电子装置测试系统.pdf

一种电子装置测试系统，用于测试一电子装置，电子装置包括一嵌入式控制器，所述系统包括一数据模块及一应用模块，数据模块接收一与所述嵌入式控制器相对应的型号信息，并将型号信息传送到应用模块，应用模块包括一解析子模块解析所述型号信息并获得与所述型号信息对应的查询命令信息，所述应用模块将所述查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的信息，嵌入式控制器向所述应用模块返回一测试结果，所述应用模块将所述测试结果与一标准结果进行比对生成一测试报告，用以完成对所述电子装置的测试。

权利要求书
1.  一种电子装置测试系统，用于测试一电子装置，所述电子装置包括一嵌入式控制器， 其特征在于：所述系统包括一数据模块及一应用模块，所述数据模块接收一与所述嵌入式 控制器相对应的型号信息，并将所述型号信息传送到所述应用模块，所述应用模块包括一 解析子模块解析所述型号信息并获得与所述型号信息对应的查询命令信息，所述应用模块 将所述查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的信息，所述嵌 入式控制器向所述应用模块返回一测试结果，所述应用模块将所述测试结果与一标准结果 进行比对生成一测试报告，用以完成对所述电子装置的测试。

2.  如权利要求1所述的电子装置测试系统，其特征在于：所述电子装置测试系统还包 括一驱动模块，所述应用模块向所述驱动模块发送所述查询命令信息，所述驱动模块将所 述查询命令信息转化成所述嵌入式控制器能够识别的查询命令并发送给所述嵌入式控制 器。

说明书电子装置测试系统
技术领域
本发明涉及一种电子装置测试系统，尤指一种通过嵌入式控制器测试的电子装置 测试系统。
背景技术
为了给最终用户提供质量可靠的计算机，计算机出厂前都要经过严格的检测。目 前的笔记本型电脑由于受到空间的限制，很多部件是通过EC(Embedded Controller，嵌入 式控制器)控制的，如计算机启动，键盘控制器，发光二极管(Light Emitting Diode，LED) 灯状态，电池充放电，温度传感器等。因此，在对这些功能检测时可以借助于EC命令的方法 进行检测。目前笔记本电脑的测试中已经应用了这一测试技术方法。但是，由于EC控制方 法比较底层，每一款机型的EC命令不同，地址空间不同，因此每一款机型都要开发一套测 试程序，这样会导致开发周期长，成本增加。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种通过嵌入式控制器测试的电子装置测试系统。
一种电子装置测试系统，用于测试一电子装置，所述电子装置包括一嵌入式控制 器，所述系统包括一数据模块及一应用模块，所述数据模块接收一与所述嵌入式控制器相 对应的型号信息，并将所述型号信息传送到所述应用模块，所述应用模块包括一解析子模 块解析所述型号信息并获得与所述型号信息对应的查询命令信息，所述应用模块将所述查 询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的信息，所述嵌入式控制 器向所述应用模块返回一测试结果，所述应用模块将所述测试结果与一标准结果进行比对 生成一测试报告，用以完成对所述电子装置的测试。
相对现有技术，本发明电子装置测试系统中，所述数据模块接收一与所述嵌入式 控制器相对应的型号信息，并将所述型号信息传送到所述应用模块，所述应用模块包括一 解析子模块解析所述型号信息并获得与所述型号信息对应的查询命令信息，所述应用模块 将所述查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的信息，用以完 成对不同的电子装置的测试。
附图说明
图1为本发明电子装置测试系统的较佳实施方式的模块图。
图2为本发明电子装置测试系统的较佳实施方式的系统架构图。
图3为本发明电子装置测试系统的较佳实施方式的原理流程图。
具体实施方式
请参阅图1，为本发明电子装置测试系统的较佳实施方式的模块图。所述电子 装置测试系统用于测试一电子装置内的电源状态，计算机唤醒，中央处理器(Central  ProcessingUnit，CPU)工作状态，温度，风扇转速测量与设置，电池充放电，电池温度，系 统管理总线(System Management Bus，SMBus)参数查询/设置，各发光二极管(Light  EmittingDiode，LED)状态查询/改变状态，Audio静音，一些状态寄存器的控制设置，无线 (Wireless)设备(如WiFi，蓝牙Bluetooth等)设置，即插即用设备激活，烧录基本输入输 出系统等。所述电子装置包括一嵌入式控制器(Embedded Controller，EC)，以上这些状态 可以通过嵌入式控制器命令查询到，甚至改变所述电子装置的这些状态。
所述电子装置测试系统包括一数据模块、一应用模块、一封装模块及一驱动模块。 所述数据模块接收一与所述嵌入式控制器相对应的型号信息，并将所述型号信息传送到所 述应用模块，所述应用模块包括一解析子模块解析所述型号信息并获得与所述型号信息对 应的查询命令信息，所述应用模块将所述查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所 述嵌入式控制器中的信息，所述嵌入式控制器向所述应用模块返回一测试结果，所述应用 模块将所述测试结果与一标准结果进行比对生成一测试报告，用以完成对所述电子装置的 测试。所述封装模块封装所述不同的嵌入式控制器的嵌入式控制器命令。
请参阅图2，为本发明电子装置测试系统的较佳实施方式的系统架构图。按照功能 划分，将系统架构分成应用层、操作系统层、驱动层及硬件层。所述嵌入式控制器处于硬件 层上，其是一个16位单片机。它内部本身也有一定容量的闪存来存储代码。在电子装置开 启的过程中，所述嵌入式控制器控制着绝大多数重要信号的时序。在笔记本电脑中，所述嵌 入式控制器是一直开着的，无论是在开机或者是关机状态，除非把电池和适配器完全卸除。 在关机状态下，所述嵌入式控制器一直保持运行，并在等待用户的开机信息。而在开机后， 所述嵌入式控制器更作为键盘控制器，充电指示灯以及风扇等设备的控制，它甚至控制着 系统的待机、休眠等状态。
所述驱动模块位于驱动层上，所述驱动模块根据所述控制信号以读写所述嵌入式 控制器的一输入输出端口、读取所述嵌入式控制器的物理内存信息。通常，应用程序层是不 允许应用程序直接访问硬件操作，要访问硬件，必须通过驱动。但一些操作系统会提供一些 软件开发工具包让开发者对硬件进行一些访问，如读取硬件信息，获取电池电量等，这实际 上是这些软件开发工具包应用了通用驱动程序。但是，有一些操作，是不会开放的，如对电 池的快速充放电，控制风扇转速等，这是为了系统安全的需要。
所述封装模块位于操作系统层上。所述封装模块的封装程序包括一驱动加载 函数、一驱动卸载函数、一发送嵌入式控制器命令函数、一发送嵌入式控制器扩展命令函 数。这些函数中封装了所述不同的嵌入式控制器的嵌入式控制器命令。例如，发送嵌入 式控制器命令函数：sendEcAcpiCmd(BYTE byCmd，BYTE byAddress，BYTE*byInputData， BYTE*byOutputData)；byCmd表示读写命令，其值为Ox80代表读，Ox81代表写；byAddress 表示256字节地址空间的地址；*byInputData表示输入的参数；*byOutputData表示测试 返回的结果。
所述应用模块位于应用层上。所述应用模块包括一驱动加载子模块、一驱动卸载 子模块、一发送嵌入式控制器命令子模块(解析子模块)、一发送嵌入式控制器扩展命令子 模块。这些子模块能够调用所述封装模块的函数来获取返回值。所述应用模块解析来自所 述数据模块的所述嵌入式控制器命令并向所述驱动模块发送一控制信号来控制所述驱动 模块。
所述数据模块也位于应用层上。所述数据模块能接收来自不同的嵌入式控制器的 嵌入式控制器命令，并将获得到的嵌入式控制器命令传送到所述应用模块。所述数据模块 包括有若干数据文件。例如，工厂电池老化测试中，AEIREAD表示当前要执行读取嵌入式控 制器扩展命令；Ox38表示执行Ox38命令；OxA2表示输入的参数；1表示返回值1个字节长 度。
请参阅图3，为本发明电子装置测试系统的较佳实施方式的原理流程图。
S1：所述应用模块读取所述数据模块中的嵌入式控制器命令用以加载驱动程序， 解析所述嵌入式控制器命令。
S2：所述应用模块根据所述嵌入式控制器命令调用所述封装模块中的函数。
S3：所述封装模块向所述驱动模块发送请求去获取所述嵌入式控制器的相关信 息。
S4：所述嵌入式控制器将一测试结果返回给所述应用模块，所述应用模块将所述 测试结果与一标准结果进行比对生成一测试报告。