光记录介质和用于制造 该光记录介质的设备和方法 【技术领域】
本发明涉及一种可以将信息光学地记录在其上的光记录介质和一种用于制造该光记录介质的设备和方法。
背景技术
一种DVD-RW(可重记录DVD)光盘是众所周知的可以将信息光学地记录在其上的光记录介质。这种光记录介质具有：在其上记录信息的凹槽轨道；和表示不同信息例如地址和类似信息的凸区预坑(pre-pits)(下文被称作预坑)，每个预坑被形成在凹槽轨道的相邻圈之间的凸区轨道上。凹槽轨道具有：记录信息被记录在其上的第一区域；以及第二区域，其中预定数据作为一种压纹坑行(embossed pit row)被形成，以便由此阻止别的写在该压纹坑行上的数据被读取。
一种用于从这种光记录介质上再现记录信息地再现设备是这样设计的，即光点被照射在凹槽轨道上，反射层所反射的反射光被光探测器PD所检测，已记录的记录信息因此被读取。光点的尺寸被这样设计，使得其一部分还被照射到形成在凹槽轨道邻近的预坑上。由此来自光盘的反射光被光探测器PD所检测，因此可读取被记录在凹槽上的记录信息和凸区轨道上例如地址等的各种信息。然而形成在第一区域内凸区轨道上的预坑被定位成靠近凹槽轨道，因此，形成在第一区域内的预坑对用于读取被记录在凹槽轨道内的记录信息的再现信号的操作具有坏的影响。所以发明人在公开的日本专利申请2000-132868中提出一种预坑的形状，能够使上述坏的影响最小化。
然而光记录介质的凹槽轨道也包括压纹坑行被记录在其内的第二区域，如上文所述的公报中所描述的那样，如果在第一区域内的预坑的形状被优化以便使预坑对再现信号的影响最小，则这种优化会导致这样的问题，即难以满足所要求的、第二区域内的预坑检测信号的孔径比率ARe值(也就是ARe＞30％)，此时压纹坑行被形成在该第二区域内，该比率是由DVD-RW格式规定的。孔径比率ARe表示预坑检测信号中最小的幅度APmin与最大的幅度APmax的比率。
【发明内容】
鉴于上述问题提出本发明。所以本发明的一个目的是提供一种光记录介质，其中，形成在第一区域内的预坑几乎对再现信号没有坏影响，并且可能容易地满足在第二区域内的预坑检测信号的孔径比率值，以及本发明还提供一种用于制造该光记录介质的设备和方法。
通过一种记录信息可以被光学地记录的光记录介质可以实现本发明的上述目的，所述光记录介质具有：一基板；形成在所述基板上的记录表面，它具有第一区域和第二区域，记录信息被记录在第一区域内，而控制记录和/或再现记录信息的预定数据被记录在所述第二区域内；形成在第一区域和第二区域内的凹槽轨道，其上记录信息被记录在第一区域内，而预定数据作为压纹坑行被记录在第二区域，以便阻止别的写在压纹坑行上的数据被读取；形成在彼此相邻的凹槽轨道之间的、第一区域和第二区域内的凸区轨道；以及被设置在第一区域和第二区域内的凸区轨道上的预坑，包括表示在凹槽轨道上的记录位置的地址信息，第二区域内所形成的预坑的形状与第一区域内所形成的预坑的形状不同，使得与第一区域相比，在第二区域内获得对应于该预坑的更大幅度的预坑检测信号。
根据本发明的光记录介质，第二区域内形成的预坑形状与第一区域内形成的预坑形状不同，以便获得更大幅度的预坑检测信号。因此，第二区域内的预坑检测信号的孔径比率ARe值变得更大，它能够容易地满足所要求的值，例如DVD-RW格式所规定的ARe＞30％。
根据本发明光记录介质的一个方面，第一区域内的预坑被形成为使得该预坑对与从所述凹槽轨道中读取的记录信息相应的再现信号的影响最小。
根据这个方面，在第一区域，预坑对再现信号的影响可以被最小化，同时在第二区域，可以使孔径比率ARe值相当大。
根据本发明光记录介质的另一个方面，在扫描方向上，使第二区域内形成的预坑比第一区域内的预坑更长。
根据这个方面，在第二区域内，通过在第二区域内形成更长预坑，可能增加孔径比率ARe值。
根据本发明光记录介质的另一个方面，使第二区域内形成的预坑比第一区域内的预坑更深。
根据这个方面，在第二区域内，通过在第二区域内形成更深预坑，可能增加孔径比率ARe值。
根据本发明光记录介质的另一个方面，在光盘的沿半径方向上，使第二区域内形成的预坑比第一区域内的预坑更大。
根据这个方面，在第二区域内，通过在第二区域内形成更大预坑，可能增加孔径比率ARe值。
根据本发明光记录介质的另一个方面，第二区域所在地址与其上记录有专用于再现的记录介质的再现控制信息的区域地址相同。
根据这个方面，可保护RF(无线电频率)复制，例如从DVD-ROM光盘到DVD-RW光盘的RF复制。
利用一种通过使用初始光盘而制造光记录介质的设备，本发明的上述目的可以被实现，记录信息可以被光学地记录在所述记录介质上，所述设备具有：用于在所述初始光盘的表面上形成凹槽轨道的凹槽轨道形成设备，其上记录信息将被记录在第一区域，而用于控制记录和/或再现记录信息的预定数据作为压纹坑行被记录在第二区域，以便阻止别的写在压纹坑行上的数据被读取；以及用于形成被设置在凸区轨道上的预坑的预坑形成设备，所述凸区轨道位于第一区域和第二区域内彼此相邻的凹槽轨道之间，包括表示在所述凹槽轨道上的记录位置的地址信息，所述预坑形成设备在第二区域内所形成的预坑的形状与第一区域内形成的预坑的形状不同，使得与第一区域相比，在第二区域内获得对应于该预坑的更大幅度的预坑检测信号。
根据本发明的制造设备，本发明上述光记录介质可以被容易地和确定地制造。
在本发明制造设备的一个方面，预坑形成设备在第一区域内形成预坑，以便使该预坑对与从凹槽轨道中读取的记录信息相应的再现信号的影响最小。
在本发明制造设备的另一个方面，在扫描方向上，预坑形成设备在第二区域内形成的预坑比第一区域内的预坑更长。
在本发明制造设备的另一个方面，预坑形成设备在第二区域内形成的预坑比第一区域内的预坑更深。
在本发明制造设备的另一个方面，在光盘的沿半径方向上，预坑形成设备在第二区域内形成的预坑比第一区域内的预坑更大。
在本发明制造设备的另一个方面，第二区域所在地址与其上记录有专用于再现的记录介质的再现控制信息的区域地址相同。
利用一种通过使用初始光盘而制造光记录介质的方法，本发明的上述目的可以被实现，记录信息可以被光学地记录在所述记录介质上，所述方法包括：用于在所述初始光盘的表面上形成凹槽轨道的凹槽轨道形成过程，其上记录信息将被记录在第一区域内，而用于控制记录和/或再现记录信息的预定数据作为压纹坑行被记录在第二区域内，以便阻止别的写在压纹坑行上的数据被读取；以及用于形成被设置在凸区轨道上的预坑的预坑形成过程，所述凸区轨道位于第一区域和第二区域内彼此相邻的凹槽轨道之间，包括表示在所述凹槽轨道上的记录位置的地址信息，所述预坑形成过程在第二区域内所形成的预坑的形状与第一区域内所形成的预坑的形状不同，使得与第一区域相比，在第二区域内获得对应于该预坑的更大幅度的预坑检测信号。
根据本发明的制造方法，本发明上述光记录介质可以被容易地和确定地制造。
在本发明制造方法的一个方面，预坑形成过程在第一区域内形成预坑，以便使该预坑对与从凹槽轨道中读取的记录信息相应的再现信号的影响最小。
在本发明制造方法的另一个方面，在扫描方向上，预坑形成过程在第二区域内形成的预坑比第一区域内的预坑更长。
在本发明制造方法的另一个方面，预坑形成过程在第二区域内形成的预坑比第一区域内的预坑更深。
在本发明制造方法的另一个方面，在光盘的沿半径方向上，预坑形成过程在第二区域内形成的预坑比第一区域内的预坑更大。
在本发明制造方法的另一个方面，第二区域所在地址与其上记录有专用于再现的记录介质的再现控制信息的区域地址相同。
【附图说明】
图1是显示了本发明优选实施例中使用的光记录介质的记录表面上沿半径方向的物理扇区布局图；
图2是显示了实施例中所使用的光记录介质的控制数据区和引导区的配置图；
图3是一个透视图，显示了实施例中所使用的光记录介质的记录表面的结构；
图4用于描述实施例中所使用的光记录介质的物理扇区的帧结构和预坑图；
图5示意性显示了用于制造实施例中所使用的光记录介质的设备配置框图；
图6是一个流程图，用于描述实施例中的光记录介质的初始光盘的切割工序；
图7A、7B和7C示意性显示了本发明第一实施例的凹槽轨道和控制数据部分内的凸区预坑；
图8A和8B示意性显示了本发明第二实施例的凹槽轨道和控制数据部分内的凸区预坑；
图9示意性显示了本发明第三实施例的凹槽轨道和控制数据部分内的凸区预坑；
图10A、10B和10C示意性显示了在一比较示例内的凹槽轨道和控制数据部分内的凸区预坑。
【具体实施方式】
下文通过参考附图，对本发明优选实施例进行介绍。
在介绍优选实施例之前，结合图10A、10B和10C介绍一比较示例，以便解释优选实施例的操作原理和有利效果。
图10A是一个放大的视图，显示了作为比较示例的光记录介质的主要部分，并图解说明了(i)用作数据区的第一区域内的凹槽轨道11和形成在凸区轨道12上的预坑13的形状，及(ii)用作控制数据区的第二区域内的压纹坑行19和预坑13的形状。图10A还示意性显示了当光点被照射以便覆盖凹槽轨道11和预坑13时的方式，和光记录介质的反射层所反射的反射光被4个分开的光探测器PD所检测的方式。另一方面，图10B显示了将在下文介绍的预坑检测信号，而图10C是一个沿图10A中A-A线所取的截面图。
如图10A所示，在比较示例中，预坑13在第一区域和第二区域内具有相同的形状，以便使对再现信号的影响最小而不管所处区域。当光点位于照射到预坑13的位置时，在构成光探测器PD的4个光接收元件A、B、C和D内由凹槽轨道11和预坑13引起的光衍射现象会导致出现在光接收元件A和D上的光量降低，而出现在光接收元件B和C上的光量增加。因此，通常光探测器PD的各自光接收元件A、B、C和D的输出信号SA、SB、SC、和SD被相加和相减，例如(SA+SD)-(SB+SC)，并相应地被用作预坑检测信号。
第一区域内的预坑检测信号如图10B左侧波形所示地改变。也就是当光点位于凹槽轨道11上时，光探测器PD内各个光接收元件A、B、C和D的光接收量基本上彼此相同，由于噪声成分，预坑检测信号在预定水平上被轻微地改变。然后，当光点位于照射到凹槽轨道11和预坑13上的位置时，光探测器PD的各个光接收元件的检测信号具有这样的关系，即(SA+SD)＜(SB+SC)。所以预坑检测信号按V型方式向负的一侧变化。
另一方面，第二区域内的预坑检测信号如图10B右侧波形所示地改变。当光点位于压纹坑行19上时，预坑检测信号在预定水平上被压纹坑行19调制。然后，当光点位于照射到预坑13和压纹坑行19上的位置时，光探测器PD的各个光接收元件的检测信号具有这样的关系，即(SA+SD)＜(SB+SC)。所以预坑检测信号按V型方式向负的一侧变化，同时接收由压纹坑行19所导致的调制。上述孔径比ARe表示这个预坑检测信号中最小的幅度APmin与最大的幅度APmax的比值。根据DVD-RW格式，需要30％或更大的值。
如上所述，预坑检测信号严格地接收由第二区域内的压纹坑行19导致的调制。所以，如果考虑对第一区域内的再现信号的坏的影响而形成预坑，则最小的幅度APmin与最大的幅度APmax都变小。因此，难以满足所要求的第二区域内的预坑检测信号的孔径比ARe值(即ARe＞30％)，此孔径比由DVD-RW格式规定，其中压纹坑行19被形成该在第二区域内。
图1是显示了DVD-RW10(下文被称作光记录介质10)的记录表面上沿半径方向的物理扇区布局图。在用于记录该记录信息的信息区，按照引导区、数据区和导出区的顺序，从位于光盘中心的信息区的起始点(物理扇区的起始点)到沿半径方向的外沿形成引导区、数据区和导出区。当在光记录介质10上进行记录或再现时，首先访问引导区。所以，由涉及光记录介质10的信息、涉及对应于内容的记录数据的不同信息和类似信息组成的控制数据被记录在引导区。数据区是要被记录的数据主体被记录的区域。作为这种数据主体的可以是，例如视频数据、音频数据和可以被计算机读取的数据或程序或类似数据。导出区是表示数据区结束位置的零数据被记录的区域。
图2详细地显示了引导区。引导区包括数据，例如参考码、控制数据和类似数据。根据DVD-RW格式，利用相位变化坑，将对于记录和再现控制非常重要的控制数据写在一RW物理格式信息区段。另一方面，由零数据组成的并应用8～16调制的一压纹坑行被预先形成在控制数据区内，所述控制数据区所处的地址与用作专用于再现的记录介质的DVD-ROM内的控制数据区的地址相同，以便阻止控制数据被记录在这个区域或从这个区域内被再现(准确地说，是为了阻止被写在这个区域内的数据被读取)。这用于保护从DVD-ROM光盘到DVD-RW光盘的RF复制。
此后，记录信息被记录的数据区被称作“第一区域”，形成有压纹坑行的控制数据区被称作“第二区域”。
图3是一个透视图，显示了光记录介质10的记录表面的结构。在图3中，光记录介质10是相位变化类型的光记录介质，它具有一多层14，所述多层14包括：由相位变化材料(例如锗锑碲和类似材料)制成的作为数据记录层的记录层；及夹住这个记录层的玻璃物质(ZnS-SiO2)组成的保护层，且记录信息可以被重新写在其上。在光记录介质10上，形成用作信息记录轨道的凹槽轨道11和凸区轨道12，所述凸区轨道12用于将光束B作为再现光或记录光导向并将其引入凹槽轨道11。同样光记录介质10具有一个当记录数据被再现时用于反射光束B的反射层15和一个粘接层18，通过粘接层18，它们可附着在透明基板(聚碳酸酯)17上。
一用于保护光束B输入侧的透明膜(聚碳酸酯)16被设置在其上。
凹槽轨道11是透明膜16的凹陷部分，所以被称作“凹槽”轨道，同时相对于光束B的照射侧，它是凸出的。凸区轨道12是透明膜16的凸起部分，所以被称作“凸区”轨道，同时它相对于光束B的照射侧是凹陷的。
对应于预信息(也就是预记录信息)的预坑13被形成在凸区轨道12上。这种预坑13负责记录和再现设备中的记录和再现操作中所使用的预信息，该信息用于记录在光记录介质10上和从光记录介质10上读取，换句话说，它负责地址信息，以便确认凹槽轨道11上的位置，和负责同步信息。在光记录介质10发货之前要事先形成预坑13。凹槽轨道11也以与光记录介质10的转动速度相对应的频率摆动。与预坑13相同，在光记录介质10发货之前要事先形成这种摆动凹槽轨道11。
当记录信息(指例如除了预信息之外的、要被首先记录的图象信息和类似信息的记录信息)要被记录在光记录介质10上时，凹槽轨道11的摆动频率被提取，以便以预定的转动速度对光记录介质10相应地进行转动控制。因此，预坑13被检测，以预先获得预信息，使得在这个预信息的基础上、设定被用作记录光的光束B等的光学输出。表示记录信息被记录在光记录介质上的位置的地址信息和类似信息也被获得。因此，根据此地址信息，记录信息被记录在对应的记录位置上。
下文，将结合图4介绍事先被记录在光记录介质10上的预信息的记录格式。
在图4中，上部图形表示记录信息的记录格式。下部两图形上的波形表示用于记录该记录信息的凹槽轨道11的摆动状态(与凹槽轨道11的平面视图对应)。凹槽轨道11的摆动状态和记录信息之间的向上的箭头表示预坑13被形成的位置。在图4中，为了便于理解，使用比实际幅度更大的幅度表示凹槽轨道11的摆动状态。记录信息被记录在凹槽轨道11的中心线上。
如图4所示，要被记录在光记录介质10上的记录信息事先被分到用作信息单元的每个同步帧中。因此，一个记录扇区由26个同步帧构成。此外，一个ECC(纠错码)块由16个记录扇区构成。一个同步帧的长度等于1488倍(1488T)由记录信息被记录时的记录格式所确定的信道比特长度(下文被称作T)。此外，对应一个同步帧开头的长度为32T的部分被用作同步信息SY，用于为每个同步帧实现同步。
另一方面，记录在光记录介质10上的预信息为每个同步帧而被记录。当利用预坑13将预信息记录在光记录介质10上时，一个表示预信息中的同步信号的预坑13总是被形成在邻近某个区域的凸区轨道12上，记录信息中每个同步帧内的同步信息SY被记录在该区域。在此情况下，一或两个表示要被记录的预信息内容的预坑13也被形成在邻近同步帧之内除了同步信息SY之外的先前部分的凸区轨道12上(对于同步帧之内除了同步信息SY之外的先前部分，可以是这样一种情况，即根据要被记录的预信息的内容，预坑13没有被形成)。
通常，预坑13仅仅被形成在偶数编号同步帧内(下文称作偶数帧)，且预信息被记录。也就是在图4中，预坑13被形成在偶数帧内(在图4中，由实线上的向上的箭头表示)。另一方面，预坑13没有被形成在邻近它们的奇数帧上。详细地说，当预坑13被形成在偶数帧内时，所有预坑(被定义成预坑B2、B1和B0，从同步帧的引导部分开始，按照预坑B2、B1和B0的顺序放置)被形成在记录扇区的引导部分的同步帧内。在除了记录扇区的引导部分之外的同步帧内，当要被记录在同步帧内的预信息是“1”时，形成预坑B2和B0，而当要被记录的预信息是“0”时，仅仅形成预坑B2。
在预坑被形成在奇数帧内时，在记录扇区的引导部分的同步帧内，形成预坑B2和B1，而除了记录扇区的引导部分之外的同步帧与偶数帧的情况类似。也就是，根据预坑行B2、B1或B0的图案，预坑13具有不同的意思。
顺便地，根据先前被形成在相邻凸区轨道12上的预坑13的位置，形成有预坑13的偶数帧或奇数帧的同步帧被确定。也就是预坑13通常被形成在偶数帧内。然而当预坑13被形成在偶数帧内时，如果它靠近在光记录介质10的沿半径方向上先前被形成的相邻凸区轨道12上的预坑13，则该预坑13被形成在奇数帧内。这种成型不能使预坑13存在于相邻凸区轨道12的位置。因此，在检测预坑13时，由串扰导致的影响可以被减少。
另一方面，在所有同步帧上，凹槽轨道11以大约140kHz的恒定的摆动频率f0(即摆动信号对应于8波的频率被包括在一个同步帧内)摆动。因此，在记录和再现设备中，这个恒定的摆动频率f0被提取以便由此检测一用于主轴电动机的转动控制的信号，并相应地生成一记录时钟信号。
下文结合图5所示框图介绍用于制造光记录介质的设备50的示意性配置，所述设备50产生光记录介质光盘40。
在图5中，用于制造光记录介质的设备50具有一凸区数据生成器20、一并行/串行转换器(P/S)21、一预格式编码器22、一波形整形电路23、一时钟信号生成器24、一光束生成器25、一物镜26、一主轴电动机27、一转动检测器28、一转动伺服电路29、一传送单元30、一位置检测器31、一传送伺服电路32、一控制器33、一凹槽数据生成器34、一摆动信号生成器35、一可变增益放大器36和一开关37。
光记录介质光盘40具有一玻璃基板41和一涂附在玻璃基板41上的保护层42。当光束如下文所述那样被发射时，保护层42暴露于光下。因此，在其上进行蚀刻过程。因此，形成形状与光束强度的变化一致的坑。
在图5中，在控制器33的控制下，凸区数据生成器20输出与形成在凸区轨道12上的预坑13一致的并行数据。利用并行/串行转换器21，将输出的并行数据转换成串行数据。因此，串行数据被输入到预格式编码器22。根据时钟信号生成器24所发出的预格式化时钟信号，一实际上用于在光记录介质光盘40上形成预坑13的预坑形成信号SL被生成，并通过波形整形电路23将上述信号输送到光束生成器25。
根据控制器33的控制信号，波形整形电路23改变一个预格式编码器22所输出的预坑格式信号SL的脉冲宽度，以便在光记录介质光盘40上实际形成预坑13，并输出它。例如，如果预坑13被形成在第一区域，它输出实际上的预坑格式信号SL，以便形成优化的短预坑(下文被称作短LPP)，因而不对再现信号施加坏影响。另一方面，如果预坑13被形成在第二区域，则根据控制器33的控制信号，它加宽预坑格式信号SL的每个脉冲宽度，以便形成优化的长预坑(下文被称作长LPP)，从而增加预坑检测信号的幅度并输出它。
另一方面，在控制器33的控制下，凹槽数据生成器34生成凹槽格式信号SG，其包含作为压纹坑行被形成的记录数据和凹槽轨道11，并作为与开关37有关的控制信号而输出。简而言之，根据凹槽数据生成器34的输出信号，开关37被开启/关闭。
摆动信号生成器35生成摆动信号，以便使凹槽轨道11轻微地摆动。通过可变增益放大器36，这个摆动信号被输出到开关37，控制器33控制该放大器36到预定增益。地电平和摆动信号被输入到开关37，根据凹槽数据生成器34所输出的凹槽数据，进行开关控制。因此，实际用于在光记录介质光盘40上形成凹槽轨道的形状的凹槽格式信号SG被输出到光束生成器25。
光束生成器25向光记录介质光盘40输出光束，以形成预坑13和凹槽轨道11。光束生成器25被设计，使得以预定间距(要被形成的凹槽轨道11的中心线和要被形成的预坑13的中心线之间的间距)向光记录介质光盘40发射用于形成凹槽轨道11的光束(图5中用虚线表示)和用于形成预坑13的光束(图5中用实线表示)。根据凹槽格式信号SG来控制用于形成凹槽轨道11的光束。根据预坑格式信号SL来控制用于形成预坑13的光束。两种光束都通过物镜26而集中到光记录介质光盘40上。
光记录介质光盘40被主轴电动机27转动驱动。转动探测器28检测光记录介质光盘40的转动。根据转动探测器28的输出，转动伺服电路29控制主轴电动机27的转动。
位置探测器31检测传送单元30的位置，并将探测信号输出到传送伺服电路32。根据来自位置探测器31的检测信号，传送伺服电路32获得传送单元30的位置信息，并根据所获得位置信息，控制传送单元30的移动。
通过执行上述的操作，光记录介质光盘40上用作连续的凹槽的部分、压纹坑行和预坑被暴露在光束下。通过执行预定的蚀刻过程，用作制造光记录介质10的切割模的光记录介质光盘40被制造。此后，根据光记录介质光盘40，形成一个母版光盘。然后可根据公知的复制过程来制造很大数量的按照本发明的光记录介质10。
下文结合图6所示的流程图，介绍这个实施例中用于光记录介质光盘40的切割过程，利用用于制造光记录介质的设备50执行所述过程。顺便地说，根据记录在存储器(图中未示)内的控制程序，在控制器33的管理下，进行上述切割过程。
如图6所示，在步骤S1，作为初始步骤，按照这个实施例的用于制造光记录介质的设备50的控制器33设定凹槽数据生成器34为连续的凹槽模式。简而言之，控制器33设定它处在一个开关37被固定在“a”侧的状态。同样控制器33将可变增益放大器36的增益设定为1倍，并也输出对应于短LPP的并行数据到凸区数据生成器20。因此，在步骤S2，控制器33开始形成凹槽轨道并记录短LPP。
然后在步骤S3，控制器33一直监视当前被记录的区域是否变成控制数据区。如果判断，当前被记录的区域变成控制数据区(步骤S3变成“是”)，则操作流进入步骤S4。在步骤S4，控制器33指令凹槽数据生成器34生成零数据作为凹槽数据，它已经被8～16次调制，并将其作为控制信号输出到开关37。控制器33也将可变增益放大器36的增益设定为“1.3”倍，并也控制波形整形电路23，使得，脉冲宽度比初始设定时的短LPP宽。
顺便地说，可变增益放大器36的增益被增加的原因是，当再现设备再现形成有压纹坑行19的第二区域时，一包含摆动信号的推-挽信号的电平被降低，导致干扰再现设备的伺服操作的问题。作为对策，可变增益放大器36的增益被增加，且压纹坑行19被形成，其摆动幅度大于凹槽轨道11的摆动幅度。
此后在步骤S5，控制器33开始形成压纹坑行19并记录长LPP。
然后在步骤S6，控制器33一直监视当前被记录的区域是否变成缓冲区。如果当前被记录的区域变成缓冲区(步骤S6“是”)，则操作流进入步骤S7。在步骤S7，控制器33返回在步骤S1所做的初始设定，且操作流进入步骤S8。
在步骤S8，控制器33一直监视当前被记录的区域是否变成最外部分。如果当前被记录的区域变成最外部分(步骤S8：是)，则控制器33执行停止控制，由此停止上述的切割操作序列。
接下来在下文结合图7A、7B和7C介绍光记录介质10的配置，所述光记录介质10在用于制造如上所述的光记录介质的设备50内，使用通过切割过程的光记录介质光盘40制成。顺便地说，图7A是一个放大的视图，显示了光记录介质10的主要部分，它也示意性显示了在用作数据区的第一区域内的凹槽轨道11和预坑12的形状和用作控制数据区域的第二区域内的压纹坑行19和预坑45的形状。图7B显示了预坑检测信号。图7C是一个沿图7A中B-B线所做的断面图。
在光记录介质10的第一区域内，形成连续的凹槽轨道11。扫描方向(在图7A中用箭头T表示)上长度为L1的预坑13被形成在设置于凹槽轨道11之间的凸区轨道12上。预坑13的长度L1被确定，以便不对凹槽轨道11的再现信号施加坏的影响。
另一方面，在第二区域，每个深度为Ed(例如30nm)的压纹坑行19被形成在与凹槽轨道11对应的位置上。长度为L2(L2＞L1)的预坑45被形成在设置于压纹坑行19之间的凸区轨道12上。
根据这种光记录介质10，在第二区域内的预坑45的深度Pd2等于压纹坑行19的深度Ed(例如30nm)，如图7C所示。第一区域内的预坑13的深度Pd1也等于压纹坑行19的深度Ed(例如30nm)。简而言之，根据这种光记录介质10，被形成在第二区域内的预坑45与被形成在第一区域内的预坑13仅仅在长度上不同。
根据这种光记录介质10，当光点位于覆盖预坑45和压纹坑行19的位置时，由光的衍射所导致的光接收元件A、B、C和D的信号变化变大。简而言之，光接收元件A和D的输出信号变小，光接收元件B和C的输出信号变大。因此，第二区域内的预坑检测信号的幅度大于图10B右侧所示的比较示例的幅度，正如图7B右侧所示的波形所示。因此，APmin与APmax的比值变大，它能够满足DVD-RW格式所确定的孔径比率值ARe(即ARe＞30％)。顺便地说，与预坑45的长度L2更长这个事实相关，预坑45所导致的、对压纹坑行19的影响在再现信号中被引发。然而，由于相对压纹坑行19再现信号作为噪音存在，阻碍用于读取被写在压纹坑行19上的数据的操作，所以这具有极小的问题或没有问题。
接下来在下文结合图8A和8B，介绍按照本发明第二实施例的光记录介质60。图8A是一个放大的视图，显示了光记录介质60的主要部分，示意性显示了第一区域内的凹槽轨道11和预坑13的形状以及第二区域内的压纹坑行19和预坑46的形状。图8B是光记录介质60的部分断面图。
根据这种光记录介质60，在第一区域，连续的凹槽轨道11如图8A所示那样被形成，长度为L1和深度为Pd1(例如30nm)的预坑13被形成在凸区轨道12上。
另一方面，在第二区域，深度为Ed(例如30nm)的压纹坑行19被形成，具有长度L2和深度Pd2(例如40nm)的预坑46被形成在凸区轨道12上，所述预坑46的长度与预坑13的长度相同。
根据此光记录介质60，第一区域内的预坑13的深度Pd1(例如30nm)比第二区域内的预坑46的深度Pd2(例如40nm)小。因此，与第一实施例相同，当光点位于覆盖预坑46和压纹坑行19的位置时，由光的衍射所导致的光接收元件A、B、C和D的信号变化变大。简而言之，光接收元件A和D的输出信号变小，光接收元件B和C的输出信号变大。因此，在第二区域内的预坑检测信号向负侧很大地变化。所以，APmin与APmax的比值变大，它能够满足DVD-RW格式所确定的孔径比率值ARe(即ARe＞30％)。
下文结合图9，介绍按照本发明第三实施例的光记录介质70。图9是一个放大的视图，显示了光记录介质70的主要部分。
根据这种光记录介质70，在第一区域，如图9所示，连续的凹槽轨道11被形成，且直径为D1的圆型预坑47被形成在凸区轨道12上。
另一方面，在第二区域，形成压纹坑行19，且直径为D2(D2＞D1)的圆型预坑48被形成在凸区轨道12上。
根据这种光记录介质70，在光记录介质70的沿半径方向，使第二区域内的预坑48比第一区域内的预坑47大。因此与第一实施例相同，由光的衍射所导致的光接收元件A、B、C和D的信号变化变大。简而言之，光接收元件A和D的输出信号变小，光接收元件B和C的输出信号变大。因此，在第二区域内的预坑检测信号向负侧很大地变化。所以，APmin与APmax的比值变大，它能够满足DVD-RW格式所确定的孔径比率值ARe(即ARe＞30％)。
如上所述，根据第三实施例，第二区域内形成的预坑的形状被形成，以便获得更大的预坑检测信号的幅度。因此，能够满足DVD-RW格式所要求的孔径比率值ARe(即ARe＞30％)。
顺便地说，本发明并不局限于上述各实施例。可以进行不同的变化。例如，根据第一实施例，仅仅第二区域内的预坑比第一区域内的预坑更长。然而正如在第二实施例中说明的，同时，第二区域内的预坑可以比第一实施例中的预坑更深。
按照本发明实施例的光记录介质是DVD-RW光盘。然而，本发明可以适用于不同的记录介质，例如可以适用于用作写一次类型记录介质的DVD-R和类似光盘。