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1、(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201410819549.3(22)申请日 2014.12.25G06F 9/44(2006.01)(71)申请人 索尔思光电（成都）有限公司地址 611731 四川省成都市高新区西区科新路8号成都出口加工区西区2号5号标准厂房(72)发明人 代辉 陈晓鹏 曾海峰(74)专利代理机构 四川力久律师事务所 51221代理人 林辉轮 王芸(54) 发明名称一种光模块测试参数配置方法及系统(57) 摘要本发明公开了一种光模块测试参数配置方法及系统，方法包括：提取光模块测试程序中的测试参数的步骤 ；根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤 ；将所述。
2、配置后的所述测试参数存储到数据库的步骤。本发明提高了光模块测试时测试参数配置的效率，可自动快速实现测试参数的配置，方便后续测试过程。(51)Int.Cl.(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请权利要求书1页 说明书5页 附图1页(10)申请公布号 CN 104461565 A(43)申请公布日 2015.03.25CN 104461565 A1/1页21.一种光模块测试参数配置方法，其特征在于，包括：提取光模块测试程序中的测试参数的步骤；根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤；将所述配置后的所述测试参数存储到数据库的步骤。2.根据权利要求1所述的光模块测试参数配置方法，其特征。
3、在于，所述提取光模块测试程序中的测试参数的步骤具体为：通过.NET反射技术将编译好的所述测试程序的代码中的所有预先定义的参数、功能对象和/或功能子对象反射出来，再通过预定标识对象找到相应的参数名称、功能对象和或子功能对象名称；其中所述预定标识对象在所述测试程序的代码编写时设定。3.根据权利要求2所述的光模块测试参数配置方法，其特征在于，所述预定测试条件为提取的所述测试程序的代码中定义的至少一个参数名称及其取值；所述根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤具体为:根据所述至少一个参数名称及其取值配置相应的所述测试参数。4.根据权利要求3所述的光模块测试参数配置方法，其特征在于，还包括：显示所述测试。
4、参数和/或所述配置后的所述测试参数的步骤。5.根据权利要求1-4任一项所述的光模块测试参数配置方法，其特征在于，还包括校验所述配置后的所述测试参数是否符合所述预定测试条件的步骤；若是，则将所述配置后的所述测试参数存储到数据库。6.一种光模块测试参数配置系统，其特征在于，包括：参数提取模块，用于提取光模块测试程序中的测试参数；参数配置模块，用于根据预定测试条件配置所述测试参数；存储模块，用于将所述配置后的所述测试参数存储到数据库。7.根据权利要求6所述的光模块测试参数配置系统，其特征在于，所述参数提取模块具体用于通过.NET反射技术将编译好的所述测试程序的代码中的所有预先定义的参数、功能对象和/。
5、或功能子对象反射出来，再通过预定标识对象找到相应的参数名称、功能对象和/或子功能对象名称；其中所述预定标识对象在所述测试程序的代码编写时设定。8.根据权利要求6所述的光模块测试参数配置系统，其特征在于，所述预定测试条件为提取的所述测试程序的代码中定义的至少一个参数名称及其取值；所述参数配置模块具体用于根据所述至少一个参数名称及其取值配置相应的所述测试参数。9.根据权利要求8所述的光模块测试参数配置系统，其特征在于，还包括：显示模块，用于显示所述测试参数和/或所述配置后的所述测试参数。10.根据权利要求6-9任一项所述的光模块测试参数配置系统，其特征在于，还包括：校验模块，用于接收所述参数配置模。
6、块输出的配置后的所述测试参数，校验所配置后的所述测试参数是否符合所述预定测试条件；若是，则输出所述配置后的所述测试参数到存储模块。权 利 要 求 书CN 104461565 A1/5页3一种光模块测试参数配置方法及系统技术领域0001 本发明涉及光模块测试领域，特别涉及一种光模块测试参数配置方法及系统。背景技术0002 现有光模块测试过程中，测试程序的参数配置需要手动将测试程序所需要用到的参数名称以及名称对应的参数值手工配置到数据库中，然后运行测试程序，测试程序运行过程中从数据库中获取这些配置，由于测试程序和参数配置不是闭合操作，所以数据库中配置的参数和测试程序所需要的参数对应不上的可能性极高。
7、，且人工操作容易出错，在参数配置的时候也无法校验配置参数的正确性，所以只能通过运行测试程序，看测试程序是否报错来检查配置的参数是否正确，这种检查极为费时费力，影响光模块测试效率。发明内容0003 本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种自动配置测试参数，测试效率高的光模块测试参数配置方法及系统。0004 为了实现上述发明目的，本发明采用的技术方案是：一种光模块测试参数配置方法，包括：提取光模块测试程序中的测试参数的步骤；根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤；将所述配置后的所述测试参数存储到数据库的步骤。0005 优选的，所述提取光模块测试程序中的测试参数的步骤具体为：通过.N。
8、ET反射技术将编译好的所述测试程序的代码中的所有预先定义的参数、功能对象和/或功能子对象反射出来，再通过预定标识对象找到相应的参数名称、功能对象和/或子功能对象名称；其中所述预定标识对象在所述测试程序的代码编写时设定。0006 优选的，所述预定测试条件为提取的所述测试程序的代码中定义的至少一个参数名称及其取值；所述根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤具体为:根据所述至少一个参数名称及其取值配置相应的所述测试参数。0007 优选的，还包括显示所述测试参数和/或所述配置后的所述测试参数的步骤。0008 优选的，还包括校验所述配置后的所述测试参数是否符合所述预定测试条件的步骤；若是，则将所述配置后。
9、的所述测试参数存储到数据库。0009 本发明还提供一种光模块测试参数配置系统，包括：参数提取模块，用于提取光模块测试程序中的测试参数；参数配置模块，用于根据预定测试条件配置所述测试参数；存储模块，用于将所述配置后的所述测试参数存储到数据库。0010 优选的，所述参数提取模块具体用于通过.NET反射技术将编译好的所述测试程序的代码中的所有预先定义的参数、功能对象和/或功能子对象反射出来，再通过预定标识对象找到相应的参数名称、功能对象和/或子功能对象名称；其中所述预定标识对象在说 明 书CN 104461565 A2/5页4所述测试程序的代码编写时设定。0011 优选的，所述预定测试条件为提取的所。
10、述测试程序的代码中定义的至少一个参数名称及其取值；所述参数配置模块具体用于根据所述至少一个参数名称及其取值配置相应的所述测试参数。0012 优选的，还包括显示模块，用于显示所述测试参数和/或所述配置后的所述测试参数。0013 优选的，还包括校验模块，用于接收所述参数配置模块输出的配置后的所述测试参数，校验所述配置后的所述测试参数是否符合所述预定测试条件；若是，则输出所述配置后的所述测试参数到存储模块。0014 与现有技术相比，本发明的有益效果：本发明在测试程序运行前自动提取光模块测试程序中的测试参数，根据预定测试条件配置所述测试参数使其符合测试要求，再将所述配置后的所述测试参数存储到数据库，测。
11、试程序运行时自动从数据库提取配置后的测试参数进行光模块的测试。本发明可自动快速实现测试参数的配置，方便后续测试程序的光模块测试过程，使得光模块测试效率大大提高。0015 附图说明：图1是本发明实施例的光模块测试参数配置方法流程图；图2是本发明实施例的光模块测试参数配置系统框图。具体实施方式0016 下面结合具体实施方式对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。0017 本发明在测试程序运行前自动提取光模块测试程序中的测试参数，根据预定测试条件配置所述测试参数使其符合测试要求，再将所述配置后的所述测试参数存。
12、储到数据库，测试程序运行时自动从数据库提取配置后的测试参数进行光模块的测试。本发明可自动快速实现测试参数的配置，方便后续测试程序的光模块测试过程，使得光模块测试效率大大提高。下面结合附图具体说明。0018 如图1所示的一种光模块测试方法，包括如下步骤：S1、提取光模块测试程序中的测试参数的步骤。0019 具体的，所述提取光模块测试程序中的测试参数的步骤具体为：通过.NET反射技术将编译好的所述测试程序的代码中的所有预先定义的参数、功能对象和/或功能子对象反射出来，再通过预定标识对象找到相应的参数名称、功能对象和/或子功能对象名称；其中所述预定标识对象在所述测试程序的代码编写时设定。0020 在。
13、开发测试程序的同时在代码中使用预定标识对象对代码中的参数名称、功能对象、子功能对象进行标识。例如：AttributeFieldProperties(“CPDac experienced value at T0 which makes cp in the tuning range at T0“,true, EnumDataType.Numeric, DefaultValue = “64“, IsLimit = true,说 明 书CN 104461565 A3/5页5LowerLimit = 48,UpperLimit = 128)private const string CONST_CPDAC。
14、_INIT_T0 = “CPDAC_INIT_T0“;这个标识对象标识了一个参数名称为“CPDAC_INIT_T0”的参数，以及该参数的值类型，默认值64以及值范围48-128。0021 通过.NET的反射功能将编译好的测试程序中的所有定义参数、对象反射出来，然后再通过预定标识对象找到相应的参数名称、功能对象、子功能对象等。0022 S2、根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤。0023 所述预定测试条件为提取的所述测试程序的代码中定义的至少一个参数名称及其取值；所述根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤具体为:根据所述至少一个参数名称及其取值配置相应的所述测试参数。以上述参数名称为“CPDA。
15、C_INIT_T0”的参数为例，提取到的参数值范围48-128，则根据该范围设置该参数值。0024 测试程序中包含多功能调试功能（即功能对象），多功能调试功能中又包含消光比调试，光功率调试子功能（即子功能对象）。消光比调试子功能中包含调试目标值参数，调试算法参数等，参数又可以包含参数描述，参数的类型（数字型，字符型.），参数选值范围（可以是多个单值中进行选择，也可以是一个值范围）。0025 例：AttributeFunctionProperties(EnumFunctionTestID.ATE_V_TxMultiTuning, “Thrd1“, 20, “)AttributeContainSu。
16、bFunction(EnumSubFunctionTestID.ATE_SetAPD, false)AttributeContainSubFunction(EnumSubFunctionTestID.ATE_SetCP, true)AttributeContainSubFunction(EnumSubFunctionTestID.ATE_SetER, false)AttributeContainSubFunction(EnumSubFunctionTestID.ATE_SetIbias, false)AttributeContainSubFunction(EnumSubFunctionTest。
17、ID.ATE_MeasPwr, false)AttributeContainSubFunction(EnumSubFunctionTestID.ATE_MeasER, false)internal class ATE_V_TxMultiTuning : ATEFunctionBase这段代码定义了一个功能对象，名称为ATE_V_TxMultiTuning，该功能中包含6个子功 能ATE_SetAPD，ATE_SetCP，ATE_SetER，ATE_SetIbias，ATE_MeasPwr，ATE_MeasER，其中，子功能ATE_SetCP是可选子功能，其他5个子功能都是必选子功能。0026 。
18、AttributeFieldProperties(“Sets the APD upper limit.“, false, EnumDataType.Numeric, DefaultValue = “50“)private const string CONST_PARAMETER_MAXIMUM = “Maximum“;这个定义了一个功能参数，同时也定义了该参数的数据类型，以及默认值。0027 那么参数配置可以配置该测试程序，只运行多功能调试功能中的消光比调试子功能，而不运行光功率调试子功能，当然也可以配置运行多功能调试功能中包含的说 明 书CN 104461565 A4/5页6所有子功能，还可。
19、以配置不运行多功能调试功能。0028 S3、将所述配置后的所述测试参数存储到数据库的步骤。0029 测试程序运行时自动从数据库提取配置后的测试参数进行光模块的测试。本发明可自动快速实现测试参数的配置，方便后续测试程序的光模块测试过程，使得光模块测试效率大大提高。0030 优选的，在一个示例中，配置完成后自动根据预定的关键字存储到数据库，测试程序运行时会通过该关键字从数据库中获取参数配置，方便查找相应参数，测试不同指标可以设定不同的关键字，以方便快速查找配置。0031 优选的，在一个示例中，还包括显示所述测试参数和/或所述配置后的所述测试参数的步骤，这样以可视化的形式展现在电脑屏幕，供配置人员进。
20、行操作配置，更加方便。0032 优选的，在一个示例中还包括校验所述配置后的所述测试参数是否符合所述预定测试条件的步骤；若是，则将所述配置后的所述测试参数存储到数据库。例如参数名称为“CPDAC_INIT_T0”的参数配置后的值为30，未在值范围48-128内，则重新配置，若该参数配置后的值为50，则将所述配置后的所述测试参数存储到数据库。这样可保证参数配置的可靠性，避免后续测试出错。0033 本发明在测试程序运行前自动提取光模块测试程序中的测试参数，根据预定测试条件配置所述测试参数使其符合测试要求，再将所述配置后的所述测试参数存储到数据库，测试程序运行时自动从数据库提取配置后的测试参数进行光模。
21、块的测试。本发明可自动快速实现测试参数的配置，方便后续测试程序的光模块测试过程，使得光模块测试效率大大提高。0034 基于同一构思，本发明还提供一种光模块测试参数配置系统，参看图2所示光模块测试参数配置系统，包括：参数提取模块1，用于提取光模块测试程序中的测试参数；参数配置模块2，用于根据预定测试条件配置所述测试参数；以及存储模块3，用于将所述配置后的所述测试参数存储到数据库。0035 优选的，所述参数提取模块具体用于通过.NET反射技术将编译好的所述测试程序的代码中的所有预先定义的参数、功能对象和/或功能子对象反射出来，再通过预定标识对象找到相应的参数名称、功能对象和/或子功能对象名称；其中。
22、所述预定标识对象在所述测试程序的代码编写时设定。0036 优选的，所述预定测试条件为提取的所述测试程序的代码中定义的至少一个参数名称及其取值；所述参数配置模块具体用于根据所述至少一个参数名称及其取值配置相应的所述测试参数。0037 优选的，还包括显示模块，用于显示所述测试参数和/或所述配置后的所述测试参数。0038 优选的，还包括校验模块（图未示），用于接收所述参数配置模块输出的配置后的所述测试参数，校验所述配置后的所述测试参数是否符合所述预定测试条件；若是，则输出所述配置后的所述测试参数到存储模块。需要说明的是，图2所示光模块测试参数配置系统实施例与图1所示光模块测试参数配置方法实施例基于同。
23、一构思做出，各个模块功能可参看方法实施例相关部分描述，此处不再详述。0039 本发明在测试程序运行前自动提取光模块测试程序中的测试参数，根据预定测试说 明 书CN 104461565 A5/5页7条件配置所述测试参数使其符合测试要求，再将所述配置后的所述测试参数存储到数据库，测试程序运行时自动从数据库提取配置后的测试参数进行光模块的测试。本发明可自动快速实现测试参数的配置，方便后续测试程序的光模块测试过程，使得光模块测试效率大大提高。0040 上面结合附图对本发明的具体实施方式进行了详细说明，但本发明并不限制于上述实施方式，在不脱离本申请的权利要求的精神和范围情况下，本领域的技术人员可以作出各种修改或改型。说 明 书CN 104461565 A1/1页8图1图2说 明 书 附 图CN 104461565 A。