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1、(10)申请公布号 CN 102262208 A (43)申请公布日 2011.11.30 CN 102262208 A *CN102262208A* (21)申请号 201010195431.X (22)申请日 2010.05.31 G01R 31/28(2006.01) (71)申请人 无锡中星微电子有限公司 地址 214028 中国江苏省无锡市新区长江路 21-1 号国家集成电路设计园 ( 创源大 厦 )610 (72)发明人 胡伟锋 (74)专利代理机构 北京银龙知识产权代理有限 公司 11243 代理人 郭海彬 (54) 发明名称 一种芯片测试的方法和系统 (57) 摘要 本发明提供。
2、一种芯片测试的方法和系统， 方 法包括 ： 按行读入自动测试设备的存储器中的测 试向量源文件 ； 将所述测试向量源文件的所有行 都记录到新文件， 其中对于连续重复的至少两个 测试向量数据行， 仅将所述至少两个测试向量数 据行中的第一行和重复的次数记录到所述新文 件 ； 在芯片测试过程中， 载入所述新文件， 依据所 述重复的次数重复执行所述第一行。本发明能够 减少测试向量源文件的体积， 节省内存提高 ATE 的测试速度， 解决现有技术测试向量源文件耗费 了大量的时间和内存资源， 测试效率低下的技术 问题。 (51)Int.Cl. (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要。
3、求书 1 页 说明书 4 页 附图 3 页 CN 102262221 A1/1 页 2 1. 一种芯片测试的方法， 其特征在于， 包括如下步骤 ： 按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件 ； 将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件， 其中对于连续重复的至少两个测试 向量数据行， 仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记录到所述新文 件 ； 在芯片测试过程中， 载入所述新文件， 依据所述重复的次数重复执行所述第一行。 2. 根据权利要求 1 所述的方法， 其特征在于， 所述对于连续重复的至少两个测试向量 数据行， 仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记录。
4、到所述新文件的 步骤具体包括 ： 如果当前行是测试向量数据行， 判断所述当前行是否与上一行相同， 是则将所述重复 的次数进行加一操作 ； 否则将所述上一行的重复的次数和所述当前行写入所述新文件。 3. 根据权利要求 2 所述的方法， 其特征在于， 还包括 ： 如果所述当前行不是测试向量数 据行， 则直接将所述上一行的重复的次数和所述当前行写入所述新文件。 4.根据权利要求2或3所述的方法， 其特征在于， 还包括 ： 如果所述重复次数不大于1， 则不记录所述重复次数。 5. 一种芯片测试的系统， 其特征在于， 包括 ： 读取模块， 用于 ： 按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件 ； 压。
5、缩模块， 用于 ： 将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件， 其中对于连续重复 的至少两个测试向量数据行， 仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数 记录到所述新文件 ； 测试执行模块， 用于 ： 在芯片测试过程中， 载入所述新文件， 依据所述重复的次数重复 执行所述第一行。 6. 根据权利要求 5 所述的系统， 其特征在于， 所述压缩模块包括 ： 重复判断单元， 用于 ： 如果当前行是测试向量数据行， 判断所述当前行是否与上一行相 同， 是则将所述重复的次数进行加一操作 ； 否则将所述上一行的重复的次数和所述当前行 写入所述新文件。 7. 根据权利要求 6 所述的系统， 其特。
6、征在于， 所述压缩模块还包括 ： 第一判断单元， 用于 ： 判断所述当前行是否为测试向量数据行， 是则执行所述重复判断 单元的功能， 否则直接将所述上一行的重复的次数和所述当前行写入所述新文件。 8. 根据权利要求 6 或 7 所述的系统， 其特征在于， 所述压缩模块还包括第二判断单元， 用于 ： 如果所述重复次数不大于 1， 则不记录所述重复次数。 权 利 要 求 书 CN 102262208 A CN 102262221 A1/4 页 3 一种芯片测试的方法和系统 技术领域 0001 本发明涉及芯片的自动测试设备， 特别是涉及一种芯片测试的方法和系统。 背景技术 0002 ATE(Auto。
7、matic Test Equipment， 自动测试设备 )， 是一种通过计算机控制来进行 器件、 电路板和芯片测试的设备。其通过计算机编程取代人工劳动， 自动化的完成测试序 列。 0003 一般的 ATE 可以由带一定内存深度的一组通道， 一系列时序发生器及多个电源组 成。这些资源是通过负载板把信号激励到芯片插座上的芯片管脚， ATE 测试系统每个管脚 有独立的测试资源。 测试时候， 每个管脚有对应的输入或输出信号， 并由这些信号构成测试 向量， 进行不同芯片功能的测试。 0004 ATE 的开发是从简单器件、 低管脚数、 低速测试系统 (10MHz， 64pins) 到中等数量 管脚、 中。
8、速测试系统 (40MHz， 256pins) 到高管脚数、 高速 ( 超过 100MHz， 1024pins) 并最 终过渡到现在的 SoC(System on Chip， 系统集成在一个芯片 ) 测试系统 ( 超过 400MHz， 1024pin， 并具备模拟、 存储器测试能力 )。 0005 目前器件速度已经达到 1.6GHz， 管脚数达到 1024， 所有的电路都集成到单个芯 片。因此由针对管脚的测试向量构成的测试向量源文件体积特别大， 甚至超过数 G bytes， 这样的源文件直接编译成测试向量文件后， 在 ATE 上使用会占用很大的 LVM(Logical Volume Manage。
9、r 逻辑盘卷管理 ) 内存空间， 而且加载速度也慢。因此， ATE 在进行测试向量 源文件的修改和配置时， 耗费了大量的时间和资源， 造成了测试效率低下。 发明内容 0006 本发明的目的是提供一种芯片测试的方法和系统， 能够减少测试向量源文件的体 积， 节省内存提高 ATE 的测试速度， 解决现有技术测试向量源文件耗费了大量的时间和内 存资源， 测试效率低下的技术问题。 0007 为了实现上述目的， 一方面， 提供了一种芯片测试的方法， 包括如下步骤 ： 0008 按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件 ； 0009 将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件， 其中对于连续重复的至。
10、少两个 测试向量数据行， 仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记录到所述 新文件 ； 0010 在芯片测试过程中， 载入所述新文件， 依据所述重复的次数重复执行所述第一行。 0011 优选地， 上述的方法中， 所述对于连续重复的至少两个测试向量数据行， 仅将所述 至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记录到所述新文件的步骤具体包括 ： 0012 如果当前行是测试向量数据行， 判断所述当前行是否与上一行相同， 是则将所述 重复的次数进行加一操作 ； 否则将所述上一行的重复的次数和所述当前行写入所述新文 件。 说 明 书 CN 102262208 A CN 102262221。
11、 A2/4 页 4 0013 优选地， 上述的方法中， 还包括 ： 如果所述当前行不是测试向量数据行， 则直接将 所述上一行的重复的次数和所述当前行写入所述新文件。 0014 优选地， 上述的方法中， 还包括 ： 如果所述重复次数不大于 1， 则不记录所述重复 次数。 0015 为了实现上述目的， 本发明还提供了一种芯片测试的系统， 包括 ： 0016 读取模块， 用于 ： 按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件 ； 0017 压缩模块， 用于 ： 将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件， 其中对于连续 重复的至少两个测试向量数据行， 仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复。
12、的 次数记录到所述新文件 ； 0018 测试执行模块， 用于 ： 在芯片测试过程中， 载入所述新文件， 依据所述重复的次数 重复执行所述第一行。 0019 优选地， 上述的系统中， 所述压缩模块包括 ： 0020 重复判断单元， 用于 ： 如果当前行是测试向量数据行， 判断所述当前行是否与上一 行相同， 是则将所述重复的次数进行加一操作 ； 否则将所述上一行的重复的次数和所述当 前行写入所述新文件。 0021 优选地， 上述的系统中， 所述压缩模块还包括 ： 0022 第一判断单元， 用于 ： 判断所述当前行是否为测试向量数据行， 是则执行所述重复 判断单元的功能， 否则直接将所述上一行的重复。
13、的次数和所述当前行写入所述新文件。 0023 优选地， 上述的系统中， 所述压缩模块还包括第二判断单元， 用于 ： 如果所述重复 次数不大于 1， 则不记录所述重复次数。 0024 本发明至少存在以下技术效果 ： 0025 1) 本发明实施例通过合并连续重复的测试向量数据行的办法， 将测试向量源文件 压缩成一个功能相同、 体积缩小的新文件。因为测试向量源文件中连续重复描述的测试向 量数据行是很常见的， 所以这种处理方式， 对于体积超过 G bytes 的测试向量源文件来说， 将会产生巨大的压缩量， 将显著减小测试向量源文件的体积。而自动测试设备加载这种压 缩后的新文件， 将会节约存储空间， 显。
14、著提升测试速度， 从而提高测试效率。 0026 2) 本发明实施例通过 repeat 语句来执行重复操作并且标志当前行是否已经压缩 过， 从而避免重复处理， 通过重复标记 N 来记录测试向量数据行的重复次数。 附图说明 0027 图 1 为本发明实施例提供的芯片测试方法的步骤流程图 ； 0028 图 2 为本发明实施例提供的进行压缩的步骤流程图 ； 0029 图 3 为本发明实施例提供的系统的结构图。 具体实施方式 0030 为使本发明实施例的目的、 技术方案和优点更加清楚， 下面将结合附图对具体实 施例进行详细描述。 0031 图1为本发明实施例提供的芯片测试方法的步骤流程图， 如图1所示，。
15、 芯片测试的 方法包括如下步骤 ： 说 明 书 CN 102262208 A CN 102262221 A3/4 页 5 0032 步骤 101， 按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件 ； 0033 步骤 102， 将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件， 其中对于连续重复的 至少两个测试向量数据行， 仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记 录到所述新文件 ； 0034 步骤 103， 在芯片测试过程中， 载入所述新文件， 依据所述重复的次数重复执行所 述第一行。 0035 所述步骤 102 中 ： 如果当前行是测试向量数据行， 判断所述当前行是否与上一行 相同，。
16、 是则将所述重复的次数进行加一操作 ； 否则将所述上一行的重复的次数和所述当前 行写入所述新文件。如果所述当前行不是测试向量数据行， 则直接将所述上一行的重复的 次数和所述当前行写入所述新文件。如果所述重复次数不大于 1， 则不记录所述重复次数。 0036 可见， 本发明实施例通过合并连续重复的测试向量数据行的办法， 将测试向量源 文件压缩成一个功能相同、 体积缩小的新文件。因为测试向量源文件中连续重复描述的测 试向量数据行是很常见的， 所以这种处理方式， 对于体积超过G bytes的测试向量源文件来 说， 将会产生巨大的压缩量， 将显著减小测试向量源文件的体积。 而自动测试设备加载这种 压缩。
17、后的新文件， 将会节约存储空间， 显著提升测试速度， 从而提高测试效率。 0037 图 2 为本发明实施例提供的进行压缩的步骤流程图， 如图 2 所示， 压缩过程包括 ： 0038 步骤 201， 从测试向量源文件读入一行文件数据 ； 0039 步骤 202， 当前行是否为测试向量？是则执行步骤 203， 否则执行步骤 208 ； 0040 步骤203， 包含repeat语句？(包含repeat语句说明已经压缩过)是则执行步骤 208， 否则执行步骤 204 ； 0041 步骤 204， 当前行是否与前行一样？是则执行步骤 205， 否则执行步骤 206 ； 0042 步骤 205， 将重复次。
18、数进行加一运算， 即 N N+1， N 代表重复次数， 初始值为 1， 执 行步骤 209 ； 0043 步骤 206， 判断 N 是否大于 1， 是则执行步骤 207， 否则执行步骤 208 ； 0044 步骤 207， 将 repeat 语句和当前 N 的值写入新文件， 将 N 的值重置为 1， 执行步骤 209 ； 0045 步骤 208， 将当前行写入新文件 ； 0046 步骤 209， 测试向量源文件结束？是则执行步骤 210， 否则执行步骤 201 ； 0047 步骤 210， 测试向量源文件已经写入到新文件， 压缩完毕。 0048 由上可知， 本发明实施例通过 repeat 语句。
19、来执行重复操作并且标志当前行是否 已经压缩过， 从而避免重复处理， 通过重复标记 N 来记录测试向量数据行的重复次数。 0049 图 3 为本发明实施例提供的系统的结构图， 如图 3 所示， 芯片测试的系统， 包括 ： 0050 读取模块 310， 用于 ： 按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件 ； 0051 压缩模块 320， 用于 ： 将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件， 其中对于 连续重复的至少两个测试向量数据行， 仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重 复的次数记录到所述新文件 ； 0052 测试执行模块 330， 用于 ： 在芯片测试过程中， 载入所述新文件，。
20、 依据所述重复的 次数重复执行所述第一行。 0053 其中， 所述压缩模块 320 包括 ： 说 明 书 CN 102262208 A CN 102262221 A4/4 页 6 0054 第一判断单元 321， 用于 ： 判断所述当前行是否为测试向量数据行， 是则执行所述 重复判断单元的功能， 否则直接将所述上一行的重复的次数和所述当前行写入所述新文 件。 0055 重复判断单元 322， 用于 ： 如果当前行是测试向量数据行， 判断所述当前行是否与 上一行相同， 是则将所述重复的次数进行加一操作 ； 否则将所述上一行的重复的次数和所 述当前行写入所述新文件。 0056 第二判断单元 323。
21、， 用于 ： 如果所述重复次数不大于 1， 则不记录所述重复次数。 0057 可见， 本发明芯片测试的系统， 通过合并测试向量源文件中的重复行， 达到压缩测 试向量源文件的目的， 在压缩后不影响编译不改变文件功能。经过压缩后的测试向量源文 件， 编译后占用 ATE 内存小、 加载时间少。 0058 由上可知， 本发明实施例具有以下优势 ： 0059 1) 本发明实施例通过合并连续重复的测试向量数据行的办法， 将测试向量源文件 压缩成一个功能相同、 体积缩小的新文件。因为测试向量源文件中连续重复描述的测试向 量数据行是很常见的， 所以这种处理方式， 对于体积超过 G bytes 的测试向量源文件。
22、来说， 将会产生巨大的压缩量， 将显著减小测试向量源文件的体积。而自动测试设备加载这种压 缩后的新文件， 将会节约存储空间， 显著提升测试速度， 从而提高测试效率。 0060 2) 本发明实施例通过 repeat 语句来执行重复操作并且标志当前行是否已经压缩 过， 从而避免重复处理， 通过重复标记 N 来记录测试向量数据行的重复次数。 0061 以上所述仅是本发明的优选实施方式， 应当指出， 对于本技术领域的普通技术人 员来说， 在不脱离本发明原理的前提下， 还可以做出若干改进和润饰， 这些改进和润饰也应 视为本发明的保护范围。 说 明 书 CN 102262208 A CN 102262221 A1/3 页 7 图 1 说 明 书 附 图 CN 102262208 A CN 102262221 A2/3 页 8 图 2 说 明 书 附 图 CN 102262208 A CN 102262221 A3/3 页 9 图 3 说 明 书 附 图 CN 102262208 A 。