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1、(10)申请公布号 CN 102866298 A (43)申请公布日 2013.01.09 CN 102866298 A *CN102866298A* (21)申请号 201210323244.4 (22)申请日 2012.09.04 G01R 27/04(2006.01) (71)申请人 中国科学院等离子体物理研究所 地址 230031 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路 350 号 (72)发明人 刘方 雷雷 刘华军 陈超 (74)专利代理机构 安徽合肥华信知识产权代理 有限公司 34112 代理人 余成俊 (54) 发明名称 多通道温度梯度法 RRR 测试样品杆 (57) 摘要 本发明公开了一种。
2、多通道温度梯度法 RRR 测 试样品杆， 包括有调整杆， 所述的调整杆为一长 管， 所述的调整杆上安装有密封螺帽和密封法兰， 所述的调整杆的一端垂直焊接有过渡金属板， 所 述的过渡金属板中部挖空， 所述的过渡金属板通 过连接杆连接有绝缘样品台， 所述的绝缘样品台 上固定有 Cernox 温度计， 还设有温度计走线孔和 20 个接线柱。本发明设计了多通道 RRR 测试样品 杆， 结构简单， 易操作， 样品温度控制快速稳定， 准 确度高， 精度高， 大大提高了工作效率。 (51)Int.Cl. 权利要求书 1 页 说明书 2 页 附图 1 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利。
3、申请 权利要求书 1 页 说明书 2 页 附图 1 页 1/1 页 2 1. 一种多通道温度梯度法 RRR 测试样品杆， 包括有调整杆， 所述的调整杆为一长管， 所 述的调整杆上安装有密封螺帽和密封法兰， 其特征在于 ： 所述的调整杆的一端垂直焊接有 过渡金属板， 所述的过渡金属板中部挖空， 所述的过渡金属板通过连接杆连接有绝缘样品 台， 所述的绝缘样品台上固定有 Cernox 温度计， 还设有温度计走线孔和 20 个接线柱， 所述 的 Cernox 温度计采用四引线接法， 其中两根线接与恒流源一相连， 另外两根线与一数字电 压表相连， 所述的接线柱分布有2组4列， 一组为电压接线柱， 一组为。
4、电流接线柱， 电流接线 柱的一列依次为 I5+、 I4-、 I3+、 I2-、 I1+ 接线柱， 电压接线柱的一列依次为 V5+、 V4-、 V3+、 V2-、 V1+ 接线柱， 电压接线柱的另一列依次为 V5-、 V4+、 V3-、 V2+、 V1- 接线柱， 电流接线柱 的另一列依次为 I5-、 I4+、 I3-、 I2+、 I1- 接线柱， 4 列的每一行为一个测量通道， 共 5 个测量 通道， 有 5 个样品分别焊接在 5 个通道的每个接线柱上， 所述的 I5+ 和 I4- 接线柱相连接， I3+ 和 I2- 接线柱相连接， I4+ 和 I3- 接线柱相连接， I2+ 和 I1- 接线。
5、柱相连接， 电压接线柱 中的每个接线柱和 I1+、 I5- 接线柱在绝缘样品板的背面均有引线， 分别为电压引线和电流 引线， 将电流引线穿过所述的调整杆与另一恒流源二相连， 将在同一通道上的两根电压引 线穿过所述的调整杆分别与一电位测量仪相连。 2. 根据权利要求 1 所述的多通道温度梯度法 RRR 测试样品杆， 其特征在于 ： 所述的连 接杆为 4 根。 3. 根据权利要求 1 所述的多通道温度梯度法 RRR 测试样品杆， 其特征在于 ： 所述的电 位测量仪为纳伏表。 权 利 要 求 书 CN 102866298 A 2 1/2 页 3 多通道温度梯度法 RRR 测试样品杆 技术领域 000。
6、1 本发明涉及材料性能测试装置， 尤其涉及一种利用液氦上方温度梯度原理对材料 RRR 值进行测试的样品杆。 背景技术 0002 RRR 定义为材料室温电阻与略高于超导转变温度时电阻的比值， 表示剩余电阻率。 具体的定义是， 在 273K 与某一低温下金属电阻率的比值。RRR 值反映金属的纯度和加工状 态， RRR 值越大表明金属的纯度越高， 也是反映股线中铜基体质量的一个重要参数， 其值的 大小直接影响到导体低温下工作的稳定性， 是计算导体稳定性裕度以及热点温度的重要参 数。通常， 对于 Nb3Sn 超导线， 其 RRR 值的测量要求得到 273K 与 20K 左右时电阻的比值， 而 对于 N。
7、bTi 超导线， 则要求得到 273K 与 10K 左右时电阻的比值， 决定于超导线的临界温度。 0003 国际热核聚变实验反应堆 （ITER） 是目前全球最大的国际合作研究项目， 该计划将 研究解决核聚变关键技术难题。 在承担国际热核聚变实验堆 （ITER） 导体设计、 生产过程中， 需要对ITER TF导体和PF导体使用的Nb3Sn和NbTi超导股线以及铜线的RRR值进行测试。 作为国内 ITER 超导线性能测试指定机构， 我们承担了大量超导线性能测试任务， 针对这些 测试任务， 我们建立了一套超导线性能测试装置， 包括ITER TF导体和PF导体使用的Nb3Sn 和 NbTi 超导股线以。
8、及铜线的 RRR 值测试装置。 发明内容 0004 本发明目的就是为了弥补已有技术的缺陷， 提供一种简单可靠的多通道温度梯度 法 RRR 测试样品杆。 0005 本发明是通过以下技术方案实现的 ： 一种多通道温度梯度法 RRR 测试样品杆， 包括有调整杆， 所述的调整杆为一长管， 所述 的调整杆上安装有密封螺帽和密封法兰， 所述的调整杆的一端垂直焊接有过渡金属板， 所 述的过渡金属板中部挖空， 所述的过渡金属板通过连接杆连接有绝缘样品台， 所述的绝缘 样品台上固定有 Cernox 温度计， 还设有温度计走线孔和 20 个接线柱， 所述的 Cernox 温度 计采用四引线接法， 其中两根线接与恒。
9、流源一相连， 另外两根线与一数字电压表相连， 所述 的接线柱分布有 2 组 4 列， 一组为电压接线柱， 一组为电流接线柱， 电流接线柱的一列依次 为 I5+、 I4-、 I3+、 I2-、 I1+ 接线柱， 电压接线柱的一列依次为 V5+、 V4-、 V3+、 V2-、 V1+ 接线 柱， 电压接线柱的另一列依次为 V5-、 V4+、 V3-、 V2+、 V1- 接线柱， 电流接线柱的另一列依次 为 I5-、 I4+、 I3-、 I2+、 I1- 接线柱， 4 列的每一行为一个测量通道， 共 5 个测量通道， 有 5 个 样品分别焊接在 5 个通道的每个接线柱上， 所述的 I5+ 和 I4-。
10、 接线柱相连接， I3+ 和 I2- 接 线柱相连接， I4+ 和 I3- 接线柱相连接， I2+ 和 I1- 接线柱相连接， 电压接线柱中的每个接线 柱和 I1+、 I5- 接线柱在绝缘样品板的背面均有引线， 分别为电压引线和电流引线， 将电流 引线穿过所述的调整杆与恒流源二相连， 将在同一通道上的电压引线穿过所述的调整杆分 别与一电位测量仪相连。 说 明 书 CN 102866298 A 3 2/2 页 4 0006 所述的多通道温度梯度法 RRR 测试样品杆， 其特征在于 ： 所述的连接杆为 4 根。 0007 所述的多通道温度梯度法 RRR 测试样品杆， 其特征在于 ： 所述的电位测量。
11、仪为纳 伏表。 0008 如图4所示， 在使用时， 取5个直样品， 分别焊接在每个测量通道的接线柱上， 并保 证每一测量通道上的样品与该测量通道的 4 个接线柱焊接完全， 首先， 在室温或冰水混合 物下测试一定电流下的样品电阻， 保持电流不便， 将调整杆缓慢的放入液氦槽中， 通过调节 样品台与液氦面高度使样品温度控制在所需点， 记录电压值， 然后改变样品的测试电流方 向， 大小保持不便， 记录下相应的电压值， 以此消除热电势对测试的影响， 室温与低温电阻 的比值即为所要得到的样品 RRR 值。 0009 本发明的优点是 ： 本发明设计了多通道 RRR 测试样品杆， 结构简单， 易操作， 样品 。
12、温度控制快速稳定， 准确度高， 精度高， 大大提高了工作效率。 0010 附图说明 图 1 为本发明的结构示意图。 0011 图 2 为本发明中绝缘样品台示意图。 0012 图 3 为绝缘样品台接线柱背面布置图。 0013 图 4 为本发明应用原理图。 具体实施方式 0014 如图1、 2、 3所示， 一种多通道温度梯度法RRR测试样品杆， 包括有调整杆1， 所述的 调整杆 1 为一长管， 所述的调整杆 1 上安装有密封螺帽 2 和密封法兰 3， 所述的调整杆 1 的 一端垂直焊接有过渡金属板 4， 所述的过渡金属板 4 中部挖空， 所述的过渡金属板 4 通过连 接杆 5 连接有绝缘样品台 6。
13、， 所述的绝缘样品台 6 上固定有 Cernox 温度计 7， 还设有温度计 走线孔 8 和 20 个接线柱 9， 所述的 Cernox 温度计 7 采用四引线接法， 其中两根线接与恒流 源一相连， 另外两根线与一数字电压表相连， 所述的接线柱 9 分布有 2 组 4 列， 一组为电压 接线柱， 一组为电流接线柱， 电流接线柱的一列依次为 I5+、 I4-、 I3+、 I2-、 I1+ 接线柱， 电压 接线柱的一列依次为 V5+、 V4-、 V3+、 V2-、 V1+ 接线柱， 电压接线柱的另一列依次为 V5-、 V4+、 V3-、 V2+、 V1- 接线柱， 电流接线柱的另一列依次为 I5-。
14、、 I4+、 I3-、 I2+、 I1- 接线柱， 4 列的每 一行为一个测量通道， 共 5 个测量通道， 有 5 个样品分别焊接在 5 个通道的每个接线柱上， 所述的 I5+ 和 I4- 接线柱相连接， I3+ 和 I2- 接线柱相连接， I4+ 和 I3- 接线柱相连接， I2+ 和 I1- 接线柱相连接， 电压接线柱中的每个接线柱和 I1+、 I5- 接线柱在绝缘样品板的背面 均有引线， 分别为电压引线和电流引线， 将电流引线穿过所述的调整杆 1 与恒流源二 10 相 连， 将在同一通道上的电压引线穿过所述的调整杆 1 分别与一电位测量仪相连。 0015 所述的多通道温度梯度法 RRR 测试样品杆， 其特征在于 ： 所述的连接杆 5 为 4 根。 0016 所述的多通道温度梯度法 RRR 测试样品杆， 其特征在于 ： 所述的电位测量仪为纳 伏表。 说 明 书 CN 102866298 A 4 1/1 页 5 图 1 图 2 图 3 图 4 说 明 书 附 图 CN 102866298 A 5 。