密封胶涂布机.pdf

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摘要
申请专利号:

CN201210256689.5

申请日:

2012.07.24

公开号:

CN103170434A

公开日:

2013.06.26

当前法律状态:

撤回

有效性:

无权

法律详情:

发明专利申请公布后的视为撤回IPC(主分类):B05C 5/00申请公布日:20130626|||公开

IPC分类号:

B05C5/00; B05C11/10

主分类号:

B05C5/00

申请人:

塔工程有限公司

发明人:

孙世豪; 朴学喆

地址:

韩国庆尚北道

优先权:

2011.12.20 KR 10-2011-0138294

专利代理机构:

北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363

代理人:

张文;许伟群

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内容摘要

本发明公开一种密封胶涂布机,其将密封胶施加到玻璃面板上以形成密封胶图案,同时能够实时地测量被施加到玻璃面板上的密封胶图案是否有缺陷。

权利要求书

权利要求书
1.   一种密封胶涂布机,包括:
涂布头单元,所述涂布头单元具有喷嘴,密封胶通过所述喷嘴排出到玻璃面板上;
感测单元,所述感测单元设置在所述涂布头单元上,所述感测单元包括发光部件和受光部件,所述发光部件发射光,所述受光部件接收从所述发光部件发射并由玻璃面板或施加到玻璃面板上的密封胶反射的光;以及
控制单元,所述控制单元基于从所述发光部件发射的光量与被接收进所述受光部件内的光量之差来测量施加到玻璃面板上的密封胶的状态。

2.   如权利要求1所述的密封胶涂布机,其中,所述发光部件和所述受光部件分别包括绕所述喷嘴沿周向设置的多个发光部件和多个受光部件。

3.   如权利要求1所述的密封胶涂布机,其中,所述发光部件和所述受光部件分别包括绕所述喷嘴设置在四个侧面的多个发光部件和多个受光部件。

4.   如权利要求2或3所述的密封胶涂布机,其中,所述感测单元包括支撑构件,所述支撑构件具有通孔,所述喷嘴置于所述通孔中,以及
所述发光部件和所述受光部件以规则间隔设置在所述支撑构件的面对玻璃面板的端部内。

5.   如权利要求1所述的密封胶涂布机,其中,所述感测单元包括:
支撑构件,所述发光部件和所述受光部件设置在所述支撑构件中;以及
移动装置,所述移动装置移动所述支撑构件,使得所述发光部件和所述受光部件追踪将密封胶施加到玻璃面板上所沿的施加线。

6.   如权利要求5所述的密封胶涂布机,其中,所述移动装置包括:
转动马达,所述转动马达安装到所述涂布头单元;
转动轴,所述转动轴连接到所述转动马达;以及
连接构件,所述连接构件将所述转动轴连接到所述支撑构件。

7.   如权利要求1所述的密封胶涂布机,还包括:
光开关,所述光开关中断光从所述发光部件发射出,以及中断光被接收进所述受光部件内。

说明书

说明书密封胶涂布机
技术领域
本发明涉及一种将密封胶施加到玻璃面板上的密封胶涂布机。
背景技术
总的来说,平板显示器(FPD)是比具有布朗管的电视机或显示器更薄且更轻的图像显示设备。液晶显示器(LCD)、等离子显示面板(PDP)、场致发射显示器(FED)以及有机发光二极管(OLED)是已研制出并使用的平板显示器的代表性实例。
这样的FDP的LCD是以根据图像信息将数据信号各个地供应到成矩阵形状排列的液晶单元并因此控制液晶单元的透光性的方式来显示期望图像的图像显示设备。LCD薄且轻,还具有包括低功耗、低操作电压等很多其它优点,因此得到广泛使用。下文将详细解释制造用于这种LCD中的液晶面板的典型方法。
首先,在上玻璃面板上形成彩色滤光片和共用电极。之后,在与上玻璃面板对应的下玻璃面板上形成薄膜晶体管(TFT)和像素电极。其后,将配向膜分别施加到上玻璃面板和下玻璃面板。之后,摩擦配向膜,以为将要在配向层之间形成的液晶层中的液晶分子提供预倾角和配向方位。
之后,通过将密封胶施加至玻璃面板中的至少一个而形成密封胶图案,以保持玻璃面板之间的间隙、防止液晶泄漏以及密封玻璃面板之间的空隙。其后,在玻璃面板之间形成液晶层,因此完成液晶面板。
当通过上述方法制造液晶面板时,典型地使用密封胶涂布机以在玻璃面板上形成密封胶图案。密封胶涂布机包括:托台,托台置于框架上使得玻璃面板放置在托台上;配备有注射器和喷嘴的涂布头单元,注射器容纳密封胶,喷嘴与注射器连通;以及涂布头单元支撑框架,其支撑涂布头单元。具有上述构造的密封胶涂布机能在玻璃面板上形成线性密封胶图案。
在将密封胶图案施加到玻璃面板上的过程中,密封胶图案中的缺陷,例如密封胶图案可能中断,或施加到玻璃面板上的密封胶的宽度、高度或横截面积可能不在预设范围内,可能源于很多原因。
因此,在将密封胶图案施加到玻璃面板上的工艺完成之后,实施测试工艺,其中工人用肉眼检查形成在玻璃面板上的密封胶的宽度、高度或横截面积,或者单独的传感器扫描形成在玻璃面板上的整个密封胶图案。
如果玻璃面板上的密封胶存在缺陷,则实施修复工艺,其中将密封胶再次施加到密封胶图案的有缺陷部分上。
这样,在传统技术中,为了确定密封胶图案是否有缺陷,在将密封胶施加到玻璃面板上的工艺完成之后,必须实施单独的检查工艺。因此,即使在密封胶图案的一部分中存在缺陷,也不能快速地实施修复密封胶图案的有缺陷部分的工艺。因此,最终完成将密封胶施加到玻璃面板上的工艺所花费的时间增加,导致可生产FPD的生产率降低。
发明内容
因此,本发明针对现有技术中存在的上述问题,且本发明的目的是提供一种密封胶涂布机,其将密封胶施加到玻璃面板上以形成密封胶图案,同时能够实时地测量被施加到玻璃面板上的密封胶图案是否有缺陷。
为了实现上述目的,本发明提供一种密封胶涂布机,包括:涂布头单元,其具有喷嘴,密封胶通过所述喷嘴排出到玻璃面板上;感测单元,其设置在所述涂布头单元上,所述感测单元包括发光部件和受光部件,所述发光部件发射光,所述受光部件接收从所述发光部件发射并由玻璃面板或施加到玻璃面板上的密封胶反射的光;以及控制单元,其基于从所述发光部件发射的光量与被接收进所述受光部件内的光量之差来测量施加到玻璃面板上的密封胶的状态。
附图说明
从结合附图的以下详述中将更清楚理解本发明的上述以及其它目的、特征和优点,其中:
图1是图示根据本发明第一实施方式的密封胶涂布机的立体图;
图2是图示图1的密封胶涂布机的涂布头单元的立体图;
图3是图示图1的密封胶涂布机的涂布头单元的注射器、喷嘴和感测单元的侧视图;
图4是图示图1的密封胶涂布机的感测单元的立体图;
图5和6是示出图1的密封胶涂布机的感测单元的其它示例的立体图;
图7是图示图1的密封胶涂布机的感测单元的示意图;
图8是示出由图1的密封胶涂布机施加到玻璃面板上的密封胶的状态的截面图;
图9至12是示出由图1的密封胶涂布机施加到玻璃面板上的密封胶的状态的若干示例的截面图;
图13是图示根据本发明第二实施方式的密封胶涂布机的涂布头单元和感测单元的立体图;
图14是图示设置在图13的密封胶涂布机的涂布头单元中的感测单元的支撑构件、发光部件和受光部件的侧视图;以及
图15和16是示出使用图13的密封胶涂布机将密封胶施加到玻璃面板上的操作的平面图。
具体实施方式
下文,将参照附图详述根据本发明的密封胶涂布机的优选实施方式。
如图1和3所示,根据本发明第一实施方式的密封胶涂布机包括框架10、托台20、一对导轨30、涂布头单元支撑框架40、涂布头单元50以及控制单元90(参见图7)。托台20安装在框架10上。玻璃面板S放置在托台20上。导轨30设置在托台20的相对侧面上,并沿Y轴方向延伸。涂布头单元支撑框架40以涂布头单元支撑框架40的相对端部由相应导轨30支撑的方式设置在托台20上方。涂布头单元支撑框架40沿X轴方向延伸预定长度。涂布头单元50设置在涂布头单元支撑框架40上,以能够沿X轴方向移动。各涂布头单元50设置有喷嘴53。控制单元90控制这些部件的操作,以使密封胶能施加到玻璃面板S上。
此外,X轴工作台21和Y轴工作台22设置在框架10上。X轴工作台21沿X轴方向移动托台20,Y轴工作台22沿Y轴方向移动托台20。因此,托台20能由X轴工作台21和/或Y轴工作台22沿X轴方向和/或Y轴方向移动。当然,可以仅提供X轴工作台21或Y轴工作台22,使得托台20能仅沿X轴方向或Y轴方向移动。
移动件41设置于涂布头单元支撑框架40的相对端部的每一个,并连接到相应的导轨30。涂布头单元支撑框架40能通过导轨30与移动件41之间的相互作用而沿导轨30的纵向(Y轴方向)移动。涂布头单元50能通过涂布头单元支撑框架40的Y轴运动而沿Y轴方向移动。
头移动导引件42设置在涂布头单元支撑框架40上,并沿X轴方向定向。头移动单元51设置在各个涂布头单元50上,并连接到涂布头单元支撑框架40的头移动导引件42。各个涂布头单元50能通过头移动导引件42与头移动单元51之间的相互作用而沿涂布头单元支撑框架40的纵向(X轴方向)移动。
这样,涂布头单元50能在由X轴和Y轴限定的XY装置坐标系统上沿X轴方向和/或Y轴方向移动。
在根据第一实施方式的密封胶涂布机中,当托台20移动而涂布头单元50静止时、或替代地当涂布头单元50移动而托台20静止时,可将密封胶P施加到玻璃面板S上。下文,将托台20与涂布头单元50之间的相对运动定义为喷嘴53相对于玻璃面板S的相对运动。
如图2和图3所示,各个涂布头单元50包括容纳密封胶的注射器52、与注射器52连通以排出密封胶的喷嘴53、邻近喷嘴53并测量喷嘴53与玻璃面板S之间的距离的距传感器54、沿Y轴方向移动喷嘴53和距离传感器54的Y轴驱动单元55、沿Z轴方向移动喷嘴53和距离传感器54的Z轴驱动单元56。
距离传感器54包括发光部件541和受光部件542,发光部件541发射激光光束,受光部件542与发光部件541间隔开预定距离并接收由玻璃面板S所反射的激光光束。距离传感器54将电信号——与从发光部件541发射出并由玻璃面板S反射的激光光束在受光部件542上形成图像所在的图像形成位置相对应——输出到控制单元90。控制单元90基于上述电信号确定玻璃面板S与喷嘴53之间的距离。
此外,涂布头单元50设置有摄像单元58,摄像单元58以面对玻璃面板S的方式邻近喷嘴53安装。在喷嘴53通过涂布头单元支撑框架40的Y轴运动和/或涂布头单元50的X轴运动而移动时,摄像单元58用于测量喷嘴53的当前位置。
如图3和图4所示,感测单元70设置在涂布头单元50上。感测单元70包括多个发光部件71和多个受光部件72,上述多个发光部件71发射光线,上述多个受光部件72接收从发光部件71发射并由玻璃面板S或施加到玻璃面板S上的密封胶P反射的相应光线。
感测单元70邻近喷嘴53设置。感测单元70可设置在喷嘴53的连接部件531上,连接部件531连接到注射器52。详细而言,感测单元70包括具有通孔731的支撑构件73,支撑构件73经由通孔731配合到喷嘴53上。发光部件71和受光部件72设置于支撑构件73的面对玻璃面板S的端部,并绕通孔731即绕喷嘴53的出口532沿周向以规则间隔设置。支撑构件73的形状是圆筒形。喷嘴53的连接部件531插入支撑构件73的通孔731中。本发明的支撑构件73的形状并不局限于这种圆筒形形状。换言之,支撑构件73可为任何形状,只要发光部件71和受光部件72可设置在支撑构件73上并且支撑构件73可邻近喷嘴53设置即可。
图5和图6图示感测单元70的其它示例。如图所示,感测单元70可包括矩形支撑构件73和固定构件733,矩形支撑构件73具有通孔731,矩形支撑构件73经由通孔731配合到喷嘴53上,固定构件733安装到矩形支撑构件73的四个相应侧表面。多个发光部件71和多个受光部件72设置在各固定构件733的相应端部中。各固定构件733可由支架78安装到支撑构件73的四个侧表面的相应表面。除了支架78外,例如螺钉等的不同类型的紧固装置均可使用。此外,如图5所示,发光部件71和受光部件72可成直线交替设置。如图6所示,发光部件71所形成的组和受光部件72所形成的组各自均可成直线设置。在图5和图6所示的感测单元70中的每一个中,发光部件71和受光部件72绕喷嘴53设置在矩形支撑构件73的四个侧表面上。因此,与图4中发光部件71和受光部件72绕喷嘴53沿周向设置的示例相比,尽管利用了减少数量的发光部件71和受光部件72,但也能可靠地实施发光操作和受光操作。
本发明并不局限于支撑构件73设置在喷嘴53的连接部件531上的结构。例如,支撑构件73可设置在注射器52的连接部件521上,连接部件521连接到喷嘴53。在这种情况中,注射器52的连接部件521配合进支撑构件73的通孔731中。此外,感测单元70的安装位置并不局限于上述位置。换言之,感测单元70能设置于涂布头单元50的各种位置,只要发光部件71和受光部件72能设置成面对玻璃面板S或施加到玻璃面板S上的密封胶P即可。
如图7所示,发光部件71通过由例如光纤等物质制成的连接线711连接到发光装置75。受光部件72通过由例如光纤等物质制成的连接线721连接到受光装置76。发光装置75和受光装置76连接到控制单元90。在这种构造中,控制单元90控制发光装置75,使得发光部件71能发射预定的光量。受光装置76感测进入受光部件72的光量。控制单元90将由受光部件72接收并由受光装置76感测到的光量与从发光部件71发射的光量进行比较,因此测量施加到玻璃面板S上的密封胶的状态。
发光装置75可包括以预定发射强度发射红外线或激光光束的发光二极管(LED)、半导体激光二极管等。受光装置76可包括将进入受光部件72的光能转换成电信号的光电二极管、摄像管等。
此外,光开关79设置在分别将发光部件71和受光部件72连接到发光装置75和受光装置76的连接线711和721上。光开关79连接到控制单元90,并根据控制单元90的控制信号操作。从外部施加电场从而中断光传输通过光纤的装置、基于液晶材料的光学特性利用从外部施加的电场中断光的装置、机械式地在两种状态之间切换光纤的机械装置等均可用作光开关79。
这种光开关79可设置在分别连接到发光部件71和受光部件72的连接线711和721中的每一个上,使得光开关79中断传输到相应的发光部件71的光以及进入相应的受光部件72的光。替代地,若干发光部件71和若干受光部件72可连接到单个光开关79作为单个组。
具体地,如图5和6所示,在发光部件71和受光部件72绕喷嘴53呈直线设置于四个侧面的示例中,设置在各侧上的发光部件71和受光部件72可形成单个组并连接到单个光开关79。
发光部件71可为连接到发光装置75的光纤的远端。受光部件72可为连接到受光装置76的光纤的远端。然而,本发明并不局限于这种构造。例如,发光装置75本身可包括每个发光部件71。相应地,受光装置76本身可包括每个受光部件72。换言之,感测单元70可构造成使得多个发光装置75和多个受光装置76绕喷嘴53以预定间隔设置。
参见图8,部分A将用于表示施加到玻璃面板S上的密封胶P的高度、宽度以及横截面积为最佳的部分;部分B将用于表示施加到玻璃面板S上的密封胶P的高度、宽度以及横截面积低于最佳的部分;部分C将用于表示没有密封胶被施加到玻璃面板S的中断部分;以及部分D将用于表示施加到玻璃面板S上的密封胶P的高度、宽度以及横截面积超过最佳的部分。在假设这些指定的情况下描述感测单元70在每部分中的操作。
首先,如图9所示,在部分C中,当从发光部件71发射出的光由玻璃面板S的上表面反射时,因为没有密封胶被施加到玻璃面板S,因此既没有光损失也没有光散射。因此,进入受光部件72的光量大于部分A、B或D。
如图10所示,在部分B中,当从发光部件71发射出的光由施加到玻璃面板S的上表面上的密封胶P反射时,一些光会因密封胶P损失并散射。然而,因为密封胶P的高度、宽度以及横截面积小于部分A,因此损失或散射的光量少于部分A。因此,进入受光部件72的光量大于部分A,但它少于部分C。
如图11所示,在部分A中,当从发光部件71发射出的光由最佳地施加到玻璃面板S的上表面上的密封胶P反射时,一些光会因密封胶P损失并散射,然后其余的光进入受光部件72。在此,进入受光部件72的光量少于部分B或部分C。
如图12所示,在部分D中,当从发光部件71发射出的光由施加到玻璃面板S的上表面上的密封胶P反射时,一些光会因密封胶P损失并散射。然而,因为密封胶P的高度、宽度以及横截面积大于部分A,因此损失或散射的光量大于部分A。因此,进入受光部件72的光量小于部分A、部分B或部分C。
这样,假定发射的光量是恒定的,则没有密封胶被施加到玻璃面板S上的部分C的接收的光量最大,并且以部分B、部分A和部分D的次序所接收的光量依次减少。这可由如下的式子表达。
(部分C的接收的光量)>(部分B的接收的光量)>(部分A的接收的光量)>(部分D的接收的光量)
考虑这个式子,当预定量的光从发光部件71发射出、并由玻璃面板S反射(即中断部分C)或由施加到玻璃面板S上的密封胶P反射(即部分B、A或D)、然后被接收进受光部件72时,测量所接收的光量,并将各部分的接收的光量和发射的光量之差与最佳情况相比较。然后,可确定施加到玻璃面板S上的密封胶P的高度、宽度以及横截面积是否最佳、密封胶图案P是否中断、或者密封胶P的高度、宽度以及横截面积是否低于或超过最佳。
如果将密封胶P的高度、宽度以及横截面积不同于最佳情况的部分细分成若干个部分,且能通过执行若干测试或模拟来获得与各部分的密封胶P的高度、宽度以及横截面积有关的数据以及与各部分中发射的光量和接收的光量之差有关的数据,则能够根据在光从发光部件71发射出之后测量接收进入受光部件72的光量来确定各部分的密封胶P的高度、宽度以及横截面积。
此外,基于执行如下的若干测试或模拟的结果,即其中在改变发射的光量的同时将光发射到多个部分上、且在密封胶P反射光之后测量被接收进受光部件72中的光量的变化,能获得与根据发射的光量变化而定的各部分所接收的光量变化有关的数据。然后,基于与根据发射的光量变化而定的所接收的光量变化有关的数据,能确定各部分中密封胶P的高度、宽度以及横截面积。
下文,将解释根据本发明第一实施方式的密封胶涂布机的操作。
首先,当喷嘴53相对于玻璃面板S移动时,密封胶P从喷嘴53的出口532排出,并以预定图案施加到玻璃面板S上。
同时,光从发光部件71朝玻璃面板S以及已施加到玻璃面板S上的密封胶P发射。在此,关于喷嘴53相对于玻璃面板S移动的方向而言,密封胶P在玻璃面板S上并不位于喷嘴53前侧、左侧、右侧。因此,在受光部件72之中,关于喷嘴53相对于玻璃面板S的运动方向而言设置在喷嘴53前侧、左侧、右侧处的受光部件72接收被玻璃面板S反射的光。另一方面,在受光部件72之中,关于喷嘴53相对于玻璃面板S的运动方向而言设置在喷嘴53后侧的受光部件72接收由施加到玻璃面板S上的密封胶P所反射的光。
在如上所述的发光部件71和受光部件72分别经由光开关79连接到发光装置75和受光装置76的示例中,光开关79可以中断光从发光装置75到关于喷嘴53相对于玻璃面板S的运动方向而言设置在喷嘴53前侧、左侧、右侧的发光部件71的传输。此外,在光已被接收进受光部件72之后,光开关79可以中断光从相应的受光部件72到受光装置76的传输。因此,防止了光的过量发射,因此增加了能用于测量的光的强度。另外,能防止不需要的光进入受光装置76和干涉能用于测量目的的光。结果,可提高测量精度。
控制单元90测量关于喷嘴53相对于玻璃面板S的运动方向而言设置在喷嘴53后侧的发光部件71所发射的光量与关于喷嘴53相对于玻璃面板S的运动方向而言设置在喷嘴53后侧的受光部件72所接收的光量之间的差异。
进一步地,基于所发射光量与所接收光量之间的测得差异,控制单元90实时地检查施加到玻璃面板S上的密封胶P的状态。
如果所发射光量与所接收光量之间的测得差异低于预设的最佳范围,换言之,如果测得差异位于对应于部分C或B的范围内,则控制单元90基于所发射光量与所接收光量之间的测得差异以及与所发射光量和所述所接收光量之间的差异有关的预设数据来确定密封胶图案P是否中断、或对于最佳基准水平而言被施加到玻璃面板S上的密封胶P缺少多少量。如果控制单元90确定施加到玻璃面板S上的密封胶P中断,则控制单元90存储与相应测得部分的坐标(例如XY坐标)有关的数据。在密封胶图案P中断的情况下将密封胶P重新施加到上述部分的修复工艺可利用测得部分的坐标数据。如果控制单元90确定施加到玻璃面板S上的密封胶P的量与最佳基准水平相比缺少预定量,则控制单元90存储相应测得部分的坐标数据(例如XY坐标)以及与密封胶P的短缺量有关的数据。测得部分的坐标数据以及与密封胶P的短缺量有关的数据可用于修复工艺中,其中将密封胶P重新施加到所施加到玻璃面板S上的密封胶P与最佳基准水平相比短缺的部分。
如果所发射光量与所接收光量之间的测得差异超出预设最佳范围,换言之,如果测得差异在对应于部分D的范围内,则控制单元90基于所发射光量与所接收光量之间的测得差异以及与所发射光量和所接收光量之间的差异有关的预设数据来确定施加到玻璃面板S上的密封胶P高出最佳基准水平多少。如果控制单元90确定施加到玻璃面板S上的密封胶P的量超过最佳基准水平预定量,则控制单元90存储相应测得部分的坐标数据(例如XY坐标)以及与密封胶P的超出量有关的数据。与测得部分的坐标有关的数据以及与密封胶P的超出量有关的数据可用在对施加到玻璃面板S上的密封胶P的量超过最佳基准水平的部分进行修复的工艺中。
如果所发射光量与所接收光量之间的测得差异在预设最佳范围内,换言之,如果测得差异在对应于部分A的范围内,则控制单元90基于所发射光量与所接收光量之间的测得差异以及与所发射光量和所接收光量之间的差异有关的预设数据确定最佳量的密封胶P已被施加到玻璃面板S。在这种情况下,控制单元90存储已最佳施加了密封胶P的相应测得部分的坐标数据(例如XY坐标)。
如上所述,在根据第一实施方式的密封胶涂布机中,在将密封胶P施加到玻璃面板S上的过程中,密封胶涂布机发射光到玻璃面板S或施加到玻璃面板S上的密封胶P上,并接收由玻璃面板S或施加到玻璃面板S上的密封胶P反射的光。由此,密封胶涂布机能基于所发射光量与所接收光量之差来确定施加到玻璃面板S上的密封胶P是否中断、或者施加到玻璃面板S上的密封胶P的量是小于预设最佳基准范围还是大于预设最佳基准范围。因此,根据第一实施方式的密封胶涂布机能实时地测量施加到玻璃面板S上的密封胶P是否有缺陷。因此,与在将密封胶P施加到玻璃面板S上的工艺之后需要实施单独的检测工艺的传统技术相比,能快速地确定密封胶图案P是否有缺陷。由此,也能快速地执行修复有缺陷部分的工艺。最终,可减少完成将密封胶P施加到玻璃面板S的工艺所花费的时间,因此提高生产FPD的生产率。
下文,将参照图13至图16描述根据本发明第二实施方式的密封胶涂布机。在第二实施方式的描述中,相同参考标号将用于标示与第一实施方式中相同的部件,不再进行进一步的描述。
如图13和14所示,在根据第二实施方式的密封胶涂布机中,感测单元70包括支撑构件74和移动装置77。发光部件71和受光部件72设置在支撑构件74的端部内。移动装置77移动支撑构件74,使得发光部件71和受光部件72对置并面对从喷嘴53排出的密封胶P。
详细而言,支撑构件74朝玻璃面板S延伸预定长度。此外,支撑构件74的形状并不局限于此,只要发光部件71和受光部件72能设置在支撑构件74内并面对玻璃面板S即可。发光部件71和受光部件72设置在支撑构件74的面对玻璃面板S的端部内。以与上述第一实施方式相同的方式,发光部件71和受光部件72分别通过连接线711和721连接到发光装置75和受光装置76(参见图7)。发光部件71可为连接到发光装置75的光纤的远端,受光部件72可为连接到受光装置76的光纤的远端。然而,本发明并不局限于这种构造。例如,发光装置75本身可包括发光部件71。相应地,受光装置76本身可包括受光部件72。换言之,感测单元70可构造成使得发光装置75和受光装置76设置在支撑构件74的面对玻璃面板S的端部内。
移动装置77作用为在关于喷嘴53相对于玻璃面板S的运动方向而言位于喷嘴53后侧的玻璃面板S上设置如下区域(下文称作测量区域MP,参见图15和图16),即从发射部件71发射的光施加到该区域并且由该区域反射光。移动装置77包括安装到涂布头单元50的转动马达771、连接到转动马达771并通过转动马达771的转动力转动的转动轴772、以及将转动轴772连接到支撑构件74的连接构件773。具有这种构造的移动装置77连接到支撑构件74,并关于竖直轴线(例如平行于Z轴的轴线)绕喷嘴53转动支撑构件74。由此,发光部件71和受光部件72也绕喷嘴53转动。支撑构件74的转动中心与转动轴772的转动中心相同。
在具有上述构造的第二实施方式中,如图15和图16所示,当喷嘴53相对于玻璃面板S移动时,密封胶P从喷嘴53的出口532排出,并沿虚施加线L施加到玻璃面板S上。测量区域MP设置在关于喷嘴53相对于玻璃面板S的运动方向而言喷嘴53的后侧,也即密封胶P刚从喷嘴53施加到玻璃面板S的区域。
为了沿着密封胶P的施加线L设置测量区域MP,通过移动装置77的操作绕喷嘴53转动支撑构件74,使得发光部件71和受光部件72绕喷嘴53转动。例如,如图15所示,在玻璃面板S上的线性密封胶施加部分内,测量区域MP设置在喷嘴53之后,然后密封胶施加到玻璃面板S上。如图16所示,在玻璃面板S上的弯曲状密封胶施加部分内,支撑构件74沿图16的顺时针方向转动,使得能连续地在密封胶P的施加线L上设置测量区域MP。相继并连续地实施这些操作,使得在发光部件71发射光到测量区域MP上且受光部件72接收从测量区域MP反射的光的同时,测量区域MP能追踪玻璃面板S的线性密封胶施加部分和弯曲状密封胶施加部分的施加线L。
从发光部件71发射光的操作、接收由玻璃面板S或施加到玻璃面板S上的密封胶P反射的光的操作、以及测量施加到玻璃面板S上的密封胶P的状态的操作,与第一实施方式相同。
如上所述,在根据第二实施方式的密封胶涂布机中,发光部件71和受光部件72能移动使得它们追踪密封胶P施加到玻璃面板S上所沿的施加线L。因此,可以仅提供并使用单个发光部件71和单个受光部件72以用于测量沿着施加线L施加到玻璃面板S上的密封胶P的状态。因此,与具有多个发光部件71和多个受光部件72的根据第一实施方式的密封胶涂布机相比,根据第二实施方式的密封胶涂布机可减少发光部件71的数量和受光部件72的数量,简化发光部件71和受光部件72分别连接到发光装置75和受光装置76的构造。
此外,在根据第二实施方式的密封胶涂布机中,发光部件71和受光部件72能被准确地设置于施加线L上的目标位置,因此提高测量所施加的密封胶P的状态的精度。
如上所述,根据本发明的密封胶涂布机能实时检测已被施加到玻璃面板上的密封胶是否有缺陷。因此,与在将密封胶施加到玻璃面板上的工艺之后需要实施单独的检测工艺的传统技术相比,本发明可快速地确定密封胶图案是否有缺陷,也可快速地实施修复有缺陷部分的工艺。结果,可减少完成将密封胶施加到玻璃面板的工艺所花费的时间,因此提高生产FPD的生产率。
虽然为了例示目的已公开了本发明的优选实施方式,但本领域技术人员将了解,在不脱离所附权利要求公开的本发明的范围和主旨的情况下,可以进行各种修改、添加和替代。

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1、(10)申请公布号 CN 103170434 A (43)申请公布日 2013.06.26 CN 103170434 A *CN103170434A* (21)申请号 201210256689.5 (22)申请日 2012.07.24 10-2011-0138294 2011.12.20 KR B05C 5/00(2006.01) B05C 11/10(2006.01) (71)申请人 塔工程有限公司 地址 韩国庆尚北道 (72)发明人 孙世豪 朴学喆 (74)专利代理机构 北京弘权知识产权代理事务 所 ( 普通合伙 ) 11363 代理人 张文 许伟群 (54) 发明名称 密封胶涂布机 (5。

2、7) 摘要 本发明公开一种密封胶涂布机, 其将密封胶 施加到玻璃面板上以形成密封胶图案, 同时能够 实时地测量被施加到玻璃面板上的密封胶图案是 否有缺陷。 (30)优先权数据 (51)Int.Cl. 权利要求书 1 页 说明书 8 页 附图 13 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书1页 说明书8页 附图13页 (10)申请公布号 CN 103170434 A CN 103170434 A *CN103170434A* 1/1 页 2 1. 一种密封胶涂布机, 包括 : 涂布头单元, 所述涂布头单元具有喷嘴, 密封胶通过所述喷嘴排出到玻璃面板上 ; 感测单。

3、元, 所述感测单元设置在所述涂布头单元上, 所述感测单元包括发光部件和受 光部件, 所述发光部件发射光, 所述受光部件接收从所述发光部件发射并由玻璃面板或施 加到玻璃面板上的密封胶反射的光 ; 以及 控制单元, 所述控制单元基于从所述发光部件发射的光量与被接收进所述受光部件内 的光量之差来测量施加到玻璃面板上的密封胶的状态。 2. 如权利要求 1 所述的密封胶涂布机, 其中, 所述发光部件和所述受光部件分别包括 绕所述喷嘴沿周向设置的多个发光部件和多个受光部件。 3. 如权利要求 1 所述的密封胶涂布机, 其中, 所述发光部件和所述受光部件分别包括 绕所述喷嘴设置在四个侧面的多个发光部件和多个。

4、受光部件。 4. 如权利要求 2 或 3 所述的密封胶涂布机, 其中, 所述感测单元包括支撑构件, 所述支 撑构件具有通孔, 所述喷嘴置于所述通孔中, 以及 所述发光部件和所述受光部件以规则间隔设置在所述支撑构件的面对玻璃面板的端 部内。 5. 如权利要求 1 所述的密封胶涂布机, 其中, 所述感测单元包括 : 支撑构件, 所述发光部件和所述受光部件设置在所述支撑构件中 ; 以及 移动装置, 所述移动装置移动所述支撑构件, 使得所述发光部件和所述受光部件追踪 将密封胶施加到玻璃面板上所沿的施加线。 6. 如权利要求 5 所述的密封胶涂布机, 其中, 所述移动装置包括 : 转动马达, 所述转动马。

5、达安装到所述涂布头单元 ; 转动轴, 所述转动轴连接到所述转动马达 ; 以及 连接构件, 所述连接构件将所述转动轴连接到所述支撑构件。 7. 如权利要求 1 所述的密封胶涂布机, 还包括 : 光开关, 所述光开关中断光从所述发光部件发射出, 以及中断光被接收进所述受光部 件内。 权 利 要 求 书 CN 103170434 A 2 1/8 页 3 密封胶涂布机 技术领域 0001 本发明涉及一种将密封胶施加到玻璃面板上的密封胶涂布机。 背景技术 0002 总的来说, 平板显示器 (FPD) 是比具有布朗管的电视机或显示器更薄且更轻的图 像显示设备。液晶显示器 (LCD)、 等离子显示面板 (P。

6、DP)、 场致发射显示器 (FED) 以及有机 发光二极管 (OLED) 是已研制出并使用的平板显示器的代表性实例。 0003 这样的FDP的LCD是以根据图像信息将数据信号各个地供应到成矩阵形状排列的 液晶单元并因此控制液晶单元的透光性的方式来显示期望图像的图像显示设备。LCD 薄且 轻, 还具有包括低功耗、 低操作电压等很多其它优点, 因此得到广泛使用。下文将详细解释 制造用于这种 LCD 中的液晶面板的典型方法。 0004 首先, 在上玻璃面板上形成彩色滤光片和共用电极。 之后, 在与上玻璃面板对应的 下玻璃面板上形成薄膜晶体管 (TFT) 和像素电极。其后, 将配向膜分别施加到上玻璃面。

7、板 和下玻璃面板。 之后, 摩擦配向膜, 以为将要在配向层之间形成的液晶层中的液晶分子提供 预倾角和配向方位。 0005 之后, 通过将密封胶施加至玻璃面板中的至少一个而形成密封胶图案, 以保持玻 璃面板之间的间隙、 防止液晶泄漏以及密封玻璃面板之间的空隙。 其后, 在玻璃面板之间形 成液晶层, 因此完成液晶面板。 0006 当通过上述方法制造液晶面板时, 典型地使用密封胶涂布机以在玻璃面板上形成 密封胶图案。密封胶涂布机包括 : 托台, 托台置于框架上使得玻璃面板放置在托台上 ; 配备 有注射器和喷嘴的涂布头单元, 注射器容纳密封胶, 喷嘴与注射器连通 ; 以及涂布头单元支 撑框架, 其支撑。

8、涂布头单元。具有上述构造的密封胶涂布机能在玻璃面板上形成线性密封 胶图案。 0007 在将密封胶图案施加到玻璃面板上的过程中, 密封胶图案中的缺陷, 例如密封胶 图案可能中断, 或施加到玻璃面板上的密封胶的宽度、 高度或横截面积可能不在预设范围 内, 可能源于很多原因。 0008 因此, 在将密封胶图案施加到玻璃面板上的工艺完成之后, 实施测试工艺, 其中工 人用肉眼检查形成在玻璃面板上的密封胶的宽度、 高度或横截面积, 或者单独的传感器扫 描形成在玻璃面板上的整个密封胶图案。 0009 如果玻璃面板上的密封胶存在缺陷, 则实施修复工艺, 其中将密封胶再次施加到 密封胶图案的有缺陷部分上。 0。

9、010 这样, 在传统技术中, 为了确定密封胶图案是否有缺陷, 在将密封胶施加到玻璃面 板上的工艺完成之后, 必须实施单独的检查工艺。 因此, 即使在密封胶图案的一部分中存在 缺陷, 也不能快速地实施修复密封胶图案的有缺陷部分的工艺。 因此, 最终完成将密封胶施 加到玻璃面板上的工艺所花费的时间增加, 导致可生产 FPD 的生产率降低。 说 明 书 CN 103170434 A 3 2/8 页 4 发明内容 0011 因此, 本发明针对现有技术中存在的上述问题, 且本发明的目的是提供一种密封 胶涂布机, 其将密封胶施加到玻璃面板上以形成密封胶图案, 同时能够实时地测量被施加 到玻璃面板上的密封。

10、胶图案是否有缺陷。 0012 为了实现上述目的, 本发明提供一种密封胶涂布机, 包括 : 涂布头单元, 其具有喷 嘴, 密封胶通过所述喷嘴排出到玻璃面板上 ; 感测单元, 其设置在所述涂布头单元上, 所述 感测单元包括发光部件和受光部件, 所述发光部件发射光, 所述受光部件接收从所述发光 部件发射并由玻璃面板或施加到玻璃面板上的密封胶反射的光 ; 以及控制单元, 其基于从 所述发光部件发射的光量与被接收进所述受光部件内的光量之差来测量施加到玻璃面板 上的密封胶的状态。 附图说明 0013 从结合附图的以下详述中将更清楚理解本发明的上述以及其它目的、 特征和优 点, 其中 : 0014 图 1 。

11、是图示根据本发明第一实施方式的密封胶涂布机的立体图 ; 0015 图 2 是图示图 1 的密封胶涂布机的涂布头单元的立体图 ; 0016 图 3 是图示图 1 的密封胶涂布机的涂布头单元的注射器、 喷嘴和感测单元的侧视 图 ; 0017 图 4 是图示图 1 的密封胶涂布机的感测单元的立体图 ; 0018 图 5 和 6 是示出图 1 的密封胶涂布机的感测单元的其它示例的立体图 ; 0019 图 7 是图示图 1 的密封胶涂布机的感测单元的示意图 ; 0020 图 8 是示出由图 1 的密封胶涂布机施加到玻璃面板上的密封胶的状态的截面图 ; 0021 图 9 至 12 是示出由图 1 的密封胶。

12、涂布机施加到玻璃面板上的密封胶的状态的若 干示例的截面图 ; 0022 图 13 是图示根据本发明第二实施方式的密封胶涂布机的涂布头单元和感测单元 的立体图 ; 0023 图 14 是图示设置在图 13 的密封胶涂布机的涂布头单元中的感测单元的支撑构 件、 发光部件和受光部件的侧视图 ; 以及 0024 图 15 和 16 是示出使用图 13 的密封胶涂布机将密封胶施加到玻璃面板上的操作 的平面图。 具体实施方式 0025 下文, 将参照附图详述根据本发明的密封胶涂布机的优选实施方式。 0026 如图 1 和 3 所示, 根据本发明第一实施方式的密封胶涂布机包括框架 10、 托台 20、 一对。

13、导轨30、 涂布头单元支撑框架40、 涂布头单元50以及控制单元90(参见图7)。 托台20 安装在框架 10 上。玻璃面板 S 放置在托台 20 上。导轨 30 设置在托台 20 的相对侧面上, 并沿 Y 轴方向延伸。涂布头单元支撑框架 40 以涂布头单元支撑框架 40 的相对端部由相应 导轨 30 支撑的方式设置在托台 20 上方。涂布头单元支撑框架 40 沿 X 轴方向延伸预定长 度。涂布头单元 50 设置在涂布头单元支撑框架 40 上, 以能够沿 X 轴方向移动。各涂布头 说 明 书 CN 103170434 A 4 3/8 页 5 单元 50 设置有喷嘴 53。控制单元 90 控制这。

14、些部件的操作, 以使密封胶能施加到玻璃面板 S 上。 0027 此外, X 轴工作台 21 和 Y 轴工作台 22 设置在框架 10 上。X 轴工作台 21 沿 X 轴方 向移动托台 20, Y 轴工作台 22 沿 Y 轴方向移动托台 20。因此, 托台 20 能由 X 轴工作台 21 和 / 或 Y 轴工作台 22 沿 X 轴方向和 / 或 Y 轴方向移动。当然, 可以仅提供 X 轴工作台 21 或 Y 轴工作台 22, 使得托台 20 能仅沿 X 轴方向或 Y 轴方向移动。 0028 移动件 41 设置于涂布头单元支撑框架 40 的相对端部的每一个, 并连接到相应的 导轨 30。涂布头单元。

15、支撑框架 40 能通过导轨 30 与移动件 41 之间的相互作用而沿导轨 30 的纵向 (Y 轴方向 ) 移动。涂布头单元 50 能通过涂布头单元支撑框架 40 的 Y 轴运动而沿 Y 轴方向移动。 0029 头移动导引件42设置在涂布头单元支撑框架40上, 并沿X轴方向定向。 头移动单 元 51 设置在各个涂布头单元 50 上, 并连接到涂布头单元支撑框架 40 的头移动导引件 42。 各个涂布头单元 50 能通过头移动导引件 42 与头移动单元 51 之间的相互作用而沿涂布头 单元支撑框架 40 的纵向 (X 轴方向 ) 移动。 0030 这样, 涂布头单元 50 能在由 X 轴和 Y 轴。

16、限定的 XY 装置坐标系统上沿 X 轴方向和 / 或 Y 轴方向移动。 0031 在根据第一实施方式的密封胶涂布机中, 当托台20移动而涂布头单元50静止时、 或替代地当涂布头单元 50 移动而托台 20 静止时, 可将密封胶 P 施加到玻璃面板 S 上。下 文, 将托台 20 与涂布头单元 50 之间的相对运动定义为喷嘴 53 相对于玻璃面板 S 的相对运 动。 0032 如图 2 和图 3 所示, 各个涂布头单元 50 包括容纳密封胶的注射器 52、 与注射器 52 连通以排出密封胶的喷嘴 53、 邻近喷嘴 53 并测量喷嘴 53 与玻璃面板 S 之间的距离的距传 感器 54、 沿 Y 轴。

17、方向移动喷嘴 53 和距离传感器 54 的 Y 轴驱动单元 55、 沿 Z 轴方向移动喷 嘴 53 和距离传感器 54 的 Z 轴驱动单元 56。 0033 距离传感器54包括发光部件541和受光部件542, 发光部件541发射激光光束, 受 光部件 542 与发光部件 541 间隔开预定距离并接收由玻璃面板 S 所反射的激光光束。距离 传感器 54 将电信号与从发光部件 541 发射出并由玻璃面板 S 反射的激光光束在受光 部件 542 上形成图像所在的图像形成位置相对应输出到控制单元 90。控制单元 90 基 于上述电信号确定玻璃面板 S 与喷嘴 53 之间的距离。 0034 此外, 涂布。

18、头单元50设置有摄像单元58, 摄像单元58以面对玻璃面板S的方式邻 近喷嘴 53 安装。在喷嘴 53 通过涂布头单元支撑框架 40 的 Y 轴运动和 / 或涂布头单元 50 的 X 轴运动而移动时, 摄像单元 58 用于测量喷嘴 53 的当前位置。 0035 如图 3 和图 4 所示, 感测单元 70 设置在涂布头单元 50 上。感测单元 70 包括多个 发光部件 71 和多个受光部件 72, 上述多个发光部件 71 发射光线, 上述多个受光部件 72 接 收从发光部件 71 发射并由玻璃面板 S 或施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 反射的相应光线。 0036 感测单元70邻近喷嘴53设置。

19、。 感测单元70可设置在喷嘴53的连接部件531上, 连接部件 531 连接到注射器 52。详细而言, 感测单元 70 包括具有通孔 731 的支撑构件 73, 支撑构件 73 经由通孔 731 配合到喷嘴 53 上。发光部件 71 和受光部件 72 设置于支撑构件 73 的面对玻璃面板 S 的端部, 并绕通孔 731 即绕喷嘴 53 的出口 532 沿周向以规则间隔设 说 明 书 CN 103170434 A 5 4/8 页 6 置。支撑构件 73 的形状是圆筒形。喷嘴 53 的连接部件 531 插入支撑构件 73 的通孔 731 中。本发明的支撑构件 73 的形状并不局限于这种圆筒形形状。。

20、换言之, 支撑构件 73 可为 任何形状, 只要发光部件 71 和受光部件 72 可设置在支撑构件 73 上并且支撑构件 73 可邻 近喷嘴 53 设置即可。 0037 图 5 和图 6 图示感测单元 70 的其它示例。如图所示, 感测单元 70 可包括矩形支 撑构件 73 和固定构件 733, 矩形支撑构件 73 具有通孔 731, 矩形支撑构件 73 经由通孔 731 配合到喷嘴 53 上, 固定构件 733 安装到矩形支撑构件 73 的四个相应侧表面。多个发光部 件 71 和多个受光部件 72 设置在各固定构件 733 的相应端部中。各固定构件 733 可由支架 78 安装到支撑构件 7。

21、3 的四个侧表面的相应表面。除了支架 78 外, 例如螺钉等的不同类型 的紧固装置均可使用。此外, 如图 5 所示, 发光部件 71 和受光部件 72 可成直线交替设置。 如图 6 所示, 发光部件 71 所形成的组和受光部件 72 所形成的组各自均可成直线设置。在 图 5 和图 6 所示的感测单元 70 中的每一个中, 发光部件 71 和受光部件 72 绕喷嘴 53 设置 在矩形支撑构件 73 的四个侧表面上。因此, 与图 4 中发光部件 71 和受光部件 72 绕喷嘴 53 沿周向设置的示例相比, 尽管利用了减少数量的发光部件 71 和受光部件 72, 但也能可靠地 实施发光操作和受光操作。

22、。 0038 本发明并不局限于支撑构件 73 设置在喷嘴 53 的连接部件 531 上的结构。例如, 支撑构件 73 可设置在注射器 52 的连接部件 521 上, 连接部件 521 连接到喷嘴 53。在这种 情况中, 注射器 52 的连接部件 521 配合进支撑构件 73 的通孔 731 中。此外, 感测单元 70 的安装位置并不局限于上述位置。换言之, 感测单元 70 能设置于涂布头单元 50 的各种位 置, 只要发光部件 71 和受光部件 72 能设置成面对玻璃面板 S 或施加到玻璃面板 S 上的密 封胶 P 即可。 0039 如图 7 所示, 发光部件 71 通过由例如光纤等物质制成的。

23、连接线 711 连接到发光装 置 75。受光部件 72 通过由例如光纤等物质制成的连接线 721 连接到受光装置 76。发光装 置 75 和受光装置 76 连接到控制单元 90。在这种构造中, 控制单元 90 控制发光装置 75, 使 得发光部件 71 能发射预定的光量。受光装置 76 感测进入受光部件 72 的光量。控制单元 90 将由受光部件 72 接收并由受光装置 76 感测到的光量与从发光部件 71 发射的光量进行 比较, 因此测量施加到玻璃面板 S 上的密封胶的状态。 0040 发光装置 75 可包括以预定发射强度发射红外线或激光光束的发光二极管 (LED)、 半导体激光二极管等。受。

24、光装置 76 可包括将进入受光部件 72 的光能转换成电信号的光电 二极管、 摄像管等。 0041 此外, 光开关 79 设置在分别将发光部件 71 和受光部件 72 连接到发光装置 75 和 受光装置 76 的连接线 711 和 721 上。光开关 79 连接到控制单元 90, 并根据控制单元 90 的 控制信号操作。从外部施加电场从而中断光传输通过光纤的装置、 基于液晶材料的光学特 性利用从外部施加的电场中断光的装置、 机械式地在两种状态之间切换光纤的机械装置等 均可用作光开关 79。 0042 这种光开关 79 可设置在分别连接到发光部件 71 和受光部件 72 的连接线 711 和 7。

25、21中的每一个上, 使得光开关79中断传输到相应的发光部件71的光以及进入相应的受光 部件 72 的光。替代地, 若干发光部件 71 和若干受光部件 72 可连接到单个光开关 79 作为 单个组。 说 明 书 CN 103170434 A 6 5/8 页 7 0043 具体地, 如图 5 和 6 所示, 在发光部件 71 和受光部件 72 绕喷嘴 53 呈直线设置于 四个侧面的示例中, 设置在各侧上的发光部件 71 和受光部件 72 可形成单个组并连接到单 个光开关 79。 0044 发光部件 71 可为连接到发光装置 75 的光纤的远端。受光部件 72 可为连接到受 光装置 76 的光纤的远。

26、端。然而, 本发明并不局限于这种构造。例如, 发光装置 75 本身可包 括每个发光部件 71。相应地, 受光装置 76 本身可包括每个受光部件 72。换言之, 感测单元 70 可构造成使得多个发光装置 75 和多个受光装置 76 绕喷嘴 53 以预定间隔设置。 0045 参见图 8, 部分 A 将用于表示施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 的高度、 宽度以及横 截面积为最佳的部分 ; 部分B将用于表示施加到玻璃面板S上的密封胶P的高度、 宽度以及 横截面积低于最佳的部分 ; 部分C将用于表示没有密封胶被施加到玻璃面板S的中断部分 ; 以及部分 D 将用于表示施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 。

27、的高度、 宽度以及横截面积超过最 佳的部分。在假设这些指定的情况下描述感测单元 70 在每部分中的操作。 0046 首先, 如图 9 所示, 在部分 C 中, 当从发光部件 71 发射出的光由玻璃面板 S 的上表 面反射时, 因为没有密封胶被施加到玻璃面板S, 因此既没有光损失也没有光散射。 因此, 进 入受光部件 72 的光量大于部分 A、 B 或 D。 0047 如图 10 所示, 在部分 B 中, 当从发光部件 71 发射出的光由施加到玻璃面板 S 的上 表面上的密封胶 P 反射时, 一些光会因密封胶 P 损失并散射。然而, 因为密封胶 P 的高度、 宽度以及横截面积小于部分 A, 因此。

28、损失或散射的光量少于部分 A。因此, 进入受光部件 72 的光量大于部分 A, 但它少于部分 C。 0048 如图 11 所示, 在部分 A 中, 当从发光部件 71 发射出的光由最佳地施加到玻璃面板 S 的上表面上的密封胶 P 反射时, 一些光会因密封胶 P 损失并散射, 然后其余的光进入受光 部件 72。在此, 进入受光部件 72 的光量少于部分 B 或部分 C。 0049 如图 12 所示, 在部分 D 中, 当从发光部件 71 发射出的光由施加到玻璃面板 S 的上 表面上的密封胶 P 反射时, 一些光会因密封胶 P 损失并散射。然而, 因为密封胶 P 的高度、 宽度以及横截面积大于部分。

29、 A, 因此损失或散射的光量大于部分 A。因此, 进入受光部件 72 的光量小于部分 A、 部分 B 或部分 C。 0050 这样, 假定发射的光量是恒定的, 则没有密封胶被施加到玻璃面板S上的部分C的 接收的光量最大, 并且以部分 B、 部分 A 和部分 D 的次序所接收的光量依次减少。这可由如 下的式子表达。 0051 ( 部分 C 的接收的光量 ) ( 部分 B 的接收的光量 ) ( 部分 A 的接收的光量 ) ( 部分 D 的接收的光量 ) 0052 考虑这个式子, 当预定量的光从发光部件 71 发射出、 并由玻璃面板 S 反射 ( 即中 断部分 C) 或由施加到玻璃面板 S 上的密封。

30、胶 P 反射 ( 即部分 B、 A 或 D)、 然后被接收进受光 部件 72 时, 测量所接收的光量, 并将各部分的接收的光量和发射的光量之差与最佳情况相 比较。然后, 可确定施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 的高度、 宽度以及横截面积是否最佳、 密封胶图案 P 是否中断、 或者密封胶 P 的高度、 宽度以及横截面积是否低于或超过最佳。 0053 如果将密封胶 P 的高度、 宽度以及横截面积不同于最佳情况的部分细分成若干个 部分, 且能通过执行若干测试或模拟来获得与各部分的密封胶 P 的高度、 宽度以及横截面 积有关的数据以及与各部分中发射的光量和接收的光量之差有关的数据, 则能够根据在光 。

31、说 明 书 CN 103170434 A 7 6/8 页 8 从发光部件 71 发射出之后测量接收进入受光部件 72 的光量来确定各部分的密封胶 P 的高 度、 宽度以及横截面积。 0054 此外, 基于执行如下的若干测试或模拟的结果, 即其中在改变发射的光量的同时 将光发射到多个部分上、 且在密封胶P反射光之后测量被接收进受光部件72中的光量的变 化, 能获得与根据发射的光量变化而定的各部分所接收的光量变化有关的数据。 然后, 基于 与根据发射的光量变化而定的所接收的光量变化有关的数据, 能确定各部分中密封胶 P 的 高度、 宽度以及横截面积。 0055 下文, 将解释根据本发明第一实施方式。

32、的密封胶涂布机的操作。 0056 首先, 当喷嘴 53 相对于玻璃面板 S 移动时, 密封胶 P 从喷嘴 53 的出口 532 排出, 并以预定图案施加到玻璃面板 S 上。 0057 同时, 光从发光部件71朝玻璃面板S以及已施加到玻璃面板S上的密封胶P发射。 在此, 关于喷嘴 53 相对于玻璃面板 S 移动的方向而言, 密封胶 P 在玻璃面板 S 上并不位于 喷嘴 53 前侧、 左侧、 右侧。因此, 在受光部件 72 之中, 关于喷嘴 53 相对于玻璃面板 S 的运 动方向而言设置在喷嘴 53 前侧、 左侧、 右侧处的受光部件 72 接收被玻璃面板 S 反射的光。 另一方面, 在受光部件 7。

33、2 之中, 关于喷嘴 53 相对于玻璃面板 S 的运动方向而言设置在喷嘴 53 后侧的受光部件 72 接收由施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 所反射的光。 0058 在如上所述的发光部件 71 和受光部件 72 分别经由光开关 79 连接到发光装置 75 和受光装置 76 的示例中, 光开关 79 可以中断光从发光装置 75 到关于喷嘴 53 相对于玻璃 面板 S 的运动方向而言设置在喷嘴 53 前侧、 左侧、 右侧的发光部件 71 的传输。此外, 在光 已被接收进受光部件 72 之后, 光开关 79 可以中断光从相应的受光部件 72 到受光装置 76 的传输。因此, 防止了光的过量发射, 。

34、因此增加了能用于测量的光的强度。另外, 能防止不 需要的光进入受光装置 76 和干涉能用于测量目的的光。结果, 可提高测量精度。 0059 控制单元 90 测量关于喷嘴 53 相对于玻璃面板 S 的运动方向而言设置在喷嘴 53 后侧的发光部件 71 所发射的光量与关于喷嘴 53 相对于玻璃面板 S 的运动方向而言设置在 喷嘴 53 后侧的受光部件 72 所接收的光量之间的差异。 0060 进一步地, 基于所发射光量与所接收光量之间的测得差异, 控制单元 90 实时地检 查施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 的状态。 0061 如果所发射光量与所接收光量之间的测得差异低于预设的最佳范围, 换言之。

35、, 如 果测得差异位于对应于部分 C 或 B 的范围内, 则控制单元 90 基于所发射光量与所接收光量 之间的测得差异以及与所发射光量和所述所接收光量之间的差异有关的预设数据来确定 密封胶图案 P 是否中断、 或对于最佳基准水平而言被施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 缺少 多少量。如果控制单元 90 确定施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 中断, 则控制单元 90 存储 与相应测得部分的坐标 ( 例如 XY 坐标 ) 有关的数据。在密封胶图案 P 中断的情况下将密 封胶 P 重新施加到上述部分的修复工艺可利用测得部分的坐标数据。如果控制单元 90 确 定施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 的。

36、量与最佳基准水平相比缺少预定量, 则控制单元 90 存 储相应测得部分的坐标数据 ( 例如 XY 坐标 ) 以及与密封胶 P 的短缺量有关的数据。测得 部分的坐标数据以及与密封胶 P 的短缺量有关的数据可用于修复工艺中, 其中将密封胶 P 重新施加到所施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 与最佳基准水平相比短缺的部分。 0062 如果所发射光量与所接收光量之间的测得差异超出预设最佳范围, 换言之, 如果 说 明 书 CN 103170434 A 8 7/8 页 9 测得差异在对应于部分D的范围内, 则控制单元90基于所发射光量与所接收光量之间的测 得差异以及与所发射光量和所接收光量之间的差异有关。

37、的预设数据来确定施加到玻璃面 板 S 上的密封胶 P 高出最佳基准水平多少。如果控制单元 90 确定施加到玻璃面板 S 上的 密封胶 P 的量超过最佳基准水平预定量, 则控制单元 90 存储相应测得部分的坐标数据 ( 例 如 XY 坐标 ) 以及与密封胶 P 的超出量有关的数据。与测得部分的坐标有关的数据以及与 密封胶 P 的超出量有关的数据可用在对施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 的量超过最佳基准 水平的部分进行修复的工艺中。 0063 如果所发射光量与所接收光量之间的测得差异在预设最佳范围内, 换言之, 如果 测得差异在对应于部分A的范围内, 则控制单元90基于所发射光量与所接收光量之间。

38、的测 得差异以及与所发射光量和所接收光量之间的差异有关的预设数据确定最佳量的密封胶 P 已被施加到玻璃面板 S。在这种情况下, 控制单元 90 存储已最佳施加了密封胶 P 的相应测 得部分的坐标数据 ( 例如 XY 坐标 )。 0064 如上所述, 在根据第一实施方式的密封胶涂布机中, 在将密封胶 P 施加到玻璃面 板 S 上的过程中, 密封胶涂布机发射光到玻璃面板 S 或施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 上, 并接收由玻璃面板S或施加到玻璃面板S上的密封胶P反射的光。 由此, 密封胶涂布机能基 于所发射光量与所接收光量之差来确定施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 是否中断、 或者施 加到玻。

39、璃面板 S 上的密封胶 P 的量是小于预设最佳基准范围还是大于预设最佳基准范围。 因此, 根据第一实施方式的密封胶涂布机能实时地测量施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 是 否有缺陷。因此, 与在将密封胶 P 施加到玻璃面板 S 上的工艺之后需要实施单独的检测工 艺的传统技术相比, 能快速地确定密封胶图案 P 是否有缺陷。由此, 也能快速地执行修复有 缺陷部分的工艺。最终, 可减少完成将密封胶 P 施加到玻璃面板 S 的工艺所花费的时间, 因 此提高生产 FPD 的生产率。 0065 下文, 将参照图 13 至图 16 描述根据本发明第二实施方式的密封胶涂布机。在第 二实施方式的描述中, 相同参。

40、考标号将用于标示与第一实施方式中相同的部件, 不再进行 进一步的描述。 0066 如图 13 和 14 所示, 在根据第二实施方式的密封胶涂布机中, 感测单元 70 包括支 撑构件 74 和移动装置 77。发光部件 71 和受光部件 72 设置在支撑构件 74 的端部内。移动 装置 77 移动支撑构件 74, 使得发光部件 71 和受光部件 72 对置并面对从喷嘴 53 排出的密 封胶 P。 0067 详细而言, 支撑构件 74 朝玻璃面板 S 延伸预定长度。此外, 支撑构件 74 的形状并 不局限于此, 只要发光部件 71 和受光部件 72 能设置在支撑构件 74 内并面对玻璃面板 S 即 。

41、可。发光部件 71 和受光部件 72 设置在支撑构件 74 的面对玻璃面板 S 的端部内。以与上 述第一实施方式相同的方式, 发光部件 71 和受光部件 72 分别通过连接线 711 和 721 连接 到发光装置 75 和受光装置 76( 参见图 7)。发光部件 71 可为连接到发光装置 75 的光纤的 远端, 受光部件 72 可为连接到受光装置 76 的光纤的远端。然而, 本发明并不局限于这种构 造。例如, 发光装置 75 本身可包括发光部件 71。相应地, 受光装置 76 本身可包括受光部件 72。换言之, 感测单元 70 可构造成使得发光装置 75 和受光装置 76 设置在支撑构件 74。

42、 的 面对玻璃面板 S 的端部内。 0068 移动装置77作用为在关于喷嘴53相对于玻璃面板S的运动方向而言位于喷嘴53 说 明 书 CN 103170434 A 9 8/8 页 10 后侧的玻璃面板 S 上设置如下区域 ( 下文称作测量区域 MP, 参见图 15 和图 16), 即从发射 部件 71 发射的光施加到该区域并且由该区域反射光。移动装置 77 包括安装到涂布头单元 50 的转动马达 771、 连接到转动马达 771 并通过转动马达 771 的转动力转动的转动轴 772、 以及将转动轴 772 连接到支撑构件 74 的连接构件 773。具有这种构造的移动装置 77 连接 到支撑构件。

43、74, 并关于竖直轴线(例如平行于Z轴的轴线)绕喷嘴53转动支撑构件74。 由 此, 发光部件 71 和受光部件 72 也绕喷嘴 53 转动。支撑构件 74 的转动中心与转动轴 772 的转动中心相同。 0069 在具有上述构造的第二实施方式中, 如图 15 和图 16 所示, 当喷嘴 53 相对于玻璃 面板 S 移动时, 密封胶 P 从喷嘴 53 的出口 532 排出, 并沿虚施加线 L 施加到玻璃面板 S 上。 测量区域 MP 设置在关于喷嘴 53 相对于玻璃面板 S 的运动方向而言喷嘴 53 的后侧, 也即密 封胶 P 刚从喷嘴 53 施加到玻璃面板 S 的区域。 0070 为了沿着密封。

44、胶P的施加线L设置测量区域MP, 通过移动装置77的操作绕喷嘴53 转动支撑构件 74, 使得发光部件 71 和受光部件 72 绕喷嘴 53 转动。例如, 如图 15 所示, 在 玻璃面板 S 上的线性密封胶施加部分内, 测量区域 MP 设置在喷嘴 53 之后, 然后密封胶施加 到玻璃面板 S 上。如图 16 所示, 在玻璃面板 S 上的弯曲状密封胶施加部分内, 支撑构件 74 沿图 16 的顺时针方向转动, 使得能连续地在密封胶 P 的施加线 L 上设置测量区域 MP。相继 并连续地实施这些操作, 使得在发光部件 71 发射光到测量区域 MP 上且受光部件 72 接收从 测量区域 MP 反射。

45、的光的同时, 测量区域 MP 能追踪玻璃面板 S 的线性密封胶施加部分和弯 曲状密封胶施加部分的施加线 L。 0071 从发光部件 71 发射光的操作、 接收由玻璃面板 S 或施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 反射的光的操作、 以及测量施加到玻璃面板 S 上的密封胶 P 的状态的操作, 与第一实施方 式相同。 0072 如上所述, 在根据第二实施方式的密封胶涂布机中, 发光部件71和受光部件72能 移动使得它们追踪密封胶P施加到玻璃面板S上所沿的施加线L。 因此, 可以仅提供并使用 单个发光部件 71 和单个受光部件 72 以用于测量沿着施加线 L 施加到玻璃面板 S 上的密封 胶 P 的状。

46、态。因此, 与具有多个发光部件 71 和多个受光部件 72 的根据第一实施方式的密 封胶涂布机相比, 根据第二实施方式的密封胶涂布机可减少发光部件 71 的数量和受光部 件 72 的数量, 简化发光部件 71 和受光部件 72 分别连接到发光装置 75 和受光装置 76 的构 造。 0073 此外, 在根据第二实施方式的密封胶涂布机中, 发光部件71和受光部件72能被准 确地设置于施加线 L 上的目标位置, 因此提高测量所施加的密封胶 P 的状态的精度。 0074 如上所述, 根据本发明的密封胶涂布机能实时检测已被施加到玻璃面板上的密封 胶是否有缺陷。因此, 与在将密封胶施加到玻璃面板上的工艺。

47、之后需要实施单独的检测工 艺的传统技术相比, 本发明可快速地确定密封胶图案是否有缺陷, 也可快速地实施修复有 缺陷部分的工艺。 结果, 可减少完成将密封胶施加到玻璃面板的工艺所花费的时间, 因此提 高生产 FPD 的生产率。 0075 虽然为了例示目的已公开了本发明的优选实施方式, 但本领域技术人员将了解, 在不脱离所附权利要求公开的本发明的范围和主旨的情况下, 可以进行各种修改、 添加和 替代。 说 明 书 CN 103170434 A 10 1/13 页 11 图 1 说 明 书 附 图 CN 103170434 A 11 2/13 页 12 图 2 说 明 书 附 图 CN 103170。

48、434 A 12 3/13 页 13 图 3 说 明 书 附 图 CN 103170434 A 13 4/13 页 14 图 4 说 明 书 附 图 CN 103170434 A 14 5/13 页 15 图 5 说 明 书 附 图 CN 103170434 A 15 6/13 页 16 图 6 说 明 书 附 图 CN 103170434 A 16 7/13 页 17 图 7 说 明 书 附 图 CN 103170434 A 17 8/13 页 18 图 8 图 9 说 明 书 附 图 CN 103170434 A 18 9/13 页 19 图 10 图 11 说 明 书 附 图 CN 103170434 A 19 10/13 页 20 图 12 说 明 书 附 图 CN 103170434 A 20 11/13 页 21 图 13 说 明 书 附 图 CN 103170434 A 21 12/13 页 22 图 14 图 15 说 明 书 附 图 CN 103170434 A 22 13/13 页 23 图 16 说 明 书 附 图 CN 103170434 A 23 。

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