《具有振动测试功能的电子装置及建立振动测试算法的方法.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《具有振动测试功能的电子装置及建立振动测试算法的方法.pdf（9页珍藏版）》请在专利查询网上搜索。
1、(10)申请公布号 CN 102840910 A (43)申请公布日 2012.12.26 C N 1 0 2 8 4 0 9 1 0 A *CN102840910A* (21)申请号 201110171020.1 (22)申请日 2011.06.23 G01H 17/00(2006.01) (71)申请人启碁科技股份有限公司 地址中国台湾新竹 申请人启基永昌通讯（昆山）有限公司 (72)发明人陈楠 吕高峰 (74)专利代理机构深圳新创友知识产权代理有 限公司 44223 代理人江耀纯 (54) 发明名称 具有振动测试功能的电子装置及建立振动测 试算法的方法 (57) 摘要 本发明公开了一种具。
2、有振动测试功能的电子 装置及用以建立振动测试算法的方法。所述具有 振动测试功能的电子装置包括记忆单元、振动感 测单元、显示单元以及处理单元，其中所述处理单 元电连接于所述记忆单元、所述振动感测单元与 所述显示单元。所述记忆单元用以存储振动测试 算法。所述振动感测单元用以感测振动力。所述 处理单元用以根据所述振动测试算法计算对应所 述振动力的补偿值，将所述振动力与所述补偿值 相加以产生补偿后振动力，并且将所述补偿后振 动力显示于所述显示单元上。因此，于生产大量的 电子装置时，就可以利用每一台电子装置的振动 测试功能自动测试电子装置本身的振动力大小， 以对大量的电子装置进行百分之百的检验。 (51。
3、)Int.Cl. 权利要求书1页 说明书4页 附图3页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书 1 页 说明书 4 页 附图 3 页 1/1页 2 1.一种具有振动测试功能的电子装置，其特征在于，所述具有振动测试功能的电子装 置包括： 记忆单元，用以存储振动测试算法； 振动感测单元，用以感测振动力； 显示单元；以及 处理单元，电连接于所述记忆单元、所述振动感测单元与所述显示单元，用以根据所述 振动测试算法计算对应所述振动力的补偿值，将所述振动力与所述补偿值相加以产生补偿 后振动力，并且将所述补偿后振动力显示于所述显示单元上。 2.如权利要求1所述的具有振动测试功。
4、能的电子装置，其特征在于，所述振动测试算 法包括多个振动力与多个补偿值的对应关系。 3.如权利要求1所述的具有振动测试功能的电子装置，其特征在于，所述振动感测单 元是加速度传感器。 4.如权利要求1所述的具有振动测试功能的电子装置，其特征在于，所述具有振动测 试功能的电子装置还包括振动单元，电连接于所述处理单元，用以产生所述振动力。 5.如权利要求4所述的具有振动测试功能的电子装置，其特征在于，所述振动单元是 振动马达。 6.如权利要求1所述的具有振动测试功能的电子装置，其特征在于，所述振动力是由 邻近所述电子装置的另一电子装置所产生。 7.一种用以建立振动测试算法的方法，其特征在于，所述用以。
5、建立振动测试算法的方 法包括： (a)以预设振动力使电子装置产生振动； (b)利用振动测试仪器感测关于所述电子装置的第一振动力； (c)利用内建于所述电子装置中的振动感测单元感测关于所述电子装置的第二振动 力； (d)判断所述第二振动力是否等于所述第一振动力； (e)若所述第二振动力不等于所述第一振动力，计算所述第一振动力与所述第二振动 力的差值，以所述差值修正所述振动感测单元的感测算法，并且回到步骤(a)； (f)若所述第二振动力等于所述第一振动力，重复步骤(a)至(d)，以多个不同的预设 振动力使所述电子装置产生振动，以计算多个第一振动力与多个第二振动力的多个差值； 以及 (g)根据所述第。
6、二振动力与所述差值的对应关系，建立所述振动测试算法。 8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述步骤(a)还包括： 将所述电子装置设置于振动平台上；以及 利用所述振动平台以所述预设振动力使所述电子装置产生振动。 9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述步骤(a)还包括： 利用内建于所述电子装置中的振动单元以所述预设振动力使所述电子装置产生振动。 权 利 要 求 书CN 102840910 A 1/4页 3 具有振动测试功能的电子装置及建立振动测试算法的方法 技术领域 0001 本发明涉及一种具有振动测试功能的电子装置及用以建立振动测试算法的方法， 特别是涉及一种具有振动测试功能的电子装置。
7、，其可用来测试电子装置本身的振动力或其 它电子装置的振动力。 背景技术 0002 许多电子装置，例如行动电话、个人数字助理、平板计算机等，皆具备振动功能。目 前，电子装置的振动测试无论是在生产检验时或是终端用户使用时，均存在很多不足。举例 而言，在生产检验时，主要还是依赖专门的振动测试仪器来测试电子装置的振动力是否正 常。由于利用专门的振动测试仪器来测试需要花费庞大的仪器购置成本以及操作时间(一 台振动测试仪器通常只能同时测试二至四台电子装置)，导致无法对大量的电子装置进行 百分之百的检验，进而无法筛选出所有的不良品。此外，在终端用户使用时，由于往往是靠 使用者主观感觉振动力的大小，在缺少客观。
8、的判断机制下，使用者比较难察觉振动功能是 否正常。 发明内容 0003 本发明所要解决的技术问题是：为了弥补现有技术的不足，提供一种具有振动测 试功能的电子装置及用以建立振动测试算法的方法。 0004 本发明的具有振动测试功能的电子装置采用以下技术方案： 0005 所述具有振动测试功能的电子装置包括记忆单元、振动感测单元、显示单元以及 处理单元，其中所述处理单元电连接于所述记忆单元、所述振动感测单元与所述显示单元。 所述记忆单元用以存储振动测试算法。所述振动感测单元用以感测振动力。所述处理单元 用以根据所述振动测试算法计算对应所述振动力的补偿值，将所述振动力与所述补偿值相 加以产生补偿后振动力。
9、，并且将所述补偿后振动力显示于所述显示单元上。 0006 所述振动测试算法可包括多个振动力与多个补偿值的对应关系。 0007 所述振动感测单元可以是加速度传感器。 0008 所述具有振动测试功能的电子装置还可包括振动单元，电连接于所述处理单元， 用以产生所述振动力。 0009 所述振动单元可以是振动马达。 0010 所述振动力可以是由邻近所述电子装置的另一电子装置所产生。 0011 本发明的用以建立振动测试算法的方法采用以下技术方案： 0012 所述用以建立振动测试算法的方法包括：(a)以预设振动力使电子装置产生振 动；(b)利用振动测试仪器感测关于所述电子装置的第一振动力；(c)利用内建于所。
10、述电子 装置中的振动感测单元感测关于所述电子装置的第二振动力；(d)判断所述第二振动力是 否等于所述第一振动力；(e)若所述第二振动力不等于所述第一振动力，计算所述第一振 动力与所述第二振动力的差值，以所述差值修正所述振动感测单元的感测算法，并且回到 说 明 书CN 102840910 A 2/4页 4 步骤(a)；(f)若所述第二振动力等于所述第一振动力，重复步骤(a)至(d)，以多个不同的 预设振动力使所述电子装置产生振动，以计算多个第一振动力与多个第二振动力的多个差 值；以及(g)根据所述第二振动力与所述差值的对应关系，建立所述振动测试算法。 0013 所述步骤(a)还可包括：将所述电子。
11、装置设置于振动平台上；以及 0014 利用所述振动平台以所述预设振动力使所述电子装置产生振动。 0015 所述步骤(a)还可包括：利用内建于所述电子装置中的振动单元以所述预设振动 力使所述电子装置产生振动。 0016 根据上述技术方案，本发明的具有振动测试功能的电子装置及用以建立振动测试 算法的方法至少具有下列优点及有益效果：本发明提供用以建立振动测试算法的方法，并 且将此振动测试算法安装于电子装置中，以使电子装置具有振动测试功能。因此，于生产大 量的电子装置时，就可以利用每一台电子装置的振动测试功能自动测试电子装置本身的振 动力大小，以对大量的电子装置进行百分之百的检验。此外，使用者可利用电。
12、子装置的振 动测试功能来获取电子装置所产生的振动力数据，以了解所使用的电子装置的实际振动强 度。使用者也可以根据获取的振动力数据与对应的使用感受来设定所需的振动强度。再者， 使用者还可利用电子装置的振动测试功能来测试其它电子装置的振动强度。 附图说明 0017 图1是本发明一实施例的具有振动测试功能的电子装置的功能方块图。 0018 图2是本发明一实施例的用以建立振动测试算法的方法的流程图。 0019 图3是振动力与工作电流的对应关系图。 0020 其中，附图标记说明如下： 0021 1 电子装置 10 记忆单元 0022 12 振动感测单元 14 显示单元 0023 16 处理单元 18 振。
13、动单元 0024 100 振动测试算法 S10-S22 步骤 0025 I1-I5 工作电流 fe1-fe5 第一振动力 0026 fz1-fz5 第二振动力 fd1-fd5 差值 具体实施方式 0027 请参考图1，图1是本发明一实施例的具有振动测试功能的电子装置1的功能方块 图。如图1所示，电子装置1包括记忆单元10、振动感测单元12、显示单元14、处理单元16 以及振动单元18，其中处理单元16电连接于记忆单元10、振动感测单元12、显示单元14与 振动单元18。记忆单元10用以存储振动测试算法100以及其它必要的程序或数据。振动 感测单元12用以感测振动力。处理单元16用以根据振动测试。
14、算法100计算对应振动感测 单元12所感测的振动力的补偿值，将振动力与补偿值相加以产生补偿后振动力，并且将补 偿后振动力显示于显示单元14上。振动单元18用以产生振动力。 0028 于实际应用中，电子装置1可以是行动电话、个人数字助理、平板计算机或其它电 子装置，记忆单元10可以是非挥发性内存或其它数据存储装置，振动感测单元12可以是三 轴加速度传感器或其它振动传感器，显示单元14可以是液晶显示器或其它显示器，处理单 说 明 书CN 102840910 A 3/4页 5 元16可以是具有数据运算处理功能的处理器或控制器，且振动单元18可以是振动马达或 其它振动体。 0029 请参考图2，图2是。
15、本发明一实施例的用以建立振动测试算法100的方法的流程 图。首先，执行步骤S10，以预设振动力使电子装置1产生振动。若电子装置1本身不具有 振动功能(也就是说，电子装置1中无设置振动单元18)，则将电子装置1设置于振动平台 (未显示)上，并且利用振动平台以预设振动力使电子装置1产生振动。另一方面，若电子 装置1本身具有振动功能(也就是说，电子装置1中有设置振动单元18)，则利用内建于电 子装置1中的振动单元18(例如，振动马达)以预设振动力使电子装置1产生振动，其中预 设振动力可以通过施加于振动单元18的工作电压或电流来设定。 0030 接着，执行步骤S12，利用振动测试仪器(未显示)感测关于。
16、电子装置1的第一振 动力。同时，执行步骤S14，利用内建于电子装置1中的振动感测单元12感测关于电子装 置1的第二振动力。于实际应用中，振动感测单元12可以是三轴加速度传感器，用来感测 电子装置于X、Y、Z三轴向上的加速度变化，通过放大和滤除噪声后，再将模拟数据转换为 数字数据，之后再输出至电子装置1的处理单元16，处理单元16就可以根据牛顿第二运动 定律(fma，其中f表示力，m表示振动体质量，a表示振动加速度)计算出上述的第二振 动力。 0031 接着，执行步骤S16，判断第二振动力是否等于第一振动力。于实际应用中，可利 用计算机、电子装置本身或人工进行判断，视实际应用而定。若第二振动力不。
17、等于第一振动 力，则执行步骤S18，计算第一振动力与第二振动力的差值，以此差值修正振动感测单元12 的感测算法，并且回到步骤S10。举例而言，若振动测试仪器感测关于电子装置1的第一振 动力是10N，且振动感测单元12感测关于电子装置1的第二振动力是8N，则第一振动力与 第二振动力的差值就是2N。换句话说，由于振动测试仪器感测关于电子装置1的第一振动 力就是电子装置1的实际振动力，因此振动感测单元12的感测算法所算出的第二振动力需 再加上2N，才会符合电子装置1的实际振动力。需说明的是，若第二振动力等于第一振动 力，则可以第一振动力与第二振动力的差值等于0修正振动感测单元12的感测算法，或不 修。
18、正振动感测单元12的感测算法，视实际应用而定。 0032 若第二振动力等于第一振动力，则执行步骤S20，重复步骤S10至S16，以多个不同 的预设振动力使电子装置1产生振动，以计算多个第一振动力与多个第二振动力的多个差 值。最后，执行步骤S22，根据第二振动力与差值的对应关系，建立振动测试算法100。 0033 请参考图3，图3是振动力与工作电流的对应关系图。如图3所示，在横轴设定用 以使电子装置1产生预设振动力的五个工作电流I1-I5(其中，I5是电子装置1能正常振动 的最大工作电流)，振动测试仪器感测关于电子装置1对应此五个工作电流I1-I5的第一振 动力是fe1-fe5，且振动感测单元1。
19、2感测关于电子装置1对应此五个工作电流I1-I5的第 二振动力是fz1-fz5(以Z轴向的振动力为例，X、Y轴向的振动力可以此类推)，则fe1-fe5 和fz1-fz5的差值就是fd1-fd5。需说明的是，工作电流I1-I5可施加于电子装置1的振动 单元18，以使电子装置1本身产生振动，或者工作电流I1-I5可施加于上述的振动平台，以 带动电子装置1产生振动。 0034 工作电流是I3时，若振动测试仪器感测到的第一振动力fe3是19N，且振动感测 单元12感测到的第二振动力fz3是18.4N，则两者的差值fd3就是0.6N。因此，若电子装 说 明 书CN 102840910 A 4/4页 6 。
20、置1的振动感测单元12感测到18.4N的振动力，电子装置1的处理单元16就会根据振动 测试算法100计算对应振动力18.4N的补偿值0.6N，将振动力18.4N与补偿值0.6N相加 以产生补偿后振动力19N，并且将补偿后振动力19N显示于显示单元14上。工作电流是I4 时，若振动测试仪器感测到的第一振动力fe4是22N，且振动感测单元12感测到的第二振 动力fz4是21.7N，则两者的差值fd4就是0.3N。此时，电子装置1的处理单元16就会根 据振动测试算法100计算对应振动力21.7N的补偿值0.3N，将振动力21.7N与补偿值0.3N 相加以产生补偿后振动力22N，并且将补偿后振动力22。
21、N显示于显示单元14上。 0035 换句话说，第一振动力fe1-fe5与第二振动力fz1-fz5的差值fd1-fd5就是本发 明的振动测试算法100用以补偿电子装置1的振动感测单元12所感测到的振动力的补偿 值。需说明的是，若电子装置1的振动感测单元12所感测到的振动力介于fz3与fz4之间， 则可根据内差法计算介于fd3与fd4之间的补偿值。此外，在所需的工作电流范围内测试 越多组第一振动力与第二振动力(例如，可在图3中的工作电流0-I5范围内选取十个工作 电流来测试)，则所获得的补偿值就越精确。 0036 根据上述技术方案，本发明的具有振动测试功能的电子装置及用以建立振动测试 算法的方法至。
22、少具有下列优点及有益效果：本发明提供用以建立振动测试算法的方法，并 且将此振动测试算法安装于电子装置中，以使电子装置具有振动测试功能。因此，于生产大 量的电子装置时，就可以利用每一台电子装置的振动测试功能自动测试电子装置本身的振 动力大小，以对大量的电子装置进行百分之百的检验。举例而言，在生产大量的本发明的电 子装置时，可事先在每一台电子装置的测试界面下设定振动力规格(例如，10N1N)。接 着，开启电子装置的振动单元产生振动，处理单元就会根据上述作用原理计算出对应的振 动力，若计算出的振动力落在事先设定的振动力规格范围内，则处理单元可控制显示单元 显示合格，反之，则控制显示单元显示不合格，表。
23、示此电子装置的振动单元质量有问题或电 子装置没有组装好，以使作业人员可据以找出原因。 0037 此外，使用者可利用电子装置的振动测试功能来获取电子装置所产生的振动力数 据，以了解所使用的电子装置的实际振动强度。使用者也可以根据获取的振动力数据与对 应的使用感受来设定所需的振动强度。 0038 再者，使用者还可利用电子装置的振动测试功能来测试其它电子装置的振动强 度。举例而言，使用者可将本发明的电子装置以及另一具有振动功能的电子装置邻近放置 于同一平面上(例如，桌面)，在具有振动功能的电子装置开启振动后，本发明的电子装置 就可以测试出此电子装置的振动力(相对值而非绝对值)，例如5N。同理，使用者可利用本 发明的电子装置测试出另一具有振动功能的电子装置的振动力，例如8N。此时，使用者就可 以比对此两电子装置的振动力的强弱关系。 0039 以上所述仅为本发明的优选实施例，凡依本发明权利要求所做的均等变化与修 饰，皆应属本发明的涵盖范围。 说 明 书CN 102840910 A 1/3页 7 图1 说 明 书 附 图CN 102840910 A 2/3页 8 图2 说 明 书 附 图CN 102840910 A 3/3页 9 图3 说 明 书 附 图CN 102840910 A 。