一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置.pdf

本发明公开了一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置，该方法包括：获取N片触摸屏的每一个像素点的电容值，其中每一片触摸屏具有M个像素点，M为大于0的整数，N为正整数；计算N片触摸屏上相同的第i个位置的像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中i＝1，2，…，M-1，M；判断N片触摸屏上的N*M个像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内；当判定任意1片触摸屏上的任意1个像素点的电容值均在其对应位置的像素点电容值参考范围内，设置第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。本发明解决了现有技术中电容值检测存在的漏判、过判问题。

权利要求书
1.  一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法，其特征在于，包括：
步骤一、获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，每一片所述触摸屏具有M个所述像素点，M为大于0的整数，N为正整数；
步骤二、计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中，i＝1，2，…，M-1，M；
步骤三、判断N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内；
步骤四、当判定任意1片所述触摸屏上的任意1个所述像素点的电容值均在其对应位置的所述像素点电容值参考范围内，设置所述第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。

2.  根据权利要求1所述的获取方法，其特征在于，计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，具体包括：
根据N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值，计算第i个位置像素点的电容值均值和方差；
根据所述第i个位置像素点的电容值均值和方差，按照如下公式计算第i个位置的像素点电容值参考范围：
LimitD_i＝μ_i-cpk*3*δ_i
LimitU_i＝μ_i+cpk*3*δ_i
其中，limitD_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的下限， limitU_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的上限，μ_i为所述第i个位置像素点的电容值均值，δ_i为所述第i个位置像素点的电容值方差，cpk为制程能力参数。

3.  根据权利要求2所述的获取方法，其特征在于，所述制程能力参数cpk具体为：2≥cpk≥1.67。

4.  根据权利要求1所述的获取方法，其特征在于，当步骤三判定N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点中至少一个所述像素点的电容值不在其对应位置的像素点电容值参考范围内时，该方法还包括：
当判定L片所述触摸屏中的任意1片所述触摸屏上的1个或多个所述像素点的电容值超出其对应位置的像素点电容值参考范围，从获取的N片所述触摸屏的像素点的电容值中去除该L片所述触摸屏的像素点的电容值，其中，L为整数且N≥L>0；
返回步骤一，当N>L>0时该步骤一当前获取的电容值为剩余N-L片所述触摸屏的每一个所述像素点的电容值，当N＝L时该步骤一重新获取X片触摸屏的每一个像素点的电容值并且当前获取的X片所述触摸屏为N片所述触摸屏之外的其他X片所述触摸屏，并依次执行步骤一至步骤四。

5.  根据权利要求1所述的获取方法，其特征在于，所述获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值具体为至少获取30片所述触摸屏的每一个像素点的电容值。

6.  一种触摸屏的检测方法，其特征在于，包括：
采用权利要求1-5任一项所述的获取方法获取所述触摸屏的像素点电容值检测范围；
获取所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，所述触摸屏具有K个像素点，K为大于0的整数；
判断所述触摸屏的第j个像素点的电容值是否在其对应位置像素点电容值检测范围内，其中，j＝1，2，…，K-1，K；
当所述触摸屏的每一个像素点的电容值均在其对应位置像素点电容值检测范围内，判定所述触摸屏为合格触摸屏，或者
当所述触摸屏的至少一个像素点的电容值不在其对应位置像素点电容值检测范围内，判定所述触摸屏为不合格触摸屏。

7.  一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取装置，其特征在于，包括：
电容值获取模块，用于获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，每一片所述触摸屏具有M个所述像素点，M为大于0的整数，N为正整数；
计算模块，用于计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中，i＝1，2，…，M-1，M；
判断模块，用于判断N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内；
设置模块，用于当判定任意1片所述触摸屏上的任意1个所述像素点的电容值均在其对应位置的所述像素点电容值参考范围内，设置所述第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。

8.  根据权利要求7所述的获取装置，其特征在于，所述计算模块包括：
第一计算单元，用于根据N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值，计算第i个位置像素点的电容值均值和方差；
第二计算单元，用于根据所述第i个位置像素点的电容值均值和方差，按照如下公式计算第i个位置的像素点电容值参考范围：
LimitD_i＝μ_i-cpk*3*δ_i
LimitU_i＝μ_i+cpk*3*δ_i
其中，limitD_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的下限，limitU_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的上限，μ_i为所述第i个位置像素点的电容值均值，δ_i为所述第i个位置像素点的电容值方差，cpk为制程能力参数。

9.  根据权利要求8所述的获取装置，其特征在于，所述制程能力参数cpk具体为：2≥cpk≥1.67。

10.  根据权利要求7所述的获取装置，其特征在于，当所述判断模块判定N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点中至少一个所述像素点的电容值不在其对应位置的像素点电容值参考范围内时，该装置还包括：
去除模块，用于当判定L片所述触摸屏中的任意1片所述触摸屏上的1个或多个所述像素点的电容值超出其对应位置的像素点电容值参考范围，从获取的N片所述触摸屏的像素点的电容值中去除该L片所述触摸屏的像素点的电容值，其中，L为整数且N≥L>0；
返回模块，用于返回所述电容值获取模块，当N>L>0时所述电容值获取模块当前获取的电容值为剩余N-L片所述触摸屏的每一个所述像素点的电容值，当N＝L时所述电容值获取模块重新获取X片触摸屏的每一个像素点的电容值并 且当前获取的X片所述触摸屏为N片所述触摸屏之外的其他X片所述触摸屏，并依次执行计算模块、判断模块和设置模块。

11.  根据权利要求7所述的获取装置，其特征在于，所述电容值获取模块具体为至少获取30片所述触摸屏的每一个像素点的电容值。

说明书一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置
技术领域
本发明涉及触摸屏检测技术，尤其涉及一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置，以及根据触摸屏的像素点电容值检测范围对触摸屏进行检测的触摸屏检测方法。
背景技术
随着数字时代来临，触摸屏已广泛应用于手持电子产品中，越来越多的手机、平板电脑等产品采用电容式触摸屏作为显示屏幕。电容式触摸屏是利用人体的电流感应进行工作，当手指接触电容式触摸屏时，通过触摸屏上电流的变化，得出触摸点位置。在电容式触摸屏的生产制造过程中，需要对所制造的电容式触摸屏进行检测，从而甄选出合格的触摸屏，其中，合格的触摸屏是指该触摸屏上每个像素(pixel)点的电容值均在正常范围内，因此检测触摸屏是否合格的过程即是对触摸屏每个像素点进行检测的过程。
发明内容
现有技术提供的互电容触摸屏的检测方法，首先通过查看电容值三维图随机收集至少30片合格触摸屏的电容值数据，其次针对每一个像素点计算出该像素点的30片触摸屏电容平均值，最后根据经验或芯片供应商建议，将整片触摸屏每个像素点的电容上下限值(limit)设定为某一相同值，通常设定该limit为像素点电容平均值的±20％，由此整片触摸屏每个像素点电容值检测范围设定完 成。根据设定的limit值，对任意一片触摸屏进行检测，当整片触摸屏任意一个像素点的电容值均在其对应的像素点电容平均值的±20％波动范围之内，则判定该触摸屏为合格触摸屏，若整片触摸屏的至少一个像素点的电容值超出其像素点电容平均值的±20％波动范围，则判定该触摸屏为不合格触摸屏。
可以看出，首先，触摸屏每个像素点实际的电容值波动范围并不完全相同，因此当对每个pixel以相同的limit进行检测时会产生过判或漏判现象。以MOTO4.3qHD在上海模组段的Limit为例，该limit被设定为±25％，某片T3R8处检测到的容值波动为-24.816％，该像素点视为合格点，然而如图1所示为该触摸屏的实际容值三维图，由图可知此点应视为坏点(NG)点，由此说明预先设定的Limit为25％会导致漏判；其次，通过查看电容值三维图确定某触摸屏为合格品或次品时，由于带有较大的主观性，因此并不能确保每个人的判定结果相同；最后，现有技术中准确的触摸屏容值Limit需要经过复杂的实验验证才能确定，耗费人力物力较大。
有鉴于此，本发明提供一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置，以解决现有技术的问题。
第一方面，本发明提供的一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法，该方法包括：
步骤一、获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，每一片所述触摸屏具有M个所述像素点，M为大于0的整数，N为正整数；
步骤二、计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中，i＝1，2，…，M-1，M；
步骤三、判断N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内；
步骤四、当判定任意1片所述触摸屏上的任意1个所述像素点的电容值均在其对应位置的所述像素点电容值参考范围内，设置所述第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。
进一步地，计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，具体包括：
根据N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值，计算第i个位置像素点的电容值均值和方差；
根据所述第i个位置像素点的电容值均值和方差，按照如下公式计算第i个位置的像素点电容值参考范围：
LimitD_i＝μ_i-cpk*3*δ_i
LimitU_i＝μ_i+cpk*3*δ_i
其中，limitD_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的下限，limitU_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的上限，μ_i为所述第i个位置像素点的电容值均值，δ_i为所述第i个位置像素点的电容值方差，cpk为制程能力参数。
进一步地，所述制程能力参数cpk具体为：2≥cpk≥1.67。
进一步地，当步骤三判定N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点中至少一个所述像素点的电容值不在其对应位置的像素点电容值参考范围内时，该方法还包括：
当判定L片所述触摸屏中的任意1片所述触摸屏上的1个或多个所述像素 点的电容值超出其对应位置的像素点电容值参考范围，从获取的N片所述触摸屏的像素点的电容值中去除该L片所述触摸屏的像素点的电容值，其中，L为整数且N≥L>0；
返回步骤一，当N>L>0时该步骤一当前获取的电容值为剩余N-L片所述触摸屏的每一个所述像素点的电容值，当N＝L时该步骤一重新获取X片触摸屏的每一个像素点的电容值并且当前获取的X片所述触摸屏为N片所述触摸屏之外的其他X片所述触摸屏，并依次执行步骤一至步骤四。
进一步地，所述获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值具体为至少获取30片所述触摸屏的每一个像素点的电容值。
第二方面，本发明提供的一种触摸屏的检测方法，该方法包括：
采用第一方面所述的获取方法获取所述触摸屏的像素点电容值检测范围；
获取所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，所述触摸屏具有K个像素点，K为大于0的整数；
判断所述触摸屏的第j个像素点的电容值是否在其对应位置像素点电容值检测范围内，其中，j＝1，2，…，K-1，K；
当所述触摸屏的每一个像素点的电容值均在其对应位置像素点电容值检测范围内，判定所述触摸屏为合格触摸屏，或者
当所述触摸屏的至少一个像素点的电容值不在其对应位置像素点电容值检测范围内，判定所述触摸屏为不合格触摸屏。
第三方面，本发明提供了一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取装置，该装置包括：
电容值获取模块，用于获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其 中，每一片所述触摸屏具有M个所述像素点，M为大于0的整数，N为正整数；
计算模块，用于计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中，i＝1，2，…，M-1，M；
判断模块，用于判断N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内；
设置模块，用于当判定任意1片所述触摸屏上的任意1个所述像素点的电容值均在其对应位置的所述像素点电容值参考范围内，设置所述第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。
进一步地，所述计算模块包括：
第一计算单元，用于根据N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值，计算第i个位置像素点的电容值均值和方差；
第二计算单元，用于根据所述第i个位置像素点的电容值均值和方差，按照如下公式计算第i个位置的像素点电容值参考范围：
LimitD_i＝μ_i-cpk*3*δ_i
LimitU_i＝μ_i+cpk*3*δ_i
其中，limitD_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的下限，limitU_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的上限，μ_i为所述第i个位置像素点的电容值均值，δ_i为所述第i个位置像素点的电容值方差，cpk为制程能力参数。
进一步地，所述制程能力参数cpk具体为：2≥cpk≥1.67。
进一步地，当所述判断模块判定N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点中至少一个所述像素点的电容值不在其对应位置的像素点电容值参考范围内时，该装置还包括：
去除模块，用于当判定L片所述触摸屏中的任意1片所述触摸屏上的1个或多个所述像素点的电容值超出其对应位置的像素点电容值参考范围，从获取的N片所述触摸屏的像素点的电容值中去除该L片所述触摸屏的像素点的电容值，其中，L为整数且N≥L>0；
返回模块，用于返回所述电容值获取模块，当N>L>0时所述电容值获取模块当前获取的电容值为剩余N-L片所述触摸屏的每一个所述像素点的电容值，当N＝L时所述电容值获取模块重新获取X片触摸屏的每一个像素点的电容值并且当前获取的X片所述触摸屏为N片所述触摸屏之外的其他X片所述触摸屏，并依次执行计算模块、判断模块和设置模块。
进一步地，所述电容值获取模块具体为至少获取30片所述触摸屏的每一个像素点的电容值。
本发明提供的一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置，根据获取的触摸屏像素点的电容值，计算均值和方差，以得出像素点电容值参考范围，并将像素点电容值与对应位置的像素点电容值参考范围进行比较，以此获知该像素点是否为合格品，只有当所获取触摸屏的每一个像素点的电容值均在其对应位置像素点电容值参考范围内，才将对应位置像素点电容值参考范围设置为对应位置像素点电容值检测范围，通过像素点电容值检测范围对其他任意触摸屏进行检测。本发明无需通过查看三维图确定触摸屏是否为合格品，解决了不同人之间判断主观性的问题，其次针对每个像素点单独设定检测范围， 解决了不同像素点电容值波动不一样的问题，最后当工艺参数发生变化时无需经过复杂实验确定相应电容值波动上下限，只需收集当前触摸屏的电容值数据，采用本发明提供的方法和/或装置即可计算得出，本发明计算方法简单，不会造成漏判或过判，解决了现有技术像素点电容值检测上下限存在的漏判、过判问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为MOTO4.3qHD触摸屏的实际容值三维图；
图2为本发明提供的102片合格触摸屏的像素点电容值的分布图；
图3为本发明实施例一提供的一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法的流程图；
图4为本发明实施例三提供的一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取装置的示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将参照本发明实施例中的附图，通过实施方式清楚、完整地描述本发明的技术方案，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施 例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
参考图2，为本发明提供的102片合格触摸屏的像素点电容值的分布图，在提出本发明的技术方案之前，工作人员统计了至少102片合格触摸屏的电容值数据，经验证触摸屏的每一个像素点电容值均服从正态分布，图2为拟合之后每一个像素点电容值的分布规律，其中，纵轴代表概率密度，横轴代表像素点电容值，由此可知，合格触摸屏的各像素点的电容值应分布在以中心值(0.36)为基准的某一范围内，因此基于制程能力参数(CPK，Complex Process Capability index)对每一个像素点设置不完全相同的limit才能不会对任意触摸屏造成过判、漏判问题。CPK用于表示制程能力，反映了制程合格率的高低，CPK越大，制程能力才能更强，可生产出质量优异、可靠性高的产品。
实施例一
参考图3，为本发明实施例一提供的一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法的流程图。本实施例的技术方案适用于基于循环算法获取触摸屏每个像素点的容值检测范围，以对相同的任意一片触摸屏进行检测的情况。该基于循环算法的像素点容值检测范围获取方法是利用计算机运算速度快、适合做重复性操作的特点，对一定步骤(或一组指令)进行重复执行，在每次执行这些步骤(或这组指令)时，都从变量的原值推出它的一个新值。该方法可以通过触摸屏的像素点电容值检测范围的获取装置来执行，该装置可以采用软件和/或硬件的方式实现，配置在计算机中执行。
如图3所示，该方法包括以下步骤：
步骤110、获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，每一片 所述触摸屏具有M个所述像素点，M为大于0的整数，N为正整数。
如上所述，像素点英文为Pixel，又叫Picture element，像素点具有存储电容，当像素点输出数据时，首先会需要将数据先写入像素点的存储电容中，等到写入周期结束，亦即数据以电荷形式对存储电容充电后，像素点开始呈现图像数据，从计算机技术的角度来解释，像素是指显示屏的画面上表示出来的最小单位。每一个触摸屏具有多个像素点，获取触摸屏的电容值即是获取触摸屏上每一个像素点的存储电容中的电容值，在此，设定触摸屏具有以阵列形式排列的M个像素点。
优选地，所述获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值具体为至少获取30片所述触摸屏的每一个像素点的电容值。
如上所述，N片触摸屏中任意一片触摸屏的像素点总数为M，且触摸屏上相同位置均各自具有一个像素点。当设定N至少为30时，随机收集至少30片触摸屏的每一个像素点的电容值，相应的，即获取了30*M个像素点的电容值，在此，不需要考虑各像素点的电容值是否异常，也不需要考虑触摸屏是否为合格品，而故障、短路或未烧录等质量不合格品触摸屏或非同类触摸屏则不应作为目标触摸屏。
本步骤110仅需随机获取至少N片正常触摸屏的电容值数据，与现有技术相比，不需要通过查看容值三维图确定像素点电容值分布合格与否，由此确保了不会根据个人主观性出现不同的判定检测结果，使后续获取的像素点电容值检测范围准确。
步骤120、计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中，i＝1，2，…， M-1，M。
如上所述，均值(平均数)是表示一组数据集中趋势的量数，为一组数据的和除以这组数据的个数所得的商，在统计工作中，均值描述了数据资料集中趋势和离散程度，也描述了数据集中位置的一个统计量。方差是各个数据分别与其均值之差的平方的和的平均数，用来度量随机变量和其数学期望(均值)之间的偏离程度，在统计工作中，方差描述了数据偏离中心的程度，衡量了数据的波动大小，方差越大，说明数据波动越大，越不稳定。
在此，计算N片触摸屏上相同位置的像素点电容值的均值和方差，则可相应了解触摸屏相同位置的像素点的电容值波动大小和稳定性。本步骤中需要依次获取触摸屏上每一个相同位置的像素点的均值和方法，在此，每一个相同位置对应的像素点个数为N，相应可获取N个电容值数据。
对于步骤120，在此优选的一个实施方式具体包括：
步骤121、根据N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值，计算第i个位置像素点的电容值均值和方差。
已知在步骤110中，获取了N片触摸屏的每一个像素点的电容值，本步骤中需要针对N片触摸屏上相同的第i个位置的像素点电容值计算对应的均值和方差，在此，以N片触摸屏上相同的第1个位置为例，从获取的N*M个像素点电容值数据中提取出N片触摸屏的相同的第1个位置的像素点电容值，由此可提取出N个像素点电容值。
在此将提取出的N片触摸屏上相同的第1个位置的像素点电容值依次标记为x1、x2、x3、…、xN-2、xN-1、xN，第1个位置的像素点电容值均值标记为μ_1，方差标记为δ_1，则N片触摸屏上相同的第1个位置的像素点电容值均值和方 差根据以下公式(1)和(2)计算得出：
μ_1=1N(x1+x2+x3+...+xN-2+xN-1+xN)---(1)]]>
δ_1=1N[(x1-μ_1)2+(x2-μ_1)2+...+(xN-2-μ_1)2+(xN-1-μ_1)2+(xN-μ_1)2]---(2)]]>
根据上述公式计算得出N片触摸屏上相同的第1个位置的像素点电容值均值和方差，依次类推，根据均值和方差公式，相应计算出N片触摸屏上其他的相同的第i个位置的像素点电容值均值和方差，其中，i＝1，2，…，M-1，M，则每一个位置的均值可依次标记为μ_1、μ_2、…、μ_M-1、μ_M，每一个位置的方差可以及标记为δ_1、δ_2、…、δ_M-1、δ_M。
对于N片触摸屏上相同的任意一个位置的像素点电容值，相对于现有技术中根据平均值定义像素点电容值的波动范围，均值和方差更能准确得出每一个像素点电容值的波动大小，相对应的，后续根据均值和方差计算得出的像素点电容值检测范围的结果更加稳定和可靠。
步骤122、根据所述第i个位置像素点的电容值均值和方差，按照如下公式计算第i个位置的像素点电容值参考范围：
LimitD_i＝μ_i-cpk*3*δ_i
LimitU_i＝μ_i+cpk*3*δ_i
其中，limitD_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的下限，limitU_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的上限，μ_i为所述第i个位置像素点的电容值均值，δ_i为所述第i个位置像素点的电容值方差，cpk为制程能力参数。
已知cpk反映了制程合格率的高低，在此根据触摸屏的cpk值、电容值均值μ_i和方差δ_i计算像素点电容值的上限值和下限值，以第1个位置的像素点 电容值上下限值为例，LimitD_1＝μ_1-cpk*3*δ_1，LimitU_1＝μ_1+cpk*3*δ_1，那么LimitD_1～LimitU_1的数值范围为N片触摸屏相同的第1个位置的像素点电容值上下限范围，由于最初获取的N片触摸屏中可能存在不合格触摸屏，所以计算得出的电容值上下限范围并不能作为准确的电容值检测范围应用，后续通过循环迭代算法可实际计算出的无限接近100％合格品触摸屏的检测范围。品，因此当前计算出的像素点电容值上下限范围仅为电容值参考范围。依次类推，计算出其他M-1个位置的像素点电容值参考范围。
优选地，所述制程能力参数cpk具体为：2≥cpk≥1.67。
本步骤120仅通过计算出的第i个位置的像素点电容值的均值μ_i和方差δ_i，以及制程能力参数cpk，即可计算出N片触摸屏的第i个位置的像素点电容值参考范围，每一个位置的像素点电容值参考范围计算方法简单，根据其对应位置像素点的电容值确定，结合了触摸屏每个像素点实际的电容值波动范围不同的现象，因此后续根据像素点电容值参考范围对每个pixel进行检测时不会产生过判或漏判，相应的也解决了现有技术的过判、漏判问题。
步骤130、判断N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内。
已知步骤120得出了N片触摸屏上相同的第i个位置像素点电容值的参考范围LimitD_i～LimitU_i，其中，i＝1，2，…，M-1，M，那么根据第i个位置像素点电容值的参考范围，判断N片触摸屏上相同的第i个位置像素点的电容值是否在该第i个位置的像素点电容值参考范围LimitD_i～LimitU_i内，若是，则依次判断其他M-1个位置像素点电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内，由此可对全部的N*M个像素点电容值进行判断检测。
在此，优选的判断过程还可以基于顺序或随机方式对每一个位置对应的至多N个像素点进行判断，其具体过程是：若基于顺序方式判断时，根据第1个位置像素点电容值参考范围，判断N片触摸屏上相同的第1个位置像素点电容值是否在该第1个位置像素点电容值参考范围LimitD_1～LimitU_1；若是，则顺序判断第2个位置像素点电容值；若否，假设N片触摸屏中有3片触摸屏的第1个位置像素点电容值不在LimitD_1～LimitU_1内，则顺序判断第2个位置像素点电容值时，剔除该3片触摸屏的第2个位置的像素点，仅对N-3片触摸屏的第2个位置像素点的电容值进行判断，若N-3片触摸屏中有5片触摸屏的第2个位置像素点电容值不在LimitD_2～LimitU_2内，则顺序判断第3个位置像素点电容值时，剔除该5片触摸屏，仅对N-3-5片触摸屏的第3个位置像素点的电容值进行判断，依次类推，对每一个位置的判断对象，像素点电容值进行判断时，判断对象的个数可能顺序减少。若基于随机方式判断时，则与顺序方式过程类似，其区别仅在于，以第1个位置为例，判断完第1个位置像素点电容值之后，可能随机对第M个位置像素点电容值进行判断，其每一个位置的判断对象的个数也可能顺序减少。该过程中对不合格像素点所在的触摸屏不再进行判断，减轻了判断工作量。
本步骤130中，通过根据第i个位置的像素点电容值参考范围，判断N片触摸屏上的第i个位置的N个像素点电容值是否在LimitD_i～LimitU_i内，从而对N片触摸屏上每一个像素点进行判断，且整片触摸屏每一个像素点的limit不完全相同，相对解决了现有技术的针对每一个像素点设置相同的limit造成的过判、漏判问题。
步骤140、当判定任意1片所述触摸屏上的任意1个所述像素点的电容值 均在其对应位置的所述像素点电容值参考范围内，设置所述第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。
如上所述，当判定当前所有的触摸屏上的每一个像素点的电容值均在其对应位置的像素点电容值参考范围内，那么相应说明当前所有的触摸屏均为合格品，也可以认为计算得出的每一个位置像素点电容值参考范围是无限接近100％合格触摸屏的像素点电容值范围，因此可以将该所有的触摸屏的每一个位置的像素点电容值参考范围设置为对应位置的像素点电容值检测范围。根据获取的触摸屏上每一个位置像素点电容值检测范围，可对其他任意一片触摸屏进行检测，以检测触摸屏是否合格。
本步骤140中，当前所有的触摸屏中的任意一片触摸屏的像素点的电容值都位于其对应位置的电容值参考范围内，计算得出的每一个位置像素点电容值参考范围是无限接近100％合格触摸屏的像素点电容值范围，那么不会造成漏判或过判，也可以解决现有技术中电容值检测limit存在的漏判、过判问题。
优选地，当步骤130判定N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点中至少一个所述像素点的电容值不在其对应位置的像素点电容值参考范围内时，该方法还包括以下步骤：
步骤131、当判定L片所述触摸屏中的任意1片所述触摸屏上的1个或多个所述像素点的电容值超出其对应位置的像素点电容值参考范围，从获取的N片所述触摸屏的像素点的电容值中去除该L片所述触摸屏的像素点的电容值，其中，L为整数且N≥L>0。
如上所述，若判定L片触摸屏中的任意1片触摸屏上的1个或多个像素点的电容值超出其对应位置的像素点电容值参考范围，说明该L片触摸屏为不合 格品，那么在此需要从最初获取的N片触摸屏的每一个像素点的电容值数据中剔除该L片触摸屏的像素点电容值数据，则当前剩余的电容值数据为N-L片触摸屏的每一个像素点的电容值数据。此外，由于N片触摸屏的电容值数据中包含了L片触摸屏的不合格电容值数据，那么根据N片触摸屏的电容值数据计算得出的像素点电容值参考范围也不可作为触摸屏的像素点电容值检测范围。
步骤132、返回步骤110，当N>L>0时该步骤110当前获取的电容值为剩余N-L片所述触摸屏的每一个所述像素点的电容值，当N＝L时该步骤110重新获取X片触摸屏的每一个像素点的电容值并且当前获取的X片所述触摸屏为N片所述触摸屏之外的其他X片所述触摸屏，并依次执行步骤110至步骤140。
如上所述，已知N片触摸屏中包含不合格的L片触摸屏，那么剔除L片触摸屏的像素点电容值数据之后，根据当前剩余的N-L片触摸屏的每一个像素点的电容值数据，重新计算剩余的N-L片触摸屏的像素点电容值参考范围，以使计算得到的每一个像素点电容值的检测范围无限逼近100％合格触摸屏的电容值范围。该触摸屏像素点电容值的检测范围的获取方法即是基于循环迭代算法进行获取。
在此，获取N-L片触摸屏的像素点电容值参考范围的步骤为步骤110获取的电容值数据为剔除L片触摸屏电容值数据之后剩余的电容值，步骤120中计算剩余的N-L片触摸屏上相同的第i个位置的像素点电容值均值和方差，由此得到N-L片触摸屏的像素点电容值参考范围，步骤130中判断N-L片触摸屏上的(N-L)*M个像素点电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内，步骤140中若N-L片触摸屏中任意一片触摸屏的像素点电容值均在其对应的像素点电容值参考范围内，则该N-L片触摸屏为合格品，计算得出的像素点电容中 参考范围设定为触摸屏像素点电容值的检测范围，并可对其他任意触摸屏进行检测。当然若N-L片触摸屏中有不合格触摸屏，则类似的继续提出不合格触摸屏的电容值数据，依次根据循环迭代算法重复步骤110-140，直至判定任意1片所述触摸屏上的任意1个所述像素点的电容值均在其对应位置的所述像素点电容值参考范围内，由此设置像素点电容值参考范围为对应位置的像素点电容值检测范围。
此外，当步骤131中，判定N片触摸屏中每一片触摸屏中至少一个像素点电容值不在其对应位置像素点电容值参考范围内，则说明该N片触摸屏为不合格品，需要在N片触摸屏之外，再重新随机收集X片触摸屏的像素点电容值，直至步骤140中获取到像素点电容值检测范围为止。
本步骤131-132，作为循环步骤，通过剔除不合格品，对剩余的触摸屏进行循环迭代算法，以使计算得出的像素点电容值检测范围无限接近100％合格品范围。
本发明实施例一提供的一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法，根据像素点的均值和方差计算出像素点电容值参考范围，并将像素点电容值与对应位置的像素点电容值参考范围进行比较，以此获知该像素点是否为合格品，通过循环迭代的算法，只有当所获取触摸屏的每一个像素点的电容值均在其对应位置像素点电容值参考范围内，才将对应位置像素点电容值参考范围设置为对应位置像素点电容值检测范围。通过该方法计算得出的像素点电容值检测范围不是单纯的对一整片触摸屏设定相同的波动范围，而是针对每个像素点单独设定一个检测范围，使设定的像素点电容值检测范围更为准确、合理，不会带来漏判误判问题，此外无需通过查看三维图确定某触摸屏是否为合格品，解决 了不同人之间判断主观性的问题，并且当触摸屏的其他工艺参数变化时无需经过复杂实验确定像素点电容值Limit，只需要收集当前触摸屏的电容值数据，采用该方法计算即可得出准确合理的像素点电容值检测范围。
实施例二
本发明提供了一种触摸屏的检测方法，该方法包括：
步骤210、采用实施例一提供的触摸屏像素点电容值检测范围的获取方法获取所述触摸屏的像素点电容值检测范围。
设定待检测触摸屏具有K个像素点，那么根据实施例一所示的方法，获取到待检测触摸屏上的K个像素点电容值检测范围，则待检测触摸屏的第j个位置像素点电容值检测范围标记为LimitD_j～LimitU_j，其中，j＝1，2，…，K-1，K。
步骤220、获取所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，所述触摸屏具有K个像素点，K为大于0的整数。
在此，获取待检测触摸屏的每一个像素点的电容值，该触摸屏具有K个像素点，那么在此获取待检测触摸屏上K个像素点电容值数据。
步骤230、判断所述触摸屏的第j个像素点的电容值是否在其对应位置像素点电容值检测范围内，其中，j＝1，2，…，K-1，K。
假设第j个像素点位于触摸屏的第j个位置，那么根据第j个位置像素点电容值检测范围LimitD_j～LimitU_j，判断当前待检测触摸屏的第j个像素点电容值是否在LimitD_j～LimitU_j之内，其中，j＝1，2，…，K-1，K。
若当前待检测触摸屏的第j个像素点电容值在LimitD_j～LimitU_j之内，则顺序或随机的对待检测触摸屏上的下一个像素点电容值进行检测，在此，可依 次对待检测触摸屏上的K个像素点电容值全部进行检测。
优选地，还可以当首次判定到待检测触摸屏上的某1个像素点电容值不在其对应位置像素点电容值检测范围内时，停止对该待检测触摸屏的检测，判定该当前待检测触摸屏为不合格品，并依次对下一个待检测触摸屏开始进行检测，该过程相应减少了检测任意一片触摸屏的时间和工作量。
步骤240、当所述触摸屏的每一个像素点的电容值均在其对应位置像素点电容值检测范围内，判定所述触摸屏为合格触摸屏，或者
当所述触摸屏的至少一个像素点的电容值不在其对应位置像素点电容值检测范围内，判定所述触摸屏为不合格触摸屏。
根据步骤230的判断结果，判定待检测触摸屏为合格触摸屏还是非合格触摸屏，并在待检测触摸屏判定合格与否完成之后，根据步骤210获取的像素点电容值检测范围依次对下一个相同的待检测触摸屏进行检测。
本发明提供的一种触摸屏的检测方法，检测过程简单，根据获取的每一个像素点电容值不同的检测范围，针对每一个像素点电容值进行其检测范围的判定，使判定合格的每一个触摸屏的像素点电容值都在100％合格品的像素点电容值范围内，不会产生过判或漏判，也解决了当前技术中电容值检测中存在的过判或漏判问题。
实施例三
参考图4，为本发明实施例三提供的一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取装置的示意图，本实施例的技术方案通过设置触摸屏每个像素点的容值范围，以对相同的任意一片触摸屏进行检测的情况。该装置可以采用软件和/或硬件的方式，配置在计算机中应用。
该装置包括：电容值获取模块310、计算模块320、判断模块330和设置模块340。
其中，电容值获取模块310用于获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，每一片所述触摸屏具有M个所述像素点，M为大于0的整数，N为正整数；计算模块320用于计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中，i＝1，2，…，M-1，M；判断模块330用于判断N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内；设置模块340用于当判定任意1片所述触摸屏上的任意1个所述像素点的电容值均在其对应位置的所述像素点电容值参考范围内，设置所述第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。
进一步地，所述计算模块320包括：第一计算单元321和第二计算单元322。
其中，第一计算单元321用于根据N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值，计算第i个位置像素点的电容值均值和方差；第二计算单元322用于根据所述第i个位置像素点的电容值均值和方差，按照如下公式计算第i个位置的像素点电容值参考范围：
LimitD_i＝μ_i-cpk*3*δ_i
LimitU_i＝μ_i+cpk*3*δ_i
其中，limitD_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的下限，limitU_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的上限，μ_i为所述第i个位置像素点的电容值均值，δ_i为所述第i个位置像素点的电容值方差，cpk为制程能力参数。
进一步地，所述制程能力参数cpk具体为：2≥cpk≥1.67。
进一步地，当所述判断模块330判定N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点中至少一个所述像素点的电容值不在其对应位置的像素点电容值参考范围内时，该装置还包括：去除模块和返回模块。
其中，去除模块用于当判定L片所述触摸屏中的任意1片所述触摸屏上的1个或多个所述像素点的电容值超出其对应位置的像素点电容值参考范围，从获取的N片所述触摸屏的像素点的电容值中去除该L片所述触摸屏的像素点的电容值，其中，L为整数且N≥L>0；返回模块用于返回所述电容值获取模块，当N>L>0时所述电容值获取模块当前获取的电容值为剩余N-L片所述触摸屏的每一个所述像素点的电容值，当N＝L时所述电容值获取模块重新获取X片触摸屏的每一个像素点的电容值并且当前获取的X片所述触摸屏为N片所述触摸屏之外的其他X片所述触摸屏，并依次执行计算模块、判断模块和设置模块。
进一步地，所述电容值获取模块310具体为至少获取30片所述触摸屏的每一个像素点的电容值。
本发明实施例三提供的一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取装置，通过计算得出的像素点电容值检测范围不是对一整片触摸屏设定相同的波动范围，而是针对每个像素点单独设定一个检测范围，使设定的像素点电容值检测范围更为准确、合理，不会带来漏判误判问题，此外无需通过查看三维图确定某触摸屏是否为合格品，解决了不同人之间判断主观性的问题，并且当触摸屏的其他工艺参数变化时无需经过复杂实验确定像素点电容值Limit，只需要收集当前触摸屏的电容值数据，采用该装置即可得出准确合理的像素点电容值检测范围。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。