显示装置及显示方法.pdf

显示装置(10)具备：发光元件(Px)；多个像素电路(PCC)，包括晶体管(Tr)；多个扫描线(Ls)，与像素电路(PCC)连接；多个数据线(Ld)，与像素电路(PCC)连接；选择驱动器(20)，将多个扫描线(Ls)中的某1个作为选择对象来选择；控制部(50)。控制部(50)依次反复进行灰度显示动作、非灰度显示动作、检测动作，在灰度显示动作中使对应的发光元件(Px)成为灰度显示状态，在非灰度显示动作中使对应的发光元件(Px)成为非灰度显示状态，在检测动作中，在非灰度显示状态下将多个扫描线(Ls)的一部分作为检测对象来选择，经由数据线(Ld)来检测与该检测对象连接的像素电路(PCC)的晶体管(Tr)的特性，使用通过检测动作得到的检测结果来校正灰度显示电压(Vd)。

1.  一种显示装置，其中，具备：
多个发光元件；
多个像素电路，包括分别向所述发光元件供给驱动电流的晶体管；
多个扫描线，与所述像素电路连接；
多个数据线，与所述像素电路连接；
选择驱动器，将多个扫描线中的某1个作为选择对象来选择；以及
控制部，对所述选择驱动器的驱动进行控制，
所述控制部构成为，
依次反复进行灰度显示动作、非灰度显示动作、检测动作，
在所述灰度显示动作中，将所述扫描线逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由所述数据线施加灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为灰度显示状态，
在所述非灰度显示动作中，将所述扫描线逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由所述数据线施加非灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为非灰度显示状态，
在所述检测动作中，在所述非灰度显示状态下将所述多个扫描线的一部分作为检测对象来选择，经由所述数据线来检测与该检测对象连接的所述像素电路的所述晶体管的特性，
使用通过所述检测动作得到的检测结果，对所述灰度显示电压进行校正。

2.  如权利要求1所记载的显示装置，其中，
所述控制部构成为，每当进行所述检测动作时变更所述检测对象。

3.  如权利要求1或2所记载的显示装置，其中，
所述控制部构成为，将1次所述检测动作中的所述检测对象的条数设定为1条。

4.  如权利要求3所记载的显示装置，其中，
所述控制部构成为，每当进行所述检测动作时将所述检测对象切换为邻接的检测对象。

5.  如权利要求3所记载的显示装置，其中，
所述控制部构成为，每当进行所述检测动作时将所述检测对象切换为隔开数条的检测对象。

6.  如权利要求5所记载的显示装置，其中，
所述控制部构成为，
将所述多个扫描线划分为由彼此相邻的多个扫描线构成的多个扫描线群，
将与所述检测结果有关的数据与包含所述检测对象的所述扫描线群建立对应地存储，
每当进行所述检测动作时，按照所述扫描线群切换所述检测对象，
使用与所述扫描线群建立了对应的所述数据，对向与该扫描线群连接的所述像素电路施加的所述灰度显示电压进行校正。

7.  如权利要求1～6中任一项所记载的显示装置，其中，
所述选择驱动器构成为，在所述灰度显示动作及所述非灰度显示动作各自中以显示周期依次切换所述选择对象的候选，并且，在所述检测动作中以检测周期依次切换所述检测对象的候选，
所述控制部构成为，将所述检测周期设定为比所述显示周期更短。

8.  一种显示方法，其中，包括：
依次反复进行灰度显示动作、非灰度显示动作和检测动作的步骤，
在所述灰度显示动作中，将与包含向发光元件供给驱动电流的晶体管的像素电路连接的多个扫描线，逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由数据线施加灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为灰度显示状态，
在所述非灰度显示动作中，将所述扫描线逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由数据线施加非灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为非灰度显示状态，
在所述检测动作中，在所述非灰度显示状态下将所述多个扫描线的一部分作为检测对象来选择，经由数据线来检测与该检测对象连接的所述像素电路的所述晶体管的特性；以及
使用通过所述检测动作得到的检测结果，对所述灰度显示电压进行校正的步骤。

显示装置及显示方法
技术领域
本公开涉及具备经由晶体管被供给驱动电流的发光元件的显示装置及显示方法。
背景技术
专利文献1及2所记载的显示装置，通过扫描线的扫描而依次对配置为矩阵状的多个电致发光元件(EL元件)进行驱动。在专利文献1所记载的显示装置中，按每个有机EL元件分别设置的2个晶体管、即电流控制晶体管和采样晶体管控制向与1个扫描线连接的多个有机EL元件的每个的驱动电流的供给。每当采样晶体管被切换到导通状态，电流控制晶体管的栅极-源极之间以与显示数据相应的电平被施加电压。由此，基于电流控制晶体管的栅极-源极间电压的漏极电流作为驱动电流被供给至有机EL元件，按每个有机EL元件控制发光亮度的灰度。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开平8-330600号公报
专利文献2：日本特开2010-128397号公报
发明内容
发明所要解决的课题
但是，电流控制晶体管中的阈值电压等元件特性会由于时间经过等而变化。因此，即使电流控制晶体管的栅极-源极间电压相同的情况下，经由电流控制晶体管供给的驱动电流也有可能在短期间内成为不同的值。其结果，与电流驱动晶体管的元件特性的变化相对应，对于有机EL元件的发光亮度的灰度控制的精度下降，显示装置所显示的图像的亮度、对比度及色调等画质可能会变化。
本公开的目的在于，提供一种显示装置及显示方法，能够抑制因向发光元件供给驱动电流的像素电路中的元件特性的变化而导致画质变化的情况。
解决课题所采用的手段
本公开的显示装置的一个方式，具备：多个发光元件；多个像素电路，包括分别向所述发光元件供给驱动电流的晶体管；多个扫描线，与所述像素电路连接；多个数据线，与所述像素电路连接；选择驱动器，将多个扫描线中的某1个作为选择对象来选择；以及控制部，对所述选择驱动器的驱动进行控制。所述控制部依次反复进行灰度显示动作、非灰度显示动作、检测动作。在所述灰度显示动作中，将所述扫描线逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由所述数据线施加灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为灰度显示状态。在所述非灰度显示动作中，将所述扫描线逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由所述数据线施加非灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为非灰度显示状态。在所述检测动作中，在所述非灰度显示状态下将所述多个扫描线的一部分作为检测对象来选择，经由所述数据线来检测与该检测对象连接的所述像素电路的所述晶体管的特性。并且，所述控制部使用通过所述检测动作得到的检测结果，对所述灰度显示电压进行校正。
本公开的显示方法的一个方式，包括：依次反复进行灰度显示动作、非灰度显示动作和检测动作的步骤，在所述灰度显示动作中，将与包含向发光元件供给驱动电流的晶体管的像素电路连接的多个扫描线，逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由数据线施加灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为灰度显示状态，在所述非灰度显示动作中，将所述扫描线逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由所述数据线施加非灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为非灰度显示状态，在所述检测动作中，在所述非灰度显示状态下将所述多个扫描线的一部分作为检测对象来选择，经由所述数据线来检测与该检测对象连接的所述像素电路的所述晶体管的特性；以及使用通过所述检测动作得到的检测结果，对所述灰度显示电压进行校正 的步骤。
根据上述结构，通过检测动作来检测像素电路中的晶体管的特性，向像素电路供给的灰度显示电压基于检测结果而被校正。因此，在晶体管的特性发生了变动时，灰度显示电压与晶体管的特性的变动相应地被校正。结果，抑制了因晶体管的特性变动而导致画质变动、进而因晶体管的特性变动而导致画质劣化。
此外，由于依次反复进行灰度显示动作、非灰度显示动作、检测动作，所以与例如仅在显示装置启动时进行检测动作的结构相比，灰度显示动作的定时与检测动作的定时之间的时间差变短。因此，晶体管的特性在短期间内较大变化时，有效地抑制了画质的劣化。而且，仅对与一部分扫描线连接的像素电路进行检测动作，所以与通过1次检测动作对全部像素电路进行检测动作的结构相比，1次检测动作所需的时间变短。因此，抑制了因检测动作所需的时间而导致非显示状态过度变长。结果，抑制了检测动作直接给显示装置中的图像的显示性能带来影响。
在本公开的显示装置其他方式中，所述控制部构成为，每当进行所述检测动作时变更所述检测对象。
根据上述结构，晶体管的特性被检测的像素电路被设定为检测对象，每当进行检测动作时检测对象变化。因此，与每次检测动作中检测对象相同的结构相比，检测对象的范围变大。因此，检测晶体管的特性的像素电路和被施加了校正后的灰度显示电压的像素电路相同时，画质的劣化被抑制的范围变大。
此外，晶体管的特性的变动依赖于晶体管的制造过程或晶体管的工作温度时，该变动的程度有时在彼此不同的多个像素电路间接近。因此，对1个像素电路校正其灰度显示电压时，有时可以使用其他像素电路中的检测结果。关于这一点，如果采用上述的结构则检测对象的范围变大，所以对1个像素电路校正其灰度显示电压时，该校正所使用的检测结果的候选增加。结果，晶体管的特性的变动被认为彼此相近的像素电路间的检测结果能够共用，所以能够提高灰度显示电压的校正的精度。
在本公开的显示装置的其他方式中，所述控制部构成为，将1次所述检测动作中的所述检测对象的条数设定为1条。
根据上述结构，在1次检测动作中，仅对与1条扫描线连接的像素电路检测晶体管的特性。因此，与1次检测动作中选择的检测对象的条数被设定为2条以上的结构相比，1次检测动作所需的时间变短。结果，抑制了检测动作给作为显示装置的图像的显示性能带来影响。
在本公开的显示装置的其他方式中，所述控制部构成为，每当进行所述检测动作时将所述检测对象切换为邻接的检测对象。
根据上述结构，每当进行检测动作时，将检测晶体管的特性的像素电路的位置切换为1条1条地邻接的扫描线，所以与每当进行检测动作将检测动作中的检测对象切换为隔着2条以上的检测对象的结构相比，能够将画质的劣化抑制为非常微小。
在本公开的显示装置的其他方式中，所述控制部构成为，每当进行所述检测动作时将所述检测对象切换为隔开数条的检测对象。
根据上述结构，与每当进行检测动作时将检测对象切换为1条1条地邻接的检测对象的结构相比，晶体管的特性被检测的像素电路的位置在每单位时间上被分散。因此，晶体管的特性的变动散布在大范围的情况下，与每当进行检测动作将检测对象切换为1条1条地邻接的检测对象的结构相比，有效地抑制了画质的劣化。
在本公开的显示装置的其他方式中，所述控制部构成为，将所述多个扫描线划分为由彼此相邻的多个扫描线构成的多个扫描线群，将与所述检测结果有关的数据与包含所述检测对象的所述扫描线群建立对应地存储，每当进行所述检测动作时，按照所述扫描线群切换所述检测对象，使用与所述扫描线群建立了对应的所述数据，对向与该扫描线群连接的所述像素电路施加的所述灰度显示电压进行校正。
根据上述结构，与晶体管的特性的检测结果有关的数据按每个扫描线群被存储。因此，相比于与晶体管的特性的检测结果有关的数据按每个扫描线被存储的结构，存储部所需的存储容量变小，并且该数据的更新周期也变短。
在本公开的显示装置的其他方式中，所述选择驱动器构成为，在所述灰度显示动作及所述非灰度显示动作各自中以显示周期依次切换所述选择对象的候选，并且，在所述检测动作中以检测周期依次切换所述检测对象 的候选，所述控制部构成为，将所述检测周期设定为比所述显示周期更短。
根据上述结构，1条扫描线作为对象被选择时，对象的候选的切换在多个扫描线中依次进展。此时，检测动作中的切换的周期比其他动作中的切换的周期短，所以到特定对象被选择为止所需的时间比其他动作短。结果，1次检测动作所需的时间变短，所以进一步抑制了因检测动作所需的时间而导致非显示状态过度变长。
发明的效果
根据本公开的显示装置及显示方法，能够抑制因向发光元件供给驱动电流的像素电路中的元件特性的变化而导致画质变化。
附图说明
图1是表示第1实施方式中的显示装置的整体结构的框图。
图2是功能性地表示图1的显示装置的控制部的结构的框图。
图3是表示图1的显示装置的像素电路的结构和数据驱动器的结构的电路图。
图4是表示向图3的像素电路施加的显示用电压和电流控制晶体管中的漏极电流的关系的图。
图5是表示将图1的显示装置的阈值检测动作中的各控制信号的电平的推移与各开关的状态一同示出的时序图。
图6是表示图1的显示装置的数据线的电位和缓和时间的关系的图。
图7是将图1的显示装置的显示动作期间中的各控制信号的电平的推移与各开关的状态一同示出的时序图。
图8是针对第1行到第540行的每个像素示意性地示出通过图1的显示装置的第1帧进行的各种动作的定时的图。
图9是针对第1行到第540行的每个像素示意性地示出通过图1的显示装置的第2帧进行的各种动作的定时的图。
图10是针对第1行到第540行的每个像素示意性地示出通过图1的显示装置的第540帧进行的各种动作的定时的图。
图11是按照每个扫描线及电源线示出图1的显示装置的1个帧被显示的期间中的各种控制信号的电平的推移的时序图。
图12是示意性地示出第2实施方式中的每个帧的阈值检测动作中的检测对象行的编号的推移的图。
图13是示意性地示出第2实施方式中的每个帧的阈值检测动作中的检测对象行的编号的推移的图。
图14是示意性地示出第2实施方式中的每个帧的阈值检测动作中的检测对象行的编号的推移的图。
具体实施方式
(第1实施方式)
参照图1～图11说明第1实施方式中的显示装置。
本实施方式的显示装置使用有源矩阵驱动方式，使作为发光元件的有机EL元件发光。显示装置中的1个帧的显示动作包括灰度显示动作和黑显示动作，该灰度显示动作显示基于显示数据的图像，该黑显示动作显示黑色的图像。此时，在进行黑显示动作的期间，对于与特定的扫描线连接的多个像素的每一个，检测与像素电路中包含的电流控制晶体管的阈值电压有关的电压，使用与阈值电压有关的检测结果，对基于显示数据而向像素电路施加的显示用电压进行了校正。即，在显示1个帧的期间，包括交互地反复灰度显示动作和黑显示动作的显示动作、以及检测与阈值电压有关的电压的阈值检测动作。另外，黑显示动作是非灰度显示动作，阈值检测动作是检测动作。以下重点说明这些显示动作和阈值检测动作。
[显示装置的结构]
参照图1说明显示装置的整体结构。
如图1所示，在显示面板10中，多个像素Px配置为m行×n列的矩阵状。m是1以上的整数，并且n也是1以上的整数。在多个像素Px的每一个中，配置有1个有机EL元件和向该有机EL元件供给驱动电流的1个像素电路。
多个像素Px的每一个配置在沿着行方向延伸的m条扫描线Ls的1条与沿着列方向延伸的n条数据线Ld的1条在俯视时的交点的附近。沿着行方向排列的n个像素Px与共同的1条扫描线Ls和共同的1条电源线La连接。沿着列方向排列的m个像素Px与共同的1条数据线Ld连接。
m条扫描线Ls的每一个与选择驱动器电路20连接，m条电源线La的每一个与电源驱动器30连接，n条数据线Ld的每一个与数据驱动器电路40连接。选择驱动器电路20、电源驱动器30及数据驱动器电路40分别由控制部50驱动。控制部50主要由中央处理装置和具有存储部的微计算机构成，使用输入到控制部50的图像数据来生成显示数据。
选择驱动器电路20例如由移位寄存器、缓存器等构成。选择驱动器电路20根据来自控制部50的控制信号，按照每个扫描线Ls施加作为高电平的选择电压VgH和作为低电平的非选择电压VgL的某个。选择驱动器电路20将被施加了选择电压VgH的扫描线Ls设定为选择对象，从第1行扫描线Ls到作为最终行的第m行扫描线Ls依次切换选择对象的候选。
电源驱动器30例如由移位寄存器、缓存器等构成。电源驱动器30根据来自控制部50的控制信号，向各电源线La施加作为高电平的驱动电压ELVDD和作为低电平的写入电压WDVSS的某个。电源驱动器30与扫描线Ls的选择相应地，从第1行电源线La到作为最终行的第m行电源线La依次切换驱动电压ELVDD的施加对象行。
在灰度显示动作中，数据驱动器电路40根据从控制部50输入的控制信号，按照每个数据线Ld生成基于灰度显示用的显示数据的显示用电压Vd，作为灰度显示电压。数据驱动器电路40根据从控制部50输入的控制信号，对n条数据线Ld同时施加对应的灰度显示用的显示用电压Vd。
在黑显示动作中，数据驱动器电路40根据从控制部50输入的控制信号，按照每个数据线Ld生成基于黑显示用的显示数据的显示用电压Vd，作为非灰度显示电压。数据驱动器电路40根据从控制部50输入的控制信号，对n条数据线Ld同时施加对应的黑显示用的显示用电压Vd。
在阈值检测动作中，数据驱动器电路40根据从控制部50输入的控制信号，对n条数据线Ld同时施加共同的检测用电压Vm。数据驱动器电路40根据从控制部50输入的控制信号，向控制部50从第1条数据线Ld起依次输出n条数据线Ld各自的电压的检测结果。
[控制部50的结构]
参照图2说明控制部50的结构。
如图2所示，调整部51将输入到调整部51的图像数据作为每个像素 Px的灰度数据来处理。调整部51使用用来对每个像素Px的灰度数据进行各种调整的查找表、以及输入到调整部51的图像数据，对每个像素Px的灰度数据进行伽马校正、亮度调整及色度调整等各种调整。
数据存储部52具备与多个(m行×n列)像素Px的每一个建立了对应的m行×n列的存储区域。数据存储部52从数据驱动器电路40输入与每个像素Px的阈值电压Vth有关的数据、即检测数据Dout。数据存储部52将输入到数据存储部52的每个像素Px的检测数据Dout存储到与该像素Px建立了对应的存储区域。每当输入了每个像素Px的检测数据Dout，数据存储部52更新与该像素Px建立了对应的检测数据Dout。
校正部53读入数据存储部52中存储的每个像素Px的检测数据Dout、以及从调整部51输入的每个像素Px的灰度数据。校正部53对每个像素Px的灰度数据，实施基于每个像素Px的检测数据Dout的加减运算，并作为每个像素Px的显示数据Din输出。
时钟生成部54生成数据移位时钟信号Clkd、显示用移位时钟信号Clks及检测用移位时钟信号Clkr。时钟生成部54将数据移位时钟信号Clkd输出到数据驱动器电路40，将显示用移位时钟信号Clks和检测用移位时钟信号Clkr在相互不同的定时输出到选择驱动器电路20。
数据移位时钟信号Clkd决定每个像素Px的显示数据Din被从校正部53输入到数据驱动器电路40的定时。每当数据移位时钟信号Clkd上升时，数据驱动器电路40按照与第1列的像素Px对应的显示数据Din、与第2列的像素对应的显示数据Din、…、与第n列的像素Px对应的显示数据Din的顺序，输入每个像素Px的显示数据Din。数据驱动器电路40在数据移位时钟信号Clkd的时钟周期内，将每个像素Px的显示数据Din与该像素Px所连接的数据线Ld建立对应。
在灰度显示动作中，显示用移位时钟信号Clks决定选择对象的候选的切换周期。此外，显示用移位时钟信号Clks还在黑显示动作中决定选择对象的候选的切换周期。每当显示用移位时钟信号Clks上升时，选择驱动器电路20按照第1行的扫描线Ls、第2行的扫描线Ls、…、第m行的扫描线Ls的顺序逐条选择扫描线Ls。作为显示用移位时钟信号Clks的时钟周期的显示用时钟周期与数据移位时钟信号Clkd的时钟周期相比充分长。例 如，显示用时钟周期是数据移位时钟信号Clkd的时钟周期的n倍。
在阈值检测动作中，检测用移位时钟信号Clkr决定选择对象(检测对象)的候选的切换周期。每当检测用移位时钟信号Clkr上升时，选择驱动器电路20按照第1行的扫描线Ls、第2行的扫描线Ls、…、第m行的扫描线Ls的顺序，逐条切换被施加选择电压VgH的候选。作为检测用移位时钟信号Clkm的时钟周期的检测用时钟周期与显示用周期相比充分短。
例如，检测用时钟周期与数据移位时钟信号Clkd的时钟周期相同。并且，在灰度显示动作中，选择驱动器电路20以显示用时钟周期来扫描被施加选择电压VgH的候选，在黑显示动作中，选择驱动器电路20也以显示用时钟周期来扫描被施加选择电压VgH的候选。另一方面，在阈值检测动作中，以比显示用时钟周期短的检测用时钟周期来扫描被施加选择电压VgH的候选。
检测用移位时钟信号Clkr包括以检测用时钟周期来反复的高电平及低电平的部分、以及低电平被维持阈值检测期间的移位等待部分。移位等待部分的输出定时在检测用移位时钟信号Clkr被输出的每个机会、即每当进行阈值检测动作时移位。
例如，在本次的阈值检测动作中，通过检测用移位时钟信号Clkr以时钟周期来反复q次高电平和低电平(1≤q≤m)，然后输出移位等待部分。另一方面，在下一次阈值检测动作中，通过检测用移位时钟信号Clkr反复q+1次高电平和低电平(1≤q≤m)，然后输出移位等待部分。由此，在本次阈值检测动作中，从第1条扫描线Ls到第q条扫描线Ls，作为选择对象的候选以检测用时钟周期依次进行切换。并且，在经过阈值检测期间后，再次从第q+1条扫描线Ls到第m条扫描线Ls，作为选择对象的候选以检测用时钟周期依次进行切换。此外，在下一次阈值检测动作中，从第1条扫描线Ls到第q+1条扫描线Ls，作为选择对象的候选以检测用时钟周期进行切换。并且，在经过阈值检测期间后，再次从第q+2条扫描线Ls到第m条扫描线Ls，作为选择对象的候选以检测用时钟周期进行扫描。
脉冲生成部55生成起动脉冲信号(start pulse signal)SP1、锁存脉冲信号(latch pulse signal)LP、起动脉冲信号SP2及屏蔽脉冲信号(mask pulse signal)MP。脉冲生成部55将起动脉冲信号SP1及锁存脉冲信号LP输出 至数据驱动器电路40。此外，脉冲生成部55对选择驱动器电路20及时钟生成部54输出起动脉冲信号SP2，对选择驱动器电路20及时钟生成部54输出屏蔽脉冲信号MP。
起动脉冲信号SP1是控制1行量的显示数据Din从校正部53向数据驱动器电路40输入的定时的控制信号。每当输入起动脉冲信号SP1，数据驱动器电路40输入包含从与第1列的像素Px对应的显示数据Din到与第n列的像素Px对应的显示数据Din的、每1行量的像素Px的显示数据Din。
锁存脉冲信号LP是控制1行量的显示数据Din被保持于数据驱动器电路40的定时的控制信号。每当输入锁存脉冲信号LP，数据驱动器电路40保持包含从与第1列的像素Px对应的显示数据Din到与第n列的像素Px对应的显示数据Din的、1行量的显示数据Din。
起动脉冲信号SP2是控制使选择对象的候选的切换开始的定时的控制信号。每当输入起动脉冲信号SP2时，选择驱动器电路20作为选择对象的候选从第1行的扫描线Ls到第m行的扫描线Ls依次进行切换。
起动脉冲信号SP2是控制将选择对象的候选的切换所使用的移位时钟信号在显示用时钟周期和检测用时钟周期之间切换的定时的控制信号。每当输入了切换对象次数的起动脉冲信号SP2，时钟生成部54将选择对象的候选的切换所使用的移位时钟信号从显示用时钟周期切换到检测用时钟周期。
在本实施方式中，切换对象次数设定为3次，每当输入3次起动脉冲信号SP2，时钟生成部54将移位时钟信号从显示用时钟周期变更为检测用时钟周期。由此，在灰度显示动作中，m条扫描线Ls作为选择对象的候选以显示用时钟周期依次进行切换。在黑显示动作中，首先，m条扫描线Ls作为选择对象的候选以显示用时钟周期依次被切换，然后，在阈值检测动作中，m条扫描线Ls作为选择对象的候选以检测用时钟周期依次被切换。
屏蔽脉冲信号MP是控制由选择驱动器电路20生成的移位信号的输出的控制信号。屏蔽脉冲信号MP为高电平时，在选择驱动器电路20中，基于由选择驱动器电路20生成的移位信号，对扫描线Ls的某个施加选择电压VgH。另一方面，屏蔽脉冲信号MP为低电平时，在选择驱动器电路20中，无论由选择驱动器电路20生成的移位信号如何，都对所有扫描线Ls 施加非选择电压VgL。
屏蔽脉冲信号MP通常被设定为高电平，每当输入了切换对象次数的起动脉冲信号SP2时，从高电平切换为低电平，并且包含高电平被维持阈值检测期间的屏蔽解除部分。屏蔽解除部分的输出定时被设为与上述移位等待部分的输出同步，每当进行阈值检测动作时移位。
例如，在本次的阈值检测动作中，通过检测用移位时钟信号Clkr而高电平和低电平被反复q次(1≤q≤m)，然后，输出屏蔽解除部分。另一方面，在下一次的阈值检测动作中，通过检测用移位时钟信号Clkr而高电平和低电平被反复q+1次(1≤q≤m)，然后输出屏蔽解除部分。由此，在本次的阈值检测动作中，首先，第1条扫描线Ls到第q条扫描线Ls作为选择对象的候选以检测用时钟周期依次被切换。并且，在该期间中，禁止对扫描线Ls施加选择电压VgH。接下来，在选择对象的候选的切换被停止的阈值检测期间，对作为此时的候选的第q行扫描线Ls施加选择电压VgH。另一方面，在下一次的阈值检测动作中，首先，第1条扫描线Ls至第q+1条扫描线Ls作为选择对象的候选以检测用时钟周期被扫描。然后，在该期间中，禁止对扫描线Ls施加选择电压VgH。接着，在选择对象的候选的切换被停止的阈值检测期间，对作为此时的候选的第q+1行的扫描线Ls施加选择电压VgH。
[选择驱动器电路20的结构]
参照图2说明选择驱动器电路20的结构。
如图2所示，移位寄存器电路21从控制部50输入起动脉冲信号SP2、显示用移位时钟信号Clks及检测用移位时钟信号Clkr。每当输入起动脉冲信号SP2时，移位寄存器电路21生成包含1个选择对象比特的m比特的并行信号，作为移位信号。每当输入显示用移位时钟信号Clks时，移位寄存器电路21使移位信号中的1个选择对象比特从第1行到第m行逐行地依次移位。每当输入检测用移位时钟信号Clkr时，移位寄存器电路21也使移位信号中的1个选择对象比特从第1行到第m行逐行地依次移位。
当输入至移位寄存器电路21的屏蔽脉冲信号MP为高电平时，移位寄存器电路21输出由移位寄存器电路21生成的移位信号。另一方面，当输入至移位寄存器电路21的屏蔽脉冲信号MP为低电平时，无论移位寄存器 电路21生成的移位信号如何，移位寄存器电路21都输出不包含选择对象比特的移位信号。并且，当移位时钟信号为显示用移位时钟信号Clks时，移位寄存器电路21基于高电平的屏蔽脉冲信号MP的输入，输出包含选择对象比特的移位信号。另一方面，当移位时钟信号为检测用移位时钟信号Clkr时，移位寄存器电路21在阈值检测期间以外，基于低电平的屏蔽脉冲信号MP的输入，输出不包含选择对象比特的移位信号。这样的移位信号的输出的控制，例如通过在移位寄存器电路21的输出端具备与移位信号的各比特对应的m个逻辑积电路并向m个逻辑积电路分别输入屏蔽脉冲信号MP来实现。
电平移位器电路22是从低耐压电路向高耐压电路的电压调整电路，从移位寄存器电路21输入移位信号而将移位信号的电压调整为缓存器电路23的驱动电平。缓存器电路23从电平移位器电路22输入电压调整后的移位信号而将移位信号的电压调整为像素的驱动电平。
[数据驱动器电路40的结构]
参照图3说明数据驱动器电路40的结构。
如图3所示，移位寄存器电路41、数据寄存器电路42及数据锁存电路43作为低耐压电路构成，对这些电路从逻辑电源60施加高电平的逻辑电源电压LVDD及低电平的逻辑基准电压LVSS。DAC/ADC电路44及缓存器电路45作为高耐压电路构成，对这些电路从模拟电源70施加高电平的模拟电源电压DVSS及低电平的模拟基准电压VEE。模拟电源电压DVSS被设定为与写入电压WDVSS及基准电压ELVSS等电位。
移位寄存器电路41从控制部50输入起动脉冲信号SP1和数据移位时钟信号Clkd。每当输入起动脉冲信号SP1时，移位寄存器电路41作为包含1个选择对象比特的n比特的并行信号而输出移位信号。每当输入数据移位时钟信号Clkd时，移位寄存器电路41使移位信号中的1个选择对象比特依次移位而输出。
数据寄存器电路42具备与移位信号的各比特建立了对应的n个寄存器，1个寄存器从控制部50输入例如8比特的灰度数据。数据寄存器电路42向由1个选择对象比特选择的1个寄存器输入灰度数据。在数据寄存器电路42中，通过1个选择对象比特的移位来选择全部寄存器，从控制部50 取入1行量的显示数据Din。
数据锁存电路43具备与数据寄存器电路42的各寄存器建立了对应的n个数据锁存43a，从控制部50对n个数据锁存43a分别输入共同的锁存脉冲信号LP。
n个数据锁存43a各自的输入端在灰度显示动作及黑显示动作中与数据寄存器电路42中的对应的寄存器连接。n个数据锁存43a分别保持对应的寄存器所存储的灰度数据，并使该保持与锁存脉冲信号LP同步。n个数据锁存43a分别将该数据锁存43a所保持的灰度数据输出至DAC/ADC电路44。由此，数据锁存电路43每当输入锁存脉冲信号LP时保持数据寄存器电路42所取入的1行量的显示数据Din，并将保持的1行量的显示数据Din输出至DAC/ADC电路44。
n个数据锁存43a各自的输入端在阈值检测动作中与显示用DAC/ADC44中的对应的检测用ADC44b连接。n个数据锁存43a分别将从对应的检测用ADC44b输出的数据作为检测数据Dout保持，并使该保持与锁存脉冲信号LP同步。
第p列(1≤p≤n)的数据锁存43a的输入端在阈值检测动作中与第p+1列的数据锁存43a的输出端连接。第p列的数据锁存43a分别将第p+1列的数据锁存43a所保持的数据作为检测数据Dout保持，并使该保持与锁存脉冲信号LP同步。
第1列的数据锁存43a的输出端在阈值检测动作中与控制部50连接，将第1列的数据锁存43a所保持的检测数据Dout输出至控制部50。由此，第1列的数据锁存43a从第2列的数据锁存43a起依次保持第p+1列的数据锁存43a所保持的全部数据，并将该保持的数据依次输出至控制部50。
数据锁存电路43具备：n个数据锁存43a、与n个数据锁存43a各自的输入端连接的n个输入开关SW1、与n个数据锁存43a各自的输出端连接的n个输出开关SW2。此外，数据锁存电路43具备与第1列的输出开关SW2和控制部50连接的传送开关SWtrs。
输入开关SW1基于来自控制部50的控制信号而被驱动，将第p列的数据锁存43a的输入端与数据寄存器电路42中的第p列的寄存器、第p列的检测用ADC44b、第p+1列的数据锁存43a的输出端中的某1个连接。
数据锁存43a的输入端和数据寄存器电路42连接时，数据锁存43a在与锁存脉冲信号LP同步的定时保持数据寄存器电路42所存储的显示数据Din。
数据锁存43a的输入端和检测用ADC44b连接时，数据锁存43a在与锁存脉冲信号LP同步的定时将从检测用ADC44b输出的数据作为检测数据Dout保持。
第p列的数据锁存43a的输入端和第p+1列的数据锁存43a的输出端连接时，第p列的数据锁存43a在与锁存脉冲信号LP同步的定时保持第p+1列的数据锁存43a所保持的检测数据Dout。另外，作为最后列的第n列的数据锁存43a与逻辑电源60连接，对第n列的数据锁存43a施加逻辑基准电压LVSS。
输出开关SW2基于来自控制部50的控制信号而被驱动，将第p+1列的数据锁存43a的输出端与DAC/ADC电路44的显示用DAC44a和第p列的数据锁存43a的输入端中的某1个连接。
数据锁存43a的输出端和DAC/ADC电路44的显示用DAC44a连接时，数据锁存43a所保持的显示数据Din在与锁存脉冲信号LP同步的定时被输入至显示用DAC44a。
第p+1列的数据锁存43a的输出端和第p列的数据锁存43a的输入端连接时，第p+1列的数据锁存43a所保持的检测数据Dout在与锁存脉冲信号LP同步的定时被保持到第p列的数据锁存43a。
传送开关SWtrs基于来自控制部50的控制信号而被驱动，切换第1列的数据锁存43a与控制部50的连接及切断。第1列的数据锁存43a和控制部50连接时，第1列的数据锁存43a所保持的检测数据Dout被输出至控制部50。
DAC/ADC电路44具备：作为线性电压数模变换电路的n个显示用DAC44a、以及作为模数变换电路的n个检测用ADC44b。n个显示用DAC44a分别将与该显示用DAC44a连接的数据锁存43a所保持的显示数据Din变换为模拟信号电压，并输出至与该显示用DAC44a连接的缓存器电路45。n个检测用ADC44b分别将从与该检测用ADC44b连接的缓存器电路45输出的模拟信号电压变换为例如8比特的检测数据Dout，并将检测数据Dout 输出至与该检测用ADC44b连接的数据锁存43a。
在显示用DAC44a中，输出的模拟信号电压相对于输入的数字数据的输入输出特性具有线性。变换后的模拟信号电压被设定在从模拟电源70施加的模拟电源电压DVSS到模拟基准电压VEE的范围内。此外，在检测用ADC44b中，输出的数字数据相对于输入的模拟信号电压的输入输出特性也具有线性。在显示用DAC44a和检测用ADC44b中，电压变换时的数字数据的比特长被设定为同一比特长、例如8比特。
在输出开关SW2和显示用DAC44a之间，设置有作为从低耐压电路向高耐压电路的电压调整电路的电平移位器46a。此外，在检测用ADC44b和输入开关SW1之间，设置有作为从高耐压电路向低耐压电路的电压调整电路的电平移位器46b。
缓存器电路45按每个数据线Ld具备：向数据线Ld施加显示用电压Vd的缓存器45a、取入数据线Ld的电压的缓存器45b、以及切换数据线Ld与缓存器45a的连接及切断的显示用开关SWd。此外，缓存器电路45按每个数据线Ld具备：切换数据线Ld与缓存器45b的连接及切断的检测用开关SWm、以及切换数据线Ld与模拟电源70的连接及切断的检测用电压开关SWs。
缓存器45a将从显示用DAC44a输入的模拟信号电压放大为像素电路的驱动电平而生成显示用电压Vd。显示用开关SWd基于来自控制部50的控制信号而被驱动，将缓存器45a和数据线Ld连接，从缓存器45a向数据线Ld施加显示用电压Vd。
缓存器45b取入数据线Ld的电压，将取入的电压放大到检测用ADC44b的驱动电平并输出至检测用ADC44b。检测用开关SWm基于来自控制部50的控制信号而被驱动，将缓存器45b和数据线Ld连接，向缓存器45b取入数据线Ld的电压。
检测用电压开关SWs控制从模拟电源70向数据线Ld的检测用电压Vm的施加。
[像素电路PCC的结构]
参照图3说明像素电路PCC的结构。
如图3所示，像素Px具备有机EL元件OEL和使有机EL元件OEL 发光的像素电路PCC。像素电路PCC具备作为薄膜晶体管的3个晶体管Tr1～Tr3、以及保持电容Cs。晶体管Tr1～Tr3可以是非晶薄膜晶体管，也可以是多晶硅薄膜晶体管。在本实施方式中，晶体管Tr1～Tr3是n沟道型的非晶薄膜晶体管。
在采样晶体管Tr1中，源极端子与数据线Ld连接，漏极端子与有机EL元件OEL的阳极连接，栅极端子与扫描线Ls连接。采样晶体管Tr1在扫描线Ls被施加高电平的选择电压VgH时成为导通状态，在扫描线Ls被施加低电平的非选择电压VgL时成为非导通状态。
在开关晶体管Tr2中，源极端子与电流控制晶体管Tr3的栅极端子连接，漏极端子与电源线La连接，栅极端子与采样晶体管Tr1的栅极端子连接。开关晶体管Tr2在扫描线Ls被施加高电平的选择电压VgH时成为导通状态，在扫描线Ls被施加低电平的非选择电压VgL时成为非导通状态。
在电流控制晶体管Tr3中，源极端子与有机EL元件OEL的阳极连接，漏极端子与开关晶体管Tr2的漏极端子连接，栅极端子与开关晶体管Tr2的源极端子连接。在本实施方式中，电流控制晶体管Tr3中的漏极电流的阈值电压Vth成为阈值检测动作中的检测对象。
保持电容Cs连接在电流控制晶体管Tr3的栅极端子与源极端子之间。保持电容Cs可以是形成在电流控制晶体管Tr3的栅极端子与源极端子之间的寄生电容，也可以除寄生电容之外还并联连接有其他电容元件。
有机EL元件OEL的阴极端子被施加基准电压ELVSS，基准电压ELVSS是比模拟基准电压VEE更高电位的例如接地电位。另外，在像素Px中，有机EL元件OEL中包含像素电容Ce，数据线Ld中包含寄生电容Cp。
在显示动作中，第q行的电源线La被施加写入电压WDVSS、第q行的扫描线Ls被供给高电平的选择信号(选择电压VgH)时，第q行的采样晶体管Tr1和第q行的开关晶体管Tr2成为导通状态。第q行的采样晶体管Tr1和第q行的开关晶体管Tr2成为导通状态时，第q行的电流控制晶体管Tr3在饱和区域驱动。若在该状态下对n条数据线Ld分别施加显示用电压Vd，则根据写入电压WDVSS与显示用电压Vd之差，第q行的电流控制晶体管Tr3各自的栅极-源极间电压Vgs作为写入电压被保持于保持电容 Cs。
在第q行的保持电容Cs中保持了写入电压后，第q行的扫描线Ls被施加非选择电压VgL时，第q行的采样晶体管Tr1和第q行的开关晶体管Tr2成为非导通状态。第q行的采样晶体管Tr1和第q行的开关晶体管Tr2为非导通状态时，若第q行的电源线La被施加驱动电压ELVDD，则第q行的电流控制晶体管Tr3基于该栅极-源极间电压Vgs使漏极电流在有机EL元件OEL中流动。此时，第q行的电流控制晶体管Tr3中的漏极电流在其饱和区域中根据栅极-源极间电压Vgs和电流控制晶体管Tr3中的阈值电压Vth之差而变化。即，与保持电容Cs所保持的写入电压和电流控制晶体管Tr3中的阈值电压Vth之差对应的漏极电流在有机EL元件OEL中流动。
然后，在基于灰度显示用的显示数据的显示用电压Vd被施加到数据线Ld的情况下，与该显示用电压Vd相当的漏极电流在有机EL元件OEL中流动，有机EL元件OEL成为灰度显示状态。此外，在基于黑显示用的显示数据的显示用电压Vd被施加到数据线Ld的情况下，漏极电流的流动在有机EL元件OEL中被抑制，有机EL元件OEL成为非灰度显示状态、即黑显示状态。另外，所谓电流控制晶体管Tr3的阈值电压Vth，表示电流控制晶体管Tr3的漏极电流开始流动时的电流控制晶体管Tr3中的栅极-源极间电压Vgs。
[显示装置的作用]
参照图4～图7说明阈值检测动作和显示动作。首先，参照图4说明显示用电压Vd相对于电流控制晶体管Tr3的漏极电流的依存性。另外，在图4中，例示了电流控制晶体管Tr3的阈值电压Vth为相互不同的2个的情况。
图4中实线所示的曲线L1表示显示用电压Vd相对于电流控制晶体管Tr3的漏极电流Id的依存性，表示电流控制晶体管Tr3的阈值电压Vth和像素电路PCC中的电流放大率β为初始值时。将阈值电压Vth的初始值设为Vth₀时，在初始状态下的像素电路PCC中流动的漏极电流Id以下式(1)示出。另外，V₀是写入电压WDVSS。
Id＝β(V₀－Vd－Vth0)²···(1)
图4中虚线所示的曲线L2表示显示用电压Vd相对于电流控制晶体管 Tr3的漏极电流Id的依存性，表示电流控制晶体管Tr3的漏极电流Id随时间经过而相对于初始状态发生了变动时。将阈值电压Vth设为Vth₁(＝Vth₀+ΔVth)时，在该状态下的像素电路PCC中流动的漏极电流Id以下式(2)示出。
Id＝β(V₀－Vd－Vth₁)²···(2)
如图4及上述式(1)及(2)所示，曲线L2表示曲线L1平移了移位量ΔVth后的形状，在阈值电压Vth的变动前后，这些曲线L1和曲线L2的形状几乎不变化。这意味着，与阈值电压Vth的变动相比，电流放大率β的变动是可以忽视的程度，并且通过使用电流控制晶体管Tr3中的移位量ΔVth来校正显示用电压Vd、从而校正了电流控制晶体管Tr3的漏极电流Id。在本实施方式中，在阈值电压Vth检测动作中检测这样的电流控制晶体管Tr3的阈值电压Vth，经由数据线Ld进行向像素电路PCC施加的显示用电压Vd的校正。
[阈值检测动作]
参照图5说明阈值检测动作中的上述阈值检测期间内的各驱动器电路20、30、40的驱动状态的推移。在阈值检测动作中，依次进行电压保持动作、电压饱和动作、电压测定动作、电压输出动作。另外，图5是表示第q行的各像素Px为阈值电压Vth的检测对象行时的各驱动器电路20、30、40的驱动状态的时序图。
如图5的下侧所示，在对第q行的各像素Px进行阈值检测动作的期间，第q行的电源线La被持续施加写入电压WDVSS。此外，显示用开关SWd被维持为关断，第q行的各像素电路PCC被从数据驱动器电路40中的移位寄存器电路41及数据寄存器电路42切断。此外，输出开关SW2持续与邻接的其他数据锁存43a连接。
首先，在定时t1，输入开关SW1与检测用ADC44b连接，传送开关SWtrs被维持为关断。在该状态下，通过向第q行的扫描线Ls施加选择电压VgH，第q行的各开关晶体管Tr2和第q行的各采样晶体管Tr1成为导通状态，第q行的各电流控制晶体管Tr3在饱和区域进行驱动。此外，通过将检测用电压开关SWs切换为接通，从模拟电源70向各数据线Ld同时 施加检测用电压Vm。
此时，检测用电压Vm被设定成，使得施加比电流控制晶体管Tr3的栅极-源极间所设想的阈值电压Vth更大的电压。即，检测用电压Vm被设定成，使写入电压WDVSS与检测用电压Vm之差比电流控制晶体管Tr3的栅极-源极间所设想的阈值电压Vth大。另外，被施加了检测用电压Vm的各数据线Ld的电位比被施加了写入电压WDVSS的电源线La的电位低，并且比有机EL元件OEL的阴极端子低。
若检测用电压Vm被施加至各数据线Ld，则与检测用电压Vm与写入电压WDVSS之差对应的每个像素Px的电流，经由第q行的各电流控制晶体管Tr3和第q行的各采样晶体管Tr1流向模拟电源70。与此相伴，在第q行的各保持电容Cs中保持着与其连接的电流控制晶体管Tr3的栅极-源极间电压Vgs，由此电压保持动作结束。另外，有机EL元件OEL的阳极的电位为阴极侧的电位以下，所以有机EL元件OEL不发光。
在定时t2，在对第q行的扫描线Ls的选择电压VgH的施加被维持、并且检测用开关SWm被维持为关断的状态下，仅检测用电压开关SWs被切换为关断。由此，在各数据线Ld中，对于与采样晶体管Tr1连接的部位，数据驱动器电路40侧的部位被切换为高阻抗状态。
此时，第q行的各电流控制晶体管Tr3的栅极-源极间电压Vgs被保持于第q行的各保持电容Cs。因此，在第q行的各电流控制晶体管Tr3中继续流动漏极电流，以使第q行的各电流控制晶体管Tr3中的源极端子的电位接近第q行的各电流控制晶体管Tr3的漏极端子的电位。然后，随着从定时t2起经过的时间、即缓和时间t不断进展，第q行的各保持电容Cs所积蓄的电荷被放电，各保持电容Cs的两端子间的电压、即第q行的各电流控制晶体管Tr3中的栅极-源极间电压Vgs降低到使漏极电流不再流动的阈值电压Vth。然后，与第q行的各电流控制晶体管Tr3的阈值电压Vth相当的电压被保持于第q行的各保持电容Cs，电压饱和动作结束。另外，用于向各数据线Ld施加检测用电压Vm的检测用开关SWm在定时t2以后被维持为关断。
在定时t3，对第q行的扫描线Ls的选择电压VgH的施加被维持，并且仅检测用开关SWm被切换为接通。由此，各数据线Ld和各检测用 ADC44b连接，处于高阻抗状态的各数据线Ld的电位被取入至各检测用ADC44b。
此时，在第q行的各保持电容Cs中，保持着与第q行的各电流控制晶体管Tr3的阈值电压Vth相当的电压。因此，根据各检测用ADC44b所取入的电位与写入电压WDVSS的电位差，检测第q行的各电流控制晶体管Tr3中的栅极-源极间电压Vgs、即与第q行的各电流控制晶体管Tr3的阈值电压Vth对应的电压。检测到的各数据线Ld的电位由各检测用ADC44b变换为作为数字数据的检测数据Dout，并经由电平移位器46b输出至各数据锁存43a。然后，各数据锁存43a保持所输出的检测数据Dout，由此，电压测定动作结束。
在定时t4，第q行的扫描线Ls被施加非选择电压VgL，第q行的各开关晶体管Tr2和第q行的各采样晶体管Tr1被切换为非导通状态。在该状态下，各检测用开关SWm被切换为关断，传送开关SWtrs被切换为接通。进而，输入开关SW1与邻接的数据锁存43a连接，各数据锁存43a串联连接。
此时，从控制部50向数据驱动器电路40输出锁存脉冲信号LP，各数据锁存43a所保持的检测数据Dout与锁存脉冲信号LP的定时同步地依次被传送到控制部50。由此，与在第q行排列的n个电流控制晶体管Tr3各自的阈值电压Vth有关的数据依次被传送到控制部50。另外，在图5中，为了便于说明，省略了锁存脉冲信号LP的反复次数。
在定时t5，对第q行的扫描线Ls的非选择电压VgL的施加被维持，而且传送开关SWtrs被切换为关断，并且，输入开关SW1将数据锁存43a的输入端与数据寄存器电路42中的寄存器连接。由此，电压输出动作结束，对于在第q行排列的n个电流控制晶体管Tr3，阈值检测动作结束。
参照图6说明从上述定时t2到上述定时t3的期间中的数据线Ld的电位、即数据线电位VLd的推移。
如图6所示，随着从定时t2起经过的时间、即缓和时间t的推进，数据线电位VLd随着与该数据线Ld连接的保持电容Cs中的蓄积电荷的放电，而从检测用电压Vm接近写入电压WDVSS。并且，若缓和时间t推进到饱和时间ts，则数据线电位VLd通过饱和电压VLds而饱和，漏极电流不再流动。此时，写入电压WDVSS与饱和电压VLds之差被设定为阈值电压 Vth。另外，饱和时间ts例如为3nsec～10nsec，从定时t2到定时t3的期间被设定为这样的饱和时间ts以上。
[显示动作]
参照图7说明灰度显示动作中的各驱动器电路20、30、40的驱动状态的推移。在灰度显示动作中，依次进行写入动作和发光动作。另外，黑显示动作中的各驱动器电路20、30、40的驱动状态的推移，在从开始到进行阈值检测动作为止的期间与灰度显示动作是同样的。
如图7的下侧所示，在进行灰度显示动作的期间，各检测用开关SWm、各检测用电压开关SWs及传送开关SWtrs被维持为关断。此外，各输出开关SW2分别被维持为将数据锁存43a和显示用DAC44a连接的状态，各输入开关SW1分别被维持为将数据锁存43a和数据寄存器电路42连接的状态。
首先，在定时td1，通过将各显示用开关SWd切换为接通，使得移位寄存器电路41、数据寄存器电路42、数据锁存43a、显示用DAC44a、缓存器45a及数据线Ld串联连接。接着，通过将起动脉冲信号SP1输入到数据驱动器电路40，使得从移位寄存器电路41向数据寄存器电路42输入移位信号，由此，第1行的显示数据Din被从控制部50取入至数据寄存器电路42。
在定时td2，第1行的扫描线Ls被施加选择电压VgH，而且第1行的电源线La被施加写入电压WDVSS，第1行的各采样晶体管Tr1和第1行的各开关晶体管Tr2成为导通状态。此外，第1行的各电流控制晶体管Tr3分别成为能够在饱和区域驱动的状态。
此时，通过将锁存脉冲信号LP输出到数据驱动器电路40，使得第1行的显示数据Din被同时保持于各数据锁存43a。n个数据锁存43a所保持的第1行的显示数据Din经由n个电平移位器46a被n个显示用DAC44a变换为模拟信号电压，作为各列的显示用电压Vd输出至各数据线Ld。然后，第1行的各电流控制晶体管Tr3的栅极-源极间电压Vgs成为与写入电压WDVSS与显示用电压Vd之差相应的值，作为写入电压保持在保持电容Cs中。由此，对第1行的各像素Px的写入动作结束。另外，向各数据线Ld施加的显示用电压Vd是通过将与第1行的各像素Px建立了对应的检测 数据Dout与成为基准的阈值电压Vth的差分相对于调整后的灰度数据进行加减运算而得到的电压值。
另外，此时，通过将起动脉冲信号SP1再次输出到数据驱动器电路40，使得从移位寄存器电路41向数据寄存器电路42输出移位信号。由此，第2行的显示数据Din被从控制部50取入至数据寄存器电路42。
在定时td3，第1行的扫描线Ls被施加非选择电压VgL，并且第1行的电源线La被施加驱动电压ELVDD，第1行的各采样晶体管Tr1和第1行的各开关晶体管Tr2成为非导通状态。然后，第1行的各电流控制晶体管Tr3分别将与第1行的各保持电容Cs所保持的写入电压与其所连接的电流控制晶体管Tr3中的阈值电压Vth之差相应的漏极电流供给至对应的有机EL元件OEL。此时，在向各数据线Ld施加的显示用电压Vd中，阈值电压Vth的变动量已被校正，所以被供给至有机EL元件OEL的漏极电流也被校正了阈值电压Vth的变动量。由此，进行针对第1行的各像素Px的发光动作。
另外，此时，第2行的扫描线Ls被施加选择电压VgH，并且第2行的电源线La被施加写入电压WDVSS，第2行的各采样晶体管Tr1和第2行的各开关晶体管Tr2成为导通状态。此外，第2行的各电流控制晶体管Tr3成为能够在饱和区域驱动的状态。此外，通过将锁存脉冲信号LP再次输出到数据驱动器电路40，使得在各数据锁存43a中保持第2行的显示数据Din。各数据锁存43a所保持的第2行的显示数据Din经由各电平移位器46a被各显示用DAC44a变换为模拟信号电压，作为各列的显示用电压Vd输出至各数据线Ld。然后，第2行的各电流控制晶体管Tr3的栅极-源极间电压Vgs成为与写入电压WDVSS与显示用电压Vd之差相应的值，在第2行的各保持电容Cs中作为写入电压被保持。由此，针对第2行的各像素Px的写入动作结束。
写入动作和发光动作每次都按照这样的顺序进行，这样的灰度显示动作从第1行到第n行依次以显示用时钟周期进行。由此，作为1个帧显示图像。另外，作为显示动作而进行显示黑色的图像的黑显示的情况下，使用作为用于显示黑色的图像的图像数据的、黑显示数据。
[检测动作定时]
参照图8～图10，说明在黑显示动作中进行的阈值检测动作的定时。另外，以下作为1例说明像素Px配置为540行×960列、帧速率为60fps的情况。此外，图8表示第1帧中的黑显示动作中的阈值检测动作的定时，图9表示第2帧中的黑显示动作中的阈值检测动作的定时，图10表示第540帧中的黑显示动作中的阈值检测动作的定时。
如图8所示，首先，在定时Tf1a，灰度显示动作中的写入动作在第1行的各像素Px中开始。灰度显示动作中的写入动作在第1行的各像素Px中结束后，灰度显示动作中的发光动作在第1行的各像素Px中开始，并且灰度显示动作中的写入动作在第2行的各像素Px中开始。这样，灰度显示动作中的写入动作从第1行到第540行依次以显示用时钟周期开始，从灰度显示动作中的写入动作结束了的行起，依次开始灰度显示动作中的发光动作。
在定时Tf1b，灰度显示动作中的写入动作到作为最终行的第540行为止结束，黑显示动作中的写入动作在第1行的各像素Px中开始。黑显示动作中的写入动作在第1行的各像素Px中结束后，黑显示动作中的非发光动作在第1行的各像素Px中开始，并且黑显示动作中的写入动作在第2行的各像素Px中开始。这样，黑显示动作中的写入动作从第1行到第540行依次以显示用时钟周期开始，从黑显示动作中的写入动作结束了的行起，依次开始黑显示动作中的非发光动作。
在定时Tf1c，黑显示动作中的非发光动作的开始到作为最终行的第540行为止结束，被施加选择电压VgH的候选从第1行到第540行依次以检测用时钟周期被进行扫描。此时，首先，作为被施加选择电压VgH的候选、即被检测阈值电压Vth的检测对象行，设定第1行，在阈值检测期间进行针对第1行的各像素Px的阈值检测动作。
由此，与第1行的各电流控制晶体管Tr3有关的检测数据Dout被存储在控制部50的数据存储部52中。然后，针对第1行的各像素Px的阈值检测动作结束后，一方面以检测用时钟周期进行的选择对象比特的移位从第2行到第540行依次反复，另一方面对全部扫描线Ls施加非选择电压VgL。结果，全部像素Px在黑显示的状态下待机。
在定时Tf2a，以检测用时钟周期进行的选择对象比特的移位通过检测 用移位时钟信号Clkr的输入而进展到作为最终行的第540行，对第1行的各像素Px，再次开始灰度显示动作中的写入动作。
如图9所示，在定时Tf2a，灰度显示动作中的写入动作从第1行到第540行依次再次开始，从灰度显示动作中的写入动作结束了的行起，依次开始灰度显示动作中的发光动作。
在定时Tf2b，灰度显示动作中的写入动作以显示用时钟周期进展到作为最终行的第540行，从灰度显示动作中的写入动作结束了的行起，依次开始灰度显示动作中的发光动作。接着，黑显示动作中的写入动作从第1行到第540行依次以显示用时钟周期再次进展，从黑显示动作中的写入动作结束了的行起，依次开始黑显示动作中的非发光动作。
在定时Tf2c，黑显示动作中的非发光动作的开始到作为最终行的第540行为止结束，被施加选择电压VgH的候选从第1行到第540行依次以检测用时钟周期被进行扫描。此时，作为被检测阈值电压Vth的检测对象行，设定第2行，首先，以检测用时钟周期进行的选择对象比特的移位进展到第2行。另外，被施加选择电压VgH的候选为第1行时，对扫描线Ls施加非选择电压VgL。并且，被施加选择电压VgH的候选为第2行时，在阈值检测期间进行针对第2行的各像素Px的阈值检测动作。
由此，与第2行的各电流控制晶体管Tr3有关的检测数据Dout被存储在控制部50的数据存储部52中。然后，针对第2行的各像素Px的阈值检测动作结束后，一方面以检测用时钟周期进行的选择对象比特的移位从第3行到第540行依次反复，另一方面对全部扫描线Ls施加非选择电压VgL。结果，全部像素Px在黑显示的状态下待机。
在定时Tf3a，以检测用时钟周期进行的选择对象比特的移位通过检测用移位时钟信号Clkr的输入而进展到作为最终行的第540行，对第1行的各像素Px，再次开始灰度显示动作中的写入动作。
如图10所示，在定时Tfma，灰度显示动作中的写入动作从第1行到第540行依次再次开始，从灰度显示动作中的写入动作结束了的行起，依次开始灰度显示动作中的发光动作。
在定时Tfmb，灰度显示动作中的写入动作以显示用时钟周期进展到作为最终行的第540行，从灰度显示动作中的写入动作结束了的行起，依次 开始灰度显示动作中的发光动作。接着，黑显示动作中的写入动作从第1行到第540行依次以显示用时钟周期再次进展，从黑显示动作中的写入动作结束了的行起，依次开始黑显示动作中的非发光动作。
在定时Tfmc，黑显示动作中的非发光动作的开始到作为最终行的第540行为止结束，被施加选择电压VgH的候选从第1行到第540行依次以检测用时钟周期被进行扫描。此时，作为被检测阈值电压Vth的检测对象行，设定第540行，被施加选择电压VgH的候选为第1行～第539行时，对扫描线Ls施加非选择电压VgL。并且，被施加选择电压VgH的候选为第540行时，在阈值检测期间进行针对第540行的各像素Px的阈值检测动作。由此，与第540行的各电流控制晶体管Tr3有关的检测数据Dout被存储在控制部50的数据存储部52中。
在定时Tfme，针对第540行的各像素Px的阈值检测动作结束，对第1行的各像素Px，再次开始灰度显示动作中的写入动作。
像这样，在显示1个帧的期间，到第540行为止开始了黑显示动作中的非发光动作后，对特定行的像素Px进行阈值检测动作。阈值电压Vth的检测对象行按照每个帧而从第1行的像素Px起沿着扫描方向依次地逐行进行。即，若在第k帧(k为1以上的整数)进行针对第q行(1≤q≤539)的像素Px的阈值检测动作，则在第k+1帧进行针对第q+1行的像素Px的阈值检测动作。检测对象行到达最终行后，检测对象行回到第1行。
此时，检测对象行为第q行时得到的检测数据Dout在控制部50的数据存储部52中被存储到与第q行的各像素Px建立了对应的存储区域而被更新。因此，在第k+1帧，控制部50在显示动作中生成显示数据Din时，作为第q行的检测数据Dout使用最新的检测数据Dout。并且，关于第q行以外的检测数据Dout，控制部50使用在第k帧使用过的以前的检测数据Dout。由此，每当帧的显示反复540次时，各行的检测数据Dout被更新。
参照图11，详细说明显示1个帧的期间中的各控制信号的推移。另外，以下说明第k帧中的检测对象行为第q行的各像素Px的情况。
在选择驱动器电路20中，首先，与起动脉冲信号SP2的输入相应地，以显示用时钟周期生成移位信号，以基于移位信号的定时向各扫描线Ls依次施加选择电压VgH。此时，从第1行的扫描线Ls到第540行的扫描线 Ls依次以显示用时钟周期被施加选择电压VgH。此外，从第1行的电源线La到第540行的电源线La，也依次以显示用时钟周期向各电源线La被施加写入电压WDVSS。并且，第q行的扫描线Ls被施加选择电压VgH、第q行的电源线La被施加写入电压WDVSS时，第q行的各像素电路PCC经由各数据线Ld而被施加基于灰度显示用的显示数据Din的显示用电压Vd。此外，从被施加选择电压VgH的行起，依次向扫描线Ls施加非选择电压VgL，从被施加写入电压WDVSS的行起，依次向电源线La施加驱动电压ELVDD。并且，第q行的扫描线Ls被施加非选择电压VgL、第q行的电源线La被施加驱动电压ELVDD时，在第q行的各像素电路PCC中，基于灰度显示用的显示数据Din的漏极电流被供给至有机EL元件OEL。
到作为最终行的第540行为止写入动作结束后，与起动脉冲信号SP2的输入相应地，再次从第1行的扫描线Ls到第540行的扫描线Ls依次以显示用时钟周期向各扫描线Ls施加选择电压VgH。此外，从第1行的电源线La到第540行的电源线La，也依次以显示用时钟周期向各电源线La施加写入电压WDVSS。并且，第q行的扫描线Ls被施加选择电压VgH、第q行的电源线La被施加写入电压WDVSS时，第q行的各像素电路PCC经由各数据线Ld被施加基于黑显示用的显示数据Din的显示用电压Vd。此外，从被施加选择电压VgH的行起，依次向扫描线Ls施加非选择电压VgL，从被施加写入电压WDVSS的行起，依次向电源线La施加驱动电压ELVDD。并且，第q行的扫描线Ls被施加非选择电压VgL、第q行的电源线La被施加驱动电压ELVDD时，在第q行的各像素电路PCC中，基于黑显示用的显示数据Din，对有机EL元件OEL抑制漏极电流的供给。
黑显示动作的开始进展到作为最终行的第540行为止时，各电源线La被施加写入电压WDVSS。此外，起动脉冲信号SP2的输入成为切换对象次数，扫描线Ls的扫描所使用的移位时钟信号从显示用时钟周期切换为检测用时钟周期。然后，在选择驱动器电路20的移位寄存器电路21中，以检测用时钟周期生成移位信号，移位信号中的选择对象比特移位到第q－1行。在该期间，屏蔽脉冲信号MP被维持为低电平，在选择驱动器电路20的移位寄存器电路21中，无论生成的移位信号如何，都继续输出不包含选择对象比特的移位信号。
在选择对象比特移位到第q行的定时，屏蔽脉冲信号MP被切换为高电平，向第q行的扫描线Ls施加选择电压VgH。然后，对第q行的各像素Px开始阈值电压Vth的检测。针对第q行的各像素Px的检测数据Dout被从数据驱动器电路40输出，从屏蔽脉冲信号MP切换到高电平起经过了阈值检测期间时，屏蔽脉冲信号MP再次被切换为低电平。然后，在选择驱动器电路20的移位寄存器电路21中，以检测用时钟周期生成移位信号，移位信号中的选择对象比特移位到第540行。在该期间，屏蔽脉冲信号MP被维持为低电平，所以在选择驱动器电路20的移位寄存器电路21中，无论生成的移位信号如何，都继续输出不包含选择对象比特的移位信号。
移位信号中的选择对象比特移位到第540行时，与起动脉冲信号SP2的输入相应地，屏蔽脉冲信号MP再次切换为高电平。然后，从第1行的扫描线Ls到第540行的扫描线Ls依次以显示用时钟周期向各扫描线Ls施加选择电压VgH，从第1行的像素Px起依次再次开始灰度显示动作中的写入动作。
根据上述第1实施方式，能够得到以下举出的效果。
(1)通过阈值检测动作，测定像素电路PCC中的电流控制晶体管Tr3的阈值电压Vth。并且，使用基于测定出的阈值电压Vth的检测数据Dout，来校正图像数据，生成显示数据Din。像素电路PCC被施加基于显示数据Din的显示用电压Vd。因此，即使电流控制晶体管Tr3的阈值电压Vth发生了变动，也与变动后的阈值电压Vth相应地来校正图像数据，所以能够抑制所显示的画质的劣化。
(2)在显示1个帧的期间进行阈值检测动作，所以与阈值检测动作仅在显示装置的起动时或从休眠状态恢复时等进行的情况相比，检测数据Dout的更新周期变短。即，检测数据Dout的取得时与作为校正后的数据的显示数据Din的输出时之间的时间差变短。因此，即使在显示对比度高的图像的情况等、电流控制晶体管Tr3的阈值电压Vth的变动在短期间内变大的情况下，也能够抑制所显示的画质的劣化。
(3)在1次阈值检测动作中，与阈值电压Vth有关的数据的检测仅对与1条扫描线Ls连接的n个像素Px进行。因此，与阈值电压Vth有关的数据的检测与对全部像素Px或多行的像素Px进行1次的情况相比，1次阈 值检测动作所需的时间变短。因此，即使在显示1个帧的期间加入阈值检测动作，也能够抑制阈值检测动作对作为显示装置的图像的显示性能带来影响。
(4)特别是，在进行为了使运动图像的显示更加清晰而插入的黑显示动作的期间进行阈值检测动作，所以能够有效地抑制阈值检测动作给图像的显示性能带来影响。
(5)此外，在阈值检测动作中，检测对象行的候选从第1行到最终行依次进行切换。即，在阈值检测动作中也与灰度显示动作和黑显示动作同样地进行选择对象的候选的切换。因此，选择驱动器电路20每当显示1个帧时改变检测对象行。
(6)此外，在阈值检测动作中，检测对象行的候选的切换周期是比显示用时钟周期更短的检测用时钟周期。因此，与检测对象行的候选的切换周期是显示用时钟周期的情况相比，阈值检测动作所需的时间变短。
(7)阈值电压Vth的检测对象行每当显示1个帧时就从第1行的像素Px起沿着扫描方向依次地逐行错移。因此，与阈值电压Vth的检测对象行沿着扫描方向间歇地设置的结构相比，基于阈值电压Vth的显示数据Din的校正在扫描方向上更加细致。
(第2实施方式)
参照图12～图14，对第2实施方式中的显示装置重点说明与第1实施方式的显示装置的不同点。在第2实施方式中，m行扫描线被划分为由彼此相邻的10行扫描线构成的多个扫描线群。在第2实施方式中，每个帧的阈值检测对象与第1实施方式不同，是按照每个扫描线群设定的，其他基本构成与第1实施方式同样。因此，对于与第1实施方式实质上相同的结构要素分别赋予同一符号并省略反复的说明。
如图12所示，在第1帧中，首先，从第1行起依次开始灰度显示动作中的写入动作，从灰度显示动作中的写入动作结束了的行起，依次开始灰度显示动作中的发光动作。到最终行为止灰度显示动作中的写入动作结束时，从第1行起依次开始黑显示动作中的写入动作。然后，从黑显示动作中的写入动作结束了的行起，依次开始黑显示动作中的非发光动作。
黑显示动作中的非发光动作的开始进行到最终行后，开始阈值检测动 作。在阈值检测动作中，从第1个扫描线群起作为检测对象行而设定第1行，针对第1行的各像素Px的检测数据Dout被存储在控制部50的数据存储部52中。在此期间，针对全部行的像素Px进行黑显示。
在第2帧中与第1帧同样，从第1行起依次进行灰度显示动作和黑显示动作。黑显示动作中的非发光动作的开始进行到最终行后，开始阈值检测动作。在第2帧中的阈值检测动作中，从第2个扫描线群开始作为检测对象行而设定第11行，针对第11行的各像素Px的检测数据Dout被存储在控制部50的数据存储部52中。在此期间，针对全部行的像素Px进行黑显示。
像这样，每当显示1个帧时，从第1行的像素Px到第531行的像素Px每隔10行地将检测对象行移位。此时，针对检测对象行的检测数据Dout由控制部50中的数据存储部52被存储在与检测对象行建立了对应的存储区域中。然后，在下一帧的显示动作中生成显示数据Din时，使用作为前一检测对象行的检测数据Dout而被更新的检测数据Dout。
如图13所示，在第55帧中，从第1个扫描线群开始作为检测对象行而设定第2行，针对第2行的各像素Px的检测数据Dout被存储在控制部50的数据存储部52中。然后，阈值检测动作结束后，开始第56帧的显示动作。在第56帧中，从第2个扫描线群开始作为检测对象行而设定1第2行，针对1第2行的各像素Px的检测数据Dout被存储在控制部50的数据存储部52中。
像这样，每当显示1个帧时，从第2行的像素Px到第532行的像素Px每隔10行地将检测对象行移位。此时，针对检测对象行的检测数据Dout由控制部50中的数据存储部52被存储在与检测对象行建立了对应的存储区域中。然后，在下一帧的显示动作中生成显示数据Din时，使用作为前一检测对象行的检测数据Dout而被更新的检测数据Dout。
如图14所示，在第487帧中，从第1个扫描线群开始作为检测对象行而设定第10行，针对第10行的各像素Px的检测数据Dout被存储在控制部50的数据存储部52中。然后，阈值检测动作结束后，开始第488帧的显示动作。在第488帧中，从第2个扫描线群开始作为检测对象行而设定第20行，针对第20行的各像素Px的检测数据Dout被存储在控制部50的 数据存储部52中。
像这样，每当显示1个帧时，从第10行的像素Px到第540行的像素Px每隔10行地将检测对象行移位。此时，针对检测对象行的检测数据Dout由控制部50中的数据存储部52被存储在与检测对象行建立了对应的存储区域中。然后，在下一帧的显示动作中生成显示数据Din时，使用作为前一检测对象行的检测数据Dout而被更新的检测数据Dout。由此，每当帧被显示m次时，各行的检测数据Dout被更新1次。
根据上述第2实施方式，除了上述(1)～(6)之外，还能够得到如下的效果。
(8)每当显示1个帧时，沿着扫描方向每隔10行将检测对象行移位。在检测对象行每隔1行错移的情况下，例如在帧的显示反复10次的期间，被检测阈值电压Vth的行的范围在显示面板中偏在第1行到第10行。另一方面，检测对象行每隔10行错移的情况下，例如在帧的显示反复10次的期间，包含被检测阈值电压Vth的行的范围在显示面板中遍及第1行到第100行。因此，被检测检测对象行的范围在短期间内变大，所以阈值电压Vth的变动在显示面板中分布于大范围的情况下，能够有效抑制所显示的画质的劣化。
(第3实施方式)
对于第3实施方式中的显示装置，重点说明与第2实施方式的不同点。本实施方式中通过阈值检测动作得到的检测数据Dout的存储形式与第2实施方式不同，其他基本构成与第2实施方式同样。因此，对于与第2实施方式实质上相同的结构要素分别赋予同一符号，并省略反复的说明。
在第3实施方式中也与第2实施方式同样，在显示1个帧的期间，到最终行为止开始黑显示动作后，将特定行的像素Px作为阈值电压Vth的检测对象行来处理。并且，每当显示1个帧时，阈值电压Vth的检测对象行沿着扫描方向每隔10行错移。
控制部50中的数据存储部52具备m/10行×n列的存储区域，将包含在1个扫描线群中且沿着列方向排列的10个像素Px分别与1个存储区域建立对应。即，数据存储部52中，使1个扫描线群中沿着列方向排列的像素Px分别与1个存储区域建立对应。数据存储部52将输入到数据存储部52的 每个像素Px的检测数据Dout存储到与该像素Px建立了对应的存储区域。每当输入了每个像素Px的检测数据Dout时，数据存储部52将与该像素Px建立了对应的检测数据Dout更新。
例如，数据存储部52中，将第1个扫描线群中的第1列的各像素Px与第1行第1列的存储区域建立对应，将第2个扫描线群中的第2列的各像素Px与第2行第2列的存储区域建立对应。此外，数据存储部52中，将第54个扫描线群中的第959列的像素Px与第54行第959列的存储区域建立对应，将第54个扫描线群中的第960列的各像素Px与第54行第960列的存储区域建立对应。
并且，数据存储部52被输入了针对第1行的各像素Px的检测数据Dout时，通过该检测数据Dout将第1行的存储区域中的检测数据Dout更新。此外，数据存储部52被输入了对于第2行的各像素Px的检测数据Dout时也是，通过该检测数据Dout将第1行的存储区域中的检测数据Dout更新。数据存储部52被输入了对于第539行的各像素Px的检测数据Dout时，通过该检测数据Dout将第54行的存储区域中的检测数据Dout更新。此外，数据存储部52被输入了对于第540行的各像素Px的检测数据Dout时也是，通过该检测数据Dout将第54行的存储区域中的检测数据Dout更新。
在显示数据Din的生成时，控制部50中的校正部53读取从调整部51输入的每个像素Px的灰度数据和与该像素Px建立了对应的检测数据Dout。校正部53对每个像素Px的灰度数据实施基于与该像素Px建立了对应的检测数据Dout的加减运算，并作为每个像素Px的显示数据Din输出。
根据上述第3实施方式，除了上述(1)～(6)(8)之外，还能够得到如下的效果。
(9)与数据存储部52具备m行×n列的存储区域的结构相比，抑制了数据存储部52的存储容量。
(10)构成电流控制晶体管Tr3的各薄膜的膜特性左右阈值电压Vth的变动量的情况并不少，这样的薄膜的膜特性在彼此相邻的行之间相近。因此，在彼此相邻的行之间，阈值电压Vth的变动量接近的情况并不少。关于这一点，根据第3实施方式，在彼此相邻的行之间，针对一个行的检测数据Dout也可以作为针对另一行的检测数据Dout使用。结果，对全部像 素Px更新检测数据Dout时，检测数据Dout的更新周期变短。因此，每单位时间内的阈值电压Vth的变动量较大的情况下，有效地抑制了所显示的画质的劣化。
(变形例)
上述各实施方式能够如下那样变更而实施。
·第2实施方式及第3实施方式中的检测对象行，每当显示1帧时沿着扫描方向错移2行以上即可。这种情况下，将每当显示1个帧时的检测对象行的移位量设定为Sf时，第3实施方式中的数据存储部52具备m/Sf行×n列的存储区域，沿着列方向排列的Sf个像素Px分别与1个存储区域建立对应。
·沿着列方向排列的Sf个像素Px被设定为1个组，在第3实施方式中，可以仅将各组的最初行设定为检测对象行。即，检测对象行可以是按照第1行、第11行、第21行、…、第511行、第521行、第531行的顺序按每个帧反复移位的结构。此外，不限于各组的最初行，也可以将各组内的特定行设定为检测对象行，组内的各行的检测数据Dout始终由特定行的检测数据Dout代表。
·在第1实施方式及第2实施方式中也可以是，在显示本次的帧的期间得到的检测数据Dout，在显示下一帧的期间中作为全部行的检测数据Dout来处理。这种情况下，数据存储部52具备1行×n列的存储区域，将沿着列方向排列的m个像素Px分别与1个存储区域建立对应。例如，电流控制晶体管Tr3的工作温度左右阈值电压Vth的变动量时，在全部电流控制晶体管Tr3中阈值电压Vth的变动量相近。关于这一点，根据上述结构，针对1个行的检测数据Dout也可以作为针对其他行的检测数据Dout使用，所以上述(9)(10)的效果更加显著。
·检测对象行也可以在每个帧中设定为同一行。此外，检测对象行也可以在每个帧中不规则地设定。另外，检测对象行在每个帧中不规则地设定的情况下，例如由控制部50来使用在从1到m之间按每个帧产生随机数的随机函数。并且，使由检测用移位时钟信号Clkr输出移位等待部分的定时和由屏蔽脉冲信号MP输出屏蔽解除部分的定时同步，并且使这些信号从起动脉冲信号SP2延迟与产生的随机数相应的时间即可。
·检测对象行可以按照每个帧设定2个以上。此时，在检测用移位时钟信号Clkr中，在彼此不同的定时输出2个移位等待部分，屏蔽脉冲信号MP也在相互不同的定时输出2个屏蔽解除部分。并且，2个移位等待部分各自输出的定时和2个屏蔽解除部分各自输出的定时同步。
·例如也可以是，在显示装置起动时、显示装置从休眠恢复时等，在显示1个帧的期间以外，对全部行或一部分行的各像素电路PCC进行阈值检测动作。
·也可以是，在1次阈值检测动作中施加的检测用电压Vm按照每个数据线Ld而相互不同。此时，也可以是，在阈值检测动作中，多个数据线Ld分别经由彼此不同的布线而与模拟电源70连接。或者，也可以是，检测用电压Vm作为数字数据被从数据驱动器电路40向数据线Ld供给。
·也可以是，在1次阈值检测动作中被施加检测用电压Vm的数据线Ld是全部数据线Ld中的一部分。此时，在1次阈值检测动作，仅成为检测用电压Vm的施加对象的一部分数据线Ld经由检测用电压开关SWs与模拟电源70连接。
·在上述实施方式中，作为电流控制晶体管Tr3的特性而检测阈值电压Vth，基于检测到的阈值电压Vth校正显示用电压Vd。但不限于此，也可以是，作为电流控制晶体管Tr3的特性而检测电流放大率β，基于检测到的电流放大率β校正显示用电压Vd。此外，也可以是，作为电流控制晶体管Tr3的特性而检测阈值电压Vth和电流放大率β的双方。总之，阈值检测动作中的检测对象只要是电流控制晶体管Tr3的元件特性中的给向有机EL元件OEL供给的驱动电流带来影响的参数即可。
·在校正显示用电压Vd时，除了电流控制晶体管Tr3的元件特性，还可以使用发光亮度等有机EL元件OEL的发光特性。
·像素电路PCC的结构不限于上述结构。只要是经由电流控制晶体管向有机EL元件OEL供给驱动电流的电路，像素电路PCC所具备的元件的种类和电路的结构是任意的。此外，发光元件不限于有机EL元件，也可以是无机EL元件或LED等，只要是通过经由电流控制晶体管被供给驱动电流而发光的元件即可。