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1、(10)申请公布号 CN 103412267 A (43)申请公布日 2013.11.27 CN 103412267 A *CN103412267A* (21)申请号 201310363283.1 (22)申请日 2013.08.20 G01R 33/02(2006.01) (71)申请人 黄可可 地址 315135 浙江省宁波市鄞州区云龙镇石 桥工业区 (72)发明人 黄可可 (74)专利代理机构 宁波奥圣专利代理事务所 ( 普通合伙 ) 33226 代理人 程晓明 (54) 发明名称 用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法及 设备 (57) 摘要 本发明公开了一种用于测量瓦片状磁体元件 的磁。
2、偏角的方法及设备， 首先通过测试在磁场作 用下基准件相对基准线偏转的高度， 将基准件相 对基准线偏转的高度作为测试基准， 然后在磁场 下检测待测产品时， 将待测产品相对于基准线偏 转的高度与基准件相对于基准线偏转的高度进行 比较得出待测产品的磁偏角合格与否的结论 ； 优 点是操作简单， 成本较低， 且可以对未充磁的瓦片 状磁性元件 （取向成型后） 进行检测， 可实现瓦片 状磁体元件的磁偏角的全检， 保证整批次的瓦片 状磁性元件的磁偏角的合格率。 (51)Int.Cl. 权利要求书 1 页 说明书 4 页 附图 2 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书1页 。
3、说明书4页 附图2页 (10)申请公布号 CN 103412267 A CN 103412267 A *CN103412267A* 1/1 页 2 1. 一种用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法， 其特征在于包括以下步骤 ： 选取一个磁偏角为合格范围的上限值的未充磁的瓦片状磁体元件作为基准件 ； 将基准件放置在一块由非导磁材料制成的水平板上， 基准件的凹面朝上且左右两端 保持水平， 将此时左右两端的顶点的连接线设定为基准线 ； 在基准件的正上方施加垂直向下或向上的磁场， 基准件的左端或者右端发生偏转向 上翘起 ； 检测基准件向上翘起的一端相对于基准线偏转的高度 ； 取下基准件 ； 将未充磁的瓦。
4、片状磁体元件待测产品凹面朝上放置在水平板上， 待测产品的左右两 端位于基准线上， 对待测产品施加垂直向下的磁场 ； 检测待测产品向上翘起的一端相对于基准线偏转的高度， 将待测产品相对于基准线 偏转的高度与基准件相对于基准线偏转的高度进行比较， 如果待测产品相对于基准线偏转 的高度小于基准件相对于基准线偏转的高度， 则该待测产品的磁偏角合格， 反之不合格 ； 重复步骤和， 对一批次的待测产品进行检测。 2. 根据权利要求 1 所述的用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法， 其特征在于所述 的步骤中采用光栅检测基准件向上翘起的一端相对于基准线偏转高度， 所述的步骤之 后所述的步骤之前还有测试基板的设。
5、置步骤， 具体为 ： 在基准件向上翘起的一端的顶点 处设置一测试基板， 所述的测试基板的下端面为水平面且与基准件向上翘起的一端的顶点 位于一个水平面上， 当待测产品向上翘起的一端的顶点低于所述的测试基板的下端面时， 表示待测产品相对于基准线偏转的高度小于基准件相对于基准线偏转的高度， 当待测产品 向上翘起的一端的顶点与所述的测试基板的下端面接触时， 表示待测产品相对于基准线偏 转的高度大于基准件相对于基准线偏转的高度。 3. 一种使用权利要求 1 所述的用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法的设备， 其特 征在于包括水平板、 测试基板和垂直向下的磁场， 所述的磁场位于所述的水平板的正上方， 所述。
6、的测试基板设置在所述的水平板的正上方且高度可调， 所述的测试基板的下端面为水 平面。 4. 根据权利要求 3 所述的一种用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的设备， 其特征在于 所述的测试基板处设置有光栅及声光报警装置， 所述的光栅与所述的声光报警装置连接， 在磁场作用下， 当待测产品的一端向上翘起与所述的测试基板的下端面接触时， 所述的声 光报警装置报警， 显示待测产品不合格， 当待测产品的一端向上翘起后与所述的测试基板 的下端面不接触时， 所述的声光报警装置不报警， 显示待测产品不合格。 权 利 要 求 书 CN 103412267 A 2 1/4 页 3 用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法及。
7、设备 技术领域 0001 本发明涉及一种测量磁偏角的方法及设备， 尤其是涉及一种用于测量瓦片状磁体 元件的磁偏角的方法及设备。 背景技术 0002 近年来世界各国经济遭受连续不断的金融危机和经济长时期低迷， 降低劳动力成 本的要求越显敏感， 生产自动化的需求越发迫切。 种类繁多， 且大小不一的新型电机作为自 动化生产的主要器件， 对其质量和需求也明显提高。瓦片状磁性元件作为开发电机的重要 元件， 其性能的好坏直接影响了电机的质量， 因此瓦片状磁性元件要求具有较好的性能。 磁 偏角作为瓦片状磁性元件的一个性能参数， 指的是磁体充磁后实际的磁场方向 （等于取向 方向） 与几何轴 （设计的理想充磁方。
8、向） 的一个夹角度， 各向异性磁体实际的磁场方向是由 磁体在压制成型时取向磁场方向决定的， 因此， 瓦片状永磁体元件的磁偏角是由各向异性 的永磁体材料成型取向过程和加工过程的误差造成的， 不可避免。 但是， 瓦片状磁性元件的 磁偏角越小， 制成的电机电磁力转换成机械能 （动力扭矩） 效力就越高， 转动也平稳， 同时也 要求其磁偏角不能太大， 即不能超过设定的磁偏角的上限值 （合格范围内） 。 0003 现有的测量瓦片状磁性元件的磁偏角的方法是 ： 首先通过 3D 亥姆霍茨线圈同时 测量瓦片状磁性元件的三维磁矩， 然后通过仪表采集数据并进行运算， 计算出瓦片状磁性 元件实际的磁场方向与几何轴的夹。
9、角， 最后通过仪表的显示屏或电脑的显示器将测试所得 的角度显示出来。但是， 上述方法存在以下缺陷 ： 一、 设备复杂， 成本较高 ； 二、 在测量磁偏 角时瓦片状磁性元件必须具有磁性， 即瓦片状磁性元件在压制取向成型后需要充磁后才能 进行磁偏角的测试， 当需要提供无磁的瓦片状磁性元件时， 在磁偏角测试完毕后需要对瓦 片状磁性元件进行退磁处理， 但是由烧结钕铁硼等强磁材料制备而成的瓦片状磁性元件充 磁后很难退磁， 且一旦退磁后很难再次充磁， 因此上述方法仅能用于抽检， 无法保证整批次 的瓦片状磁性元件的磁偏角的合格率。 发明内容 0004 本发明所要解决的技术问题之一是提供一种成本较低， 且可以。
10、对未充磁的瓦片状 磁性元件进行检测的用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法。 本发明的用于测量瓦片状 磁体元件的磁偏角的方法可实现瓦片状磁体元件的磁偏角的全检， 保证整批次的瓦片状磁 性元件的磁偏角的合格率。 0005 本发明解决上述技术问题所采用的技术方案为 ： 一种用于测量瓦片状磁体元件的 磁偏角的方法， 包括以下步骤 ： 0006 选取一个磁偏角为合格范围的上限值的未充磁的瓦片状磁体元件作为基准 件 ； 0007 将基准件放置在一块由非导磁材料制成的水平板上， 基准件的凹面朝上且左右 两端保持水平， 将此时左右两端的顶点的连接线设定为基准线 ； 说 明 书 CN 103412267 A 3。
11、 2/4 页 4 0008 在基准件的正上方施加垂直向下或向上的磁场， 基准件的左端或者右端发生偏 转向上翘起 ； 0009 检测基准件向上翘起的一端相对于基准线偏转的高度 ； 0010 取下基准件 ； 0011 将未充磁的瓦片状磁体元件待测产品凹面朝上放置在水平板上， 待测产品的左 右两端位于基准线上， 对待测产品施加垂直向下的磁场 ； 0012 检测待测产品向上翘起的一端相对于基准线偏转的高度， 将待测产品相对于基 准线偏转的高度与基准件相对于基准线偏转的高度进行比较， 如果待测产品相对于基准线 偏转的高度小于基准件相对于基准线偏转的高度， 则该待测产品的磁偏角合格， 反之不合 格 ； 0。
12、013 重复步骤和， 对一批次的待测产品进行检测。 0014 所述的步骤中采用光栅检测基准件向上翘起的一端相对于基准线偏转高度， 所 述的步骤之后所述的步骤之前还有测试基板的设置步骤， 具体为 ： 在基准件向上翘起 的一端的顶点处设置一测试基板， 所述的测试基板的下端面为水平面且与基准件向上翘起 的一端的顶点位于一个水平面上， 当待测产品向上翘起的一端的顶点低于所述的测试基板 的下端面时， 表示待测产品相对于基准线偏转的高度小于基准件相对于基准线偏转的高 度， 当待测产品向上翘起的一端的顶点与所述的测试基板的下端面接触时， 表示待测产品 相对于基准线偏转的高度大于基准件相对于基准线偏转的高度。。
13、 0015 本发明所要解决的技术问题之二是提供一种成本较低， 且可以对无磁的瓦片状磁 性元件进行检测的用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的设备。 本发明的用于测量瓦片状磁 体元件的磁偏角的设备可实现瓦片状磁体元件的磁偏角的全检， 保证整批次的瓦片状磁性 元件的磁偏角的合格率。 0016 本发明解决上述技术问题所采用的技术方案为 ： 一种用于测量瓦片状磁体元件的 磁偏角的方法的设备， 包括水平板、 测试基板和垂直向下或向上的磁场， 所述的磁场位于所 述的水平板的正上方， 所述的测试基板设置在所述的水平板的正上方且高度可调， 所述的 测试基板的下端面为水平面。 0017 所述的测试基板处设置有光栅及声。
14、光报警装置， 所述的光栅与所述的声光报警装 置连接， 在磁场作用下， 当待测产品的一端向上翘起与所述的测试基板的下端面接触时， 所 述的声光报警装置报警， 显示待测产品不合格， 当待测产品的一端向上翘起后与所述的测 试基板的下端面不接触时， 所述的声光报警装置不报警， 显示待测产品合格。 0018 与现有技术相比， 本发明的优点在于由于磁体元件在磁场作用下取向成型后虽然 外面表现出没有磁性， 但其内部的磁畴已成有序排列 （顺着取向方向或正向排列或反向排 列） ， 此时磁体元件已具有顺磁性， 理论上在外磁场环境中磁体元件的取向方向会顺着外磁 场方向， 保持平行， 但是由于磁偏角的存在， 磁体元件。
15、会发生一定偏转， 本发明中首先通过 测试在磁场作用下基准件相对基准线偏转的高度， 将基准件相对基准线偏转的高度作为测 试基准， 然后在磁场下检测待测产品时， 将待测产品相对于基准线偏转的高度与基准件相 对于基准线偏转的高度进行比较得出待测产品的磁偏角合格与否的结论， 操作简单， 成本 较低， 且可以对未充磁的瓦片状磁性元件 （取向成型后） 进行检测， 可实现瓦片状磁体元件 的磁偏角的全检， 保证整批次的瓦片状磁性元件的磁偏角的合格率 ； 说 明 书 CN 103412267 A 4 3/4 页 5 0019 当采用测试基板来判定待测产品相对于基准线偏转的高度是否小于基准件相对 于基准线偏转的高。
16、度时， 简单直观 ； 0020 当测试基板处设置有光栅及声光报警装置， 报警器根据待测产品与测试基板的下 端面是否接触来确定报警与否， 避免误判断， 提高了检测精度。 附图说明 0021 图 1 为本发明的方法的示意图 ； 0022 图 2 为本发明的设备的第一种结构示意图 ； 0023 图 3 为本发明的设备的第二种结构示意图。 具体实施方式 0024 以下结合附图实施例对本发明作进一步详细描述。 0025 如图 1 所示， 本发明公开了一种用于测量瓦片状磁体元件的磁偏角的方法， 包括 以下步骤 ： 0026 选取一个磁偏角为合格范围的上限值的未充磁的瓦片状磁体元件作为基准 件 ； 0027。
17、 将基准件放置在一块由非导磁材料制成的水平板上， 基准件的凹面朝上且左右 两端保持水平， 将此时左右两端的顶点的连接线设定为基准线 ； 0028 在基准件的正上方施加垂直向下或向上的磁场， 基准件的左端或者右端发生偏 转向上翘起 ； 0029 检测基准件向上翘起的一端相对于基准线偏转的高度 ； 0030 取下基准件 ； 0031 将未充磁的瓦片状磁体元件待测产品凹面朝上放置在水平板上， 待测产品的左 右两端位于基准线上， 对待测产品施加垂直向下的磁场 ； 0032 检测待测产品向上翘起的一端相对于基准线偏转的高度， 将待测产品相对于基 准线偏转的高度与基准件相对于基准线偏转的高度进行比较， 如。
18、果待测产品相对于基准线 偏转的高度小于基准件相对于基准线偏转的高度， 则该待测产品的磁偏角合格， 反之不合 格 ； 0033 重复步骤和， 对一批次的待测产品进行检测。 0034 本发明的方法中， 步骤中采用光栅检测基准件向上翘起的一端相对于基准线偏 转高度， 步骤之后步骤之前还有测试基板的设置步骤， 具体为 ： 在基准件向上翘起的一 端的顶点处设置一测试基板， 测试基板的下端面为水平面且与基准件向上翘起的一端的顶 点位于一个水平面上， 当待测产品向上翘起的一端的顶点低于测试基板的下端面时， 表示 待测产品相对于基准线偏转的高度小于基准件相对于基准线偏转的高度， 当待测产品向上 翘起的一端的顶。
19、点与测试基板的下端面接触时， 表示待测产品相对于基准线偏转的高度大 于基准件相对于基准线偏转的高度。 0035 本发明的方法中， 也可以检测基准件向上翘起的一端相对于基准线偏转的角度， 将待测产品相对于基准线偏转的角度基准件相对于基准线偏转的角度度进行比较， 如果待 测产品相对于基准线偏转的角度小于基准件相对于基准线偏转的角度， 则该待测产品的磁 说 明 书 CN 103412267 A 5 4/4 页 6 偏角合格， 反之不合格 ； 当待测产品向上翘起的一端的顶点低于测试基板的下端面时， 表示 待测产品相对于基准线偏转的角度度小于基准件相对于基准线偏转的角度， 当待测产品向 上翘起的一端的顶。
20、点与测试基板的下端面接触时， 表示待测产品相对于基准线偏转的角度 大于基准件相对于基准线偏转的角度。 0036 如图 2 和图 3 所示， 本发明还公开了一种使用上述用于测量瓦片状磁体元件的磁 偏角的方法的设备， 包括水平板 1、 测试基板 2 和垂直向下的磁场 3， 磁场 3 位于水平板 1 的 正上方， 测试基板 2 设置在水平板 1 的正上方且高度可调， 测试基板 2 的下端面为水平面 ； 测试基板 2 处设置有光栅 （图中未显示） 及声光报警装置 4， 光栅与声光报警装置 4 连接， 在 磁场 3 作用下， 当待测产品 5 的一端向上翘起与测试基板 2 的下端面接触时， 声光报警装置 4 报警， 显示待测产品 5 不合格， 当待测产品 5 的一端向上翘起后与测试基板 2 的下端面不 接触时， 声光报警装置 5 不报警， 显示待测产品不合格。图 2 中磁场 3 为电磁式磁场， 图 3 中磁场 3 为永磁式磁场。 说 明 书 CN 103412267 A 6 1/2 页 7 图 1 图 2 说 明 书 附 图 CN 103412267 A 7 2/2 页 8 图 3 说 明 书 附 图 CN 103412267 A 8 。