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1、(10)申请公布号 CN 103048951 A (43)申请公布日 2013.04.17 CN 103048951 A *CN103048951A* (21)申请号 201210545832.2 (22)申请日 2012.12.15 G05B 19/406(2006.01) (71)申请人 北京航空航天大学 地址 100191 北京市海淀区学院路 37 号 (72)发明人 彭翀 刘强 姚金勇 夏继强 高连生 郇极 (74)专利代理机构 北京科迪生专利代理有限责 任公司 11251 代理人 杨学明 顾炜 (54) 发明名称 一种用于评估数控系统可靠性的试验方法 (57) 摘要 本发明为一种用于。
2、评估数控系统可靠性的试 验方法， 该方法在相同的实测物理环境下， 开展 对有限样本的数控系统 （包括主轴电机和进给电 机） 无替换模式的定时截尾试验， 进行长时间批量 化运行试验过程监控， 采集运行数据、 故障数据和 维护数据等， 获取 2 万小时及以上同等运行环境 条件下准确、 可比的数控系统现场运行数据， 并建 立典型数控系统实测数据库。对采集到的数控系 统实测数据库中的平均无故障运行时间 （MTBF） 、 故障现象、 诊断过程以及运行状态等大量数据信 息进行处理分析和比较分析， 进一步处理获得故 障时间、 故障特点、 故障分布以及产品质量映射等 情况， 深入研究数控系统可靠性数据特点、 。
3、故障特 征、 模式分类及影响分析等。 (51)Int.Cl. 权利要求书 2 页 说明书 6 页 附图 5 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书 2 页 说明书 6 页 附图 5 页 1/2 页 2 1. 一种用于评估数控系统可靠性的试验方法， 其特征在于 ： 该方法步骤如下 ： 试验开始， 对数控系统施加电应力， 整个循环内保持通电 ； 通电后对数控系统进行按键测试， 在 0360s 内， 完成按键测试 ； 360s 后对数控系统进行空载测试， 不加任何负载， 从 360s 到 365s， 5s 内主轴转速由零 加速到正转的额定转速， 在额定转速下运行 。
4、300s， 从 665s 到 675s， 10s 内主轴转速由额定 转速减速到零， 再由零加速到反转的额定转速， 在额定转速下运行300s， 从975s到980s， 5s 内主轴转速由额定转速减速到零 ； 980s 后对数控系统进行主轴加速测试， 从 980s 到 990s， 10s 内主轴转速由零加速到正 转极速的 90%， 在该速度下运行 5s ； 995s 后对数控系统进行主轴极速测试， 从 995s 到 1000s， 5s 内主轴转速由正转极速的 90% 加速到正转极速， 在极速下运行 5s， 从 1005s 到 1010s， 5s 内主轴转速由极速减速到极 速的 90% ； 1010。
5、s 后对数控系统进行主轴减速测试， 在 90% 极速下运行 5s， 从 1015s 到 1025s， 10s 内主轴转速由极速的 90% 减速到零 ； 1025s后对数控系统进行主轴加速测试， 从1025s到1035s， 10s内主轴转速由零加速到 反转极速的 90%， 在该速度下运行 5s ； 1040s 后对数控系统进行主轴极速测试， 从 1040s 到 1045s， 5s 内主轴转速由反转极速 的 90% 加速到反转极速， 在极速下运行 5s， 从 1050s 到 1055s， 5s 内主轴转速由极速减速到 极速的 90% ； 1055s后对数控系统进行主轴减速测试， 在反转90%极速下。
6、运行5s， 从1060s到1070s， 10s 内主轴转速由反转极速的 90% 减速到零 ； 1070s 后对数控系统进行 XY 面内的直线插补运动测试， 从 1070s 到 1670s， 600s 内 X、 Y 两轴， 同时从原点开始， 在额定转速下分别同时运动至各自行程的 90% 处， 然后再原路返 回 ； 1670s 后对数控系统进行 XZ 面内的直线插补运动测试， 从 1670s 到 2270s， 600s 内 X、 Z 两轴， 同时从原点开始， 在额定转速下分别同时运动至各自行程的 90% 处， 然后再原路返 回 ； 2270s 后对数控系统进行 YZ 面内的直线插补运动测试， 从 。
7、2270s 到 2870s， 600s 内 Y、 Z 两轴， 同时从原点开始， 在额定转速下分别同时运动至各自行程的 90% 处， 然后再原路返 回 ； 2870s 后对数控系统进行 XY 面内的圆弧插补运动测试， 从 2870s 到 3470s， 600s 内 X、 Y 两轴在额定转速下， 在 XY 平面内做顺时针及逆时针圆弧插补运动各一周 ； 3470s 后对数控系统进行 ZX 面内的圆弧插补运动测试， 从 3470s 到 4070s， 600s 内 Z、 X 两轴在额定转速下， 在 ZX 平面内做顺时针及逆时针圆弧插补运动各一周 ； 4070s 后对数控系统进行 YZ 面内的圆弧插补运动。
8、测试， 从 4070s 到 4670s， 600s 内 Y、 Z 两轴在额定转速下， 在 YZ 平面内做顺时针及逆时针圆弧插补运动各一周 ； 4670s 后对数控系统进行负载测试， 在额定负载情况下， 从 4670s 到 5270s， 600s 内 X、 Y 两轴做直线插补运动 ； 从 5270s 到 5870s， 600s 内 X、 Z 两轴做直线插补运动 ； 从 5870s 到 6470s， 600s 内 Y、 Z 两轴做直线插补运动 ； 从 6470s 到 7070s， 600s 内 X、 Y 两轴做圆弧插补 权 利 要 求 书 CN 103048951 A 2 2/2 页 3 运动 ；。
9、 从 7070s 到 7670s， 600s 内 Z、 X 两轴做圆弧插补运动 ； 从 7670s 到 8270s， 600s 内 Y、 Z 两轴做圆弧插补运动 ； 试验不断循环直至运行 30000 台时， 测试结束。 权 利 要 求 书 CN 103048951 A 3 1/6 页 4 一种用于评估数控系统可靠性的试验方法 技术领域 0001 本发明涉及一种用于评估数控系统可靠性的试验方法， 具体是建立相同的实测物 理环境， 对有限样本的受试数控系统开展无替换模式的定时截尾无间断连续运行试验， 进 行长时间批量化运行试验过程监控， 采集运行数据、 故障数据和维护数据等， 根据所获得数 据进行。
10、故障模式、 影响及危害度分析 （FMECA） 、 计算平均故障间隔时间 （MTBF） 、 平均修复时 间 （MTTR） 等数据。 背景技术 0002 数控系统和数控机床的可靠性水平， 对于数控装备正常运行和数控生产厂商提高 产品竞争力有着至关重要的作用。数控系统可靠性试验测试是在可靠性工程理论指导下， 按国家相关标准和规范， 结合数控机床应用特点， 通过实际试验测试获取反映数控系统可 靠性水平的平均故障间隔时间 MTBF、 故障信息以及运行状态等数据。为了充分测试和试验 对比， 除在加工现场对数控系统进行可靠性记录外， 在实验室对有限样本进行室内无间断 连续运行实验。 0003 数控系统可靠性。
11、实测数据， 是现代数控机床设计开发、 性能评价和生产应用的关 键基础性数据。研究解决数控系统可靠性理论、 测试评估方法和关键技术， 准确、 客观获得 具有可比性的国产数控系统可靠性的第一手数据， 分析国产数控系统及装备的可靠性现状 和影响因素， 对于实现数控系统和数控机床的可靠性增长， 解决国产数控产品可靠性不高 的共性问题， 提升我国数控机床技术水平、 研究开发能力和生产应用水平， 提高装备制造业 的竞争力， 具有重要的意义。 0004 针对多达数十台不同厂家、 不同型号的数控系统性能测试， 考虑到数控系统高可 靠、 小样本、 运行时间长等特点， 建立相同的实测物理环境， 对这些受试数控系统。
12、开展无替 换模式的定时截尾无间断连续运行试验， 进行长时间批量化运行试验过程监控， 采集运行 数据、 故障数据和维护数据等， 根据所获得数据进行故障模式、 影响及危害度分析 （FMECA） 、 计算平均故障间隔时间 （MTBF） 、 平均修复时间 （MTTR） 等数据。 发明内容 0005 本发明的目的在于建立一种用于评估数控系统可靠性的试验方法， 针对数控系统 高可靠、 小样本、 运行时间长等特点， 保证对不同的数控系统建立统一的实验环境进行无替 换模式的定时截尾无间断连续运行试验， 用以对比和评价各数控系统性能。 0006 本发明为一种测试方法， 该方法要求在相同的实测物理环境下， 开展对。
13、有限样本 的数控系统无替换模式的定时截尾无间断连续运行试验， 进行长时间批量化运行试验过程 监控， 采集运行数据、 故障数据和维护数据等， 获取 2 万小时及以上同等运行环境条件下准 确、 可比的数控系统现场运行数据， 并建立典型数控系统实测数据库。 0007 本发明采用的技术方案为 ： 一种用于评估数控系统可靠性的试验方法， 该方法步 骤如下 ： 说 明 书 CN 103048951 A 4 2/6 页 5 0008 试验开始， 对数控系统施加电应力， 整个循环内保持通电。 0009 通电后对数控系统进行按键测试。在 0360s 内， 完成按键测试。 0010 360s后对数控系统进行空载测。
14、试。 不加任何负载， 从360s到365s， 5s内主轴转速 由零加速到正转的额定转速， 在额定转速下运行300s， 从665s到675s， 10s内主轴转速由额 定转速减速到零， 再由零加速到反转的额定转速， 在额定转速下运行300s， 从975s到980s， 5s 内主轴转速由额定转速减速到零。 0011 980s后对数控系统进行主轴加速测试。 从980s到990s， 10s内主轴转速由零加速 到正转极速的 90%， 在该速度下运行 5s。 0012 995s后对数控系统进行主轴极速测试。 从995s到1000s， 5s内主轴转速由正转极 速的 90% 加速到正转极速， 在极速下运行 5s。
15、， 从 1005s 到 1010s， 5s 内主轴转速由极速减速 到极速的 90%。 0013 1010s后对数控系统进行主轴减速测试。 在90%极速下运行5s， 从1015s到1025s， 10s 内主轴转速由极速的 90% 减速到零。 0014 1025s 后对数控系统进行主轴加速测试。从 1025s 到 1035s， 10s 内主轴转速由零 加速到反转极速的 90%， 在该速度下运行 5s。 0015 1040s后对数控系统进行主轴极速测试。 从1040s到1045s， 5s内主轴转速由反转 极速的 90% 加速到反转极速， 在极速下运行 5s， 从 1050s 到 1055s， 5s 。
16、内主轴转速由极速减 速到极速的 90%。 0016 1055s 后对数控系统进行主轴减速测试。在反转 90% 极速下运行 5s， 从 1060s 到 1070s， 10s 内主轴转速由反转极速的 90% 减速到零。 0017 1070s 后对数控系统进行 XY 面内的直线插补运动测试。从 1070s 到 1670s， 600s 内 X、 Y 两轴， 同时从原点开始， 在额定转速下分别同时运动至各自行程的 90% 处， 然后再原 路返回。 0018 1670s 后对数控系统进行 XZ 面内的直线插补运动测试。从 1670s 到 2270s， 600s 内 X、 Z 两轴， 同时从原点开始， 在额。
17、定转速下分别同时运动至各自行程的 90% 处， 然后再原 路返回。 0019 2270s 后对数控系统进行 YZ 面内的直线插补运动测试。从 2270s 到 2870s， 600s 内 Y、 Z 两轴， 同时从原点开始， 在额定转速下分别同时运动至各自行程的 90% 处， 然后再原 路返回。 0020 2870s 后对数控系统进行 XY 面内的圆弧插补运动测试。从 2870s 到 3470s， 600s 内 X、 Y 两轴在额定转速下， 在 XY 平面内做顺时针及逆时针圆弧插补运动各一周。 0021 3470s 后对数控系统进行 ZX 面内的圆弧插补运动测试。从 3470s 到 4070s， 。
18、600s 内 Z、 X 两轴在额定转速下， 在 ZX 平面内做顺时针及逆时针圆弧插补运动各一周。 0022 4070s 后对数控系统进行 YZ 面内的圆弧插补运动测试。从 4070s 到 4670s， 600s 内 Y、 Z 两轴在额定转速下， 在 YZ 平面内做顺时针及逆时针圆弧插补运动各一周。 0023 4670s后对数控系统进行负载测试。 在额定负载情况下， 从4670s到5270s， 600s内 X、 Y 两轴做直线插补运动 ； 从 5270s 到 5870s， 600s 内 X、 Z 两轴做直线插补运动 ； 从 5870s 到 6470s， 600s 内 Y、 Z 两轴做直线插补运动。
19、 ； 从 6470s 到 7070s， 600s 内 X、 Y 两轴做圆弧插 补运动 ； 从 7070s 到 7670s， 600s 内 Z、 X 两轴做圆弧插补运动 ； 从 7670s 到 8270s， 600s 内 说 明 书 CN 103048951 A 5 3/6 页 6 Y、 Z 两轴做圆弧插补运动。 0024 试验不断循环直至运行 30000 台时， 测试结束。 0025 本发明方法与其他使用现场测试数据和使用数据的方法相比有以下优点 ： 0026 1、 区别于过去对数控系统可靠性评估中存在的测试样本点少、 测试时间短、 测试 环境各不相同等不足， 本发明进行长时间连续无间断定时截。
20、尾实验 ； 0027 2、 本发明所采用的在完全相同的测试环境中进行批量产品的长时间无替换定时 截尾试验方法， 可以保证测试数据的客观性和可比性。 附图说明 0028 图 1 测试系统拓扑图 ； 0029 图 2 视频采集系统示意图 ； 0030 图 3 系统拓扑结构图 ； 0031 图 4 网络传输系统结构图 ； 0032 图 5 信号采集系统原理图 ； 0033 图 6 测试箱设备示意图 ； 0034 图 7 数据存储系统初步方案设计图 ； 0035 图 8 为运行测试循环流程。 具体实施方式 0036 本发明包括数据采集系统、 数据访问与展示系统、 数据存贮系统三个模块如附图 1 所示。。
21、 0037 1、 数据采集系统 0038 数据采集系统包括视频采集模块和状态数据采集模块。 0039 1） 视频采集模块 0040 视频采集模块主要由三部分组成， 分别是 ： 前端网络摄像机 (IPC） 、 网络传输系 统、 视频管理控制系统。系统结构示意图和系统拓扑结构图分别如附图 2、 附图 3 所示 ； 0041 针对不同厂家每个系列的数控系统， 都配有前段网络摄像机， 另配有多个全景监 控摄像机， 选用支持红外摄像的半球机， 以保证 24 小时不间断监控。网络传输系统结构图 如附图 4 所示， 采用双核心交换机 （支持 POE 功能） 来接入所有的 IPC 和服务器以及存储系 统， 确。
22、保了视频传输的安全可靠性。视频管理控制系统采用 Linux 操作系统， 具有抵抗病毒 与非法入侵的能力， 支持 7*24 小时连续工作， 具备双机热备功能， 具备离线配置， 快速备份 配置文件和系统配置快速恢复机制 ； 支持大容量视频转发、 大容量视频存储点播、 帧标记以 及业务支撑信息管理功能 ； 具有完善的权限管理能力， 多级权限分配机制 ； 存储支持按照 时间分级， 支持流存储和通用文件存储 ； 内建 Web Server， 可以支持 CLIENT 和 WEB 两种访 问方式 ； 具备高稳定性， 支持防错冗余配置。 0042 2） 状态数据采集模块 0043 状态数据采集模块主要包括数控。
23、系统运行状态信号采集和环境信号采集两个方 面。选用 EtherCAT 工业以太网具有高达 100Mb/s 的带宽， 数据通信采用标准以太网数据 帧， 能够方便地实现与以太网的互联， 具有很好的兼容性， 尤其适用于高速的分布式数据采 说 明 书 CN 103048951 A 6 4/6 页 7 集。基本的原理图如附图 5 所示， 将需要采集的信号直接从数控系统的 PLC 引至 EtherCAT 模块。但是在实际的数控系统中， 对数控系统进行了处理， 将需要采集的数控系统信号通 过外加继电器变成与数控系统信号一一对应的无源触点， 这样便可以很方便的将信号引至 EtherCAT 模块。 0044 为。
24、了了解数控系统从开始运行到运行结束整个过程的运行情况， 因此就需要对能 够代表数控系统运行状况的信号进行数据采集。需要采集的数控系统的信号主要包括 ： NC 电源、 NC 准备、 24V 接通、 系统运行脉冲输出、 主轴准备 / 旋转、 伺服轴 （XYZ） 准备 / 旋转 ； 对 于每个厂家不同系列的数控系统都单独设计、 制造了一套测试箱， 如附图 6 所示。 0045 在对数控系统可靠性试验测试数据采集的过程中， 主要用到 3 类 EtherCAT 模块， 分别为 EL1008、 EL2004、 EL3064， 各模块的具体工作原理如下 ： 0046 EL1008 ： 8 通道数字量输入端子。
25、 24V DC， 3ms ； 它的数字量输入端子从现场级获得 二进制控制信号， 并把数据以电隔离的信号形式传输到更高层的自动化单元。EL100x 系列 数字量输入端子有一个 3ms 输入滤波 ； 每个端子可通过一个 LED 来显示其状态。 0047 EL2004 ： 4 通道数字量输出端子 24V DC， 0.5A ； 它的数字量输出端子以电隔离的信 号形式将自动化控制层传输过来的二进制控制信号传到设备层的执行机构。 0048 EL3064 ： 4 通道模拟量输入端子模块 010V 单端， 12 位模拟量 ； 它的输入端子模 块用于处理 0-10V 范围内的信号。电流被数字化后的分辨率为 12。
26、 位， 并在电隔离的状态下 被传送到上一级自动化设备。 在端子模块EL3064中， 4个单端输入为2线制， 并有一个公共 的内部接地电位。 端子模块的各个电源触点互相连接 ； 所有输入端的基准接地点为0V电源 触点。 0049 被测数控系统的信号与并联冗余的 2 个 “信号集成模块”相连， 通过双绞线以 EtherCAT 协议将两个信号集成模块串连， 并且分别与 PLC1-TWINCAT 和 PLC2-TWINCAT 数据 采集机相连， 形成冗余的两路信号采集系统。 PLC1-TWINCAT和PLC2-TWINCAT以1分钟的采 集周期实现数据信号的采集， 采集得到的数据通过计算机网络存贮于数。
27、据存储系统中。 0050 对于环境信号的采集， 需要另外增加一个温湿度变送器， 当变送器周围的温度、 湿 度发生变化时， 采集模块会将采集到的温度、 湿度的变化情况实时的显示出来。 0051 2、 数据存储系统 （IPSAN） 0052 数据存储系统设计， 系统设计采用 IPSAN 进行集中存储， 并采用通用文件系统存 储， 支持归档管理。考虑到冗余安全因素， 选用经计算容量的 1.2 倍的总容量来支持视频采 集模块和状态采集模块的数据存储。IPSAN 存储系统运用了 RAID5+ 热备、 磁盘容量强制匹 配、 分布式元数据存储等技术， 使得存储系统具有节能、 数据存储安全性高等优点。如附图 。
28、7 所示， 包含 3 个模块 ： 数据存储模块、 数据备份模块及数据管理模块， 各模块的基本原理分 别如下 ： 0053 1） 数据存储模块 ： 0054 该模块包含2台数据库服务器， 2台存储交换机以及6套磁盘阵列。 数据库服务器 从数据采集处取得数据， 通过双机热备份的方式与双存储交换机交叉连接， 将数据存入磁 盘阵列， 以保证数据存储的安全可靠性 ； 0055 2） 数据备份模块 ： 0056 该模块包含外部存储介质和 1 台 PC 机。PC 机通过网络交换机连接到数据库服务 说 明 书 CN 103048951 A 7 5/6 页 8 器， 然后再通过数据库服务器将磁盘阵列中的数据导入。
29、外部存储介质， 导入完成后， 可将外 部存储介质与数据库服务器断开， 单独存储， 以防磁盘阵列出现故障后数据丢失 ； 0057 3） 数据管理模块 ： 0058 该模块包含2台PC机。 PC机可通过网络交换机连接到数据库服务器， 并通过数据 库服务器调用存储在磁盘阵列中的数据， 以完成故障数据的查看、 分析等操作 ； 0059 3、 数据访问与展示系统 ： 0060 该系统包括网络展示模块和视频显示模块。 0061 1） 1） 网络展示模块 0062 网络展示模块包含 1 台 Web 服务器， 1 台应用服务器， 1 台认证服务器以及一个带 VPN的防火墙。 外部用户通过Internet申请访。
30、问数据时， 首先通过带VPN的防火墙， 之后经 认证服务器认证后， 最后由应用服务器处理访问申请。Web 服务器提供网络连接支持。 0063 2） 2） 视频显示模块 0064 视频显示模块采用液晶屏拼接显示方案， 通过 VMX 专业图像拼接控制器进行视频 显示的控制。 VMX专业图像拼接控制器具有数据运算能力强大、 边缘屏蔽技术、 RGB和Video 窗口可任意漫游、 叠加、 缩放并支持单屏分割及多屏拼接等功能， 可保证显示系统清晰、 流 畅的完成视频展示功能。 0065 本发明采用测试方法对受试系统进行综合应力实验， 综合应力包括 ： 温度、 湿度、 电应力和工作应力等。温度和湿度应力采用。
31、试验现场的自然环境条件， 试验过程中做实时 监测和记录。试验剖面见附图 8， 试验过程如下 ： 0066 试验开始， 对数控系统施加电应力， 整个循环内保持通电。 0067 通电后对数控系统进行按键测试。在 0360s 内， 完成按键测试。 0068 360s后对数控系统进行空载测试。 不加任何负载， 从360s到365s， 5s内主轴转速 由零加速到正转的额定转速， 在额定转速下运行300s， 从665s到675s， 10s内主轴转速由额 定转速减速到零， 再由零加速到反转的额定转速， 在额定转速下运行300s， 从975s到980s， 5s 内主轴转速由额定转速减速到零。 0069 980。
32、s后对数控系统进行主轴加速测试。 从980s到990s， 10s内主轴转速由零加速 到正转极速的 90%， 在该速度下运行 5s。 0070 995s后对数控系统进行主轴极速测试。 从995s到1000s， 5s内主轴转速由正转极 速的 90% 加速到正转极速， 在极速下运行 5s， 从 1005s 到 1010s， 5s 内主轴转速由极速减速 到极速的 90%。 0071 1010s后对数控系统进行主轴减速测试。 在90%极速下运行5s， 从1015s到1025s， 10s 内主轴转速由极速的 90% 减速到零。 0072 1025s 后对数控系统进行主轴加速测试。从 1025s 到 103。
33、5s， 10s 内主轴转速由零 加速到反转极速的 90%， 在该速度下运行 5s。 0073 1040s后对数控系统进行主轴极速测试。 从1040s到1045s， 5s内主轴转速由反转 极速的 90% 加速到反转极速， 在极速下运行 5s， 从 1050s 到 1055s， 5s 内主轴转速由极速减 速到极速的 90%。 0074 1055s 后对数控系统进行主轴减速测试。在反转 90% 极速下运行 5s， 从 1060s 到 1070s， 10s 内主轴转速由反转极速的 90% 减速到零。 说 明 书 CN 103048951 A 8 6/6 页 9 0075 1070s 后对数控系统进行 。
34、XY 面内的直线插补运动测试。从 1070s 到 1670s， 600s 内 X、 Y 两轴， 同时从原点开始， 在额定转速下分别同时运动至各自行程的 90% 处， 然后再原 路返回。 0076 1670s 后对数控系统进行 XZ 面内的直线插补运动测试。从 1670s 到 2270s， 600s 内 X、 Z 两轴， 同时从原点开始， 在额定转速下分别同时运动至各自行程的 90% 处， 然后再原 路返回。 0077 2270s 后对数控系统进行 YZ 面内的直线插补运动测试。从 2270s 到 2870s， 600s 内 Y、 Z 两轴， 同时从原点开始， 在额定转速下分别同时运动至各自行程。
35、的 90% 处， 然后再原 路返回。 0078 2870s 后对数控系统进行 XY 面内的圆弧插补运动测试。从 2870s 到 3470s， 600s 内 X、 Y 两轴在额定转速下， 在 XY 平面内做顺时针及逆时针圆弧插补运动各一周。 0079 3470s 后对数控系统进行 ZX 面内的圆弧插补运动测试。从 3470s 到 4070s， 600s 内 Z、 X 两轴在额定转速下， 在 ZX 平面内做顺时针及逆时针圆弧插补运动各一周。 0080 4070s 后对数控系统进行 YZ 面内的圆弧插补运动测试。从 4070s 到 4670s， 600s 内 Y、 Z 两轴在额定转速下， 在 YZ 。
36、平面内做顺时针及逆时针圆弧插补运动各一周。 0081 4670s后对数控系统进行负载测试。 在额定负载情况下， 从4670s到5270s， 600s内 X、 Y 两轴做直线插补运动 ； 从 5270s 到 5870s， 600s 内 X、 Z 两轴做直线插补运动 ； 从 5870s 到 6470s， 600s 内 Y、 Z 两轴做直线插补运动 ； 从 6470s 到 7070s， 600s 内 X、 Y 两轴做圆弧插 补运动 ； 从 7070s 到 7670s， 600s 内 Z、 X 两轴做圆弧插补运动 ； 从 7670s 到 8270s， 600s 内 Y、 Z 两轴做圆弧插补运动。 0082 试验不断循环直至 30000 台时测试结束。本发明未详细阐述的部分属于本领域公 知技术。 说 明 书 CN 103048951 A 9 1/5 页 10 图 1 说 明 书 附 图 CN 103048951 A 10 2/5 页 11 图 2 图 3 说 明 书 附 图 CN 103048951 A 11 3/5 页 12 图 4 图 5 说 明 书 附 图 CN 103048951 A 12 4/5 页 13 图 6 图 7 说 明 书 附 图 CN 103048951 A 13 5/5 页 14 图 8 说 明 书 附 图 CN 103048951 A 14 。