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一种被配置用于个性化至少一个芯片(IC)的方法和系统,芯片将被集成至智能卡内,包括与连接至该芯片(IC)的(现场可编程门阵列)FPGA设备(WB)关联的测试仪(T),该芯片(IC)是包括多个芯片的排列和用于检验晶片(W)上芯片(IC)存在的一次性的硬件模块(HM)的晶片的一部分。测试仪(T)发送第一密码(S1)至FPGA设备(WB),其发送命令(C)至芯片以初始化测试模式激活。FPGA设备(WB)。