像素阵列.pdf

上传人:00****42 文档编号:4212000 上传时间:2018-09-07 格式:PDF 页数:11 大小:545.19KB
返回 下载 相关 举报
摘要
申请专利号:

CN201110349989.3

申请日:

2011.10.31

公开号:

CN102508383A

公开日:

2012.06.20

当前法律状态:

撤回

有效性:

无权

法律详情:

发明专利申请公布后的视为撤回IPC(主分类):G02F 1/1362申请公布日:20120620|||公开

IPC分类号:

G02F1/1362; G02F1/1368; H01L23/50

主分类号:

G02F1/1362

申请人:

友达光电股份有限公司

发明人:

许金福; 林义芳

地址:

中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行二路1号

优先权:

专利代理机构:

北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006

代理人:

曾红

PDF下载: PDF下载
内容摘要

本发明提出了一种像素阵列,包含:多条扫描线,沿一第一方向配置,扫描线具有一第一分支扫描线及与其电性连接的一第二分支扫描线,第二分支扫描线毗邻并平行于第一分支扫描线;以及多条数据线,沿一第二方向与多条扫描线交叉配置,多条数据线与多条扫描线交叉排列形成多个像素区域;以及多条公共配线,沿第二方向配置,公共配线具有一第一分支公共配线及与其电性连接的一第二分支公共配线。本发明所提出的像素阵列,将扫描线分成两条分支扫描线,以及将公共配线分成两条分支公共配线,从而便于修补,进而减少报废。

权利要求书

1: 一种像素阵列, 其特征在于, 包含 : 多条扫描线, 沿一第一方向配置, 所述扫描线具有一第一分支扫描线及与其电性连接 的一第二分支扫描线, 所述第二分支扫描线毗邻并平行于所述第一分支扫描线 ; 多条数据线, 沿一第二方向与多条所述扫描线交叉配置, 多条所述数据线与多条所述 扫描线交叉排列形成多个像素区域 ; 以及 多条公共配线, 沿所述第二方向配置, 所述公共配线具有一第一分支公共配线及与其 电性连接的一第二分支公共配线。
2: 根据权利要求 1 所述的像素阵列, 其特征在于, 所述第一分支扫描线与所述第二分 支扫描线间具有多个第一连接点, 以使所述第一分支扫描线与所述第二分支扫描线电性连 接。
3: 根据权利要求 1 所述的像素阵列, 其特征在于, 所述第一分支扫描线与所述第二分 支扫描线间具有一第一间接。
4: 根据权利要求 1 所述的像素阵列, 其特征在于, 所述第一分支扫描线与所述第二分 支扫描线间具有相同的导电系数。
5: 根据权利要求 1 所述的像素阵列, 其特征在于, 所述像素区域具有至少一晶体管。
6: 根据权利要求 5 所述的像素阵列, 其特征在于, 所述晶体管为 3D 晶体管。
7: 根据权利要求 5 所述的像素阵列, 其特征在于, 所述晶体管为薄膜晶体管。
8: 根据权利要求 1 所述的像素阵列, 其特征在于, 所述第一分支公共配线与所述第二 分支公共配线间具有多个第二连接点以使所述第一分支公共配线与所述第二分支公共配 线电性连接。
9: 根据权利要求 1 所述的像素阵列, 其特征在于, 所述第一分支公共配线与所述第二 分支公共配线间具有一第二间接。
10: 根据权利要求 9 所述的像素阵列, 其特征在于, 所述第一分支公共配线与所述第二 分支公共配线具有相同的导电系数。

说明书


像素阵列

    【技术领域】
     本发明是有关于一种液晶显示器, 且特别是有关于液晶显示器中的像素阵列。背景技术 3D 晶体管, 即具有 3 栅极 (tri-gate) 的晶体管, 而采用其的液晶显示器, 主要由 3D 晶体管阵列基板、 彩色滤光阵列基板和液晶层所构成, 其中 3D 晶体管阵列基板则由像素 阵列结构所构成。
     参照图 1, 图 1 绘示了现有的像素阵列的局部示意图。如图 1 所示, 像素阵列 100, 包 括 扫 描 线 (gate-line)110、 数 据 线 (data-line)120、 每 两 条 扫 描 线 110 与 每 两 条数据线 120 交错围成的子像素区 130 以及每一子像素区 130 对应配置的一公共配线 (com-line)140。一般当像素阵列 100 的各线路出现问题时, 如短路或断路时, 通常采用修 补的方式解决此类问题, 从而减少这些线路的报废, 进而减少液晶显示器的报废。
     但是对于目前的像素矩阵 100 中的线路修补, 如, 当扫描线 110 断路时, 则修补困 难, 多数只能报废, 具体地说, 其修补方式一般是将扫描线 110 切半, 再利用数据线 120 及公 共配线 140 组合成回路, 将断路连接上, 但这样修好仍会有亮点产生, 另外所使用的数据线 120 及公共配线 140 就直接报废。
     有鉴于此, 如何设计一种像素矩阵, 改进其布线结构, 使其便于修补且提高修补成 功率, 从而减少报废, 是业内相关技术人员亟待解决的一技术问题。
     发明内容
     为了解决上述技术问题, 本发明提出了一种像素阵列, 包含 : 多条扫描线, 沿一第 一方向配置, 所述扫描线具有一第一分支扫描线及与其电性连接的一第二分支扫描线, 所 述第二分支扫描线毗邻并平行于所述第一分支扫描线 ; 以及多条数据线, 沿一第二方向与 多条所述扫描线交叉配置, 多条所述数据线与多条所述扫描线交叉排列形成多个像素区 域; 以及多条公共配线, 沿所述第二方向配置, 所述公共配线具有一第一分支公共配线及与 其电性连接的一第二分支公共配线。
     在本发明一实施方式中, 所述第一分支扫描线与所述第二分支扫描线间具有多个 第一连接点, 以使所述第一分支扫描线与所述第二分支扫描线电性连接。
     在本发明一实施方式中, 所述第一分支扫描线与所述第二分支扫描线间具有一第 一间接。
     在本发明一实施方式中, 所述第一分支扫描线与所述第二分支扫描线间具有相同 的导电系数。
     在本发明一实施方式中, 所述像素区域具有至少一晶体管。
     在本发明一实施方式中, 所述晶体管为 3D 晶体管。
     在本发明一实施方式中, 所述晶体管为薄膜晶体管。
     在本发明一实施方式中, 所述第一分支公共配线与所述第二分支公共配线间具有多个第二连接点以使所述第一分支公共配线与所述第二分支公共配线电性连接。
     在本发明一实施方式中, 所述第一分支公共配线与所述第二分支公共配线间具有 一第二间接。
     在本发明一实施方式中, 所述第一分支公共配线与所述第二分支公共配线具有相 同的导电系数。
     由上可知, 本发明所提出的像素阵列, 将扫描线分成两条分支扫描线, 以及将公共 配线分成两条分支公共配线, 从而便于修补, 进而减少报废。 附图说明
     图 1 绘示了现有的像素阵列的局部示意图 ;
     图 2 绘示了本发明一实施方式的像素阵列的局部示意图 ;
     图 3 绘示了本发明一实施方式的像素阵列的扫描线断路的修补示意图 ;
     图 4 绘示了本发明一实施方式的像素阵列的公共配线短路的修补示意图 ; 以及
     图 5 绘示了本发明一实施方式的像素阵列的扫描线与数据线交叉处短路的修补 示意图。 具体实施方式
     下文是举实施方式配合附图作详细说明, 但所提供的实施方式并非用以限制本发 明所涵盖的范围, 而结构运作的描述非用以限制其执行的顺序, 任何由元件重新组合的结 构, 所产生具有均等功效的装置, 皆为本发明所涵盖的范围。 此外, 图式仅以说明为目的, 并 未依照原尺寸作图。
     关于本文中所使用的 “约” 、 “大约” 或 “大致” 一般通常是指数值的误差或范围于 百分之二十以内, 较好地是于百分之十以内, 而更佳地则是于百分之五以内。 文中若无明确 说明, 其所提及的数值皆视作为近似值, 即如 “约” 、 “大约” 或 “大致” 所表示的误差或范围。
     请参照图 2, 图 2 绘示了本发明一实施方式的像素阵列的局部示意图。
     在本实施方式中, 像素阵列 200 包含多条扫描线 210、 多条数据线 220、 多条扫描线 210 与多条数据线 220 交叉排列所形成的多个像素区域 230 及多条公共配线 240, 需说明的 是, 为了便于叙述, 图 2 中只绘示了两条扫描线 210、 210’ , 两条数据线 220、 220’ , 一个像素 区域 230 及一条公共配线 140, 但是, 扫描线 210、 数据线 220 及公共配线 240 可以是多条, 像素区域 230 可以是多个。还需说明的是, 扫描线 210 与 210’ 为完全相同的扫描线, 只是 为了叙述方便, 以不同的标记区别开来, 同理数据线 220 与 220’ 为相同的数据线, 因此, 下 文中如果只是对扫描线的结构介绍时, 则只介绍扫描线 210, 如果涉及到修补时, 则同时采 用扫描线 210、 210’ 进行叙述, 同样, 对于数据线采用类似方式处理。
     如图 2 所示, 扫描线 210 沿第一方向配置, 即 X 方向, 在本实施方式中, 定义为水平 方向。 扫描线 210 具有第一分支扫描线 212 及与其电性连接的第二分支扫描线 214, 第二分 支扫描线 214 与第一分支扫描线 212 相毗邻且平行, 此第二分支扫描线 214 主要利用在修 且有多个连 补中, 此外, 第二分支扫描线 214 与第一分支扫描线 212 之间有有一定的间距, 接点 216, 连接点 216 用于使第二分支扫描线 214 与第一分支扫描线 212 相电性连接, 使两 者能够同步传递, 为了更好地实现同步传输, 在本实施方式中, 第二分支扫描线 214 与第一分支扫描线 212 具有相同的导电参数, 比如其材质选择相同的金属。但是, 在某些情形下, 如修补时, 则需要对连接点 216 进行断开, 使第二分支扫描线 214 与第一分支扫描线 212 在 一定区段里相断开, 从而不电性连接。同理, 扫描线 210’ 具有第一分支扫描线 212’ 及与其 电性连接的第二分支扫描线 214’ , 第一分支扫描线 212 及与第二分支扫描线 214 之间具有 连接点 116’ , 为了叙述简要, 在此不再赘述。
     如图 2 所示, 数据线 220, 沿第二方向配置, 即第二方向 Y, 在本实施方式中, 较佳 地, 第二方向 Y 垂直于第一方向 X。
     如图 2 所示, 数据线 220、 220’ 与扫描线 210、 210’ 围成像素区域 230。在本实施方 式中, 像素区域 230 具有晶体管 232, 晶体管 232 位于数据线与扫描线的交叉处, 较佳地, 为 3D 晶体管, 或者薄膜晶体管, 不以此为限。
     如图 2 所示, 公共配线 240, 沿第二方向配置, 即 Y 方向配置, 但在制程上, 公共配 线 240 与扫描线 210 为不同层, 即相互间为电性绝缘的。公共配线 240 具有第一分支公共 配线 242 及与其电性连接的一第二分支公共配线 244, 第二分支公共配线 244 与第一分支公 共配线 242 相毗邻且平行, 第二分支公共配线 244 与第一分支公共配线 242 之间有有一定 的间距, 便于在修补时断开, 两者间具有多个连接点 246, 连接点 246 用于使第二分支公共 配线线 244 与第一分支扫描线 242 相电性连接, 使两者能够同步传递, 为了更好地实现同步 传输, 在本实施方式中, 第二分支公共配线 242 与第一分支公共配线 244 具有相同的导电参 数, 比如其材质选择相同的金属。 下面请参照图 3, 图 3 绘示了本发明一实施方式的像素阵列的扫描线断路的修补 示意图。
     如图 3 所示, 当像素阵列 200 的水平扫描线 210’ 出现缺陷时, 如水平扫描线 210 出现断路 (H-line-open) 情形时, 如图 3 中所示缺陷 d1 时。在本实施方式中, 可以在 5 个 修补区域 A1、 A2、 A3、 A4 及 A5 区域内, 通过激光断开 (cut) 及激光焊接 (welding) 来对像 素阵列 200 中的线路进行处理。具体修补, 参照后述。
     首先, 在 A1 区域, 将公共配线 240’ 的两分支, 即第一分支公共配线 242’ 与第二分 支公共配线 244’ 断开, 即断开两者之间的连接点, 并将第一分支公共配线 242’ 与第一分支 扫描线 212’ 激光焊接使两者电性连接。此外, 还将靠近缺陷 d1 的第一分支扫描线 212’ 与 第二分支扫描线 214’ 都断开。
     然后, 在 A2 区域, 将第一分支公共配线 242’ 与第二分支扫描线 214 激光焊接使两 者电性连接, 并断开第一分支公共配线 242’ 与第二分支公共配线 244’ 。
     之后, 在 A3 区域, 将扫描线 210 的两分支, 即第一分支扫描线 212 与第二分支扫描 线 214 断开, 也就是将连接点 216 断开。
     继而, 在 A4 区域, 将第二分支扫描线 214 与第二分支公共配线 244 进行焊接以使 其电性连接, 并分别将第二分支扫描线 214 与第二分支公共配线 244 的另一端都断开。
     之后, 在 A5 区域, 将第二分支公共配线 244 与第一分支扫描线 212’ 进行焊接以使 其电性连接, 并将第一分支公共配线 242 与第二分支公共配线 244 断开以使第一分支公共 配线 242 与第一分支扫描线 212’ 电性绝缘, 并将第二分支公共配线 244 的另一端断开, 此 外, 还将靠近缺陷 d1 的第一分支扫描线 212’ 及第二分支扫描线 214’ 都断开。
     通过以上修补, 则可实现如图 B1-B2 的走向, 则此时, 可绕过缺陷 d1, 从而使扫描
     线 210’ 能够正常工作。
     请参照图 4, 图 4 绘示了本发明一实施方式的像素阵列的公共配线短路的修补示 意图。
     如图 4 所示, 此时像素阵列 200, 出现了水平方向的公共配线短路 (H-Com-Short), 即出现缺陷 d2、 d3, 将使公共配线 240 与 240’ 短路, 同理在本实施方式中, 可以采用如图 3 所示的修补方式进行修补, 在此不再赘述。
     请参照图 5, 图 5 绘示了本发明一实施方式的像素阵列的扫描线与数据线交叉处 短路的修补示意图。
     如图 5 所示, 此时像素阵列 200, 出现了扫描线 210’与数据线 220 交叉处短路 (X-Short), 即出现缺陷 d4, 同理, 在本实施方式中, 可以采用如图 3 所示的修补方式进行修 补, 在此不再赘述。
     以上仅是示意性提出部分缺陷, 并相应地进行修补, 但需强调的是, 本发明所提出 的方案可以对其他类型缺陷作出相应的修补, 而不仅限于此。
     由上可知, 本发明所提出的像素阵列, 将扫描线分成两条分支扫描线, 以及将公共 配线分成两条分支公共配线, 从而便于修补, 进而减少报废。
     上文中, 参照附图描述了本发明的具体实施方式。 但是, 本领域中的普通技术人员 能够理解, 在不偏离本发明的精神和范围的情况下, 还可以对本发明的具体实施方式作各 种变更和替换。这些变更和替换都落在本发明权利要求书所限定的范围内。

像素阵列.pdf_第1页
第1页 / 共11页
像素阵列.pdf_第2页
第2页 / 共11页
像素阵列.pdf_第3页
第3页 / 共11页
点击查看更多>>
资源描述

《像素阵列.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《像素阵列.pdf(11页珍藏版)》请在专利查询网上搜索。

1、(10)申请公布号 CN 102508383 A (43)申请公布日 2012.06.20 C N 1 0 2 5 0 8 3 8 3 A *CN102508383A* (21)申请号 201110349989.3 (22)申请日 2011.10.31 G02F 1/1362(2006.01) G02F 1/1368(2006.01) H01L 23/50(2006.01) (71)申请人友达光电股份有限公司 地址中国台湾新竹科学工业园区新竹市力 行二路1号 (72)发明人许金福 林义芳 (74)专利代理机构北京律诚同业知识产权代理 有限公司 11006 代理人曾红 (54) 发明名称 像素阵。

2、列 (57) 摘要 本发明提出了一种像素阵列,包含:多条扫描 线,沿一第一方向配置,扫描线具有一第一分支扫 描线及与其电性连接的一第二分支扫描线,第二 分支扫描线毗邻并平行于第一分支扫描线;以及 多条数据线,沿一第二方向与多条扫描线交叉配 置,多条数据线与多条扫描线交叉排列形成多个 像素区域;以及多条公共配线,沿第二方向配置, 公共配线具有一第一分支公共配线及与其电性连 接的一第二分支公共配线。本发明所提出的像素 阵列,将扫描线分成两条分支扫描线,以及将公共 配线分成两条分支公共配线,从而便于修补,进而 减少报废。 (51)Int.Cl. 权利要求书1页 说明书4页 附图5页 (19)中华人民。

3、共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书 1 页 说明书 4 页 附图 5 页 1/1页 2 1.一种像素阵列,其特征在于,包含: 多条扫描线,沿一第一方向配置,所述扫描线具有一第一分支扫描线及与其电性连接 的一第二分支扫描线,所述第二分支扫描线毗邻并平行于所述第一分支扫描线; 多条数据线,沿一第二方向与多条所述扫描线交叉配置,多条所述数据线与多条所述 扫描线交叉排列形成多个像素区域;以及 多条公共配线,沿所述第二方向配置,所述公共配线具有一第一分支公共配线及与其 电性连接的一第二分支公共配线。 2.根据权利要求1所述的像素阵列,其特征在于,所述第一分支扫描线与所述第二分 支扫描。

4、线间具有多个第一连接点,以使所述第一分支扫描线与所述第二分支扫描线电性连 接。 3.根据权利要求1所述的像素阵列,其特征在于,所述第一分支扫描线与所述第二分 支扫描线间具有一第一间接。 4.根据权利要求1所述的像素阵列,其特征在于,所述第一分支扫描线与所述第二分 支扫描线间具有相同的导电系数。 5.根据权利要求1所述的像素阵列,其特征在于,所述像素区域具有至少一晶体管。 6.根据权利要求5所述的像素阵列,其特征在于,所述晶体管为3D晶体管。 7.根据权利要求5所述的像素阵列,其特征在于,所述晶体管为薄膜晶体管。 8.根据权利要求1所述的像素阵列,其特征在于,所述第一分支公共配线与所述第二 分支。

5、公共配线间具有多个第二连接点以使所述第一分支公共配线与所述第二分支公共配 线电性连接。 9.根据权利要求1所述的像素阵列,其特征在于,所述第一分支公共配线与所述第二 分支公共配线间具有一第二间接。 10.根据权利要求9所述的像素阵列,其特征在于,所述第一分支公共配线与所述第二 分支公共配线具有相同的导电系数。 权 利 要 求 书CN 102508383 A 1/4页 3 像素阵列 技术领域 0001 本发明是有关于一种液晶显示器,且特别是有关于液晶显示器中的像素阵列。 背景技术 0002 3D晶体管,即具有3栅极(tri-gate)的晶体管,而采用其的液晶显示器,主要由 3D晶体管阵列基板、彩。

6、色滤光阵列基板和液晶层所构成,其中3D晶体管阵列基板则由像素 阵列结构所构成。 0003 参照图1,图1绘示了现有的像素阵列的局部示意图。如图1所示,像素阵列 100,包括扫描线(gate-line)110、数据线(data-line)120、每两条扫描线110与每两 条数据线120交错围成的子像素区130以及每一子像素区130对应配置的一公共配线 (com-line)140。一般当像素阵列100的各线路出现问题时,如短路或断路时,通常采用修 补的方式解决此类问题,从而减少这些线路的报废,进而减少液晶显示器的报废。 0004 但是对于目前的像素矩阵100中的线路修补,如,当扫描线110断路时,。

7、则修补困 难,多数只能报废,具体地说,其修补方式一般是将扫描线110切半,再利用数据线120及公 共配线140组合成回路,将断路连接上,但这样修好仍会有亮点产生,另外所使用的数据线 120及公共配线140就直接报废。 0005 有鉴于此,如何设计一种像素矩阵,改进其布线结构,使其便于修补且提高修补成 功率,从而减少报废,是业内相关技术人员亟待解决的一技术问题。 发明内容 0006 为了解决上述技术问题,本发明提出了一种像素阵列,包含:多条扫描线,沿一第 一方向配置,所述扫描线具有一第一分支扫描线及与其电性连接的一第二分支扫描线,所 述第二分支扫描线毗邻并平行于所述第一分支扫描线;以及多条数据线。

8、,沿一第二方向与 多条所述扫描线交叉配置,多条所述数据线与多条所述扫描线交叉排列形成多个像素区 域;以及多条公共配线,沿所述第二方向配置,所述公共配线具有一第一分支公共配线及与 其电性连接的一第二分支公共配线。 0007 在本发明一实施方式中,所述第一分支扫描线与所述第二分支扫描线间具有多个 第一连接点,以使所述第一分支扫描线与所述第二分支扫描线电性连接。 0008 在本发明一实施方式中,所述第一分支扫描线与所述第二分支扫描线间具有一第 一间接。 0009 在本发明一实施方式中,所述第一分支扫描线与所述第二分支扫描线间具有相同 的导电系数。 0010 在本发明一实施方式中,所述像素区域具有至少。

9、一晶体管。 0011 在本发明一实施方式中,所述晶体管为3D晶体管。 0012 在本发明一实施方式中,所述晶体管为薄膜晶体管。 0013 在本发明一实施方式中,所述第一分支公共配线与所述第二分支公共配线间具有 说 明 书CN 102508383 A 2/4页 4 多个第二连接点以使所述第一分支公共配线与所述第二分支公共配线电性连接。 0014 在本发明一实施方式中,所述第一分支公共配线与所述第二分支公共配线间具有 一第二间接。 0015 在本发明一实施方式中,所述第一分支公共配线与所述第二分支公共配线具有相 同的导电系数。 0016 由上可知,本发明所提出的像素阵列,将扫描线分成两条分支扫描线。

10、,以及将公共 配线分成两条分支公共配线,从而便于修补,进而减少报废。 附图说明 0017 图1绘示了现有的像素阵列的局部示意图; 0018 图2绘示了本发明一实施方式的像素阵列的局部示意图; 0019 图3绘示了本发明一实施方式的像素阵列的扫描线断路的修补示意图; 0020 图4绘示了本发明一实施方式的像素阵列的公共配线短路的修补示意图;以及 0021 图5绘示了本发明一实施方式的像素阵列的扫描线与数据线交叉处短路的修补 示意图。 具体实施方式 0022 下文是举实施方式配合附图作详细说明,但所提供的实施方式并非用以限制本发 明所涵盖的范围,而结构运作的描述非用以限制其执行的顺序,任何由元件重。

11、新组合的结 构,所产生具有均等功效的装置,皆为本发明所涵盖的范围。此外,图式仅以说明为目的,并 未依照原尺寸作图。 0023 关于本文中所使用的“约”、“大约”或“大致”一般通常是指数值的误差或范围于 百分之二十以内,较好地是于百分之十以内,而更佳地则是于百分之五以内。文中若无明确 说明,其所提及的数值皆视作为近似值,即如“约”、“大约”或“大致”所表示的误差或范围。 0024 请参照图2,图2绘示了本发明一实施方式的像素阵列的局部示意图。 0025 在本实施方式中,像素阵列200包含多条扫描线210、多条数据线220、多条扫描线 210与多条数据线220交叉排列所形成的多个像素区域230及多。

12、条公共配线240,需说明的 是,为了便于叙述,图2中只绘示了两条扫描线210、210,两条数据线220、220,一个像素 区域230及一条公共配线140,但是,扫描线210、数据线220及公共配线240可以是多条, 像素区域230可以是多个。还需说明的是,扫描线210与210为完全相同的扫描线,只是 为了叙述方便,以不同的标记区别开来,同理数据线220与220为相同的数据线,因此,下 文中如果只是对扫描线的结构介绍时,则只介绍扫描线210,如果涉及到修补时,则同时采 用扫描线210、210进行叙述,同样,对于数据线采用类似方式处理。 0026 如图2所示,扫描线210沿第一方向配置,即X方向,。

13、在本实施方式中,定义为水平 方向。扫描线210具有第一分支扫描线212及与其电性连接的第二分支扫描线214,第二分 支扫描线214与第一分支扫描线212相毗邻且平行,此第二分支扫描线214主要利用在修 补中,此外,第二分支扫描线214与第一分支扫描线212之间有有一定的间距,且有多个连 接点216,连接点216用于使第二分支扫描线214与第一分支扫描线212相电性连接,使两 者能够同步传递,为了更好地实现同步传输,在本实施方式中,第二分支扫描线214与第一 说 明 书CN 102508383 A 3/4页 5 分支扫描线212具有相同的导电参数,比如其材质选择相同的金属。但是,在某些情形下, 。

14、如修补时,则需要对连接点216进行断开,使第二分支扫描线214与第一分支扫描线212在 一定区段里相断开,从而不电性连接。同理,扫描线210具有第一分支扫描线212及与其 电性连接的第二分支扫描线214,第一分支扫描线212及与第二分支扫描线214之间具有 连接点116,为了叙述简要,在此不再赘述。 0027 如图2所示,数据线220,沿第二方向配置,即第二方向Y,在本实施方式中,较佳 地,第二方向Y垂直于第一方向X。 0028 如图2所示,数据线220、220与扫描线210、210围成像素区域230。在本实施方 式中,像素区域230具有晶体管232,晶体管232位于数据线与扫描线的交叉处,较。

15、佳地,为 3D晶体管,或者薄膜晶体管,不以此为限。 0029 如图2所示,公共配线240,沿第二方向配置,即Y方向配置,但在制程上,公共配 线240与扫描线210为不同层,即相互间为电性绝缘的。公共配线240具有第一分支公共 配线242及与其电性连接的一第二分支公共配线244,第二分支公共配线244与第一分支公 共配线242相毗邻且平行,第二分支公共配线244与第一分支公共配线242之间有有一定 的间距,便于在修补时断开,两者间具有多个连接点246,连接点246用于使第二分支公共 配线线244与第一分支扫描线242相电性连接,使两者能够同步传递,为了更好地实现同步 传输,在本实施方式中,第二分。

16、支公共配线242与第一分支公共配线244具有相同的导电参 数,比如其材质选择相同的金属。 0030 下面请参照图3,图3绘示了本发明一实施方式的像素阵列的扫描线断路的修补 示意图。 0031 如图3所示,当像素阵列200的水平扫描线210出现缺陷时,如水平扫描线210 出现断路(H-line-open)情形时,如图3中所示缺陷d1时。在本实施方式中,可以在5个 修补区域A1、A2、A3、A4及A5区域内,通过激光断开(cut)及激光焊接(welding)来对像 素阵列200中的线路进行处理。具体修补,参照后述。 0032 首先,在A1区域,将公共配线240的两分支,即第一分支公共配线242与第。

17、二分 支公共配线244断开,即断开两者之间的连接点,并将第一分支公共配线242与第一分支 扫描线212激光焊接使两者电性连接。此外,还将靠近缺陷d1的第一分支扫描线212与 第二分支扫描线214都断开。 0033 然后,在A2区域,将第一分支公共配线242与第二分支扫描线214激光焊接使两 者电性连接,并断开第一分支公共配线242与第二分支公共配线244。 0034 之后,在A3区域,将扫描线210的两分支,即第一分支扫描线212与第二分支扫描 线214断开,也就是将连接点216断开。 0035 继而,在A4区域,将第二分支扫描线214与第二分支公共配线244进行焊接以使 其电性连接,并分别将。

18、第二分支扫描线214与第二分支公共配线244的另一端都断开。 0036 之后,在A5区域,将第二分支公共配线244与第一分支扫描线212进行焊接以使 其电性连接,并将第一分支公共配线242与第二分支公共配线244断开以使第一分支公共 配线242与第一分支扫描线212电性绝缘,并将第二分支公共配线244的另一端断开,此 外,还将靠近缺陷d1的第一分支扫描线212及第二分支扫描线214都断开。 0037 通过以上修补,则可实现如图B1-B2的走向,则此时,可绕过缺陷d1,从而使扫描 说 明 书CN 102508383 A 4/4页 6 线210能够正常工作。 0038 请参照图4,图4绘示了本发明。

19、一实施方式的像素阵列的公共配线短路的修补示 意图。 0039 如图4所示,此时像素阵列200,出现了水平方向的公共配线短路(H-Com-Short), 即出现缺陷d2、d3,将使公共配线240与240短路,同理在本实施方式中,可以采用如图3 所示的修补方式进行修补,在此不再赘述。 0040 请参照图5,图5绘示了本发明一实施方式的像素阵列的扫描线与数据线交叉处 短路的修补示意图。 0041 如图5所示,此时像素阵列200,出现了扫描线210与数据线220交叉处短路 (X-Short),即出现缺陷d4,同理,在本实施方式中,可以采用如图3所示的修补方式进行修 补,在此不再赘述。 0042 以上仅。

20、是示意性提出部分缺陷,并相应地进行修补,但需强调的是,本发明所提出 的方案可以对其他类型缺陷作出相应的修补,而不仅限于此。 0043 由上可知,本发明所提出的像素阵列,将扫描线分成两条分支扫描线,以及将公共 配线分成两条分支公共配线,从而便于修补,进而减少报废。 0044 上文中,参照附图描述了本发明的具体实施方式。但是,本领域中的普通技术人员 能够理解,在不偏离本发明的精神和范围的情况下,还可以对本发明的具体实施方式作各 种变更和替换。这些变更和替换都落在本发明权利要求书所限定的范围内。 说 明 书CN 102508383 A 1/5页 7 图1 说 明 书 附 图CN 102508383 A 2/5页 8 图2 说 明 书 附 图CN 102508383 A 3/5页 9 图3 说 明 书 附 图CN 102508383 A 4/5页 10 图4 说 明 书 附 图CN 102508383 A 10 5/5页 11 图5 说 明 书 附 图CN 102508383 A 11 。

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
相关搜索

当前位置:首页 > 物理 > 光学


copyright@ 2017-2020 zhuanlichaxun.net网站版权所有
经营许可证编号:粤ICP备2021068784号-1