一种纳米晶体气动仪测量头技术领域
本发明涉及一种纳米晶体气动仪测量头，属于精密检测领域。
背景技术
常用的气动仪测量头是全钢构件，这种构件有两方面的弊端：一方面，钢构件容易
磨损，导致出现伤痕，对检测精确性影响较大；另一方面 ，钢构件是整体结构，表面磨损后
不能局部更换，整体更换造成高等钢材浪费和使用效率。
发明内容
本发明提供了一种纳米晶体气动仪测量头，其通过结构上的改进以及加工工艺的
精细控制，克服了上述钢构件测量头的缺陷。
本发明的技术方案为：
一种纳米晶体气动仪测量头，包括测量头本体和螺纹段，所述测量头本体包括上环体、
下环体、杆体、设于杆体顶端的通气孔、设于杆体中部的固定环和设于固定环上的出气孔，
所述通气孔与所述出气孔垂直连通；
所述上环体和下环体分别套于所述杆体的上下两端，且上环体和下环体的内径与固定
环的内径相等；
所述上环体和下环体由纳米晶体材料制成。
进一步地，在所述测量头本体上贯穿设有至少一道垂直向下的垂直气槽。
进一步地，所述固定环上下两端还设有小于固定环内径的凸环，该凸环与上、下环
体之间形成的间隙构成环形气槽。
进一步地，所述杆体与上、下环体之间粘合固定。
本发明一种纳米晶体气动仪测量头按如下工艺加工而成：
1、上、下环体的加工
选取耐磨的纳米晶体材料，切割加工要求长度的小段，对表面先进行粗步抛光；利用开
孔机械调到规定的尺寸进行开孔，完毕后对环体进行精细抛光并检测是否合格合格后进行
下一工艺过程。
2、环体粘合、开槽的步骤
用胶结剂将环体粘合于杆体上，固定完毕后，在测量头本体上从上至下开对称开两道
气槽，完毕对整件进行抛光。
3、检测
利用精密探测设备检测测量头表面的平整度，检测合格后，封装保存。
有益效果：本发明的纳米晶体气动仪测量头，由于其结构上采用分离可拆解的纳
米晶体环，不仅材料耐磨，而且便于更换。
附图说明
图1是本发明的整体结构正面示意图
图2是本发明整体结构背面示意图
图3是本发明的局部结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。
一种纳米晶体气动仪测量头，包括测量头本体1和螺纹段2，测量头本体1包括上环
体4、下环体41、杆体3、设于杆体顶端的通气孔21、设于杆体中部的固定环31和设于固定环
上的出气孔32，所述通气孔21与所述出气孔32垂直连通；
所述上环体4和下环体41分别套于所述杆体1的上下两端，且上环体4和下环体41的内
径与固定环31的内径相等；
所述上环体4和下环体41由纳米晶体材料制成。
在本实施例中，在所述测量头本体1上贯穿设有至少一道垂直向下的垂直气槽11。
在本实施例中，所述固定环上下两端还设有小于固定环内径的凸环33，该凸环与
上、下环体之间形成的间隙构成环形气槽12。
在本实施例中，所述杆体与上、下环体之间粘合固定。
本发明一种纳米晶体气动仪测量头按如下工艺加工而成：
1、上、下环体的加工
选取耐磨的纳米晶体材料，切割加工要求长度的小段，对表面先进行粗步抛光；利用开
孔机械调到规定的尺寸进行开孔，完毕后对环体进行精细抛光并检测是否合格合格后进行
下一工艺过程。
2、环体粘合、开槽的步骤
用胶结剂将环体粘合于杆体上，固定完毕后，在测量头本体上从上至下开对称开两道
气槽，完毕对整件进行抛光。
3、检测
利用精密探测设备检测测量头表面的平整度，检测合格后，封装保存。
以上描述是结合具体实施方式和附图对本发明所做的进一步说明。但是，本发明
显然能够以多种不同于此描述的其它方法来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内
容的情况下根据实际使用情况进行推广、演绎，因此，上述具体实施例的内容不应限制本发
明确定的保护范围。