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1、(10)申请公布号 CN 104011882 A (43)申请公布日 2014.08.27 CN 104011882 A (21)申请号 201380004379.7 (22)申请日 2013.01.03 61/585,926 2012.01.12 US H01L 31/18(2006.01) H01L 31/0224(2006.01) (71)申请人 应用材料公司 地址 美国加利福尼亚州 (72)发明人 MP斯图尔特 P库马尔 K威杰库恩 L张 HK波内坎蒂 (74)专利代理机构 上海专利商标事务所有限公 司 31100 代理人 黄嵩泉 (54) 发明名称 制造太阳能电池装置的方法 (57)。
2、 摘要 本发明实施例是针对用于制造太阳能电池的 工艺。具体而言, 本发明实施例同时提供布置在 太阳能电池基板的第一表面和第二表面上的共烧 结 ( 例如, 热处理 ) 金属层, 以在一个步骤中完成 金属化工艺。 通过这样做, 在太阳能电池基板的第 一表面和第二表面上形成的两个金属层被共烧结 ( 例如, 同时地热处理 ), 从而消除制造复杂性、 降 低循环时间和生产太阳能电池装置的成本。本发 明实施例也可提供一种方法和太阳能电池结构, 所述方法和太阳能电池结构在基板的后表面上需 要降低量的金属化膏以形成后表面接触结构, 并 且因此降低所形成的太阳能电池装置的成本。 (30)优先权数据 (85)PC。
3、T国际申请进入国家阶段日 2014.06.19 (86)PCT国际申请的申请数据 PCT/US2013/020044 2013.01.03 (87)PCT国际申请的公布数据 WO2013/106225 EN 2013.07.18 (51)Int.Cl. 权利要求书 2 页 说明书 16 页 附图 11 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书2页 说明书16页 附图11页 (10)申请公布号 CN 104011882 A CN 104011882 A 1/2 页 2 1. 一种制造太阳能电池装置的方法, 包含 : 提供基板, 所述基板具有布置在所述基板的第一侧。
4、上的第一介电层, 和布置在所述基 板的第二侧上的第二介电层 ; 有选择地在所述第一介电层的至少一部分上以第一图案布置第一金属膏 ; 有选择地在所述第二介电层的表面上以第二图案布置第二金属膏, 其中所述第二介电 层被布置在所述第二金属膏的部分和所述基板的所述第二侧之间 ; 和 同时加热布置在所述第一和第二介电层上的所述第一和第二金属膏以形成在所述第 一介电层中的第一组接触和在所述第二介电层中的第二组接触, 其中所述第二金属膏的至 少一部分形成数个接触区域, 所述数个接触区域中的每个区域从所述第二介电层的所述表 面贯穿所述第二介电层至所述基板的所述第二侧。 2. 如权利要求 1 所述的方法, 其特。
5、征在于, 所述第二金属膏包含铝, 且所述第二介电层 包含氧化铝。 3. 如权利要求 1 所述的方法, 进一步包含 : 将导电层耦接至在所述第二介电层中形成的所述接触区域。 4. 如权利要求 3 所述的方法, 其特征在于, 所述导电层包含铝、 铜或锡箔。 5. 如权利要求 1 所述的方法, 其特征在于, 所述第一金属膏包含银。 6. 如权利要求 1 所述的方法, 其特征在于, 所述第二金属膏包含铝。 7. 如权利要求 1 所述的方法, 其特征在于, 所述第一介电层是介电层, 所述介电层选自 由以下层组成的群组 : 氧化硅层、 氮化硅层、 氮氧化硅层和上述层的组合。 8. 如权利要求 1 所述的方。
6、法, 其特征在于, 所述第二介电层包含氧化铝层。 9. 如权利要求 1 所述的方法, 其特征在于, 所述第二介电层包含氧化铝层和氮化硅层, 其中所述氮化硅层被布置在所述氧化铝层上。 10. 如权利要求 1 所述的方法, 其特征在于, 有选择地在所述第一介电层上布置所述第 一金属膏进一步包含 : 在所述第一组接触金属膏上形成金属总线层。 11. 如权利要求 8 所述的方法, 其特征在于, 所述金属总线层是铝层。 12. 一种制造太阳能电池装置的方法, 包含 : 提供基板, 所述基板具有布置在所述基板的第一侧上的第一介电层和布置在所述基板 的第二侧上的第二介电层, 其中所述第二介电层包含布置在第二。
7、层上的第一层, 所述第二 层被布置在所述基板的所述第二侧上 ; 有选择地在所述第一介电层的至少一部分上以第一图案布置第一金属膏 ; 执行激光去除工艺以从所述基板的所述第二侧去除所述第一层的一部分, 以在所述第 一层中形成开口 ; 有选择地在所述第二介电层的第一层上以第二图案布置第二金属膏, 且所述第二金属 膏的一部分填充形成在所述第一层中的所述开口的至少一部分 ; 同时加热布置在所述第一和第二介电层上的所述第一和第二金属膏以形成在所述第 一介电层中的第一组接触和在所述第二介电层中的第二组接触, 其中所述第二金属膏的至 少一部分形成数个接触区域, 所述数个接触区域中的每个区域从所述第一层的表面贯。
8、穿所 述第二介电层至所述基板的所述第二侧。 13. 如权利要求 12 所述的方法, 进一步包含 : 权 利 要 求 书 CN 104011882 A 2 2/2 页 3 将导电层耦接至在所述第二介电层中形成的所述接触区域。 14. 如权利要求 13 所述的方法, 其特征在于, 所述导电层包含铝、 铜或锡箔。 15. 如权利要求 12 所述的方法, 其特征在于, 所述第二介电层的所述第一层是氮化硅 层, 且所述第二介电层的所述第二层是氧化铝层。 权 利 要 求 书 CN 104011882 A 3 1/16 页 4 制造太阳能电池装置的方法 技术领域 0001 本发明实施例通常涉及用于形成结晶太。
9、阳能电池的工艺。 背景技术 0002 太阳能电池是将太阳光直接转换成为电力的光生伏打装置。 最常见的太阳电池材 料是硅, 所述材料为单晶或多晶基板的形式, 所述基板有时被称为晶圆。 因为形成用于产生 电力的硅基太阳能电池的已摊销成本高于使用传统方法产生电力的成本, 所以已存在降低 用于形成太阳能电池的所需成本的努力。 0003 存在用于制造太阳能电池的活性区域和载流金属线或导体的各种方法。 以低成本 制造高效率太阳能电池是用于使太阳能电池产生用于大量消耗的电力的更具有竞争性的 关键。 太阳能电池的效率直接与用于收集从各种层中的所吸收的光子产生的电荷的电池的 能力有关。良好的钝化层可提供所需的薄。
10、膜性质, 所述薄膜性质降低太阳能电池中的电子 或空穴的重组, 且将电子和电荷重定向回至太阳能电池中以产生光电流。当电子和空穴重 组时, 入射太阳能被再发射为热量或光, 从而降低太阳能电池的转换效率。 0004 布置在太阳能电池装置的背表面上的钝化层可以是提供良好界面性质的介电层, 所述界面性质降低电子和空穴的重组, 驱动电子和载荷子和 / 或将电子和载荷子扩散回到 形成在基板中的结区中且最小化光吸收。此外, 布置在太阳能电池装置的背表面上的钝化 层也可充当背侧反射体, 所述背侧反射体用于最小化光吸收同时辅助将光反射回到太阳能 电池装置。在通常情况下, 钝化层可被蚀刻、 钻孔和 / 或图案化以形。
11、成开口 ( 例如, 背接触 通孔 ), 所述开口允许覆盖背接触金属层部分贯穿钝化层以形成与装置的活性区域的电接 触。此外, 通常包括钝化层激光烧蚀步骤、 后激光处理清洗步骤, 和覆盖后表面金属沉积步 骤的传统钝化层处理顺序的成本高昂, 需要大量处理步骤, 且所述传统钝化层处理顺序可 能产生无意地损伤太阳能电池装置的不希望的污物。 0005 因此, 存在用于制造具有所需的装置性能以及低制造成本的太阳能电池装置的改 进的方法和装置的需要。 发明内容 0006 本发明实施例可提供制造太阳能电池装置的方法, 所述方法包含提供基板, 所述 基板具有布置在基板的第一侧上的第一介电层和布置在基板的第二侧上的。
12、第二介电层 ; 有 选择地在第一介电层的至少一部分上以第一图案布置第一金属膏 ; 有选择地在第二介电层 的表面上以第二图案布置第二金属膏 ; 其中第二介电层被布置在第二金属膏部分和基板的 第二侧之间, 且同时加热布置在第一和第二介电层上的第一和第二金属膏以形成在第一介 电层中的第一组接触和在第二介电层中的第二组接触 ; 其中第二金属膏的至少一部分形成 数个接触区域, 所述接触区域中的每个区域从第二介电层的表面贯穿第二介电层至基板的 第二侧。在一些配置中, 所述方法也可包括将导电层耦接到形成在第二介电层中的接触区 域, 其中导电层包含铝、 铜或锡箔, 这些材料帮助将所形成的接触区域互连和充当后表。
13、面反 说 明 书 CN 104011882 A 4 2/16 页 5 射体。 0007 本发明实施例是针对用于制造太阳能电池的改进工艺。在一个实施例中, 用于在 基板中制造太阳能电池装置的方法包括提供基板, 所述基板具有布置在基板的第一侧上的 第一介电层和布置在基板的第二侧上的第二介电层 ; 有选择地在第一介电层上布置第一组 接触金属膏和在第二介电层上布置第二组接触金属膏, 同时加热布置在第一和第二介电层 上的第一组和第二组接触金属膏以分别地蚀刻穿过第一和第二介电层 ; 在第一介电层中形 成第一组接触开口且在第二介电层中形成第二组接触开口 ; 在形成于第一介电层中的第一 组接触开口中形成第一组。
14、金属接触结构, 和在形成于第二介电层中的第二组接触开口中形 成第二组金属接触结构, 在加热工艺期间, 所述第一组接触开口通过第一组接触金属膏形 成, 所述第二组接触开口通过第二组接触金属膏形成。 0008 在另一实施例中, 一种用于制造基板中的太阳能电池装置的方法包括 : 提供基板, 所述基板具有布置在基板的第一侧上的第一介电层, 和布置在基板的第二侧上的第二介电 层, 其中第二介电层具有布置在第二层上的第一层, 所述第二层被布置在基板的第二侧上 ; 有选择地在第一介电层的至少一部分上以第一图案布置第一金属膏 ; 执行激光去除工艺 以从基板的第二侧去除第一层的一部分, 以在第二介电层的第一层中。
15、形成开口 ; 有选择地 在第二介电层的第一层上以第二图案布置第二金属膏, 第二金属膏的部分填充第一层的开 口, 所述第一层布置在第二介电层的第二层上 ; 同时加热布置在第一和第二介电层上的第 一和第二金属膏以形成在第一介电层中的第一组接触和在第二介电层中的第二组接触, 其 中第二金属膏的至少一部分形成数个接触区域, 所述数个接触区域中的每个区域从第二介 电层的表面贯穿第二介电层至基板的第二侧。 附图说明 0009 因此, 以可详细地理解本发明的上述特征的方式, 可参考实施例获得上文简要概 述的本发明的更特定描述, 所述实施例中的一些实施例图示在附图中。然而, 应注意, 附图 仅图示本发明的典型。
16、实施例且因此不将附图视为限制本发明的范畴, 因为本发明可允许其 他同等有效的实施例。 0010 图 1 图示根据本发明的一个实施例的用于形成太阳能电池装置的处理顺序的方 块图 ; 0011 图 2A 至图 2K 图示根据本发明的一个实施例的使用图 1 的处理顺序在不同阶段期 间的太阳能电池基板的横截面图 ; 0012 图 3 图示根据本发明的另一实施例的用于形成太阳能电池装置的处理顺序的方 块图 ; 0013 图 4A 至图 4D 图示根据本发明的另一实施例的使用图 3 的处理顺序在不同阶段期 间的太阳能电池基板的横截面图 ; 0014 图 5 图示根据本发明的另一实施例的用于形成太阳能电池装。
17、置的处理顺序的方 块图 ; 0015 图 6A 至图 6E 图示根据本发明的另一实施例的使用图 5 的处理顺序在不同阶段期 间的太阳能电池基板的横截面图 ; 0016 图 7 图示根据本发明的另一实施例的用于形成太阳能电池装置的处理顺序的方 说 明 书 CN 104011882 A 5 3/16 页 6 块图 ; 0017 图 8A 至图 8D 图示根据本发明的另一实施例的使用图 5 的处理顺序在不同阶段期 间的太阳能电池基板的横截面图 ; 和 0018 图9A至图9C图示根据本发明的另一实施例的其中金属膏层可被布置在太阳能电 池基板表面上的各种图案。 具体实施方式 0019 本发明实施例是针。
18、对用于制造太阳能电池的工艺。具体而言, 本发明实施例同时 提供布置在太阳能电池基板的第一表面和第二表面上的共烧结(例如, 热处理)金属层, 以 在一个步骤中完成金属化工艺。通过这样做, 在太阳能电池基板的第一表面和第二表面上 形成的两个金属层被共烧结 ( 例如, 同时地热处理 ), 从而消除制造复杂性、 降低循环时间 和生产太阳能电池装置的成本。本发明实施例也可提供一种方法和太阳能电池结构, 所述 方法和太阳能电池结构在基板的后表面上需要降低量的金属化膏以形成后表面接触结构, 并且因此降低所形成的太阳能电池装置的成本。 0020 所属领域的技术人员将了解, 随着由于形成结晶硅锭料的工艺和用于从。
19、锭料形成 基板的丝线锯切工艺的进步, 通常为结晶太阳能基板制造成本的最大部分的太阳能电池基 板的制造成本降低, 用于形成太阳能电池装置的其他材料的成本成为太阳能电池的总制造 成本的较大部分。已经发现, 横跨基板后表面的大部分而沉积的传统 “淹没式印刷 (flood printing)” 或覆盖金属膏层占形成传统太阳能电池装置的总成本的显著部分。 本文公开的 本发明实施例因此提出一种方法, 所述方法降低用于在太阳能电池装置上形成后接触结构 的金属膏的量, 减少用于形成太阳能电池装置所需的处理步骤数目和降低太阳能电池的制 造工艺顺序复杂性。 在一个实例中, 相较于含有传统覆盖沉积金属膏层的太阳能电。
20、池装置, 本文所述的方法可使用于形成太阳能电池装置的金属膏量降低约 60和 99.6之间。 0021 图 1 图示根据本发明的一个实施例的用于形成太阳能电池装置的处理顺序的方 块图。图 2A 至图 2K 图示根据本发明的一个实施例的使用图 1 的处理顺序在不同阶段期间 的太阳能电池基板的横截面图。应注意, 在图 1 和图 2A 至图 2K 中所示的处理顺序仅被用 作可用于制造太阳能电池装置的工艺流程的实例。根据形成理想太阳能电池装置所需, 可 在图 1 中所示的步骤之间增加额外步骤。类似地, 也可根据需要消除本文所述的一些步骤。 可以预期, 在基板前侧或背侧上形成的一或多个金属层或介电层可根据。
21、需要在任何所需阶 段形成。 0022 在实施例中, 如图 1 和图 2A 中所示, 所述工艺通过提供具有布置在基板 202 的一 或多个表面中的掺杂剂的基板 202 而在步骤 102 处开始。基板 202 可以是单晶或多晶硅基 板、 含硅基板、 含掺杂硅基板, 或其他适当基板。在一个实施例中, 基板 202 是含掺杂硅基 板, 所述基板具有布置在所述基板中的 p 型掺杂剂或 n 型掺杂剂。在一个配置中, 基板 202 是 p 型结晶硅 (c-Si) 基板。用于硅太阳能电池制造中的 p 型掺杂剂是化学元素, 所述化 学元素诸如硼 (B)、 铝 (Al) 或镓 (Ga)。在另一配置中, 结晶硅基板。
22、 202 可以是电子级硅基 板或低寿命、 富含缺陷的硅基板, 例如升级的冶金级(upgraded metallurgical grade ; UMG) 结晶硅基板。升级的冶金级 (UMG) 硅是具有例如, 以百万分之几级计的低浓度的重金属及 其他有害杂质的相对清洁的多晶硅原料, 但是取决于来源, 所述冶金级硅可包含高浓度的 说 明 书 CN 104011882 A 6 4/16 页 7 硼或磷。在某些应用中, 基板可以是通过发射极卷绕 (emitter wrap through ; EWT)、 金属化 环绕, 或金属化卷绕 (metallization wrap through ; MWT) 。
23、方法制备的背部接触硅基板。尽 管本文所述的实施例和所述实施例的相关论述主要地论述p型c-Si基板的使用, 但是此配 置不意指限于本发明的范围, 因为在不偏离本文所述的本发明实施例的情况下, 也可使用 n 型 c-Si 基板。如将在下文中论述, 在基板上形成的掺杂层或发射极将基于使用的基板类型 而变化。 0023 在步骤 104 处, 基板 202 被清洗和纹理化。清洗工艺清洗基板 202 的表面 204、 206以去除任何不希望的材料, 且随后纹理化工艺将基板202的第一表面204粗糙化以形成 纹理化表面 208, 如图 2B 中所示。基板 202 具有第一表面 204( 例如, 前表面 ) 。
24、和第二表面 206(例如, 背表面), 所述第二表面206通常相对于第一表面204且在基板202的相对侧上。 基板 202 可使用水选法清洗, 在水选法中, 所述基板被使用清洗液喷雾。清洗液可以是任何 传统清洗液, 诸如氢氟酸持续 (HF-last) 型清洗液、 臭氧水清洗液、 氢氟酸 (hydrofluoric acid ; HF) 和过氧化氢 (H2O2) 溶液, 或其他适当清洗液。可对基板 202 执行清洗工艺达约 5 秒至约 600 秒, 诸如约 120 秒的时间。 0024 在太阳能电池基板 202 的前侧上的纹理化表面 208 适合于在已形成太阳能电池 之后接收太阳光。纹理化表面 。
25、208 被形成以增强太阳能电池中的光陷阱以提高转换效率。 基板 202 的第二表面 206 也可在纹理化工艺期间被纹理化。在一个实例中, 基板 202 在蚀 刻溶液中被蚀刻, 所述蚀刻溶液包含在约 2.7 体积百分比的氢氧化钾 (KOH) 和约 4500ppm 的 300MW PEG 之间, 所述 300MWPEG 被保持在约 79至 80的温度下达约 30 分钟。在一个 实施例中, 用于蚀刻硅基板的蚀刻溶液可以是含水氢氧化钾 (KOH)、 氢氧化钠 (NaOH)、 氨水 (NH4OH)、 羟化四甲铵 (TMAH ; 或 (CH3)4NOH), 或其他类似碱性溶液。蚀刻溶液将通常非均质 地蚀刻。
26、基板 202, 在基板 202 的纹理化表面 208 和 209 上形成锥体。 0025 在步骤 104 的一些实施例中, 可执行后表面抛光步骤以减少或消除在基板 202 的 表面 206 上形成的表面纹理, 以便可形成相对平坦和稳定的后表面 206, 如图 2C 中所示。 后表面抛光工艺可使用化学机械抛光 (chemical mechanical polishing ; CMP) 工艺或其他 类似方法执行, 所述类似工艺或方法可去除在纹理化工艺期间产生的表面粗糙度。在本发 明的一些实施例中, 后表面抛光工艺是在执行一或多个以下工艺步骤, 诸如在执行步骤 106 之后完成。 0026 在步骤 。
27、106 处, 如图 2D 中所示, 诸如掺杂气体的掺杂剂材料被用于在太阳能电池 基板的表面上形成掺杂区域213(例如, p+或n+掺杂区域)。 在一个实施例中, 掺杂区域213 是通过利用气相掺杂工艺形成在基板 202 中。在一个实施例中, 掺杂区域 213 的厚度是在 约和约 20m 之间, 且掺杂区域 213 包含 n 型或 p 型掺杂剂原子。在一个实施例中, 掺杂区域 213 可以是布置在 p 型基板 202 中的 n 型掺杂剂。 0027 在一个实施例中, 在步骤 106 处, 掺杂气体中的掺杂剂被扩散至基板中以形成掺 杂区域 213。在一个实例中, 来自掺杂气体的磷掺杂剂原子被通过利。
28、用三氯氧化磷 (POCl3) 扩散工艺掺杂工艺掺杂到基板 202 的表面中, 所述扩散工艺是在相对高的处理温度下执 行。在一个实例中, 在含掺杂剂气体存在的情况下, 基板 202 被加热至大于约 800的温度 以引起含掺杂剂气体中的掺杂元素扩散至基板表面中以形成掺杂区域。在一个实施例中, 在含三氯氧化磷 (POCL3) 气体存在的情况下, 基板被加热至在约 800和约 1300之间的 说 明 书 CN 104011882 A 7 5/16 页 8 温度达约 1 分钟和约 120 分钟之间的时间。掺杂剂材料的其他实例可包括, 但不限于多磷 酸、 磷硅酸盐玻璃前驱物、 磷酸 (H3PO4)、 正亚。
29、磷酸 (H3PO3)、 次磷酸 (H3PO2), 和 / 或上述物质 的各种铵盐。在其中基板 202 是 n 型基板的实施例中, 掺杂区域 213 可以为 p 型掺杂剂材 料, 诸如硼酸 (H3BO3)。在步骤 106 期间执行的工艺可被通过任何适当热处理模块执行。在 一个实施例中, 热处理模块为快速加温退火 (rapid thermal annealing ; RTA) 腔室、 退火腔 室、 管式炉或带式炉腔室。 0028 在步骤 106 的替代实施例中, 掺杂区域 213 可通过利用丝网印刷、 喷墨印刷、 喷雾 沉积、 橡胶冲压、 激光扩散或其他类似工艺在基板 202 的表面上以所需图案沉。
30、积或印刷掺 杂剂材料, 且随后将掺杂剂材料中的掺杂剂原子驱动到基板表面中来形成。掺杂区域 213 可最初为液体、 膏剂或凝胶, 上述物质用于在基板 202 中形成重掺杂区域。随后, 基板 202 被加热至大于约 800的温度以促使掺杂剂进入或扩散至基板 202 的表面中, 以形成图 2D 中所示的掺杂区域 213。在一个实施例中, 所述进入工艺 (drive-in process) 是通过将基 板 202 加热至在约 800和约 1300之间的温度达所需时间段来执行, 所述时间段例如约 1 分钟至 120 分钟。进入工艺可通过任何适当的热处理模块执行。 0029 在形成掺杂区域 213 之后,。
31、 基板 202 可被逐渐冷却至所需温度。基板 202 的温度 可以在约 5 / 秒和约 350 / 秒之间的降温速率从约 850的扩散温度降温至约 700或 更少的所需温度, 诸如约室温。 0030 在步骤 110 处, 可选择性地对基板 202 执行清洗工艺以从基板 202 去除任何不希 望的残留物或氧化物, 所述残留物或氧化物诸如在步骤 106 或其他上述处理步骤期间形成 的磷硅玻璃 (phosphosilicate glass ; PSG) 层。清洗工艺可根据步骤 104 以上文论述的类 似方式执行。可对基板 202 执行清洗工艺达约 5 秒和约 600 秒之间, 诸如达约 30 秒至约。
32、 240 秒的时间。 0031 应注意, 在基板 202 的后表面 206 上形成的掺杂区域 213 可根据不同工艺要求的 需要抛光掉, 如图 2E 中所示。后表面 206 可被选择性地蚀刻以去除布置在后表面 206 上的 掺杂区域213部分。 蚀刻工艺可以上文根据步骤104论述的类似方式执行, 且蚀刻工艺可包 含应用湿法化学于后表面以有选择地去除掺杂区域 213。或者, 蚀刻工艺可为干蚀刻工艺。 所述干蚀刻工艺诸如各向同性蚀刻, 来自 NF3、 SF6、 F2、 NCl3、 Cl2, 或包含 HF 和 O3的蒸汽, 上 述气体的组合的远程或直接等离子体或其他适当气体物种, 用于根据需要从后表。
33、面 206 去 除不希望污染物和残余物。 0032 在步骤 112 处, 抗反射层或钝化层 218 被形成在基板 202 的前纹理化表面 208 上, 如图 2F 中所示。抗反射层 / 钝化层 218 可根据需要选择性地包括透明导电氧化物 (transparent conductive oxide ; TCO) 层 ( 未图示 )。在一个实例中, 抗反射层 / 钝化层 218 可以是薄抗反射 / 钝化层, 诸如氧化硅或氮化硅。在一个实施例中, 钝化 /ARC 层 218 可以是薄膜堆叠, 薄膜堆叠可包含与前纹理化表面 208 接触的第一层和布置在第一层上的 第二层。在一个实例中, 第一层可包含。
34、通过等离子体增强化学气相沉积 (plasma enhanced chemical vapor deposition ; PECVD) 工艺形成的氮化硅 (SiN) 层, 所述氮化硅层具有在约 50 埃和约之间, 诸如的厚度, 且所述氮化硅层具有形成在所述氮化硅层 中所需量 (Q1) 的陷阱电荷, 以有效地钝化基板表面。在一个实例中, 第二层可包含通过等 说 明 书 CN 104011882 A 8 6/16 页 9 离子体增强化学气相沉积工艺形成的氮化硅 (SiN) 层, 所述氮化硅层具有在约和约 之间, 诸如的厚度, 且所述氮化硅层具有形成在所述氮化硅层中所需量 (Q2) 的陷阱电荷, 以有。
35、效地帮助大量钝化基板表面。将注意到, 诸如基于 Q1和 Q2之和的正净电 荷或负净电荷的电荷类型是通过其上形成钝化层的基板的类型优先地设定。然而, 在一个 实例中, 理想地在n型基板表面上获得在约51011库仑/cm2至约11013库仑/cm2之间的 总净正电荷, 而将理想地在 p 型基板表面上获得在约 51011库仑 /cm2至约 11013库仑 / cm2之间的总净负电荷。 或者, 在需要异质结类型的太阳能电池的某些实施例中, 抗反射/钝 化层 218 可包括薄的 (至) 本征非晶硅 (i-a-Si:H) 层和之后的 ARC 层 ( 例如, 氮化硅层 ), 所述 ARC 层可使用物理气相沉。
36、积 (PVD) 工艺或化学气相沉积 (CVD) 工艺沉积。 0033 在步骤114处, 背侧钝化层220被沉积在基板202的第二表面206(例如, 背表面) 上, 如图 2G 中所示。钝化层 220 可为提供良好界面性质的介电层, 所述界面性质降低电子 和空穴的重组, 且驱动和 / 或扩散电子和载荷子。在一个实施例中, 钝化层 220 可由介电 材料制成, 所述介电材料选自由以下各者组成的群组 : 氮化硅 (Si3N4)、 氢化氮硅 (SixNy:H)、 氧化硅、 氮氧化硅、 氧化硅和氮化硅的合成薄膜、 氧化铝层、 氧化钽层、 二氧化钛层, 或任何 其他适当材料。在一个实施例中, 本文中所用的。
37、钝化层 220 是氧化铝层 (AlxOy)。氧化铝 层 (AlxOy) 可由任何适当的沉积技术形成, 所述沉积技术诸如原子层沉积 (atomic layer deposition ; ALD) 工艺、 等离子体增强化学气相沉积 (PECVD) 工艺、 金属有机化学气相沉积 (metal-organic chemical vapor deposition ; MOCVD)、 溅射工艺等等。 在示例性实施例中, 钝化层 220 是通过 MOCVD 或 ALD 工艺形成的氧化铝层 (AlxOy), 所述钝化层具有在约 5nm 和 约 120nm 之间的厚度。 0034 在步骤 116 处, 背接触金。
38、属膏 222 通过利用喷墨印刷、 橡胶冲压、 模版印刷、 丝网 印刷, 或其他类似工艺被沉积在钝化层 220 上以形成背金属接触, 从而形成和界定所需图 案, 在所需图案处, 形成至下层基板表面 ( 例如, 硅 ) 的电接触, 如图 2H 中所示。在一个实 施例中, 背接触金属膏 222 通过丝网印刷工艺以所需图案被布置在钝化层 220 上, 在所述 丝网印刷工艺中, 背接触金属膏 222 通过不锈钢丝网被印刷在钝化层 220 上。在一个实 例中, 丝网印刷工艺可在可自应用材料意大利公司 (Applied Materials Italia S.r.l.) 获得的 SoftLineTM系统中执行。
39、, 应用材料意大利公司是加利福尼亚圣克拉拉 (Santa Clara,California) 的应用材料公司 (Applied Materials Inc.) 的分公司。也可预期, 还 可使用来自其他制造商的沉积设备。 0035 背接触金属膏 222 可包括聚合树脂, 所述聚合树脂具有布置在所述聚合树脂中的 金属微粒。聚合物和颗粒混合物通常被称为 “膏剂” 或 “油墨” 。聚合树脂充当载体以帮助 使背接触金属膏 222 能够印刷到钝化层 220 上。添加其他有机化学物以调节粘度、 表面润 湿, 或膏剂的其他性质。聚合树脂及其他有机物在随后的烧结工艺期间从钝化层 220 或从 基板202被去除,。
40、 此举将在下文中进一步详细论述。 玻璃粉也可被包括在背接触金属膏222 中。包含于在背接触金属膏 222 中发现的玻璃粉中的化合物将与布置在基板 202 上的钝化 层 220 材料反应以允许金属元素及膏剂的其他成分扩散 ( 例如, 烧结穿过 ) 至钝化层 220 中且与基板表面形成接触, 以及促进膏剂和钝化层中的金属微粒的聚结以通过钝化层形成 导电路径。因此, 玻璃粉使得接触金属膏 222 能够图案化钝化层 220, 从而允许钝化层 220 说 明 书 CN 104011882 A 9 7/16 页 10 中的金属微粒通过钝化层 220 形成电接触。在一个实施例中, 在接触金属膏 222 中发。
41、现的 金属微粒可选自由以下各材料组成的群组 : 银、 银合金、 铜 (Cu)、 锡 (Sn)、 钴 (Co)、 铼 (Rh)、 镍(Ni)、 锌(Zn)、 铅(Pb), 和/或铝(Al)或其他适当金属以提供适当导电源, 用于通过钝化 层 220 形成至基板表面的电接触。在背接触金属膏中的额外成分通常被选择以便促进钝化 层 220 的有效 “润湿” , 同时最小化可影响在钝化层 220 中的所形成特征 / 接触金属图案的 展开量。 0036 在一个实施例中, 背接触金属膏 222 包括布置在聚合树脂中的铝 (Al) 颗粒, 所述 铝 (Al) 颗粒用于在 p 型基板的后表面上形成电接触和背表面电。
42、场 (back-surface-fi eld ; BSF) 区域。在一些配置中, 铝膏剂也可包括铝颗粒和布置在铝颗粒中的玻璃粉, 以通过钝 化层 220 形成铝金属接触。在一个实施例中, 铝膏剂被选择以促进在钝化层 220 中发现的 氧化铝的低温溶解, 和在随后金属接触共烧结工艺期间的铝硅合金的形成, 此举将在下文 中详细地论述。在一些配置中, 铝膏剂包括硅化铝和硅化铋、 锗酸铋、 氟铝酸纳 ( 冰晶石 ) 或与铝键结以形成化学活性材料的其他含氯或含氟化合物, 所述化学活性材料可通过钝化 层 220( 例如, 氧化铝 ) 烧结且在随后的金属接触共烧结工艺期间与 p 型基板 202 的区域形 成。
43、铝硅合金。在一个实例中, 布置在钝化层 220 上的金属膏特征的所形成图案包括布置在 氧化铝钝化层上的铝膏剂, 所述氧化铝钝化层布置在 p 型基板 202 的后表面 206 上, 其中图 案化金属膏包含大小在约 50m 和约 200m 之间且厚度在约 5m 和 20m 之间的金属 膏点的阵列, 所述金属膏点被放置于厚度在约 10nm 和 100nm 之间的氧化铝钝化层上的约 300m中心和1500m中心之间的上方。 金属膏特征可以密排六方晶格(hexagonal close packed ; HCP) 阵列、 矩形阵列或其他所需图案形成。图 9A 至图 9C 图示形成在基板 202 的 后表面。
44、 206 上的特征的其他所需图案的一些可能的实例。如上所述, 在一个实例中, 相较于 在传统太阳能电池装置中形成的覆盖沉积金属膏层, 本文所述的方法可将用于基板后表面 上的金属膏量降低达约 60和约 99.6之间。所属领域的技术人员还将了解, 本文使用的 金属膏材料将通常比在工业中使用的常见金属膏显著地更加低廉, 所述常见金属膏被专门 定制以不 “烧结穿过” 所述金属膏布置于其上的钝化层材料或与所述钝化层材料反应。 0037 在步骤 118 处, 包括前接触结构 226 和 / 或导电总线 228 的金属化层被形成在基 板 202 的前纹理化表面 208 上的抗反射 / 钝化层 218 上, 。
45、如图 2l 中所示。在背接触金属膏 222被布置在基板202的背表面206上之后, 前接触结构226可以所需图案被沉积在抗反射 / 钝化层 218 的表面上。在一些实施例中, 可利用蚀刻或烧蚀工艺通过抗反射 / 钝化层 218 形成通孔, 以便前接触结构 226 的部分和 / 或布置在前接触结构 226 之上的导电总线 228 的部分可与掺杂区域 213 的暴露部分形成良好电接触, 所述掺杂区域 213 形成在基板 202 的前表面 204 上。通常, 前接触结构 226 的厚度可在约 500 埃和约 50,000 埃之间, 宽度 可从约 10m 至约 200m ; 且前接触结构 226 包含。
46、金属, 所述金属诸如铝 (Al)、 银 (Ag)、 锡 (Sn)、 钴 (Co)、 铼 (Rh)、 镍 (Ni)、 锌 (Zn)、 铅 (Pb)、 钯 (Pd)、 钼 (Mo)、 钛 (Ti)、 钒 (V)、 钨 (W), 或铬 (Cr)。在一个实例中, 前导电接触 226 是含有银 (Ag) 的金属膏, 且前导电接触 226 通 过丝网印刷工艺以所需图案被沉积。 丝网印刷工艺可由可自应用材料意大利公司(Applied Materials Italia S.r.l.) 获得的 SoftLbyeTM系统执行, 应用材料意大利公司是加利福尼 亚圣克拉拉 (Santa Clara,Californi。
47、a) 的应用材料公司 (Applied Materials Inc.) 的分 公司。 说 明 书 CN 104011882 A 10 8/16 页 11 0038 通常, 导电总线 228 被形成且附接于前接触结构 226 的至少一部分, 以允许太阳 能电池装置被连接到其他太阳能电池或外部装置。在一个实施例中, 必要时, 导电总线 228 使用焊接材料被连接到前接触结构 226, 所述焊接材料可包含焊锡材料 ( 例如, Sn/Pb、 Sn/Ag)。在一个实施例中, 导电总线 228 的厚度为约 200 微米且包含金属, 所述金属诸如 铝 (Al)、 铜 (Cu)、 银 (Ag)、 金 (Au)。
48、、 锡 (Sn)、 钴 (Co)、 铼 (Rh)、 镍 (Ni)、 锌 (Zn)、 铅 (Pb)、 钯 (Pd), 和 / 或铝 (Al)。在一个实施例中, 每个导电总线 228 是由金属线形成, 所述金属线为 约 30 量规 ( 美国线规 : -0.254mm) 或更小的大小。在一个实施例中, 导电总线 228 的表面 镀有焊锡材料, 所述焊锡材料诸如 Sn/Pb 或 Sn/Ag 焊锡材料。 0039 在步骤 120 处, 在背接触金属膏 222 和前接触结构 226, 以及导电总线 228 分别形 成在背表面 206 和前纹理化表面 208 上之后, 执行热处理步骤 ( 例如, 共烧结工艺。
49、或称为 “共烧结穿过” 金属化工艺 ) 以同时地促使背接触金属膏 222 和前接触结构 226, 以及导电 总线 228 立即全部致密化或烧结, 使得至少背接触金属膏 222 烧结穿过钝化层 220, 且分别 与在基板 202 的掺杂区域 213 和背表面 206 中发现的硅材料形成良好电接触, 如图 2J 中所 示。在步骤 120 期间, 在共烧结工艺期间, 钝化层 220 和 / 或抗反射 / 钝化层 218 的部分是 由背接触金属膏 222 和前接触结构 226 蚀刻穿过, 以形成前侧电接触区域 231 和后表面接 触区域232, 所述前侧电接触区域231和后表面接触区域232各自贯穿所述区域的各个钝化 层堆叠218、 220。 在执行步骤120之后, 图案化背接触金属膏222的区域将致密化且形成导 电路径, 所述导电路径与后表面接触区域 232 电接触且贯穿钝化层 220, 以便图案化金属接 触, 或导电路径 242 的这些所形成的区域可被随后连接在一起以形成背表面接触结构。类 似地, 在执行步骤 120 之后, 前接触结构 226 和导电总线 22。