面内进行多位置点测试时， 大部分都是 很简单的测试杆， 通过不断的人工移动测试架的位置和测试架上探头的位置来进行测试， 频繁的移动测试架会引入移动误差， 同时工作效率也很低。在空间平面区域和空间立体区 域测试时， 以往的测试校准架， 还需要进行一定的移动才可以完成全部位置点的测试， 经过 移动的校准架还需要重新进行基准定位， 在实际操作中还是存在一定的调节误差， 同时也 增加了工作量， 在测试精度和工作效率方面还是有待提高的。 发明内容 0005 针对上述现有技术存在的缺陷， 本发明所要解决的技术问题是提供一种瞬变电磁 场三旋转轴探头校准支架， 其不仅可以提高测试时确定位置点。
13、的效率， 而且还能保证定位 的准确度及可靠程度。 说 明 书 CN 103645455 A 4 2/6 页 5 0006 为解决上述技术问题， 本发明的瞬变电磁场三旋转轴探头校准支架包括， 包括定 位基准盘、 第一校准支架和第二校准支架 ； 0007 所述第一校准支架包括第一支撑底盘、 一端设置在第一支撑底盘上的第一支撑柱 和设置在第一支撑柱另一端的第一测量组件 ； 0008 所述第二校准支架包括第二支撑底盘、 一端设置在第二支撑底盘上的第二支撑柱 和设置在第二支撑柱另一端的第二测量组件 ； 0009 所述定位基准盘通过第一连接板与第一校准支架连接， 所述第一连接板一端与所 述定位基准盘铰接，。
14、 另一端与第一支撑底盘固定连接 ； 0010 所述第一校准支架通过第二连接板与第二校准支架连接， 所述第二连接板的一端 与第一支撑底盘铰接， 另一端与第二支撑底盘铰接 ； 0011 所述第一测量组件包括第一测量横杆和设置在其上并依次连接的第一场强探头、 第一巴伦和第一光电转换模块， 所述第二测量组件包括第二测量横杆和设置在其上并依次 连接的第二场强探头、 第二巴伦和第二光电转换模块。 0012 所述第二支撑底盘上还设有水平的地探头定位支架， 所述地探头定位支架的一端 与第二支撑底盘连接， 另一端头位于第二场强探头竖向中心轴线上。 0013 所述定位基准盘上设有第一定位孔， 所述第一连接板上设有。
15、与所述第一定位孔匹 配对应的第一定位销 ； 所述第一支撑底盘上设有第二定位孔， 所述第二连接板上设有与所 述第二定位孔匹配对应的第二定位销 ； 第二支撑底盘上设有第三定位孔， 所述第二连接板 上设有与所述第三定位孔匹配对应的第三定位销 ； 所述定位基准盘的中心设有基准孔。 0014 所述第一场强探头的竖向中心轴线与第一支撑柱轴线之间的距离为 45.2cm， 所述 第二场强探头的竖向中心轴线与第二支撑柱轴线之间的距离为 45.2cm， 所述定位基准盘的 竖向中心轴线与第一支撑柱轴线之间的距离为 45.2cm， 所述第一支撑柱轴线与第二支撑柱 轴线之间的距离范围为 60 90cm。 0015 所述。
16、第一支撑柱轴线与第二支撑柱轴线之间的距离为 60cm。 0016 所述第一支撑柱轴线与第二支撑柱轴线之间的距离为 90cm。 0017 所述第一定位孔包括第一孔、 第二孔和第三孔， 所述第一孔与第二孔之间的夹角 为 45 度， 第二孔与第三孔之间的夹角为 45 度 ； 所述第二定位孔包括第四孔和第五孔， 所述 第四孔与第五孔之间的夹角范围为 178 176 度 ； 所述第三定位孔包括第六孔、 第七孔、 第 八孔和第九孔， 所述第六孔与第七孔之间的夹角范围为2640度， 第七孔与第八孔之间的 夹角范围为 156 144 度， 第八孔与第九孔之间的夹角范围为 26 40 度。 0018 所述第四孔。
17、与第五孔之间的夹角为 178 度， 所述第六孔与第七孔之间的夹角为 26 度， 第七孔与第八孔之间的夹角为 156 度， 第八孔与第九孔之间的夹角为 26 度。 0019 所述第四孔与第五孔之间的夹角为 176 度， 所述第六孔与第七孔之间的夹角为 40 度， 第七孔与第八孔之间的夹角为 144 度， 第八孔与第九孔之间的夹角为 40 度。 0020 所述第一支撑柱为可调节高度的结构， 所述第二支撑柱为可调节高度的结构。 0021 所述基准定位盘的底面上设有吸盘。 0022 所述第一支撑底盘和第二支撑底盘的底面上围绕圆心均匀设置 3 个万向球。 0023 采用上述结构后， 本发明探头校准装置在。
18、瞬变电磁场场均匀性测试时， 通过简单 的旋转即可完成瞬变电磁场空间区域场均匀性试验的测试。 减少了多次移动调整探头位置 说 明 书 CN 103645455 A 5 3/6 页 6 姿态而引入的测量误差， 提高测试精度， 进而提高了工作效率 ； 并且实现了一个校准装置可 以满足不同瞬变电磁场场均匀性标准的测试要求， 提高了校准支架的适用性。本设计发明 中所有的旋转部分均有方位定位装置， 提高了定位的准确度和可靠程度。 0024 本发明成本低廉， 结构简单。 所有的旋转通过底部的万向球进行旋转， 实现了各部 分自转和公转的稳定运行。减少移动操作步骤， 减少误差， 提高测试精度和工作效率。 附图说。
19、明 0025 下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。 0026 图 1 为本发明的结构示意图 0027 图 2 为本发明中的第一校准支架的结构示意图。 0028 图 3 为本发明中的第一校准支架的俯视图。 0029 图 4 为本发明中的第二校准支架的结构示意图。 0030 图 5 为本发明中的第二校准支架的俯视图。 0031 图 6 为本发明中的定位基准盘的俯视图。 0032 图 7 为 RS105 测试系统的主视图。 0033 图 8 为 RS105 测试系统的俯视图。 0034 图 9 为本发明进行面测量时的立体图。 0035 图 10 为本发明进行面测量时的俯视图。 00。
20、36 图 11 为本发明进行体测量时的立体图。 0037 图 12 为本发明进行体测量时的俯视图。 0038 图 13 为本发明进行体测量时的立体图。 0039 图 14 为本发明进行体测量时的俯视图。 具体实施方式 0040 参照图 1 至图 14 所示， 一种探头校准装置， 如图 1 所示， 该校准装置包括第一校准 支架 1、 第二校准支架 2 和定位基准盘 3 ； 定位基准盘 3 通过第一连接板 4 与第一支撑底盘 101连接， 第一连接板4的一端与定位基准盘3铰接， 另一端与第一支撑底盘101固定连接， 第一连接板 4 上设有与第一定位孔匹配对应的第一定位销 401。定位基准盘 3 的。
21、竖向中心 轴线与第一支撑外柱102的轴线之间的距离为45.2cm。 第一支撑底盘101通过第二连接板 5 与第二支撑底盘 201 连接， 第二连接板 5 的一端与第一支撑底盘 101 铰接， 另一端与第二 支撑底盘 201 铰接。第二连接板 5 上分别设有与第二定位孔和第三定位孔匹配对应的第二 定位销 501 和第三定位销 502。采用这样的结构后， 第一校准支架 1 能够围绕定位基准盘 3 转动， 第二校准支架 2 能够围绕第一校准支架 1 转动。 0041 如图2所示， 所述第一支撑柱为可调节高度的结构， 第一校准支架1包括第一支撑 底盘 101、 第一支撑外柱 102、 第一支撑内柱 1。
22、03 和第一测量组件 104， 第一测量组件 104 包 括第一测量横杆 1041 和设置在第一测量横杆 1041 上的依次连接的第一场强探头 1042、 第 一巴伦1043和第一光电转换模块1044。 第一支撑外柱102的一端设置在第一支撑底盘101 的中心处， 第一支撑内柱 103 的一端插入第一支撑外柱 102 内， 并可沿第一支撑外柱 102 的 内侧壁上下滑动， 第一支撑内柱 103 的侧壁上和第一支撑外柱 102 的侧壁上分别设有匹配 说 明 书 CN 103645455 A 6 4/6 页 7 对应的固定孔， 第一支撑内柱 103 的另一端与第一支撑横杆 1041 固定连接。采用。
23、这样结构 后第一校准支架 1 的高度可以上下调节， 以适应不同的测试要求。在第一支撑外柱 102 与 第一测量横杆 1041 之间还设有斜支撑杆， 用以加强第一测量横杆 1041 的稳定性。第一场 强探头 1042 的竖向中心轴线与第一支撑外柱 102 的轴线之间的距离为 45.2cm。 0042 如图 3 所示， 第一支撑底盘 101 设有第二定位孔， 第二定位孔包括第四孔 1011 和 第五孔 1012。 0043 如图4所示， 所述第二支撑柱为可调节高度的结构， 第二校准支架2包括第二支撑 底盘 201、 第二支撑外柱 202、 第二支撑内柱 203 和第二测量组件 204， 第二测量组。
24、件 204 包 括第二测量横杆 2041 和设置在第二测量横杆 2041 上的依次连接的第二场强探头 2042、 第 二巴伦2043和第二光电转换模块2044。 第二支撑外柱202的二端设置在第二支撑底盘202 的中心处， 第二支撑内柱 203 的一端插入第二支撑外柱 202 内， 并可沿第二支撑外柱 202 的 内侧壁上下滑动， 第二支撑内柱 203 的侧壁上和第二支撑外柱 202 的侧壁上分别设有匹配 对应的固定孔， 第二支撑内柱 203 的另一端与第二支撑横杆 2041 固定连接。采用这样结构 后第二校准支架 2 的高度可以上下调节， 以适应不同的测试要求。在第二支撑外柱 202 与 第。
25、二测量横杆 2041 之间还设有斜支撑杆， 用以加强第二测量横杆 2041 的稳定性。第二场 强探头 2042 的竖向中心轴线与第二支撑外柱 202 的轴线之间的距离为 45.2cm。第二校准 支架 2 还包括地探头定位支架 205， 地探头定位支架 205 呈水平设置， 其一端与第二支撑底 盘 201 连接， 另一端头位于第二场强探头的竖向中心轴线上。 0044 如图 5 所示， 第二支撑底盘 201 设有第三定位孔， 第三定位孔包括第六孔 2011、 第 七孔 2012、 第八孔 2013 和第九孔 2014。 0045 如图6所示， 定位基准盘3上设有第一定位孔， 第一定位孔包括第一孔3。
26、01、 第二孔 302 和第三孔 303。第一孔 301 与第二孔 302 之间的夹角为 45 度， 第二孔 302 与第三孔 303 之间的夹角为 45 度。定位基准盘 3 的中心位置还设有基准孔。定位基准盘 3 的底面上还 设有非金属吸盘， 用于固定定位基准盘 3。 0046 美军标461F中RS105试验项目对瞬变电磁场场均匀性要求的测试位置点是 ： 正方 形均匀区域四个顶点和中心位置点， 其中中心位置点为参考点， 测试时参考探头位置保持 不动。如图 7、 8 所示， 虚线区域为测试区域。本发明探头校准装置测试原理 ： 本装置可以进 行空间单一平面测试， 也可以进行空间立方体端点及体中心。
27、点测试， 适用于不同瞬变电磁 场场均匀性标准测试要求。 0047 实施例 1 ： 0048 如图 9、 10 是本发明对平面 OPMN 进行测试时的示意图。平面 OPMN 是边长为 1 米 的正方形， 第一支撑外柱102的轴线与第二支撑外柱202的轴线之间的距离为60cm， 第四孔 1011 与第一测量横杆 1041 的轴线之间的夹角为 89 度， 第四孔 1011 与第五孔 1012 之间的 夹角为 178 度， 第六孔 2011 与第七孔 2012 之间的夹角为 26 度， 第七孔 2012 与第八孔 2013 之间的夹角为 156 度， 第八孔 2013 与第九孔 2014 之间的夹角为。
28、 26 度。 0049 平面测试定位开始时， 首先利用定位基准盘 3 上的基准孔与测试区域地面正交中 心线进行基准定位， 第一定位孔在测试平面右侧， 非金属吸盘进行定位。 调整第一校准支架 1相对定位基准托盘3的角度， 使第一校准支架1与MN垂直， 并利用第二孔302和第一定位 销 401 对第一场强探头 1042 进行方位定位， 同时调节第一校准支架 1 的高度， 使第一场强 说 明 书 CN 103645455 A 7 5/6 页 8 探头 1042 的中心位于平面 OPMN 的中心。再通过调整第二校准支架 2， 使第二连接板 5 上的 第二定位销 501 与第四孔 1011 重合， 第三。
29、定位销 502 与第七孔 2012 重合， 同时调整第二校 准支架 2 的高度为 1 米。此时第一场强探头 1042 位于平面 OPMN 的面中心点、 第二场强探 头 2042 位于 O 点和地探头定位支架 205 的端头位于 N 点。 0050 待 O 点测试完成后， 需要将第二校准支架 2 通过旋转移动到 P 点进行测试。取下 第二定位销 501， 使第二校准支架 2 围绕第一校准支架 1 顺时针旋转 182 度， 使第二定位销 501与第五孔1012重合。 再将第三定位销502取出， 使第二校准支架2绕第二支撑外柱202 的轴线顺时针旋转 204 度， 使第三定位销 502 与第八孔 2。
30、013 重合。此时第二场强探头 2042 位于 P 点和地探头定位支架 205 的端头位于 M 点。 0051 在第一支撑底盘 101 和第二支撑底盘 201 的底面上还设有环绕均布的 3 个万向 球， 使得校准支架的移动更加方便。 整个校准支架在瞬变电磁场场均匀性测试时， 通过简单 的旋转即可完成 461F 标准中瞬变电磁场场均匀性要求竖直平面内的位置点测试。如试验 需要更换测试平面， 则通过变换基准定位盘 3 的位置重新进行调整测试。 0052 实施例 2 ： 0053 本实施例与实施例 1 的区别在于 ： 当平面 OPMN 是边长为 1.5 米的正方形时， 调整 第一校准支架 1 的高度。
31、为 0.75 米， 第二校准支架 2 的高度为 1.5 米。第一支撑外柱 102 的 轴线与第二支撑外柱 202 的轴线之间的距离为 90cm， 第四孔 1011 与第一测量横杆 1041 的 轴线之间的夹角为 88 度， 第四孔 1011 与第五孔 1012 之间的夹角为 176 度， 第六孔 2011 与 第七孔 2012 之间的夹角为 40 度， 第七孔 2012 与第八孔 2013 之间的夹角为 144 度， 第八孔 2013 与第九孔 2014 之间的夹角为 40 度。 0054 实施例 3 ： 0055 在瞬变电磁场场均匀性校准工作中， 除了美军标 461F 中 RS105 试验项。
32、目外， 还有 一些其他的瞬变电磁场场均匀性的测试要求。其要求的测试区域为立方体的 8 个顶点以及 体中点。 图11至图14是本发明对立方体ABCDEFGH进行测试时的示意图。 立方体ABCDEFGH 的边长为 1 米， 调整第一校准支架 1 的高度为 0.5 米， 第二校准支架 2 的高度为 1 米。第一 支撑外柱102的轴线与第二支撑外柱202的轴线之间的距离为60cm， 第四孔1011与第一测 量横杆 1041 的轴线之间的夹角为 89 度， 第四孔 1011 与第五孔 1012 之间的夹角为 178 度， 第六孔 2011 与第七孔 2012 之间的夹角为 26 度， 第七孔 2012 。
33、与第八孔 2013 之间的夹角为 156 度， 第八孔 2013 与第九孔 2014 之间的夹角为 26 度。 0056 针对立方体ABCDEFGH的八个顶点及体中心点进行位置定位， 定位基准盘3与面测 试是定位方式相同。定位基准盘 3 上的基准孔与测试区域地面正交中心线进行基准定位， 第一定位孔朝向 BF 线方向， 非金属吸盘进行定位。端点测试顺序为 H-E、 C-B、 D-A、 G-F。 0057 一、 H-E 点定位 ： 将第三孔 303 和第一定位销 401 重合， 从而对第一场强探头 1042 进行方位定位， 然后使第二定位销 501 与第四孔 1011 重合， 第三定位销 502 。
34、与第六孔 2011 重合。此时第一场强探头 1042 位于立方体中心位置， 第二场强探头 2042 位于立方体的端 点 H 位置， 地探头支架 205 的端头位于 E 点位置。 0058 二、 C-B 点定位 ： 将第二校准支架 2 绕第一校准支架 1 中心顺时针旋转 182 度后， 使第二定位销 501 与第五孔 1012 重合， 第二校准支架 2 再自身顺时针旋转 152 度， 使第三 定位销 502 与第九孔 2014 重合。此时第二场强探头 2042 位于立方体的端点 C 点和地探头 说 明 书 CN 103645455 A 8 6/6 页 9 支架 205 的端头位于 B 点。 00。
35、59 三、 D-A 点定位 ： 将第一校准支架 1 绕定位基准盘 3 中心顺时针旋转 90 度， 使第一 定位销 401 与第一孔 301 重合， 此时第二场强探头 2042 位于立方体的端点 D 点和地探头支 架 205 的端头位于 A 点。 0060 四、 G-F 点定位 ： 将第二校准支架 2 绕第一校准支架 1 中心逆时针旋转 182 度后， 使第二定位销 501 与第四孔 1011 重合， 第二校准支架 2 再自身逆时针旋转 152 度， 使第三 定位销 502 与第六孔 2011 重合。此时第二场强探头 2042 位于立方体的端点 G 点和地探头 支架 205 的端头位于 F 点。。
36、 0061 实施例 4 ： 0062 本实施例与实施例 3 的区别在于 ： 当立方体 ABCDEFGH 的边长为 1.5 米时， 调整第 一校准支架 1 的高度为 0.75 米， 第二校准支架 2 的高度为 1.5 米。第一支撑外柱 102 的轴 线与第二支撑外柱 202 的轴线之间的距离为 90cm， 第四孔 1011 与第一测量横杆 1041 的轴 线之间的夹角为 88 度， 第四孔 1011 与第五孔 1012 之间的夹角为 176 度， 第六孔 2011 与第 七孔 2012 之间的夹角范围为 40 度， 第七孔 2012 与第八孔 2013 之间的夹角范围为 144 度， 第八孔 2。
37、013 与第九孔 2014 之间的夹角范围为 40 度。 0063 在整个测试过程中测试点始终保持不变。 整个探头校准装置在瞬变电磁场场均匀 性测试时， 通过简单的旋转即可完成瞬变电磁场空间区域场均匀性试验的测试。减少了多 次移动调整探头位置姿态而引入的测量误差， 提高测试精度， 进而提高了工作效率 ； 并且实 现了一个校准支架可以满足不同瞬变电磁场场均匀性标准的测试要求， 提高了校准支架的 适用性。 0064 本文中所采用的描述方位的词语 “上” 、“下” 、“左” 、“右” 等均是为了说明的方便基 于附图中图面所示的方位而言的， 在实际装置中这些方位可能由于装置的摆放方式而有所 不同。 0。
38、065 上面结合附图对本发明的具体实施方式作了详细说明， 但是本发明并不限于上述 实施方式， 在本领域技术人员所具备的知识范围内， 还可以在不脱离本发明构思的前提下 作出各种变化。 说 明 书 CN 103645455 A 9 1/4 页 10 图 1 图 2 图 3 说 明 书 附 图 CN 103645455 A 10 2/4 页 11 图 4 图 5 图 6 图 7 说 明 书 附 图 CN 103645455 A 11 3/4 页 12 图 8 图 9 图 10 说 明 书 附 图 CN 103645455 A 12 4/4 页 13 图 11 图 12 图 13 图 14 说 明 书 附 图 CN 103645455 A 13 。