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本发明提供一种评价半导体涂布薄膜用溶液的方法,该方法包括:当半导体涂布薄膜用溶液从平均孔径大小为0.01至0.4m的过滤器过滤时,测量所述溶液的堵塞度,和估计由所述溶液形成的涂布薄膜的质量,其中,所述堵塞度由下式定义:堵塞度V2/V1,V1:在溶液在固定的压力和温度下过滤的情况下,滤出液在初始标准点的线速度值(每1cm2过滤器的过滤速度(g/cm2min),V2:在从初始标准点流出规定重量的滤出液。