线阵反光电观瞄装置的光轴调校方法.pdf

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摘要
申请专利号:

CN201310233765.5

申请日:

2013.06.12

公开号:

CN103308005A

公开日:

2013.09.18

当前法律状态:

授权

有效性:

有权

法律详情:

授权|||实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/27申请日:20130612|||公开

IPC分类号:

G01B11/27

主分类号:

G01B11/27

申请人:

西安应用光学研究所

发明人:

米建军; 茹志兵; 李旭东; 张安峰; 胡正良; 周新妮; 李彰; 李宝珺; 王成; 王乐

地址:

710065 陕西省西安市雁塔区电子三路西段九号

优先权:

专利代理机构:

代理人:

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内容摘要

本发明公开了一种线阵反光电观瞄装置的光轴调校方法,属光电技术领域。该方法通过调整激光器的位置使激光光斑的面形为矩形,并使激光光斑在水平方向具有最小宽度;以测量板十字分划的竖线以及与横线重叠的吸收棒为光轴基准,调整激光发射模块的位置,使照射在测量板上的激光光斑与测量板十字分划竖线重合,且使位于吸收棒上下两段的激光光斑的长度相等;调整线阵CCD的位置,使激光接收模块接收到的成像光斑与线阵CCD完全重合,且CCD上下两半区上的光斑长度相等;调整白光望远模块的位置,使其十字分划与测量板十字分划重合,由此完成了线阵反光电观瞄装置的光轴调校。本发明为线阵反光电观瞄装置的总装装调提供了技术支持。

权利要求书

权利要求书
1.   一种反光电观瞄装置的光轴调校方法,其特征在于:该光轴调校方法是通过线扫反光电观瞄调校装置实现的,所述调校装置包括光学平台1、长焦透镜组件4、带有不同衰减系数的衰减片组件2、白光CCD5、光斑分析仪6、示波器8、测量板9、吸收棒10、三个四维组合位移台3‑1,3‑2和3‑3、监视器7,测量板9为中心带有十字分划的磨沙金属板,板面上涂有漫反射涂料,吸收棒10为黑色橡胶圆柱棒,白光CCD5与监视器7相连;
衰减片组件2、长焦透镜组件4、测量板9按从前到后的顺序放置在光学平台1上,其中:测量板9垂直固连在光学平台1上,测量板9带分划线的板面位于长焦透镜组件4的像方焦面上,分划线的中心、衰减片组件2的光学中心以及长焦透镜组件4的光学中心同轴并构成测量光轴;白光CCD5和光斑分析仪6一一对应固连在第一、第二四维组合位移台3‑1、3‑2上,两个四维组合位移台3‑1、3‑2放置在光学平台1上且分别位于长焦透镜组件4的左右两侧,白光CCD5和光斑分析仪6的光学中心与长焦透镜组件4的光学中心等高;吸收棒10与测量板9上十字分划的水平线重合且棒体长度中心与十字分划的中心重合;
采用线扫反光电观瞄调校装置对线扫反光电观瞄装置11进行多光轴平行性调校的步骤如下:
第一步,在照度优于10‑1lx暗室中,将初装好的线扫反光电观瞄装置11固连在光学平台上的第三四维组合位移台3‑3上,第三四维组合位移台3‑3位于测量光路的前端,将线扫反光电观瞄装置11与示波器8相连,调整第三四维组合位移台3‑3,使线扫反光电观瞄装置11激光发射窗口和激光接收窗口与衰减片组件2的衰减片中心等高;
第二步,打开白光CCD5和监视器7电源,调整第一四维组合位移台3‑1,使测量板9十字分划中心与监视器7上CCD图像中心重合;
第三步,打开激光发射模块、示波器7的电源,在位于测量光路中的衰减片入射窗口上贴一张白纸,目测白纸上的矩形光斑是否充满衰减片,若充满,调节第三四维组合位移台3‑3向衰减片组件2方向移动,直至直立的平行四边形光斑不充满衰减片,且衰减片不遮挡激光接收模块的光学窗口;沿x向移动激光发射模块中的激光器,x向与测量光轴平行,直到白纸上的光斑由线性变为直立平行四边形为止;绕测量光轴旋转所述激光器,直至白纸上的光斑为直立矩形,轻微固定激光器的俯仰调节机构;沿x向移动激光器,直到白纸上的直立矩形光斑具有最小宽度为止,紧固激光器的x向位置调节机构;
第四步,从衰减片组件2上移去白纸,直立矩形光斑经衰减片后由长焦透镜成像在测量板上,绕测量光轴旋转所述激光发射模块,观察监视器7上显示的图像,直到白光CCD5输出的漫反射直立矩形光斑与测量板9上十字分划的竖线平行为止,轻微固定激光发射模块上的俯仰调节机构;沿y方向移动激光发射模块,y向与测量光轴垂直且与光学平台平行,观察监视器7上显示的图像,直到白光CCD5输出的漫反射直立矩形光斑与测量板9上十字分划的竖线重合为止,轻微固定激光发射模块y向的调节机构;沿z方向移动激光发射模块,z与x、y构成直角坐标系,观察监视器7上显示的图像,直到白光CCD5输出的漫反射直立矩形光斑在吸收棒10上方的光斑长度和下方的光斑长度相等为止,紧固激光发射模块z向的调节机构;
第五步,打开光斑分析仪6电源,调整第二四维组合位移台3‑2,观察光斑分析仪6显示器上的能量信息,直到亮光带上的吸收暗点落在光斑分析仪6视场中心为止;
第六步,打开示波器8电源,绕测量光轴旋转激光接收模块上的线阵CCD,观察示波器8上的输出波形,直到示波器8上半通道激光回波信号输出宽度大于上半通道总信号宽度的五分之一,且激光回波输出信号中带有吸收暗条;沿z向移动线阵CCD,观察示波器8上的输出波形,直至暗条位于上半通道激光回波信号输出波形的中心,轻微固定线阵CCD的z向调节机构;绕测量光轴旋转线阵CCD,观察示波器8上的输出波形,直到示波器8上半通道激光回波信号输出波形近似为矩形,轻微固定线阵CCD的俯仰调节机构;沿x向调节激光接收模块物镜,观察示波器8上的输出信号,直到上半通道激光矩形回波信号输出幅值最大,且下半通道激光矩形回波信号输出幅值最小,紧固激光接收模块的物镜;沿y向移动线阵CCD,观察示波器8上的输出波形,直到上半通道和下半通道激光矩形回波信号输出幅值差不大于0.3V,紧固线阵CCD的y向调节机构;
第七步,关闭所有电源,任意调整白光望远模块上的调节机构,在白光望远模块目镜上观察测量板9上十字分划,直到白光望远模块上的十字分划与测量板9上的十字分划完全重合,紧固白光望远模块上的调节机构;
第八步,用硅胶固化所有反光电观瞄装置11的调节机构。

说明书

说明书线阵反光电观瞄装置的光轴调校方法
技术领域
本发明属光电技术领域,主要涉及一种光电观瞄装置,尤其涉及一种线状激光主动照明、线阵CCD探测、白光望远瞄准的反光电观瞄装置的光轴调校方法。
背景技术
现代战争中,大量的光电侦察、瞄准、火控、制导仪器等信息化装备得到普遍应用,光电系统已成为作战部队的重要装备手段,与敌方的光电对抗也逐渐提上日程。借助敌方光学、光电装置对照明激光的光路可逆原理(猫眼效应),采取相应的光电探测方式,可以在复杂背景中找出敌俯仰置,同时探测装置通过其与武器系统的接口,将敌方光学仪器或光电装置位置传输给武器系统,实现对敌方的光电装置的有效打击或摧毁。
线阵反光电观瞄装置就是其中一种利用猫眼效应的光电对抗装置,主要由线形激光发射模块、线阵探测器接收模块和白光望远模块组成,主要功能是通过激光主动照明方式搜索敌方迎面观瞄的光学仪器或光电装置。
精确搜索敌方迎面观瞄光学仪器或光电装置,必须对线阵反光电观瞄装置的多光轴平行性进行精确调校。现有报道的光电系统多光轴调校方法都针对圆形光斑状指示或照明激光、面阵CCD、凝视型热像仪等模块的光轴平行性进行调校,这种调校方式不适应于线阵反光电观瞄装置的多光轴平行性调校。此外,从国内外检索的资料中也未见有关该类系统调校的公开资料。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,为线阵反光电观瞄装置提供一种多光轴平行性的调校方法。
为解决上述技术问题,本发明提供的调校方法是通过线扫反光电观瞄调校装置实现的,所述调校装置包括光学平台、长焦透镜组件、带有不同衰减系数的衰减片组件、白光CCD、光斑分析仪、示波器、测量板、吸收棒、三个四维组合位移台、监视器,测量板为中心带有十字分划的磨沙金属板,板面上涂有漫反射涂料,吸收棒为黑色橡胶圆柱棒,白光CCD与监视器相连;
衰减片组件、长焦透镜组件、测量板按从前到后的顺序放置在光学平台上,其中:测量板垂直固连在光学平台上,测量板带分划线的板面位于长焦透镜组件的像方焦面上,分划线的中心、衰减片组件的光学中心以及长焦透镜组件的光学中心同轴并构成测量光轴;白光CCD和光斑分析仪一一对应固连在第一、第二四维组合位移台上,两个四维组合位移台放置在光学平台上且分别位于长焦透镜组件的左右两侧,白光CCD和光斑分析仪的光学中心与长焦透镜组件的光学中心等高;吸收棒与测量板上十字分划的水平线重合且棒体长度中心与十字分划的中心重合;
采用线扫反光电观瞄调校装置对线扫反光电观瞄装置进行多光轴平行性调校的步骤如下:
第一步,在照度优于10‑1lx暗室中,将初装好的线扫反光电观瞄装置固连在光学平台上的第三四维组合位移台上,第三四维组合位移台位于测量光路的前端,将线扫反光电观瞄装置与示波器相连,调整第三四维组合位移台,使线扫反光电观瞄装置激光发射窗口和激光接收窗口与衰减片组件的衰减片中心等高;
第二步,打开白光CCD和监视器电源,调整第一四维组合位移台,使测量板十字分划中心与监视器上CCD图像中心重合;
第三步,打开激光发射模块、示波器的电源,在位于测量光路中的前端衰减片入射窗口上贴一张白纸,目测白纸上的矩形光斑是否充满衰减片,若充满,调节第三四维组合位移台向衰减片组件方向移动,直至直立的平行四边形光斑不充满衰减片,且衰减片不遮挡激光接收模块的光学窗口;沿x向移动激光发射模块中的激光器,x向与测量光轴平行,直到白纸上的光斑由线性变为直立平行四边形为止;绕测量光轴旋转所述激光器,直至白纸上的光斑为直立矩形,轻微固定激光器的俯仰调节机构;沿x向移动激光器,直到白纸上的直立矩形光斑具有最小宽度为止,紧固激光器的x向位置调节机构;
第四步,从衰减片组件上移去白纸,直立矩形光斑经衰减片后由长焦透镜成像在测量板上,绕测量光轴旋转所述激光发射模块,观察监视器上显示的图像,直到白光CCD输出的漫反射直立矩形光斑与测量板上十字分划的竖线平行为止,轻微固定激光发射模块上的俯仰调节机构;沿y方向移动激光发射模块,y向与测量光轴垂直且与光学平台平行,观察监视器上显示的图像,直到白光CCD输出的漫反射直立矩形光斑与测量板上十字分划的竖线重合为止,轻微固定激光发射模块y向的调节机构;沿z方向移动激光发射模块,z与x、y构成直角坐标系,观察监视器上显示的图像,直到白光CCD输出的漫反射直立矩形光斑在吸收棒上方的光斑长度和下方的光斑长度相等为止,紧固激光发射模块z向的调节机构;
第五步,打开光斑分析仪电源,调整第二四维组合位移台,观察光斑分析仪显示器上的能量信息,直到亮光带上的吸收暗点落在光斑分析仪视场中心为止;
第六步,打开示波器电源,绕测量光轴旋转激光接收模块上的线阵CCD,观察示波器上的输出波形,直到示波器上半通道激光回波信号输出宽度大于上半通道总信号宽度的五分之一,且激光回波输出信号中带有吸收暗条;沿z向移动线阵CCD,观察示波器上的输出波形,直至暗条位于上半通道激光回波信号输出波形的中心,轻微固定线阵CCD的z向调节机构;绕测量光轴旋转线阵CCD,观察示波器上的输出波形,直到示波器上半通道激光回波信号输出波形近似为矩形,轻微固定线阵CCD的俯仰调节机构;沿x向调节激光接收模块物镜,观察示波器上的输出信号,直到上半通道激光矩形回波信号输出幅值最大,且下半通道激光矩形回波信号输出幅值最小,紧固激光接收模块的物镜;沿y向移动线阵CCD,观察示波器上的输出波形,直到上半通道和下半通道激光矩形回波信号输出幅值差不大于0.3V,紧固线阵CCD的y向调节机构;
第七步,关闭所有电源,任意调整白光望远模块上的调节机构,在白光望远模块目镜上观察测量板上十字分划,直到白光望远模块上的十字分划与测量板上的十字分划完全重合,紧固白光望远模块上的调节机构;
第八步,用硅胶固化所有反光电观瞄装置的调节机构。
本发明首先沿测量光轴移动激光发射模块中的激光器,使观察到的激光光斑由竖直光斑变为直立平行四边形后,再沿测量光轴旋转激光器使直立平行四边形变为矩形,实现了激光器在激光发射模块竖直方向上的定位;再沿测量光轴移动激光器,使观察到的直立矩形光斑达到最小宽度,实现了激光器在激光发射模块测量光轴位置上的定位。其次,以测量板十字分划为光轴基准,旋转激光发射模块,通过观察白光CCD监视器上输出测量板上激光回波图像,使测量板上竖直激光光斑与测量板十字分划的竖线平行,实现了激光发射模块和测量板十字分划竖线在竖直方向上的平行;再沿水平方向移动激光发射模块,使测量板上竖直激光光斑与测量板十字分划竖线重合,实现了激光发射模块光轴与测量板光轴在水平方向上的定位;再沿竖直方向上下移动激光发射模块,使测量板吸收棒上方的光斑长度和下方的光斑长度相等,实现激光发射模块光轴与测量板十字分划中心重合。第三,以测量板上竖直光斑和吸收棒为光轴基准,沿测量光轴旋转线阵CCD,通过示波器观察CCD输出的激光回波信号,使示波器上半通道有信号输出,且输出信号中包含吸收峰信号,保证了激光回波信号及吸收带信号落在线阵CCD上;再沿竖直方向移动线阵CCD,使示波器上半通道吸收峰位置处于上半通道信号输出中心,实现线阵CCD上半通道中心与测量板中心定位;再沿测量光轴旋转激光接收模块,使示波器上半通道信号输出为矩形,实现了线阵CCD与测量板上光斑的平行;再沿测量光轴调节激光接收模块物镜,使示波器上半通道矩形波信号输出最大,下半通道矩形波信号输出最小,且吸收峰在上半通道矩形波信号输出中心,实现了线阵CCD在测量光轴上的定位;再沿水平方向移动线阵CCD,使示波器上半通道信号变小,下半通道矩形波信号输出变大,上通道和下通道矩形波信号输出幅值差不大于0.3V,且吸收棒在回波波形中形成的吸收峰位置均处在上通道和下通道信号输出波形的中心,实现激光发射模块光轴与激光接收模块光轴重合。第四,调节白光望远模块上的调节机构,目测白光望远模块十字分划与测量板十字分划重合,实现白光望远模块与激光发射模块和激光接收模块光轴的重合。通过以上四大步骤不难看出完成了光轴调校,调校出的线扫反光电观瞄装置,经外场实物探测证明了线阵反光电观瞄装置光轴调校方法的准确可靠。本发明不仅给线扫反光电观瞄装置的调校提供了一种技术途径,同时也为线扫反光电观瞄装置总体性能提供了保障。
附图说明
图1是本发明校准方法所用校准设备的组成示意图。
图2是激光发射模块校轴结果示意图。
图3是激光接收模块中心位置调校结果示意图。
图4是激光接收模块回波光束与线阵CCD平行性调校结果示意图。
图5是激光接收模块回波光束焦距调校结果示意图。
图6激光接收模块回波光束与线阵CCD重合性调校结果示意图。
具体实施方式
下面结合附图及最佳实施例对本发明作进一步说明。
正如图1所示,本发明线扫反光电观瞄装置光轴调校方法的优选实施例是通过线扫反光电观瞄调校装置实现的,该线扫反光电观瞄调校装置11由光学平台1、长焦透镜组件4、衰减片组件2、白光CCD5、光斑分析仪6、示波器8、测量板9、吸收棒10、三个四维组合位移台3‑1、3‑2和3‑3、监视器7组成。光学平台选用北京赛凡光电仪器有限公司的7TB1912型光学平台。长焦透镜组件4包括长焦透镜与一维调节支座,长焦透镜选用焦距5m,口径400mm,材料为K9玻璃的透镜。衰减片组件2由衰减片组和衰减片组安装架组成,衰减片组件2含有6片方形衰减片,6片衰减片镶嵌在同一个转轮上,根据测量需要可将相应衰减系数的衰减片切入到测量光路中,每个衰减片口径均为80mm×80mm、衰减波段均为400nm~1100nm、衰减系数分别为0.01、0.1、0.2、0.3、0.4、0.5。白光CCD5选用中川光电公司生产的视场为10°的D*K31AU03型相机;光斑分析仪6选用Thorlabs公司提供的货架产品BC106‑VIS型、视场为10°的光斑分析仪。示波器8选用美国Tektronix公司货架产品TDS3034C。测量板9基板为1000mm×500mm磨沙铝板,喷涂BaSO4涂料,在测量板中心刻十字分划,竖线长度不小于800mm,十字分划上刻有标识长度的刻度线,刻度线最小分辨率1mm。吸收棒10选用直径5mm,长度400mm的黑色橡胶圆柱棒。三个四维组合位移台3‑1、3‑2和3‑3均使用北京卓力汉光仪器有限公司货架产品ASMV5‑TR四维组合位移台。监视器7选用美国Lilin公司货架产品PIH‑09型监视器。
衰减片组件2、长焦透镜组件4、测量板9从前到后依次放置在光学平台上,其中:测量板9垂直固连在光学平台1上且两者的垂直度优于3mrad,测量板9带分划线的板面位于长焦透镜组件4的像方焦面上,分划线的中心、衰减片组件2的光学中心以及长焦透镜组件4的光学中心同轴并构成测量光轴;白光CCD5和光斑分析仪6一一对应固连在第一、第二四维组合位移台3‑1、3‑2上,两个四维组合位移台3‑1、3‑2也放置在光学平台1上且分别位于长焦透镜组件4的两侧,白光CCD5和监视器7通过导线相连,白光CCD5和光斑分析仪6的光学中心与长焦透镜组件4的光学中心等高;吸收棒10水平式悬挂在测量板9上,其吸收棒10与测量板9上十字分划的水平线重合且长度中心与十字分划的中心重合。
采用线扫反光电观瞄调校装置进行多光轴平行性调校的步骤如下。
第一步,在照度优于10‑1lx暗室中,将初装好的线扫反光电观瞄装置11固连放置在光学平台1上的第三四维组合位移台3‑3上,第三四维组合位移台3‑3位于测量光路的前端,将线扫反光电观瞄装置11与示波器8相连。调整第三四维组合位移台3‑3,目测使线扫反光电观瞄装置11的激光发射窗口和激光接收窗口与衰减片组件2的衰减片中心等高。
第二步,打开白光CCD5和监视器7的电源,调整第一四维组合位移台3‑1,使测量板9十字分划中心与监视器7上CCD图像中心重合。
第三步,将线扫反光电观瞄装置11的线阵CCD信号输出端和示波器8的输入端相连,给线扫反光电观瞄装置11供5V直流电且激光发射模块发射激光,同时打开示波器8的电源,在位于测量光路中的衰减片入射窗口上贴一张与窗口大小相同的白纸,目测白纸上的矩形激光光斑是否充满衰减片,若充满,调节第三四维组合位移台3‑3向衰减片组件2方向移动,直至直立的平行四边形激光光斑不充满衰减片,且衰减片不能遮挡激光接收模块的光学窗口;沿x向微调激光发射模块中的激光器并目测白纸上的激光光斑形状,x向与测量光轴平行,当激光光斑由线性变为直立平行四边形时停止移动激光器,之后绕测量光轴旋转激光器,直至白纸上的激光光斑形状为直立矩形,轻微固定激光器的俯仰调节机构;然后,再沿x向移动激光器,目测白纸上的激光光斑形状,使白纸上的直立的激光光斑具有最小宽度,紧固激光器的x向调节机构。
第四步,移去衰减片前白纸,直立的激光光斑经衰减片衰减并被长焦透镜4聚焦后成像在测量板9上,测量板9上的漫射激光信号被白光CCD5接收,边轻微绕测量光轴旋转激光发射模块,边观察监视器7上的图像,直至测量板9上的直立光斑和测量板9上的十字分划的竖线平行,轻微固定激光发射模块上的俯仰调节机构;之后边在y向移动激光发射模块,y向与测量光轴垂直且与光学平台1平行,边观察监视器7上的图像,直至测量板9上聚焦的直立光斑和测量板9上的十字分划的竖线重合,轻微固定激光发射模块y向上的调节机构;然后边在z向上移动激光发射模块,z与x、y构成直角坐标系,边观察监视器7上的图像,直至白光CCD输出的漫反射直立矩形光斑在吸收棒10上方的光斑长度和下方的光斑长度相等为止,紧固激光发射模块z向的调节机构,激光发射模块校轴结果如图2所示。
第五步,打开光斑分析仪6电源,测量板9及吸收棒10上的漫射激光信号被光斑分析仪9接收,光斑分析仪9显示器上显示的为漫射激光回波信号的能量信息。调整第二四维组合位移台3‑2,使光斑分析仪6显示器上的亮光带上的暗点落在光斑分析仪6的视场中心,暗点为吸收棒10与激光光斑的相交点。
第六步,打开示波器8电源,边轻微绕测量光轴旋转激光接收模块上的线阵CCD,边观察示波器8上的输出波形,直至示波器8上半通道激光回波信号输出宽度大于上半通道总信号宽度的五分之一,且激光回波输出信号中带有吸收暗条,吸收暗条为吸收棒10与激光光斑的相交点,如果激光回波输出波形中没有吸收暗条,表示线阵CCD的位置远离像面中心;之后边在z向上移动线阵CCD,边观察示波器8上的输出信号,直至暗条位于上半通道激光回波信号输出波形的中心,调校结果如图3所示,轻微固定线阵CCD的z向调节机构;然后边绕测量光轴旋转线阵CCD,边观察示波器8上的输出波形,直至示波器8上观察到的上半通道激光回波信号输出波形近似为矩形,轻微固定线阵CCD的俯仰调节机构,调校结果如图4所示;边沿x向调节激光接收模块中的物镜,边观察示波器8上的输出信号,直至上半通道激光矩形回波信号输出幅值最大,且下半通道激光矩形回波信号输出幅值最小,调校结果如图5所示,紧固激光接收模块中的物镜;边沿y向调节线阵CCD位置,边观察示波器上的输出波形,直至上半通道和下半通道激光矩形回波信号输出幅值差不大于0.3V,紧固线阵CCD的y向调节机构。
第七步,关闭所有电源,边在白光望远模块的目镜上观察测量板9上十字分划,边任意调整白光望远模块上的调节机构,直至白光望远模块上的十字分划与测量板9上的十字分划完全重合,紧固白光望远模块上的调节机构。
第八步,用硅胶固化线扫反光电观瞄装置中的所有调节机构,至此完成了线扫反光电观瞄装置的多光轴平行性调校。

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1、(10)申请公布号 CN 103308005 A (43)申请公布日 2013.09.18 CN 103308005 A *CN103308005A* (21)申请号 201310233765.5 (22)申请日 2013.06.12 G01B 11/27(2006.01) (71)申请人 西安应用光学研究所 地址 710065 陕西省西安市雁塔区电子三路 西段九号 (72)发明人 米建军 茹志兵 李旭东 张安峰 胡正良 周新妮 李彰 李宝珺 王成 王乐 (54) 发明名称 线阵反光电观瞄装置的光轴调校方法 (57) 摘要 本发明公开了一种线阵反光电观瞄装置的光 轴调校方法, 属光电技术领域。。

2、 该方法通过调整激 光器的位置使激光光斑的面形为矩形, 并使激光 光斑在水平方向具有最小宽度 ; 以测量板十字分 划的竖线以及与横线重叠的吸收棒为光轴基准, 调整激光发射模块的位置, 使照射在测量板上的 激光光斑与测量板十字分划竖线重合, 且使位于 吸收棒上下两段的激光光斑的长度相等 ; 调整线 阵 CCD 的位置, 使激光接收模块接收到的成像光 斑与线阵CCD完全重合, 且CCD上下两半区上的光 斑长度相等 ; 调整白光望远模块的位置, 使其十 字分划与测量板十字分划重合, 由此完成了线阵 反光电观瞄装置的光轴调校。本发明为线阵反光 电观瞄装置的总装装调提供了技术支持。 (51)Int.Cl。

3、. 权利要求书 2 页 说明书 5 页 附图 2 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书2页 说明书5页 附图2页 (10)申请公布号 CN 103308005 A CN 103308005 A *CN103308005A* 1/2 页 2 1. 一种反光电观瞄装置的光轴调校方法, 其特征在于 : 该光轴调校方法是通过线扫反 光电观瞄调校装置实现的, 所述调校装置包括光学平台 1、 长焦透镜组件 4、 带有不同衰减 系数的衰减片组件 2、 白光 CCD5、 光斑分析仪 6、 示波器 8、 测量板 9、 吸收棒 10、 三个四维组 合位移台 3-1, 3-2 。

4、和 3-3、 监视器 7, 测量板 9 为中心带有十字分划的磨沙金属板, 板面上涂 有漫反射涂料, 吸收棒 10 为黑色橡胶圆柱棒, 白光 CCD5 与监视器 7 相连 ; 衰减片组件 2、 长焦透镜组件 4、 测量板 9 按从前到后的顺序放置在光学平台 1 上, 其 中 : 测量板 9 垂直固连在光学平台 1 上, 测量板 9 带分划线的板面位于长焦透镜组件 4 的像 方焦面上, 分划线的中心、 衰减片组件2的光学中心以及长焦透镜组件4的光学中心同轴并 构成测量光轴 ; 白光 CCD5 和光斑分析仪 6 一一对应固连在第一、 第二四维组合位移台 3-1、 3-2上, 两个四维组合位移台3-1。

5、、 3-2放置在光学平台1上且分别位于长焦透镜组件4的左 右两侧, 白光 CCD5 和光斑分析仪 6 的光学中心与长焦透镜组件 4 的光学中心等高 ; 吸收棒 10 与测量板 9 上十字分划的水平线重合且棒体长度中心与十字分划的中心重合 ; 采用线扫反光电观瞄调校装置对线扫反光电观瞄装置 11 进行多光轴平行性调校的步 骤如下 : 第一步, 在照度优于 10-1lx 暗室中, 将初装好的线扫反光电观瞄装置 11 固连在光学平 台上的第三四维组合位移台3-3上, 第三四维组合位移台3-3位于测量光路的前端, 将线扫 反光电观瞄装置11与示波器8相连, 调整第三四维组合位移台3-3, 使线扫反光电。

6、观瞄装置 11 激光发射窗口和激光接收窗口与衰减片组件 2 的衰减片中心等高 ; 第二步, 打开白光 CCD5 和监视器 7 电源, 调整第一四维组合位移台 3-1, 使测量板 9 十 字分划中心与监视器 7 上 CCD 图像中心重合 ; 第三步, 打开激光发射模块、 示波器 7 的电源, 在位于测量光路中的衰减片入射窗口 上贴一张白纸, 目测白纸上的矩形光斑是否充满衰减片, 若充满, 调节第三四维组合位移台 3-3 向衰减片组件 2 方向移动, 直至直立的平行四边形光斑不充满衰减片, 且衰减片不遮挡 激光接收模块的光学窗口 ; 沿 x 向移动激光发射模块中的激光器, x 向与测量光轴平行, 。

7、直 到白纸上的光斑由线性变为直立平行四边形为止 ; 绕测量光轴旋转所述激光器, 直至白纸 上的光斑为直立矩形, 轻微固定激光器的俯仰调节机构 ; 沿 x 向移动激光器, 直到白纸上的 直立矩形光斑具有最小宽度为止, 紧固激光器的 x 向位置调节机构 ; 第四步, 从衰减片组件 2 上移去白纸, 直立矩形光斑经衰减片后由长焦透镜成像在测 量板上, 绕测量光轴旋转所述激光发射模块, 观察监视器7上显示的图像, 直到白光CCD5输 出的漫反射直立矩形光斑与测量板 9 上十字分划的竖线平行为止, 轻微固定激光发射模块 上的俯仰调节机构 ; 沿 y 方向移动激光发射模块, y 向与测量光轴垂直且与光学平。

8、台平行, 观察监视器 7 上显示的图像, 直到白光 CCD5 输出的漫反射直立矩形光斑与测量板 9 上十字 分划的竖线重合为止, 轻微固定激光发射模块 y 向的调节机构 ; 沿 z 方向移动激光发射模 块, z 与 x、 y 构成直角坐标系, 观察监视器 7 上显示的图像, 直到白光 CCD5 输出的漫反射直 立矩形光斑在吸收棒 10 上方的光斑长度和下方的光斑长度相等为止, 紧固激光发射模块 z 向的调节机构 ; 第五步, 打开光斑分析仪6电源, 调整第二四维组合位移台3-2, 观察光斑分析仪6显示 器上的能量信息, 直到亮光带上的吸收暗点落在光斑分析仪 6 视场中心为止 ; 第六步, 打开。

9、示波器8电源, 绕测量光轴旋转激光接收模块上的线阵CCD, 观察示波器8 权 利 要 求 书 CN 103308005 A 2 2/2 页 3 上的输出波形, 直到示波器 8 上半通道激光回波信号输出宽度大于上半通道总信号宽度的 五分之一, 且激光回波输出信号中带有吸收暗条 ; 沿 z 向移动线阵 CCD, 观察示波器 8 上的 输出波形, 直至暗条位于上半通道激光回波信号输出波形的中心, 轻微固定线阵CCD的z向 调节机构 ; 绕测量光轴旋转线阵 CCD, 观察示波器 8 上的输出波形, 直到示波器 8 上半通道 激光回波信号输出波形近似为矩形, 轻微固定线阵CCD的俯仰调节机构 ; 沿x向。

10、调节激光接 收模块物镜, 观察示波器 8 上的输出信号, 直到上半通道激光矩形回波信号输出幅值最大, 且下半通道激光矩形回波信号输出幅值最小, 紧固激光接收模块的物镜 ; 沿 y 向移动线阵 CCD, 观察示波器 8 上的输出波形, 直到上半通道和下半通道激光矩形回波信号输出幅值差 不大于 0.3V, 紧固线阵 CCD 的 y 向调节机构 ; 第七步, 关闭所有电源, 任意调整白光望远模块上的调节机构, 在白光望远模块目镜上 观察测量板 9 上十字分划, 直到白光望远模块上的十字分划与测量板 9 上的十字分划完全 重合, 紧固白光望远模块上的调节机构 ; 第八步, 用硅胶固化所有反光电观瞄装置。

11、 11 的调节机构。 权 利 要 求 书 CN 103308005 A 3 1/5 页 4 线阵反光电观瞄装置的光轴调校方法 技术领域 0001 本发明属光电技术领域, 主要涉及一种光电观瞄装置, 尤其涉及一种线状激光主 动照明、 线阵 CCD 探测、 白光望远瞄准的反光电观瞄装置的光轴调校方法。 背景技术 0002 现代战争中, 大量的光电侦察、 瞄准、 火控、 制导仪器等信息化装备得到普遍应用, 光电系统已成为作战部队的重要装备手段, 与敌方的光电对抗也逐渐提上日程。借助敌方 光学、 光电装置对照明激光的光路可逆原理 (猫眼效应) , 采取相应的光电探测方式, 可以在 复杂背景中找出敌俯仰。

12、置, 同时探测装置通过其与武器系统的接口, 将敌方光学仪器或光 电装置位置传输给武器系统, 实现对敌方的光电装置的有效打击或摧毁。 0003 线阵反光电观瞄装置就是其中一种利用猫眼效应的光电对抗装置, 主要由线形激 光发射模块、 线阵探测器接收模块和白光望远模块组成, 主要功能是通过激光主动照明方 式搜索敌方迎面观瞄的光学仪器或光电装置。 0004 精确搜索敌方迎面观瞄光学仪器或光电装置, 必须对线阵反光电观瞄装置的多光 轴平行性进行精确调校。 现有报道的光电系统多光轴调校方法都针对圆形光斑状指示或照 明激光、 面阵 CCD、 凝视型热像仪等模块的光轴平行性进行调校, 这种调校方式不适应于线 。

13、阵反光电观瞄装置的多光轴平行性调校。此外, 从国内外检索的资料中也未见有关该类系 统调校的公开资料。 发明内容 0005 本发明所要解决的技术问题是, 为线阵反光电观瞄装置提供一种多光轴平行性的 调校方法。 0006 为解决上述技术问题, 本发明提供的调校方法是通过线扫反光电观瞄调校装置实 现的, 所述调校装置包括光学平台、 长焦透镜组件、 带有不同衰减系数的衰减片组件、 白光 CCD、 光斑分析仪、 示波器、 测量板、 吸收棒、 三个四维组合位移台、 监视器, 测量板为中心带 有十字分划的磨沙金属板, 板面上涂有漫反射涂料, 吸收棒为黑色橡胶圆柱棒, 白光 CCD 与 监视器相连 ; 000。

14、7 衰减片组件、 长焦透镜组件、 测量板按从前到后的顺序放置在光学平台上, 其中 : 测量板垂直固连在光学平台上, 测量板带分划线的板面位于长焦透镜组件的像方焦面上, 分划线的中心、 衰减片组件的光学中心以及长焦透镜组件的光学中心同轴并构成测量光 轴 ; 白光 CCD 和光斑分析仪一一对应固连在第一、 第二四维组合位移台上, 两个四维组合位 移台放置在光学平台上且分别位于长焦透镜组件的左右两侧, 白光 CCD 和光斑分析仪的光 学中心与长焦透镜组件的光学中心等高 ; 吸收棒与测量板上十字分划的水平线重合且棒体 长度中心与十字分划的中心重合 ; 0008 采用线扫反光电观瞄调校装置对线扫反光电观。

15、瞄装置进行多光轴平行性调校的 步骤如下 : 说 明 书 CN 103308005 A 4 2/5 页 5 0009 第一步, 在照度优于 10-1lx 暗室中, 将初装好的线扫反光电观瞄装置固连在光学 平台上的第三四维组合位移台上, 第三四维组合位移台位于测量光路的前端, 将线扫反光 电观瞄装置与示波器相连, 调整第三四维组合位移台, 使线扫反光电观瞄装置激光发射窗 口和激光接收窗口与衰减片组件的衰减片中心等高 ; 0010 第二步, 打开白光 CCD 和监视器电源, 调整第一四维组合位移台, 使测量板十字分 划中心与监视器上 CCD 图像中心重合 ; 0011 第三步, 打开激光发射模块、 。

16、示波器的电源, 在位于测量光路中的前端衰减片入射 窗口上贴一张白纸, 目测白纸上的矩形光斑是否充满衰减片, 若充满, 调节第三四维组合位 移台向衰减片组件方向移动, 直至直立的平行四边形光斑不充满衰减片, 且衰减片不遮挡 激光接收模块的光学窗口 ; 沿 x 向移动激光发射模块中的激光器, x 向与测量光轴平行, 直 到白纸上的光斑由线性变为直立平行四边形为止 ; 绕测量光轴旋转所述激光器, 直至白纸 上的光斑为直立矩形, 轻微固定激光器的俯仰调节机构 ; 沿 x 向移动激光器, 直到白纸上的 直立矩形光斑具有最小宽度为止, 紧固激光器的 x 向位置调节机构 ; 0012 第四步, 从衰减片组件。

17、上移去白纸, 直立矩形光斑经衰减片后由长焦透镜成像在 测量板上, 绕测量光轴旋转所述激光发射模块, 观察监视器上显示的图像, 直到白光 CCD 输 出的漫反射直立矩形光斑与测量板上十字分划的竖线平行为止, 轻微固定激光发射模块上 的俯仰调节机构 ; 沿 y 方向移动激光发射模块, y 向与测量光轴垂直且与光学平台平行, 观 察监视器上显示的图像, 直到白光 CCD 输出的漫反射直立矩形光斑与测量板上十字分划的 竖线重合为止, 轻微固定激光发射模块 y 向的调节机构 ; 沿 z 方向移动激光发射模块, z 与 x、 y 构成直角坐标系, 观察监视器上显示的图像, 直到白光 CCD 输出的漫反射直。

18、立矩形光 斑在吸收棒上方的光斑长度和下方的光斑长度相等为止, 紧固激光发射模块 z 向的调节机 构 ; 0013 第五步, 打开光斑分析仪电源, 调整第二四维组合位移台, 观察光斑分析仪显示器 上的能量信息, 直到亮光带上的吸收暗点落在光斑分析仪视场中心为止 ; 0014 第六步, 打开示波器电源, 绕测量光轴旋转激光接收模块上的线阵 CCD, 观察示波 器上的输出波形, 直到示波器上半通道激光回波信号输出宽度大于上半通道总信号宽度的 五分之一, 且激光回波输出信号中带有吸收暗条 ; 沿 z 向移动线阵 CCD, 观察示波器上的输 出波形, 直至暗条位于上半通道激光回波信号输出波形的中心, 轻。

19、微固定线阵 CCD 的 z 向 调节机构 ; 绕测量光轴旋转线阵 CCD, 观察示波器上的输出波形, 直到示波器上半通道激光 回波信号输出波形近似为矩形, 轻微固定线阵 CCD 的俯仰调节机构 ; 沿 x 向调节激光接收 模块物镜, 观察示波器上的输出信号, 直到上半通道激光矩形回波信号输出幅值最大, 且下 半通道激光矩形回波信号输出幅值最小, 紧固激光接收模块的物镜 ; 沿 y 向移动线阵 CCD, 观察示波器上的输出波形, 直到上半通道和下半通道激光矩形回波信号输出幅值差不大于 0.3V, 紧固线阵 CCD 的 y 向调节机构 ; 0015 第七步, 关闭所有电源, 任意调整白光望远模块上。

20、的调节机构, 在白光望远模块目 镜上观察测量板上十字分划, 直到白光望远模块上的十字分划与测量板上的十字分划完全 重合, 紧固白光望远模块上的调节机构 ; 0016 第八步, 用硅胶固化所有反光电观瞄装置的调节机构。 0017 本发明首先沿测量光轴移动激光发射模块中的激光器, 使观察到的激光光斑由竖 说 明 书 CN 103308005 A 5 3/5 页 6 直光斑变为直立平行四边形后, 再沿测量光轴旋转激光器使直立平行四边形变为矩形, 实 现了激光器在激光发射模块竖直方向上的定位 ; 再沿测量光轴移动激光器, 使观察到的直 立矩形光斑达到最小宽度, 实现了激光器在激光发射模块测量光轴位置上。

21、的定位。 其次, 以 测量板十字分划为光轴基准, 旋转激光发射模块, 通过观察白光 CCD 监视器上输出测量板 上激光回波图像, 使测量板上竖直激光光斑与测量板十字分划的竖线平行, 实现了激光发 射模块和测量板十字分划竖线在竖直方向上的平行 ; 再沿水平方向移动激光发射模块, 使 测量板上竖直激光光斑与测量板十字分划竖线重合, 实现了激光发射模块光轴与测量板光 轴在水平方向上的定位 ; 再沿竖直方向上下移动激光发射模块, 使测量板吸收棒上方的光 斑长度和下方的光斑长度相等, 实现激光发射模块光轴与测量板十字分划中心重合。 第三, 以测量板上竖直光斑和吸收棒为光轴基准, 沿测量光轴旋转线阵 CC。

22、D, 通过示波器观察 CCD 输出的激光回波信号, 使示波器上半通道有信号输出, 且输出信号中包含吸收峰信号, 保证 了激光回波信号及吸收带信号落在线阵 CCD 上 ; 再沿竖直方向移动线阵 CCD, 使示波器上半 通道吸收峰位置处于上半通道信号输出中心, 实现线阵 CCD 上半通道中心与测量板中心定 位 ; 再沿测量光轴旋转激光接收模块, 使示波器上半通道信号输出为矩形, 实现了线阵 CCD 与测量板上光斑的平行 ; 再沿测量光轴调节激光接收模块物镜, 使示波器上半通道矩形波 信号输出最大, 下半通道矩形波信号输出最小, 且吸收峰在上半通道矩形波信号输出中心, 实现了线阵 CCD 在测量光轴。

23、上的定位 ; 再沿水平方向移动线阵 CCD, 使示波器上半通道信号 变小, 下半通道矩形波信号输出变大, 上通道和下通道矩形波信号输出幅值差不大于 0.3V, 且吸收棒在回波波形中形成的吸收峰位置均处在上通道和下通道信号输出波形的中心, 实 现激光发射模块光轴与激光接收模块光轴重合。 第四, 调节白光望远模块上的调节机构, 目 测白光望远模块十字分划与测量板十字分划重合, 实现白光望远模块与激光发射模块和激 光接收模块光轴的重合。通过以上四大步骤不难看出完成了光轴调校, 调校出的线扫反光 电观瞄装置, 经外场实物探测证明了线阵反光电观瞄装置光轴调校方法的准确可靠。本发 明不仅给线扫反光电观瞄装。

24、置的调校提供了一种技术途径, 同时也为线扫反光电观瞄装置 总体性能提供了保障。 附图说明 0018 图 1 是本发明校准方法所用校准设备的组成示意图。 0019 图 2 是激光发射模块校轴结果示意图。 0020 图 3 是激光接收模块中心位置调校结果示意图。 0021 图 4 是激光接收模块回波光束与线阵 CCD 平行性调校结果示意图。 0022 图 5 是激光接收模块回波光束焦距调校结果示意图。 0023 图 6 激光接收模块回波光束与线阵 CCD 重合性调校结果示意图。 具体实施方式 0024 下面结合附图及最佳实施例对本发明作进一步说明。 0025 正如图 1 所示, 本发明线扫反光电观。

25、瞄装置光轴调校方法的优选实施例是通过 线扫反光电观瞄调校装置实现的, 该线扫反光电观瞄调校装置 11 由光学平台 1、 长焦透镜 组件 4、 衰减片组件 2、 白光 CCD5、 光斑分析仪 6、 示波器 8、 测量板 9、 吸收棒 10、 三个四维 说 明 书 CN 103308005 A 6 4/5 页 7 组合位移台 3-1、 3-2 和 3-3、 监视器 7 组成。光学平台选用北京赛凡光电仪器有限公司的 7TB1912 型光学平台。长焦透镜组件 4 包括长焦透镜与一维调节支座, 长焦透镜选用焦距 5m, 口径 400mm, 材料为 K9 玻璃的透镜。衰减片组件 2 由衰减片组和衰减片组安。

26、装架组成, 衰减片组件 2 含有 6 片方形衰减片, 6 片衰减片镶嵌在同一个转轮上, 根据测量需要可将相 应衰减系数的衰减片切入到测量光路中, 每个衰减片口径均为 80mm80mm、 衰减波段均为 400nm1100nm、 衰减系数分别为0.01、 0.1、 0.2、 0.3、 0.4、 0.5。 白光CCD5选用中川光电公 司生产的视场为 10的 D*K31AU03 型相机 ; 光斑分析仪 6 选用 Thorlabs 公司提供的货架 产品 BC106-VIS 型、 视场为 10的光斑分析仪。示波器 8 选用美国 Tektronix 公司货架产 品 TDS3034C。测量板 9 基板为 10。

27、00mm500mm 磨沙铝板, 喷涂 BaSO4涂料, 在测量板中心刻 十字分划, 竖线长度不小于 800mm, 十字分划上刻有标识长度的刻度线, 刻度线最小分辨率 1mm。吸收棒 10 选用直径 5mm, 长度 400mm 的黑色橡胶圆柱棒。三个四维组合位移台 3-1、 3-2和3-3均使用北京卓力汉光仪器有限公司货架产品ASMV5-TR四维组合位移台。 监视器 7 选用美国 Lilin 公司货架产品 PIH-09 型监视器。 0026 衰减片组件 2、 长焦透镜组件 4、 测量板 9 从前到后依次放置在光学平台上, 其中 : 测量板9垂直固连在光学平台1上且两者的垂直度优于3mrad, 测。

28、量板9带分划线的板面位 于长焦透镜组件4的像方焦面上, 分划线的中心、 衰减片组件2的光学中心以及长焦透镜组 件 4 的光学中心同轴并构成测量光轴 ; 白光 CCD5 和光斑分析仪 6 一一对应固连在第一、 第 二四维组合位移台 3-1、 3-2 上, 两个四维组合位移台 3-1、 3-2 也放置在光学平台 1 上且分 别位于长焦透镜组件 4 的两侧, 白光 CCD5 和监视器 7 通过导线相连, 白光 CCD5 和光斑分析 仪 6 的光学中心与长焦透镜组件 4 的光学中心等高 ; 吸收棒 10 水平式悬挂在测量板 9 上, 其吸收棒 10 与测量板 9 上十字分划的水平线重合且长度中心与十字。

29、分划的中心重合。 0027 采用线扫反光电观瞄调校装置进行多光轴平行性调校的步骤如下。 0028 第一步, 在照度优于 10-1lx 暗室中, 将初装好的线扫反光电观瞄装置 11 固连放置 在光学平台 1 上的第三四维组合位移台 3-3 上, 第三四维组合位移台 3-3 位于测量光路的 前端, 将线扫反光电观瞄装置11与示波器8相连。 调整第三四维组合位移台3-3, 目测使线 扫反光电观瞄装置11的激光发射窗口和激光接收窗口与衰减片组件2的衰减片中心等高。 0029 第二步, 打开白光 CCD5 和监视器 7 的电源, 调整第一四维组合位移台 3-1, 使测量 板 9 十字分划中心与监视器 7。

30、 上 CCD 图像中心重合。 0030 第三步, 将线扫反光电观瞄装置 11 的线阵 CCD 信号输出端和示波器 8 的输入端相 连, 给线扫反光电观瞄装置 11 供 5V 直流电且激光发射模块发射激光, 同时打开示波器 8 的 电源, 在位于测量光路中的衰减片入射窗口上贴一张与窗口大小相同的白纸, 目测白纸上 的矩形激光光斑是否充满衰减片, 若充满, 调节第三四维组合位移台3-3向衰减片组件2方 向移动, 直至直立的平行四边形激光光斑不充满衰减片, 且衰减片不能遮挡激光接收模块 的光学窗口 ; 沿 x 向微调激光发射模块中的激光器并目测白纸上的激光光斑形状, x 向与测 量光轴平行, 当激光。

31、光斑由线性变为直立平行四边形时停止移动激光器, 之后绕测量光轴 旋转激光器, 直至白纸上的激光光斑形状为直立矩形, 轻微固定激光器的俯仰调节机构 ; 然 后, 再沿 x 向移动激光器, 目测白纸上的激光光斑形状, 使白纸上的直立的激光光斑具有最 小宽度, 紧固激光器的 x 向调节机构。 0031 第四步, 移去衰减片前白纸, 直立的激光光斑经衰减片衰减并被长焦透镜 4 聚焦 说 明 书 CN 103308005 A 7 5/5 页 8 后成像在测量板 9 上, 测量板 9 上的漫射激光信号被白光 CCD5 接收, 边轻微绕测量光轴旋 转激光发射模块, 边观察监视器 7 上的图像, 直至测量板 。

32、9 上的直立光斑和测量板 9 上的十 字分划的竖线平行, 轻微固定激光发射模块上的俯仰调节机构 ; 之后边在 y 向移动激光发 射模块, y 向与测量光轴垂直且与光学平台 1 平行, 边观察监视器 7 上的图像, 直至测量板 9 上聚焦的直立光斑和测量板 9 上的十字分划的竖线重合, 轻微固定激光发射模块 y 向上 的调节机构 ; 然后边在 z 向上移动激光发射模块, z 与 x、 y 构成直角坐标系, 边观察监视器 7 上的图像, 直至白光 CCD 输出的漫反射直立矩形光斑在吸收棒 10 上方的光斑长度和下方 的光斑长度相等为止, 紧固激光发射模块z向的调节机构, 激光发射模块校轴结果如图2。

33、所 示。 0032 第五步, 打开光斑分析仪 6 电源, 测量板 9 及吸收棒 10 上的漫射激光信号被光斑 分析仪9接收, 光斑分析仪9显示器上显示的为漫射激光回波信号的能量信息。 调整第二四 维组合位移台3-2, 使光斑分析仪6显示器上的亮光带上的暗点落在光斑分析仪6的视场中 心, 暗点为吸收棒 10 与激光光斑的相交点。 0033 第六步, 打开示波器 8 电源, 边轻微绕测量光轴旋转激光接收模块上的线阵 CCD, 边观察示波器 8 上的输出波形, 直至示波器 8 上半通道激光回波信号输出宽度大于上半通 道总信号宽度的五分之一, 且激光回波输出信号中带有吸收暗条, 吸收暗条为吸收棒 10。

34、 与 激光光斑的相交点, 如果激光回波输出波形中没有吸收暗条, 表示线阵 CCD 的位置远离像 面中心 ; 之后边在 z 向上移动线阵 CCD, 边观察示波器 8 上的输出信号, 直至暗条位于上半 通道激光回波信号输出波形的中心, 调校结果如图 3 所示, 轻微固定线阵 CCD 的 z 向调节 机构 ; 然后边绕测量光轴旋转线阵 CCD, 边观察示波器 8 上的输出波形, 直至示波器 8 上观 察到的上半通道激光回波信号输出波形近似为矩形, 轻微固定线阵 CCD 的俯仰调节机构, 调校结果如图 4 所示 ; 边沿 x 向调节激光接收模块中的物镜, 边观察示波器 8 上的输出信 号, 直至上半通。

35、道激光矩形回波信号输出幅值最大, 且下半通道激光矩形回波信号输出幅 值最小, 调校结果如图5所示, 紧固激光接收模块中的物镜 ; 边沿y向调节线阵CCD位置, 边 观察示波器上的输出波形, 直至上半通道和下半通道激光矩形回波信号输出幅值差不大于 0.3V, 紧固线阵 CCD 的 y 向调节机构。 0034 第七步, 关闭所有电源, 边在白光望远模块的目镜上观察测量板 9 上十字分划, 边 任意调整白光望远模块上的调节机构, 直至白光望远模块上的十字分划与测量板 9 上的十 字分划完全重合, 紧固白光望远模块上的调节机构。 0035 第八步, 用硅胶固化线扫反光电观瞄装置中的所有调节机构, 至此完成了线扫反 光电观瞄装置的多光轴平行性调校。 说 明 书 CN 103308005 A 8 1/2 页 9 图 1 图 2 图 3 图 4 说 明 书 附 图 CN 103308005 A 9 2/2 页 10 图 5 图 6 说 明 书 附 图 CN 103308005 A 10 。

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