光拾取装置 【技术领域】
本发明涉及一种光拾取装置，其通过使用光束来对光学类型的信息记录介质进行信息记录和信息再现，并且特别涉及装备有用于将光束控制到适当光强的监控机构的光拾取装置。
背景技术
在光拾取装置中，当用于信息记录或信息再现的光束被施加到诸如CD(小型盘)，DVD(视盘)等的信息记录介质上时，探测光束的光强，以便控制半导体激光器(光发射源)的驱动电功率，这是由APC电路(自动功率控制电路)反馈实现的。而且，作为一致探测光束光强的方法，后部监测方法已经是公知的。
在后部监测方法中，采用了在前向和后向两个方向发射激光束的半导体激光器。随后，从半导体激光器的前端发射出的激光束被用来进行信息记录和信息再现，而从半导体激光器的后端发射出的激光束由光测器探测并且从光测器输出的探测信号被供给到APC电路，并且进行反馈控制，从而使得半导体激光器的驱动电功率变成预定的目标值，由此施加到信息记录介质上的光束地光强被设定为适当的值。
因从用于在后向和前向两个方向上发射激光束的双向式半导体激光器的后端发射的激光束由光测器直接探测，后部监测方法具有能够简化监测机构的优点。但是，当将后部监测方法应用到信息记录的使用中时，存在APC电路会受到由信息记录介质反射并由此返回的返回光束的严重影响的问题。因此，后部监测方法不适合用于信息记录。
【发明内容】
本发明可以克服上述问题。本发明的目的在于提供一种监测机构的光拾取装置，所述监测机构能够对进行信息记录的光束和对进行信息再现的光束两者进行强度控制，且其零件数目很少；并且能够减少所用的零件和减轻重量。
为了实现上述目的，根据本发明的第一实施例，提供一种光拾取装置，包括：
光发射源，适于发射光束；
控制组件，用于对光发射源进行控制，以将光束调节到预定的强度；
反射镜，具有在上面发生光束入射的第一表面和第二表面，反射镜适于以预定反射率在不同于光束入射方向的一个方向上反射光束，并适于以预定的透射率向第二表面透射光束；和
相对于反射镜设置在第二表面方向上的光探测元件，光探测元件适于探测透射过反射镜的光束；
其中信息记录介质设置在所述不同于光束入射方向的方向上；和
控制组件基于光探测元件的探测输出控制光发射源。
根据具有本发明的该构型的光拾取装置，当用于信息记录或信息再现的光束从光发射源射向反射镜时，反射镜以预定的反射率向信息记录介质一侧反射入射光束；并且以预定的透射率向在第二表面方向上设置的光探测元件一侧透射光束。随后，在光探测元件的探测输出的基础上，控制组件控制光发射源，从而将进行信息记录或信息再现的光束调整到适当的强度。
因此，用于信息记录和信息再现的任何光束可以由光探测元件探测，并且通过本发明可以获得一种具有理想结构的光拾取装置，其能够使零件数目减少，装置尺寸减小，重量减轻；同时在光探测元件的探测输出的基础上，可以进行对光发射源的APC控制，从而使得用于信息记录和信息再现的任何光束变为适当的强度。
而且，为了实现发明目的，根据本发明的第二方面，提供一种光拾取装置，包括：
光发射源，适于发射光束；
控制组件，用于对光发射源进行控制，以将光束调节到预定的强度；
反射镜，具有在上面发生光束入射的第一表面和第二表面，反射镜适于以预定反射率在不同于光束入射方向的一个方向上反射光束，并适于以预定的透射率向第二表面透射光束；和
设置在所述反射方向上的光探测元件，光探测元件适于探测由反射镜反射的光束；
其中信息记录介质相对于反射镜设置在第二表面方向上；和
控制组件基于光探测元件的探测输出控制光发射源。
根据具有本发明的上述构型的光拾取装置，当用于信息记录或信息再现的光束从光发射源射出并射向反射镜时，反射镜以预定透射率将光束透射到位于第二表面方向上的信息记录介质一侧。而且，光束以预定的反射率被反射到光探测元件一侧所在的方向上。
因此，用于信息记录和信息再现的任何光束可以由光探测元件探测，并且通过本发明可以获得一种具有理想结构的光拾取装置，其能够使零件数目减少，装置尺寸减小，重量减轻；同时在光探测元件的探测输出的基础上，可以进行对光发射源的APC控制，从而使得用于信息记录和信息再现的任何光束变为适当的强度。
而且，为了实现发明目的，根据本发明的第三方面，提供一种根据第一或第二方面的光拾取装置，其中反射镜包括透明介质；
第一和第二表面彼此不相平行；和
第一和第二表面中的一个包括具有预定的反射率和预定的透射率的半透膜。
根据具有本发明的上述构型的光拾取装置，在用于信息记录或信息再现的光束入射到反射镜的半透膜中的情况下发射的多重反射光束可以被减少，从而不会到达信息记录介质和光探测元件一侧。具体说，通过彼此不相平行的表面，多重反射光束在偏离光路的方向上被反射和透射。结果，减少了多重反射光束的影响，以实现控制光发射源所必须的光探测，并且可对光发射源的光发射强度进行高精度的控制。
【附图说明】
图1是光拾取装置的实施例的结构的平面图；
图2是光拾取装置的实施例的结构的一部分的侧视图；
图3是示出对CD进行信息记录或信息再现时的操作的视图；
图4是示出对CD进行信息记录或信息再现时的光探测操作的视图；
图5是示出对DVD进行信息记录或信息再现时的操作的视图；
图6是示出对DVD进行信息记录或信息再现时的光探测操作的视图；
图7是光拾取装置的变形实例的结构的平面图；
图8是图7所示的变形实例的结构的一部分的侧视图；
图9示出了反射镜的结构和操作，反射镜的表面彼此不平行；
图10示出了另一元件的结构和操作，该元件的表面彼此不平行。
【具体实施方式】
下面参照附图描述本发明的光拾取装置的实施例。需要说明的是，这里将能够对一次性写入DVD和可复写DVD、一次性写入CD和可复写CD进行信息记录和信息再现的信息记录和再现装置作为实施例进行描述。
图1和图2示出了该实施例的光拾取装置的结构。图1是从三维正交坐标系xyz中的z轴方向观察光拾取装置的情况下的平面图。图2是从y轴方向观察光拾取装置的一部分的情况下的平面图。
在图1中，光拾取装置1包括全息组件2，第一半导体激光器2a和第二半导体激光器3，第一半导体激光器2a用于在对CD进行信息记录和信息再现的情况下以预定波长λ1(780nm)发射激光束h1；第二半导体激光器3用于在对DVD进行信息记录和信息再现的情况下以预定波长λ2(650nm)发射激光束h2。
全息组件2包括第一半导体激光器2a；用于分开激光束h4的分束全息照相2c，其中激光束h4是从激光束h1的光路由CD反射并由此返回的波长为λ1的光束；以及用于接收从激光束h1的光路分出的激光束h4的光电转换元件2b。
而且，在将用于使激光束h1形成平行光束的准直透镜4，四分之一波板5以及全反射镜6放置成与相对于第一半导体激光器2a的发射端的光轴相对准的同时，将用于使激光束h2形成平行光束的准直透镜7、衍射光栅8以及成形棱镜9放置成与相对于第二半导体激光器3的发射端的光轴相对准。
成形棱镜9是偏转角棱镜，其中两个棱镜9a，9b彼此结合，并且当从衍射光栅8的一侧入射的激光束h2的方向被改变以向分束器13(下文将详细描述)一侧发射光束的同时，从分束器13的一侧返回并由DVD反射的波长为λ2的激光束(下文记为“返回光束”)由棱镜9a，9b的结合表面9c反射，以便在预定方向发射光束。
而且，设置用于聚集由成形棱镜9的结合表面9c反射的返回光束的准直透镜10和用于像差校正的非球面透镜11，同时设置用于接收所聚集的返回光束h3并将其转换为电信号以便输出该电信号的光电转换元件12。
光电转换元件12的输出信号被提供给RF放大器(未示出)，并且进行诸如聚焦伺服机构的各种伺服机构的控制，或者进行再现记录在DVD上的信息的过程。
分束器13被放置在全反射镜6和成形棱镜9的光轴中心Q相交的位置上，换句话说，放置在激光束h1，h2的光路相交的位置上。
反射镜14被放置在全反射镜6的相对侧，中间经过分束器13。并且如图2所示，用作光电组件以监测激光束h1和h2的强度探测的光电转换元件15被放置在反射镜14的后面，而与安装在所谓的夹持位置上的CD或DVD的记录面相对的物镜16被放置在反射镜14的下方。
这里，放置反射镜14以使其相对于分束器13和物镜16以大约45°角倾斜，并且具有相对激光束h1，h2呈透明平行板形的介质作为衬底。
由介电材料制成的带有预定的反射率和透射率的半透膜HM的薄膜涂层被施加到衬底的一个表面(面对分束器13和物镜16的一侧的表面)上；并且由介电材料制成的抗反射涂膜的薄膜涂层被施加到衬底的另一个表面(面对光电转换元件15一侧的表面)上。
在该实施例中，设置半透膜HM，从而从分束器13一侧入射的波长为λ1(780nm)的激光束h1和波长为λ2(650nm)激光束h2分别以约90％的反射率反射到物镜16一侧，而剩余的大约10％的激光束h1，h2发生透射，以便向光电转换元件15一侧发射。而且，抗反射涂膜相对于激光束h1，h2的反射率被设定为低于1％(换句话说，透射率为99％甚至更高)。
下面，参考图3至6描述具有这种结构的光拾取装置的操作。图3和4示出了对CD进行信息记录或信息再现时的操作；图5和图6示出了对DVD进行信息记录或信息再现时的光探测操作。
正如图3所示，在对CD进行信息记录或从CD进行信息再现的情况下，波长为λ1的激光束h1从第一半导体激光器2a发射出来，而第二半导体激光器3被设定在关闭状态。
具体说，在向CD进行信息记录的情况下，使用所谓的功率策略方法，基于记录数据调制的激光束h1从第一半导体激光器2a发射出来，并且第二半导体激光器3被设定在关闭状态。
在从CD进行信息再现的情况下，带有恒定强度的激光束h1从第一半导体激光器2a发射出来，而第二半导体激光器3被设定在关闭状态。
而且，不管在信息记录情况下还是在信息再现情况下，通过下文所述的APC电路(自动电功率控制电路)，可对用来使第一半导体激光器2a进行发射的驱动电功率进行控制，并且进行了反馈控制，从而使激光束h1的强度变为预定目标值。
首先，描述向CD进行信息记录的情况下的操作。当用于信息记录的激光束h1从第一半导体激光器2a发射出时，激光束h1穿过准直透镜4、四分之一波板5并且被全反射镜6反射，进而穿过分束器13，到达反射镜14。
这里，正如图4所示，大约90％的激光束h1被半透膜HM反射，并且被物镜16会聚为细光束，进而施加在CD的记录面上，由此实现了信息记录。
而且，大约10％的激光束h1穿过半透膜HM，并且被光电转换元件15接收。随后，光电转换元件15的探测输出被供给到APC电路(未示出)，而APC电路进行半导体激光器2a的驱动电功率的反馈控制，使得激光束h1的强度变为预定目标值，由此施加到CD的记录面的光束自动被调整为适当的强度。
而且，由CD记录面反射的光束引起的返回光束穿过物镜16，并且被反射镜14反射，向分束器13前进，进而穿过分束器13，并且依次经过全反射镜6、四分之一波板5、准直透镜4和分束全息照相2c最终由光电转换元件2b接收，以便在光电转换元件2b的输出信号的基础上进行诸如自动聚焦的饲服控制。
下面，描述从CD进行信息再现情况下的操作。在类似于图3所示的方式下，当用于信息再现的激光束h1从第一半导体激光器2a发射出来时，激光束h1穿过准直透镜4和四分之一波板5，并被全反射镜6反射，进而穿过分束器13，并且到达反射镜14。
这里，在类似于图4所示的方式下，大约90％的激光束h1被半透膜HM反射，并且被物镜16会聚为细光束，进而施加在CD的记录面上，由此实现了信息读取。
而，大约10％的激光束h1穿过半透膜HM，并且被光电转换元件15接收。随后，光电转换元件15的探测输出被提供给APC电路，而APC电路进行半导体激光器2a的驱动电功率的反馈控制，使得激光束h1的强度变为预定目标值，由此施加到CD的记录面的光束自动被调整为适当的强度。
而且，由CD记录面反射的光束引起的返回光束穿过物镜16，并且被反射镜14反射，向分束器13前进，进而穿过分束器13，并且依次经过全反射镜6、四分之一波板5，准直透镜4和分束全息照相2c最终由光电转换元件2b接收，并且在光电转换元件2b的输出信号的基础上进行信息再现。
下面，描述向DVD进行信息记录或者从DVD进行信息再现的情况下的操作。
如图5所示，在对DVD进行信息记录或者信息再现的情况下，波长为λ2的激光束h2从第二半导体激光器3发射出，而第一半导体激光器2a设定为关闭状态。
而且，在向DVD进行信息记录的情况下，使用所谓的功率战略方法，基于记录数据调制的激光束h2从第二半导体激光器3发射出来，并且第一半导体激光器2a设定在关闭状态。而且，在从DVD进行信息再现的情况下，具有恒定强度的激光束h2从第二半导体激光器3发射出来，并且第一半导体激光器2a设定在关闭状态。
进而，不管在信息记录情况下还是在信息再现情况下，通过APC电路，可对用来使第二半导体激光器3发射的驱动电功率进行控制，并且进行了反馈控制，从而使激光束h2的强度变为预定目标值。
首先，描述向DVD进行信息记录的情况下的操作。当用于信息记录的激光束h2从第二半导体激光器3发射出时，激光束h2穿过准直透镜7、衍射光栅8和成形棱镜9，并且被分束器13反射，到达反射镜14。
这里，正如图6所示，大约90％的激光束h2被半透膜HM反射，并且被物镜16转换为细光束，进而施加在DVD的记录面上，由此实现了信息记录。
而且，大约10％的激光束h2穿过半透膜HM，并且被光电转换元件15接收。随后，光电转换元件15的探测输出被供给到APC电路，而APC电路进行对半导体激光器3的驱动电功率的反馈控制，使得激光束h2的强度变为预定目标值，由此施加到DVD的记录面的光束自动被调整为适当的强度。
并且，由DVD记录面反射的光束引起的返回光束穿过物镜16，并被反射镜14反射，进而被分束器13接收，并且入射到成形棱镜9中。随后，入射到成形棱镜9中的返回光束被结合表面9c反射，而且被准直透镜10和非球面透镜11聚集，进而由光电转换元件12接收。之后，在该光电转换元件12的输出信号的基础上进行诸如自动聚焦的饲服控制。
下面，描述从DVD进行信息再现情况下的操作。在类似于图5所示的方式下，当用于信息再现的激光束h2从第二半导体激光器3发射出来时，激光束h2穿过准直透镜7，衍射光栅8和成形棱镜9，并被分束器13反射，进而入射到达反射镜14。
这里，在类似于图6所示的方式下，大约90％的激光束h2被半透膜HM反射，并且被物镜16会聚为细光束，进而施加在DVD的记录面上，由此实现了信息读取。
同时，大约10％的激光束h2穿过半透膜HM，并且被光电转换元件15接收。随后，光电转换元件15的探测输出被提供给APC电路，而APC电路进行半导体激光器3的驱动电功率的反馈控制，使得激光束h2的强度变为预定目标值，由此施加到DVD的记录面的光束自动被调整为适当的强度。
而且，由DVD记录面反射的光束引起的返回光束穿过物镜16，并且被反射镜14反射，进而由分束器13反射，并且入射到成形棱镜9中。随后，入射到成形棱镜9中的返回光束由结合表面9c反射并且由准直透镜10和非球面透镜11聚集，进而由光电转换元件12接收。之后，在光电转换元件12的输出信号的基础上进行信息再现。
如上所述，该实施例的光拾取装置1包括反射镜14，该反射镜14用于以预定的反射率将具有不同的波长λ1，λ2的激光束h1，h2反射到物镜16的一侧；同时以预定的透射率将激光束h1，h2透射到光电转换元件15的一侧。由此，可以提供这样一种结构，该结构可以在由激光束h1进行信息记录和信息再现的情况下以及在由激光束h2进行信息记录和信息再现的情况下通过同一个光电转换元件15来探测激光束h1和h2的一部分。
仅通过放置在反射镜14后方的一个光电转换元件15可以探测激光束h1和h2两者的强度。半导体激光器2a，3(即光发射源)的APC控制可以在探测输出的基础上进行。
由此，根据上述实施例，用来探测分别用于CD和DVD的激光束h1，h2中的每一个的强度的光学系统的零件的个数显著减少，进而提供了一种简单、小型和轻便的光拾取装置。
而且，在该实施例中，光电转换元件15设置在反射镜14的后部，由此实现了一种监测机构，其结构可实现前部监测方法，即在从半导体激光器2a，3发射出的激光束施加到作为信息记录介质的CD和DVD之前的光路位置上探测每一激光束的强度。
而且，该实施例的光拾取装置1不仅应用了前部监测方法，而且还通过使用上述结构而产生了简单化、小型化和减轻重量的优异效果。
同时，在如上所述的实施例中，描述了可以对CD和DVD进行信息记录和信息再现的光拾取装置，但是，本发明还可以应用于通过单一波长λ0的激光束h0来对特殊的信息记录介质进行信息记录或信息再现的光拾取装置中(如图7和8所示)。
也就是说，如图7和8所示，光拾取装置包括：用于发射进行信息记录和信息再现的波长为λ0的激光束h0的半导体激光器17；将激光束h0成形为平行光束的准直透镜18；分束器19，物镜16；和用于聚集被信息记录介质反射/从信息记录介质返回的返回光束以便将返回光束施加给光电转换元件21一侧的准直透镜20，其中如上所述的反射镜14放置在分束器19和物镜16之间，并且用于监测的光电转换元件15放置在反射镜14的后部。
在这种构型中，在向信息记录介质进行信息记录的情况下，当用于记录的激光束h0从半导体激光器17发射出来时，激光束h0穿过准直透镜18和分束器19，并到达反射镜14，进而如图8所示，大部分的激光束h0(大约90％)由反射镜14的半透膜HM反射，并且被物镜16聚集成为一光束，并施加到信息记录介质上，由此进行信息记录。
同时，一部分激光束h0(大约10％)由反射镜14的半透膜HM透射，并且被光电转换元件15探测，而光电转换元件15的探测输出提供给APC电路，APC电路进行对半导体激光器17的驱动电功率的反馈控制，使得激光束h0的强度变为预定目标值，并由此将施加到信息记录介质的记录面上的光束自动调节到适当强度。
而且，在对信息记录介质进行信息再现的情况下，当用于信息再现的激光束h0从半导体激光器17发射出来时，激光束h0穿过准直透镜18和分束器19，并入射到反射镜14，进而，大部分激光束h0被反射镜14的半透膜HM反射，进而施加到信息记录介质上，以实现信息再现。同时，一部分激光束h0被反射镜14的半透膜透射，并由光电转换元件15探测，而光电转换元件15的探测输出提供给APC电路，APC电路进行对半导体激光器17的驱动电功率的反馈控制，使得激光束h0的强度变为预定目标值，并由此将施加到信息记录介质的记录面上的光束自动调节到适当强度。
而且，由向信息记录介质施加用于信息再现的激光束引起的返回光束穿过物镜16，并且被反射镜14反射，并类似图8所示，被分束器19反射，进而由准直透镜20聚集，并被光电转换元件21探测，由此实现信息再现。
如上所述，通过带有单一波长λ0的激光束h0对特殊信息记录介质进行信息记录和信息再现的光拾取装置包括反射镜14，由此，进行信息记录和信息再现的激光束h0的强度可以由一个光电转换元件15探测到，并且基于该探测输出可以实现半导体激光器17(即光发射源)的APC控制。
同时，在上述实施例和上述变形实例中，描述了一种具有反射镜14的光拾取装置，该反射镜14中在透明的平行板形的衬底的相对的表面上形成有抗反射涂膜AP和半透膜HM，但是本发明并非仅限于此。另外还可以应用这样一种反射镜，其中半透膜HM和抗反射涂膜AR形成在衬底的彼此不平行的平面上。
也就是说，正如对应于图4和6的图9所示，应用半透膜HM和抗反射涂膜AR形成在彼此不平行的衬底表面上的反射镜14x来代替带有平行板形状的衬底的反射镜14。
反射镜14x的截面形状为楔形，其中越接近物镜16其厚度越大，而越远离物镜16其厚度越薄。
当将反射镜14x应用于该结构时，可以得到以下的效果。在对诸如CD和DVD的信息记录介质进行信息记录和信息再现时，如图4，6和8所示，当激光束h1，h2，h0从分束器13(或19)一侧入射到反射镜14X时，大约90％的激光束h1，h2，h0(为描述简便，简称‘入射光束’)被半透膜HM反射，进而被物镜16会聚为细光束，并被施加到信息记录介质上；另一方面，大约10％的入射光束穿过半透膜HM并进一步穿过抗反射涂膜，进而入射到光电转换元件15中。
这里，大多数的入射光束穿过抗反射涂膜AR，并入射到光电转换元件15，但当被抗反射涂膜AR和衬底的反射内侧以多重方式轻微反射的入射光束被射向光电转换元件15一侧，则发生了这样一个问题，即难以实现高精度的APC控制。
但是，由于具有楔形截面的反射镜14x，可以显著地改善上述问题。
具体说，被反射镜14x的半透膜反射的光束沿光轴Q入射到物镜16的一侧。相反，多重反射光束(图9中的虚线所示)于衬底内在偏离光轴Q的方向上传播，并且在重复反射和透射的同时逐渐变弱。
而且，由于截面形状为如上所述的楔形形状，当在衬底内传播的多重反射光束穿过抗反射涂膜AR和半透膜HM，多重反射光束朝向离开光轴Q的方向射出。因此多重反射光束从偏离光电转换元件15的方向射出，由此多重反射光束对光电转换元件15的影响可以明显地减少。
由此，当采用楔形的反射镜14x时，可以抑制多重反射光束的影响，从而实现高精度的APC控制。
而且，如图10所示，反射镜14x的厚度可以与图9所示的情况是相反的。就是说，反射镜14x的衬底的截面形状可以为这样一个楔形，其中越接近物镜16厚度越小，越远离物镜16厚度越厚。
在这种结构的情况下，当穿过半透膜HM和抗反射涂膜AR的透射光束沿光轴Q入射到光电转换元件15时，在半透膜HM和抗反射涂膜AR处反射到衬底内侧的多重反射光束在偏离光轴Q的方向上传播，从而显著地减低多重反射光束对光电转换元件15的影响。
而且，在图1至10中示出的反射镜14具有这样的结构，其中进行信息记录和信息再现的激光束h1，h2，h0是从半透膜HM一侧入射的，而抗反射涂膜AR就形成在衬底的背面(与光电转换元件15相对的表面)。但是，与此相反，还可以这样构造，即使抗反射涂膜形成在进行信息记录和信息再现的激光束h1，h2，h0发生入射的表面上，而半透膜HM形成在衬底的背面上。
就是说，将反射率和透射率设置成使向光电转换元件15一侧透射的激光束的光强变得小于反射到物镜16一侧的激光束的光强的半透膜HM可形成在反射镜14的衬底的背面上。
而且，根据特殊设计，抗反射涂膜AR可以被省略。
另外，在上面所述的光拾取装置中，提供了这样一种结构，其中入射光束h1，h2，h0被反射镜14，14x反射到物镜16的一例，而且透射光束的一部分被光电转换元件15探测。但是，本发明并非仅限于此。具体说，还可以提供这样一种构型，其中将光电转换元件15和物镜16的位置彼此进行了交换，信息记录介质CD或DVD被夹持在换位的物镜16上，并进行信息记录或信息再现。同时，在该种构型中，提供这样一种结构，其中入射激光束h1，h2，h0被被半透膜HM透射到物镜16一侧，并被反射到光电转换元件15一侧。结果，通过设定半透膜HM的反射率和透射率，使得反射到光电转换元件15一侧的激光束的光强小于透射到物镜16一侧的激光束的光强，由此可获得与基于图1至10描述的光拾取装置相类似的效果。
如上所述，根据本发明的光拾取装置，通过将反射镜放置在光辐射源和信息记录介质之间的光路上，进行信息记录或信息再现的入射光束被反射(或者透射)到信息记录介质一侧，并且被透射(或反射)到光电转换元件一侧，从而用于信息记录和信息再现的任何光束可以由一光电元件探测。结果，可以提供一种结构上零件数目减少、装置尺寸减少和重量减轻的光拾取装置，而且，基于光电元件的探测输出，可以实现对光辐射源的APC控制，从而使用于信息记录和信息再现的任何光束变为适当的强度。
另外，反射镜是由具有第一表面和第二表面的透明介质形成的，其中两表面彼此不相平行，从而将在入射光束情况下发生的多重反射光束的影响减少。由此，可以实现控制光发射源的光发射强度所必须的光探测，并且可对光发射源的光发射强度进行高精度的控制。