《闪烁器面板.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《闪烁器面板.pdf(16页珍藏版)》请在专利查询网上搜索。
1、(10)申请公布号 CN 103339684 A (43)申请公布日 2013.10.02 CN 103339684 A *CN103339684A* (21)申请号 201180066055.7 (22)申请日 2011.10.21 2011-013206 2011.01.25 JP G21K 4/00(2006.01) G01T 1/20(2006.01) (71)申请人 浜松光子学株式会社 地址 日本静冈县 (72)发明人 须山敏康 杉山元胤 (74)专利代理机构 北京尚诚知识产权代理有限 公司 11322 代理人 杨琦 (54) 发明名称 闪烁器面板 (57) 摘要 本发明的闪烁器面板。
2、 (1) 是响应于透过了对 象物 (A) 的放射线的入射而使闪烁光放射的平板 状的构件, 在对闪烁光进行聚光并摄像的图像取 得装置所使用的闪烁器面板中, 具备 : 使放射线 透过的平面状的隔板 (2) 、 配置在隔板 (2) 的一个 面 (2a) 上且将放射线变换成闪烁光的平板状的 闪烁器 (3) 、 以及配置在隔板 (2)的另一面 (2b) 上, 将放射线变换成闪烁光的平板状的闪烁器 (4) 。 (30)优先权数据 (85)PCT申请进入国家阶段日 2013.07.25 (86)PCT申请的申请数据 PCT/JP2011/074335 2011.10.21 (87)PCT申请的公布数据 WO。
3、2012/101884 JA 2012.08.02 (51)Int.Cl. 权利要求书 1 页 说明书 8 页 附图 6 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书1页 说明书8页 附图6页 (10)申请公布号 CN 103339684 A CN 103339684 A *CN103339684A* 1/1 页 2 1. 一种闪烁器面板, 其特征在于, 是响应于透过了对象物的放射线的入射而使闪烁光放射的平板状的构件, 且是在对所 述闪烁光进行聚光并摄像的图像取得装置中所使用的闪烁器面板, 具备 : 平面状的隔离构件, 使放射线透过 ; 平板状的第 1 波长变换构。
4、件, 配置在所述隔离构件的一个面上, 将所述放射线变换成 闪烁光 ; 以及 平板状的第 2 波长变换构件, 配置在所述隔离构件的另一个面上, 将所述放射线变换 成闪烁光。 2. 如权利要求 1 所述的闪烁器面板, 其特征在于, 所述隔离构件对于所述闪烁光具有遮光性。 3. 如权利要求 1 或 2 所述的闪烁器面板, 其特征在于, 在所述隔离构件, 形成有反射所述闪烁光的反射面。 4. 如权利要求 1 3 中任一项所述的闪烁器面板, 其特征在于, 所述第 1 波长变换构件与所述第 2 波长变换构件由不同的材料形成。 5. 如权利要求 1 4 中任一项所述的闪烁器面板, 其特征在于, 所述第 1 。
5、波长变换构件与所述第 2 波长变换构件的厚度不同。 权 利 要 求 书 CN 103339684 A 2 1/8 页 3 闪烁器面板 技术领域 0001 本发明涉及一种将透过了对象物的放射线变换成闪烁光的闪烁器面板。 背景技术 0002 历来, 关于 X 射线图像的检测技术, 已知的有通过检测由入射到检测器的放射线 所产生的电荷, 直接检测放射线的方式即直接变换方式, 以及使用闪烁器材料等的放射线 变换部件将放射线变换成光后用检测器检出的方式即间接变换方式。 作为采用这样的间接 方式的装置所使用的闪烁器, 公开了在基板上具备形成有荧光体层的荧光体嵌板的闪烁器 面板 (参照下述专利文献 1) 。。
6、 0003 现有技术文献 0004 专利文献 0005 专利文献 1 : 日本特开 2007-139604 号公报 发明内容 0006 发明所要解决的问题 0007 然而, 在上述那样的现有闪烁器面板中, 由于荧光体层的一个面侧有基板存在, 因 此难以观察从放射线的入射面及其背面两面出射的闪烁光。即, 难以观察由比较高能量带 的放射线在荧光体层的背面侧所产生的闪烁光。另外, 即使假设能够观察到从闪烁器面板 的背面侧出射的闪烁光, 闪烁器面板的入射面侧所产生的闪烁光也会透过闪烁器面板而从 背面侧出射。因此, 不能区分地观察由比较低能量带的放射线在荧光体层的入射面侧所产 生的闪烁光与由比较高能量带。
7、的放射线在荧光体层的背面侧所产生的闪烁光, 有观察的放 射线的能量区别性不高的倾向。 0008 因此, 本发明有鉴于所涉及的技术问题而作出的, 其目的在于, 提供一种可以通过 使从放射线的入射面及其背面出射的闪烁光的观察变得可能而取得能量区别性高的放射 线检测图像的闪烁器面板。 0009 解决技术问题的手段 0010 为了解决上述技术问题, 本发明的一个侧面所涉及的闪烁器面板, 是响应于透过 了对象物的放射线的入射而使闪烁光放射的平板状的构件, 在对闪烁光进行聚光并摄像的 图像取得装置所使用的闪烁器面板中, 具备 : 使放射线透过的平面状的隔离构件、 配置在隔 离构件的一个面上且将放射线变换成。
8、闪烁光的平板状的第 1 波长变换构件、 以及配置在隔 离构件的另一面上且将放射线变换成闪烁光的平板状的第 2 波长变换构件。 0011 根据这样的闪烁器面板, 将放射线变换成闪烁光的 2 个平板状的波长变换构件夹 持使放射线透过的平面状的隔离构件而配置, 因而透过了对象物的放射线被一个波长变换 构件变换成闪烁光, 并且透过了该波长变换构件和隔离构件后被另一个波长变换构件变换 成闪烁光。此时, 通过隔离构件的存在, 2 个波长变换构件中所产生的各个闪烁光相对于 2 个波长变换构件的隔离构件容易从反射侧的面出射。其结果, 通过把该闪烁器面板使用在 说 明 书 CN 103339684 A 3 2/。
9、8 页 4 对从闪烁器面板的两面出射的闪烁光进行聚光并摄像的放射线图像取得装置, 能够效率高 地区别高能量带的放射线图像和低能量带的放射线图像。 0012 发明的效果 0013 根据本发明, 能够通过使从放射线的入射面及其背面出射的闪烁光的观察变得可 能, 而取得能量区别性高的放射线检测图像。 附图说明 0014 图 1 表示本发明优选的一个实施方式所涉及的闪烁器面板 1 的概略结构的正面 图。 0015 图 2 是使用了图 1 的闪烁器面板 1 的放射线图像取得装置 11 的概略结构图。 0016 图 3 是表示图 2 的放射线图像取得装置 11 中的放射线源 12 和检测器 13,14 的。
10、配 置例的正面图。 0017 图 4 是表示图 2 的放射线图像取得装置 11 中的放射线源 12 和检测器 13,14 的配 置例的正面图。 0018 图 5 是使用了图 1 的闪烁器面板 1 的其他的放射线图像取得装置 31 的概略结构 图。 0019 图 6 是本发明的变形例所涉及的闪烁器面板的正面图。 0020 符号说明 : 0021 1,101闪烁器面板、 2,102隔板、 2a,2b配置面、 3,4闪烁器、 11,31放射线 图像取得装置、 102a,102b反射面、 A对象物。 具体实施方式 0022 以下, 一边参照附图一边详细地说明本发明所涉及的闪烁器面板的优选实施方 式。再。
11、有, 附图的说明中对相同或相当部分使用相同的符号, 省略重复的说明。另外, 各附 图是为了说明用而制作的, 以特别强调的方式描绘说明的对象部位。 因此, 附图中的各构件 的尺寸比率未必与实际构件的尺寸一致。 0023 图 1 表示本发明优选的一个实施方式所涉及的闪烁器面板 1 的概略结构的正面 图。如该图所示, 闪烁器面板 1 是将透过了对象物的 X 射线等的放射线变换成闪烁光的构 件, 具有以与平面状的隔板 (隔离构件) 2 的两面相接的方式配置有 2 块平板状的闪烁器 3,4 的结构。 0024 闪烁器 3,4 是响应于放射线的入射而生成闪烁光的波长变换构件, 其材料由检测 的放射线的能量。
12、带选择, 其厚度也在数 m 数 mm 的范围由检测的能量带设定成适当的 值。例如, 作为闪烁器 3,4 的材料, 可以使用 Gd2O2S:Tb、 Gd2O2S:Pr、 CsI:Tl、 CdWO4、 CaWO4、 Gd2SiO5:Ce、 Lu0.4Gd1.6SiO5、 Bi4Ge3O12、 Lu2SiO5:Ce、 Y2SiO5、 YAlO3:Ce、 Y2O2S:Tb、 YTaO4:Tm 等。 0025 这 2 个闪烁器 3,4 可以由相同的材料形成, 也可以由不同的材料形成。在由不同 的材料形成的情况下, 设定成对于放射线的波长的变换效率不同。例如, 作为闪烁器 3,4 的 材料, 可以举出 G。
13、d2O2S:Tb 与 CsI:Tl、 Gd2O2S:Tb 与 CdWO4、 或者 CsI:Tl 与 CdWO4等的组合。 另外, 2个闪烁器3,4可以形成相同的厚度, 也可以形成不同的厚度。 通过形成为厚度不同, 能够相对地调整针对相对于透过 2 个闪烁器 3,4 的放射线的灵敏度或波长的应答特性。例 说 明 书 CN 103339684 A 4 3/8 页 5 如, 能够将闪烁器 3 的厚度设定为数 m 300m, 将闪烁器 4 的厚度设定为在 150m 数 mm 的范围而比闪烁器 3 厚。 0026 隔板 2 是用于支撑闪烁器 3,4 的厚度为 0.5m 5mm 的平面状的构件, 形成有与。
14、 2 个闪烁器 3,4 的各个相接的 2 个平面 2a,2b, 具有使检测对象的放射线透过且遮蔽由闪烁 器 3,4 生成的闪烁光的性质。作为该隔板 2, 可以使用例如碳板, FOP (Fiber Optic Plate : 光纤板) 等玻璃制的板构件, 铝板、 铍板以外再加上钛、 金、 银、 铁等的金属板构件、 或者塑料 板等的树脂制板构件。 0027 上述构成的闪烁器面板 1 通过将闪烁器 3,4 各自配置的板构件接合与闪烁器 3,4 相反侧的面来制作。在这种情况下, 能够比较容易地制作成闪烁器面板。另外, 闪烁器面板 1 通过在一层构造的隔板 2 的两面的各面配置闪烁器 3,4 来制作。 。
15、0028 接着, 说明使用本实施方式的闪烁器面板 1 来取得半导体器件等电子部件或食品 等这样的对象物 A 的放射线图像的放射线图像取得装置的结构。 0029 图 2 是使用了闪烁器面板 1 的放射线图像取得装置 11 的概略结构图。如该图所 示, 放射线图像取得装置11具备 : 朝着对象物A出射白色X射线等的放射线的放射线源12、 响应于从放射线源 12 出射并透过对象物 A 的放射线的入射而产生闪烁光的闪烁器面板 1、 对从闪烁器面板 1 的放射线的入射侧的检测面 1a 出射的闪烁光进行聚光并摄像的表面观 察用光检测器 13、 以及对从与检测面 1a 相反侧的面即检测面 1b 出射的闪烁光。
16、进行聚光并 摄像的背面观察用光检测器 14。这里, 闪烁器面板 1 在闪烁器 3 的检测面 1a 朝着对象物 A 的状态下配置。即, 闪烁器面板 1 以使闪烁器 3 的与隔板 2 相反侧的面 1a 与表面观察用光 检测器 13 相对且使闪烁器 4 的与隔板 2 相反侧的面 1b 与表面观察用光检测器 14 相对的 方式配置。这些放射线源 12、 闪烁器面板 1、 表面观察用光检测器 13、 以及表面观察用光检 测器 14 被收纳于未图示的筐体, 并被固定在筐体内。 0030 表面观察用光检测器 13(以下, 称为 “表面检测器 13” ) 是通过从闪烁器面板 1 的 检测面 1a 侧对从闪烁器。
17、面板 1 出射的闪烁光摄像, 来取得对象物 A 的比较低能量的放射线 透过像的间接变换方式的摄像机构。表面检测器 13 是具有对从闪烁器面板 1 的检测面 1a 出射的闪烁光进行聚光的聚光透镜部13a和对被聚光透镜部13a聚光的闪烁光进行摄像的 摄像部 13b 的透镜耦合型检测器。聚光透镜部 13a 对包含检测面 1a 上的规定范围的视野 15 的闪烁光进行聚光。作为摄像部 13b, 可以使用例如 CMOS 传感器、 CCD 传感器等。 0031 背面观察用光检测器 14(以下, 称为 “背面检测器 14” ) 是通过从闪烁器面板 1 的 检测面 1b 侧对从闪烁器面板 1 出射的闪烁光摄像来。
18、取得对象物 A 的较高能量的放射线透 过像的间接变换方式的摄像机构。背面检测器 14 是具有对从闪烁器面板 1 的检测面 1b 出 射的闪烁光进行聚光的聚光透镜部14a和对由聚光透镜部14a进行聚光的闪烁光进行摄像 的摄像部 14b 的透镜耦合型检测器, 具有与上述的表面检测器 13 同样的结构。聚光透镜部 14a 对包含检测面 1b 上的规定范围的视野 16 的闪烁光进行聚光。 0032 此外, 放射线图像取得装置 11 具备 : 控制表面检测器 13 和背面检测器 14 中的摄 像时序的时序控制部 17、 输入从表面检测器 13 和背面检测器 14 输出的图像信号并基于所 输入的各图像信号。
19、来实行图像处理等的规定处理的图像处理装置 18、 以及输入从图像处理 装置 18 输出的图像信号并显示放射线图像的显示装置 19。这里, 作为图像处理, 可以举出 得出所输入的比较低能量的图像与比较高能量的图像的差分图像或加法运算图像的图像 说 明 书 CN 103339684 A 5 4/8 页 6 间运算等。时序控制部 17 和图像处理装置 18 由具有 CPU(Central Processing Unit) 、 ROM(Read Only Memory) 、 RAM(Random Access Memory) 和输入输出接口等的计算机构成。 作为显示装置19, 可以使用公知的显示器。 。
20、再有, 时序控制部17和图像处理装置18可以构 成为由单个计算机实行的程序, 也可以构成为分别设置的单元。 0033 这里, 放射线源 12 以放射线的光轴 X 相对于闪烁器面板 1 的检测面 1a 的法线 B 成规定的角度 (0 度 90 度) 的方式配置。即, 放射线源 12 与对象物 A 和检测面 1a 相对, 并且配置在与检测面 1a 的法线 B 偏离的位置。这里, 法线 B 是指从检测面 1a 上的 某一点相对于检测面 1a 垂直延伸的直线。 0034 另外, 表面检测器 13 以可以对从闪烁器面板 1 的检测面 1a 出射的闪烁光摄像的 方式且以内含的聚光透镜部 13a 的光轴相对。
21、于检测面 1a 正交的方式配置。这里, 聚光透镜 部 13 的光轴与检测面 1a 的法线 B 一致。即, 表面检测器 13 与检测面 1a 相对, 并且配置在 检测面 1a 的法线 B 上。该聚光透镜部 13a 将从检测面 1a 向法线 B 方向出射的闪烁光朝着 摄像部 13b 聚光。 0035 通过上述那样做, 表面检测器 13 从放射线源 12 的光轴 X 上偏离而配置。即, 表面 检测器 13 以与从来自放射线源 12 的放射线的出射区域 (放射线束 20 存在的区域) 相离的 方式配置。由此, 防止从放射线源 12 而来的放射线所引起的表面检测器 13 的被曝光, 并防 止在表面检测器。
22、 13 的内部生成放射线的直接变换信号而产生噪声。 0036 此外, 背面检测器 14 以可以对从闪烁器面板 1 的检测面 1b 出射的闪烁光进行摄 像的方式且以内含的聚光透镜部 14a 的光轴相对于检测面 1b 正交的方式配置。这里, 聚光 透镜部 14a 的光轴与检测面 1b 的法线 C 一致。即, 背面检测器 14 与检测面 1b 相对, 并且 配置在检测面 1b 的法线 C 上。这里, 法线 C 是指从检测面 1b 上的某一点相对于检测面 1b 垂直延伸的直线。在放射线图像取得装置 11 中, 法线 C 与法线 B 一致。聚光透镜部 14a 将 从检测面 1b 向法线 C 方向出射的闪。
23、烁光朝着摄像部 14b 聚光。 0037 接着, 说明具有上述的结构的放射线图像取得装置 11 的动作。首先, 当从放射线 源 12 向对象物照射 X 射线时, 从检测面 1a 放射的闪烁光成为入射的放射线中的主要从低 能量成分变换的闪烁光。另一方面, 从检测面 1b 放射的闪烁光成为入射的放射线中的主要 从高能量成分变换的闪烁光。 这是因为, 低能量带的放射线在闪烁器面板1的闪烁器3的内 部的检测面 1a 侧容易被变换成闪烁光, 而高能量带的放射线透过闪烁器面板 1 的闪烁器 3 和隔板 2 而在闪烁器 4 的内部的检测面 1b 附近容易被变换成闪烁光。这里, 将与对象物 A 相对的比较低能。
24、量带的放射线进行变换的闪烁器 3, 与将比较高能量带的放射线进行变换 的闪烁器 4 相比要厚。在这种情况下, 由于通过闪烁器 3 容易将低能量带的放射线去掉, 在 闪烁器 4 的检测面 1b 侧更高能量带的放射线容易被变换成闪烁光, 因此, 在表面检测器 13 和背面检测器 14 所取得的放射线图像的能量区别进一步提高。另外, 在放射线源 12 的能 量全部为低的情况下, 通过减薄闪烁器 3 的厚度, 能够提高更低能量的变换效率, 并且能够 提高高能量带的放射线的透过率, 提高闪烁器 4 的变换效率, 并提高能量区别性能。另一方 面, 在放射线源12的能量全部为高的情况下, 通过增加闪烁器3的。
25、厚度, 能够容易变换闪烁 器 3 中从低的能量到中间程度的能量的放射线, 并且能够使将低能量带的放射线被消除的 比例变化, 使得闪烁器 4 中高的能量带的放射线容易被变换, 从而提高能量区别性能。 0038 进行由时序控制部 17 的控制, 以使这样的 X 射线照射时同时进行表面检测器 13 说 明 书 CN 103339684 A 6 5/8 页 7 和背面检测器 14 所得到的摄像。通过时序控制部 17 的时序控制, 进行对象物 A 的放射线 图像的表背两面中的双重摄像。在该双重摄像中, 由表面检测器 13 取得比较低的能量带的 放射线图像, 由背面检测器 14 取得比较高能量带的放射线图。
26、像。由此, 取得不同的能量带 的放射线图像, 实现双重能量摄像。 0039 关于表面检测器 13 和背面检测器 14 的功能, 换言之, 由表面检测器 13 检测检测 面 1a 侧的荧光像。检测面 1a 侧的荧光像的检测具有荧光的模糊 (blur) 少, 而且荧光的辉 度高这样的特点。这是因为, 在表面观察中, 在闪烁器面板 1 的内部产生的模糊的影响小, 而且闪烁器面板 1 的内部中的扩散或自己吸收的影响小。另一方面, 由背面检测器 14 检测 闪烁器面板 1 向厚度方向行进而在检测面 1b 侧显示的荧光像。 0040 接下来, 通过表面检测器13和背面检测器14的各个, 与表背两面的放射线。
27、图像相 对应的图像信号被输出到图像处理装置18。 当从表面检测器13和背面检测器14的各个输 出的图像信号时, 通过图像处理装置 18 基于输入的图像信号实行规定的处理, 图像处理后 的图像信号输出到显示装置19。 然后, 当从图像处理装置18输出的图像处理后的图像信号 输入到显示装置 19 时, 通过显示装置 19 显示响应于输入的图像处理后的图像信号的放射 线图像。 0041 再者, 放射线图像取得装置 11 中, 由于放射线源 12 配置在与检测面 1a 的法线 B 偏离的位置, 表面检测器 13 和背面检测器 14 分别配置在法线 B、 C 上, 因此, 检测器的影像 不会被映入到放射。
28、线透过像, 因而抑制噪声成分的产生, 并且也不会产生检测器所引起的 放射线的衰减, 因而抑制信号成分的减少。此外, 防止放射线所引起的表面检测器 13 和背 面检测器 14 的被曝光, 抑制表面检测器 13 的内部产生噪声。其结果, 通过一次摄像便能够 同时取得低能量图像和高能量图像, 从而谋求同时性的确保、 被曝光量的减少、 摄像时间的 缩短和像素错位 (位置不正 (misregistration)) 的消除。此外, 通过表面检测器 13 和背面 检测器 14 能够取得任一种均不受透视倾斜 (perspective) 的放射线图像, 使检测面 1a 侧 和检测面 1b 侧的图像间的运算变得容。
29、易。 0042 这里, 在上述的放射线图像取得装置11中, 放射线源12、 表面检测器13、 以及背面 检测器 14 的位置关系可以如以下那样进行变更和进行构成。 0043 具体而言, 如图 3 所示, 可选地, 放射线源 12 以在检测面 1a 的法线上与对象物 A 和检测面 1a 相对的方式配置, 且表面检测器 13 以聚光透镜部 13a 的光轴 B 相对于检测面 1a 的法线成规定的角度 1(0 度 1 90 度) 的方式即与检测面 1a 相对并且与检测面 1a的法线偏离的方式配置。 在这种情况下, 检测器的影像不会映入到放射线透过像, 因而抑 制了信号成分的减少。此外, 防止放射线所引。
30、起的表面检测器 13 的被曝光, 抑制表面检测 器 13 的内部中的噪声的产生。此外, 通过背面检测器 14 能够取得没有透视倾斜的放射线 图像, 将背面检测器14所得到的放射线图像作为基准图像, 而对表面检测器13所得到的放 射线图像、 进行透视倾斜修正, 使检测面 1a 侧和检测面 1b 侧的图像间的运算变得容易。 0044 另外, 如图 4 所示, 相对于图 3 所示的配置例而言, 也可以以聚光透镜部 14a 的光 轴 C 相对于检测面 1b 的法线成规定的角度 2(0 度 2 90 度) 的方式即与检测面 1b 相对并且与检测面1b的法线偏离的方式配置背面检测器14。 在这种情况下, 。
31、防止放射线所 引起的背面检测器 14 的被曝光, 抑制背面检测器 14 的内部产生噪声。此外, 通过表面检测 器 13 和背面检测器 14 能够取得透视倾斜相同的放射线图像, 使检测面 1a 侧和检测面 1b 说 明 书 CN 103339684 A 7 6/8 页 8 侧的图像间的运算变得容易。再有, 为了使图像间运算变得更容易, 优选使角度 1与角度 2相同。 0045 另外, 图 5 是使用了闪烁器面板 1 的其他的放射线图像取得装置 31 的概略结构 图。该图所示的放射线图像取得装置 31 是能够通过 1 个检测器取得低能量图像和高能量 图像的放射线图像取得装置, 具备放射线源12、 。
32、以检测面1a大致垂直于放射线源12的放射 线的出射方向的方式配置的闪烁器面板 1、 对由闪烁器面板 1 变换的光进行摄像的光检测 器34、 以及将由闪烁器面板1变换的光作为放射线透过像朝向光检测器34进行导光的光学 系统 35。该光检测器 34 与图 2 的检测器 13,14 同样地, 是具有聚光透镜部 34a 与摄像部 34b 的间接变换方式的检测器。 0046 光学系统 35 由作为控制从闪烁器面板 1 放射的闪烁光的光路的光学构件的 5 面 反射镜 36a,36b,37a,37b,38、 以及使反射镜 38 旋转的旋转驱动机构 39 构成。光学系统 35 中的反射镜 36a,36b 配置。
33、在闪烁器面板 1 的检测面 1a 侧, 将从检测面 1a 辐射的闪烁光 L1 朝向反射镜 38 导光, 反射镜 38 配置于与闪烁器面板 1 在沿着检测面 1a 的延长方向上分离 的位置。光学系统 35 中的反射镜 37a,37b 配置在闪烁器面板 1 的检测面 1b 侧, 将从检测 面 1b 辐射的闪烁光 L2朝向反射镜 38 进行导光。光学系统 35 中的反射镜 38 被配置成其 反射面 38a 的法线与包含闪烁光 L1,L2的光路的平面大致平行。另外, 反射镜 38 被内含电 机的旋转驱动机构39以与包含闪烁光L1,L2的光路的平面大致垂直的轴为中心而可旋转地 支撑。通过这样的被旋转驱动。
34、机构 39 支撑的反射镜 38, 将闪烁光 L1,L2选择性地朝向光检 测器 34 导光, 光检测器 34 与反射镜 38 在沿着检测面 1a 的延长方向上进一步分离而配置。 即, 通过旋转驱动机构 39 使反射面 38a 朝向反射镜 36b 侧的方式旋转反射镜 38 (图 1 的实 线) , 则闪烁光 L1朝向光检测器 34 的聚光透镜部 34a 反射。另一方面, 通过旋转驱动机构 39 使反射面 38a 朝向反射镜 37b 侧的方式旋转反射镜 38(图 1 的两点划线) , 则闪烁光 L2 朝向光检测器 34 的聚光透镜部 34a 反射。 0047 此外, 放射线图像取得装置31具备控制旋。
35、转驱动机构39的旋转的旋转控制部41、 控制利用反射镜38的闪烁光L1,L2的选择时序和光检测器34的摄像时序的时序控制部42、 以及处理从光检测器 34 输出的图像信号的图像处理装置 18。详细而言, 旋转控制部 41 根 据时序控制部 42 的指示信号将控制信号送出到控制旋转驱动机构 39 并控制反射镜 38 的 旋转角度。时序控制部 42 为了以使闪烁光 L1被反射到光检测器 34 的方式切换反射镜 38 的旋转角度而将指示信号送出到旋转控制部 41, 同时将指示信号送出到光检测器 34, 使得 与反射镜 38 的切换同步地对闪烁光 L1进行摄像。此外, 时序控制部 42 为了以使闪烁光。
36、 L2 被反射到光检测器 34 的方式切换反射镜 38 的旋转角度而将指示信号送出到旋转控制部 41, 同时将指示信号送出到光检测器34, 使得与反射镜38的切换同步地对闪烁光L2进行摄 像。图像处理装置 18 取得由光检测器 34 对闪烁光 L1,L2摄像的结果所得到的 2 个图像信 号, 通过处理这 2 个图像信号而生成与对象物 A 相关的放射线透过像数据。 0048 根据这样的放射线图像取得装置31, 从闪烁器面板1的两面辐射的闪烁光L1,L2经 由光学系统 35 而被导光至光检测器 34, 因而光检测器 34 可以与放射线的出射区域分离。 由此, 检测器的影像不会映入到对象物 A 的放。
37、射线投影像, 也不会有检测器所引起的放射 线的低能量成分的衰减。另外, 放射线入射到检测器自身所引起的直接变换的噪声的发生 也少。另外, 由于能够通过 1 个检测器取得低能量成分的放射线透过像和高能量成分的放 说 明 书 CN 103339684 A 8 7/8 页 9 射线透过像, 因此能够容易地谋求装置的小型化。 0049 针对以上说明的闪烁器面板 1 的作用效果进行说明。 0050 在闪烁器面板 1 中, 将放射线变换成闪烁光的 2 个平板状的闪烁器 3,4 夹持着让 放射线透过的平面状的隔板 2 而配置, 因而透过了对象物 A 的放射线被一个闪烁器 3 变换 成闪烁光, 并且透过了该闪。
38、烁器 3 和隔板 2 后被另一个闪烁器 4 变换成闪烁光。此时, 通过 隔板 2 的存在, 2 个闪烁器 3,4 中所产生的各个闪烁光相对于 2 个闪烁器 3,4 的隔板 2 容易 从反射侧的面 1a,1b 出射。其结果, 通过把该闪烁器面板 1 使用在对从闪烁器面板 1 的两 面 1a,1b 出射的闪烁光进行聚光并摄像的放射线图像取得装置 11,31, 能够效率高地区别 高能量带的放射线图像和低能量带的放射线图像。 0051 另外, 隔板2相对于闪烁光具有遮光性, 因而能够切实地防止闪烁器3,4中的一个 所产生的闪烁光入射到闪烁器 3,4 中的另一个, 能够提高放射线图像的能量区别性。 00。
39、52 另外, 通过使用对不同的能量带的放射线灵敏度高的波长变换构件作为闪烁器 3 和闪烁器 4 的材料, 能够进一步提高放射线图像的能量区别性。此外, 通过以闪烁器 3 的厚 度和闪烁器 4 的厚度不同的方式构成, 能够同时调整不同能量带的放射线图像的检测灵敏 度, 使水准 (level) 修正等的图像处理简单化。 0053 再有, 本发明并不限定于前述的实施方式。 0054 例如, 如图 6 所示的本发明的变形例即闪烁器面板 101 那样, 在隔板 102 的两面 或一面, 可以形成有反射由闪烁器 3,4 产生的闪烁光的反射面 102a,102b。这样的反射面 102a,102b通过在隔板1。
40、02的两面或一面蒸镀铝, 粘结铝的薄膜, 覆盖厚度0.1m以下的使 放射线透过的金属颗粒, 或涂布白色涂料来形成。 另外, 也可以用铝板等的金属板构成隔板 102 自身, 并对其两面或一面进行镜面研磨来形成反射面 102a,102b。此外, 通过在闪烁器 3,4 的表面形成了反射面 102a,102b 之后接合闪烁器 3,4, 可以在隔板 102 的两面或一面配 置反射面102a,102b。 通过这样的结构, 能够切实地防止闪烁器3,4中的一个所产生的闪烁 光入射到另一个闪烁器 3,4, 并且可以进行放射线图像取得装置 11,31 所得到的闪烁光的 高效的检测。由此, 能够提高放射线图像的能量。
41、区别性并且取得高对比度的放射线图像。 0055 另外, 闪烁器面板的隔板 2 不限定于对闪烁器 3,4 所产生的闪烁光具有遮光性的 事实, 也可以具有遮蔽闪烁光的一部分波长区域那样的功能。 通过这样的结构, 也能够在规 定的范围效率高地区别高能量带的放射线图像和低能量带的放射线图像。另外, 隔板 2 不 限定于让入射的放射线的全部的能量成分透过的事实, 也可以具有遮蔽低能量区域的放射 线那样的性质。在这种情况下, 通过背面侧的闪烁器 4 能够降低由低能量区域的放射线所 产生的闪烁光的入射, 能够进一步提高能量区别性。 0056 这里, 优选地, 隔离构件对闪烁光具有遮光性。若具备这样的隔离构件。
42、, 则能够切 实地防止一个波长变换构件中产生的闪烁光往另一个波长变换构件的入射, 能够提高放射 线图像的能量区别性。 0057 另外, 优选地, 在隔离构件形成有反射闪烁光的反射面。若采用这样的结构, 则能 够切实地防止一个波长变换构件中所产生的闪烁光往另一个波长变换构件的入射, 并且可 以进行图像取得装置所得到的闪烁光的效率的检测。由此, 能够提高放射线图像的能量区 别性并且取得高对比度的放射像图像。 0058 此外, 优选地, 第 1 波长变换构件与第 2 波长变换构件由不同的材料形成。在这种 说 明 书 CN 103339684 A 9 8/8 页 10 情况下, 通过使用对不同能量带的。
43、放射线灵敏度高的波长变换构件, 能够进一步提高放射 线图像的能量区别性。 0059 再此外, 优选地, 第 1 波长变换构件与第 2 波长变换构件的厚度不同。若采用这样 的结构, 则能够同时调整不同能量带的放射线图像的检测灵敏度。 0060 产业上的可利用性 0061 本发明以将透过了对象物的放射线变换成闪烁光的闪烁器面板作为使用用途, 使 从放射线的入射面及其背面出射的闪烁光的观察变得可能, 由此可以取得能量区别性高的 放射线检测图像。 说 明 书 CN 103339684 A 10 1/6 页 11 图 1 说 明 书 附 图 CN 103339684 A 11 2/6 页 12 图 2 说 明 书 附 图 CN 103339684 A 12 3/6 页 13 图 3 说 明 书 附 图 CN 103339684 A 13 4/6 页 14 图 4 说 明 书 附 图 CN 103339684 A 14 5/6 页 15 图 5 说 明 书 附 图 CN 103339684 A 15 6/6 页 16 图 6 说 明 书 附 图 CN 103339684 A 16 。