光盘刻录方法及其刻录装置.pdf

一种光盘刻录方法，所述方法按以下步骤实施：以与线速度倍增因子X相应的辐照光束的可变刻录功率Y＝AX+B进行实际刻录，上式中系数A为一取决于光盘类型的常数；在开始实际刻录前，采用试验线速度倍增因子进行OPC刻录试验，以得出试验线速度倍增因子下的适当的辐照光束刻录功率；利用试验刻录结果解方程Y＝AX+B以确定系数B的值，根据方程Y＝AX+B和所确定的系数A和B的值计算适当刻录功率并据此进行实际刻录。相应地，本发明还提供了一种光盘刻录装置。

1、  一种采用与辐照光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子进行数据刻录的光盘刻录方法，所述刻录方法包括以下步骤：
在开始实际刻录前，采用多个小于实际刻录所用线速度倍增因子可能变化范围的试验线速度倍增因子进行OPC刻录试验，以得出每个试验线速度倍增因子下的适当的辐照光束刻录功率；
根据所获得的每个试验线速度倍增因子的适当刻录功率，为实际刻录采用的线速度倍增因子确定作为辐照光束径向位置函数的适当功率的特性曲线；以及
根据所确定的同辐照光束径向位置相应的实际线速度倍增因子下的适当功率特性曲线计算应采用的辐照光束的适当功率，然后进行实际刻录。

2、  如权利要求1所述光盘刻录方法，其中所述确定特性曲线步骤包括确定线性方程、二次方程或高次方程等形式。

3、  如权利要求1所述光盘刻录方法，其中所述光盘以恒定角速度旋转以刻录数据，线速度倍增因子根据刻录光束在光盘上的径向位置受控变化。

4、  如权利要求3所述光盘刻录方法，进一步包括下述步骤：在由光盘旋转角速度和由光盘相应结构读取的时间信息所决定的线速度倍增因子达到某一预定值后，可变线速度倍增因子的值变成固定不变，从而以固定线速度倍增因子进行刻录。

5、  一种采用与辐照光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子进行数据刻录的光盘刻录方法，所述刻录方法包括以下步骤：
在开始实际刻录前，采用一个在实际刻录所用线速度倍增因子可变范围内的第一线速度倍增因子和一个低于实际刻录所用线速度倍增因子可能变化范围的第二试验线速度倍增因子进行OPC刻录试验，以得出第一和第二试验线速度倍增因子的适当的辐照光束刻录功率；
根据所获得的第一和第二试验线速度倍增因子的适当刻录功率，为实际刻录采用的线速度倍增因子确定作为辐照光束径向位置函数的适当功率特性曲线；以及
根据所确定的同辐照光束径向位置相应的实际线速度倍增因子下的适当功率特性曲线计算应采用的辐照光束的适当功率，然后进行实际刻录。

6、  如权利要求5所述光盘刻录方法，其中所述确定特性曲线步骤包括确定线性方程、二次方程或高次方程等形式。

7、  如权利要求5所述光盘刻录方法，其中所述光盘以恒定角速度旋转以刻录数据，线速度倍增因子根据刻录光束在光盘上的径向位置受控变化。

8、  如权利要求7所述光盘刻录方法，进一步包括下述步骤：在由光盘旋转角速度和由光盘相应结构读取的时间信息所决定的线速度倍增因子达到某一预定值后，可变线速度倍增因子的值变成固定不变，从而以固定线速度倍增因子进行刻录。

9、  一种采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子而实现数据记录的光盘刻录方法，所述方法包括以下步骤：
采用与线速度倍增因子X相应的可变辐照光束刻录功率Y＝AX+B进行实际刻录，其中常数A根据光盘类型置定为一个固定值；
在开始实际刻录前，采用试验线速度倍增因子进行OPC刻录试验，以得出辐照光束的适当刻录功率；
利用试验刻录结果解方程Y＝AX+B，确定方程中常数B，在上述方程式中：Y为适当刻录功率，X为试验线速度倍增因子；然后根据所确定的常数A、B和由方程Y＝AX+B计算出适当功率Y并按其进行实际刻录。

10、  如权利要求9所述光盘刻录方法，其中所述光盘以恒定角速度旋转以刻录数据，线速度倍增因子根据刻录光束在光盘上的径向位置受控变化。

11、  如权利要求10所述光盘刻录方法，进一步包括下述步骤：在由光盘旋转角速度和由光盘相应结构读取的时间信息所决定的线速度倍增因子达到某一预定值后，可变线速度倍增因子的值变成固定不变，从而以固定线速度倍增因子进行刻录。

12、  一种采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子而实现数据记录的光盘刻录方法，所述方法包括以下步骤：
采用与线速度倍增因子X相应的可变辐照光束刻录功率Y＝AX+B进行实际刻录，其中常数A根据光盘类型置定为一个固定值；
在开始实际刻录前，采用多个试验线速度倍增因子进行OPC刻录试验，以得出各试验线速度倍增因子下辐照光束的适当刻录功率；
利用试验刻录结果解方程Y＝AX+B以确定方程中常数B，使所得到的适当刻录功率的误差平方和为最小。按方程Y＝AX+B和确定的A、B值计算适当刻录功率Y并按其进行实际刻录。

13、  如权利要求12所述光盘刻录方法，其中所述光盘以恒定角速度旋转以刻录数据，线速度倍增因子根据刻录光束在光盘上的径向位置受控变化。

14、  如权利要求13所述光盘刻录方法，进一步包括下述步骤：在由光盘旋转角速度和由光盘相应结构读取的时间信息所决定的线速度倍增因子达到某一预定值后，可变线速度倍增因子的值变成固定不变，从而以固定线速度倍增因子进行刻录。

15、  一种采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子而实现数据记录的光盘刻录方法，所述方法包括以下步骤：
采用与线速度倍增因子X相应的可变辐照光束刻录功率Y＝AX²+BX+C进行实际刻录，其中常数A和B根据光盘类型置定为一个固定值；
在开始实际刻录前，采用一个试验线速度倍增因子进行OPC试验刻录，以得出该试验线速度倍增因子下辐照光束的适当刻录功率；
利用试验刻录结果解方程Y＝AX²+BX+C以确定方程中常数C，式中Y：获得的适当刻录功率，X：实验线速度倍增因子；按方程Y＝AX²+BX+C和确定的A、B、C值计算适当刻录功率Y并按其进行实际刻录。

16、  如权利要求15所述光盘刻录方法，其中所述光盘以恒定角速度旋转以刻录数据，线速度倍增因子根据刻录光束在光盘上的径向位置受控变化。

17、  如权利要求16所述光盘刻录方法，进一步包括下述步骤：在由光盘旋转角速度和由光盘相应结构读取的时间信息所决定的线速度倍增因子达到某一预定值后，可变线速度倍增因子的值变成固定不变，从而以固定线速度倍增因子进行刻录。

18、  一种采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子而实现数据记录的光盘刻录方法，所述方法包括以下步骤：
采用与线速度倍增因子X相应的可变辐照光束刻录功率Y＝AX²+BX+C进行实际刻录，其中常数A和B根据光盘类型置定为一个固定值；
在开始实际刻录前，采用多个试验线速度倍增因子进行OPC刻录试验，以得出各试验线速度倍增因子下辐照光束的适当刻录功率；
利用试验刻录结果解方程Y＝AX²+BX+C以确定方程中常数C，使所得到的适当刻录功率的误差平方和为最小。按方程Y＝AX²+BX+C和确定的A、B、C值计算适当刻录功率Y并按其进行实际刻录。

19、  如权利要求18所述光盘刻录方法，其中所述光盘以恒定角速度旋转以刻录数据，线速度倍增因子根据刻录光束在光盘上的径向位置受控变化。

20、  如权利要求19所述光盘刻录方法，进一步包括下述步骤：在由光盘旋转角速度和由光盘相应结构读取的时间信息所决定的线速度倍增因子达到某一预定值后，可变线速度倍增因子的值变成固定不变，从而以固定线速度倍增因子进行刻录。

21、  一种光盘刻录装置，包括：
一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；
一个使光束辐照光盘并以复制信号形式复制数据和刻录数据的光发射器；
一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；
一个用于根据光发射器产生的复制信号计算有关信号质量水平的预定参数的信号质量检测单元；以及
一个系统控制单元，用于在实际刻录前、在预定的光盘试验区、和采用多个小于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围的试验线速度倍增因子进行试验刻录，然后根据试验刻录中有关复制信号水准的预定参数值得出每个试验线速度倍增因子的适当刻录光功率，根据所得到的每个线速度倍增因子的适当刻录功率确定适当刻录功率对于线速度倍增因子的特性曲线，再根据包含取决于刻录光束径向位置的线速度倍增因子的特性曲线计算出适当的刻录功率，并将计算出的适当光束刻录功率发送给实际刻录中的光束功率控制单元。

22、  如权利要求21所述光盘刻录装置，当光束径向位置处于光盘内缘侧置定范围内时，所述系统控制单元可向光盘伺服装置发出以恒定角速度控制驱动光盘的指令；当光束径向位置处于所述置定位置范围之外时，所述系统控制单元可发出采用所述恒定角速度终了线速度倍增因子以恒定线速度控制驱动光盘外缘侧的指令。

23、  如权利要求22所述光盘刻录装置，进一步包括一个用于由光盘相应结构中读取时间信息的时间信息读取单元，所述系统控制单元根据光盘在恒定角速度控制下的转速和由光盘相应结构读出的时间信息计算光盘的线速度，并在计算出的线速度达到预定值后对外缘侧实施恒定线速度控制以刻录数据。

24、  一种光盘刻录装置，包括：
一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；
一个使光束辐照光盘并以复制信号形式复制数据和刻录数据的光发射器；
一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；
一个用于根据光发射器产生的复制信号计算有关信号质量水平的预定参数的信号质量检测单元；以及
一个系统控制单元，用于在实际刻录前、在预定的光盘试验区、和采用一个在实际刻录所用线速度倍增因子可变范围之内的第一光盘试验线速度倍增因子和一个小于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围的第二试验线速度倍增因子进行试验刻录，然后根据试验刻录中涉及复制信号质量水准的预定参数得出第一和第二试验线速度倍增因子的适当光束刻录功率，根据所得到的每个线速度倍增因子的适当刻录功率确定适当刻录功率对于线速度倍增因子的特性曲线，再根据包含取决于刻录光束径向位置的线速度倍增因子的特性曲线计算出适当的刻录功率，并将计算出的适当光束刻录功率发送给实际刻录中的光束功率控制单元。

25、  如权利要求24所述光盘刻录装置，当光束径向位置处于光盘内缘侧置定范围内时，所述系统控制单元可向光盘伺服装置发出以恒定角速度控制驱动光盘的指令；当光束径向位置处于所述置定位置范围之外时，所述系统控制单元可发出采用所述恒定角速度终了线速度倍增因子以恒定线速度控制驱动光盘外缘侧的指令。

26、  如权利要求25所述光盘刻录装置，进一步包括一个用于由光盘相应结构中读取时间信息的时间信息读取单元，所述系统控制单元根据光盘在恒定角速度控制下的转速和由光盘相应结构读出的时间信息计算光盘的线速度，并在计算出的线速度达到预定值后对外缘侧实施恒定线速度控制以刻录数据。

27、  一种以与光盘径向位置相应的可变线速度倍增因子实施数据刻录的光盘刻录装置，包括：
一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；
一个使光束辐照光盘、以复制信号的形式复制数据和刻录数据的光发射器；
一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；    
一个用于根据光发射器产生的复制信号计算有关信号质量水平的预定参数的信号质量检测单元；
一个用于存储作为线速度倍增因子X函数的光束刻录功率Y＝AX+B特性曲线的存储单元，式中系数A为取决于光盘类型的常数；以及
一个系统控制单元，用于在实际刻录前、在预定的光盘试验区、和采用一个试验线速度倍增因子在光盘上进行数据的OPC试验刻录，然后根据试验刻录中涉及复制信号质量水准的预定参数得出试验线速度倍增因子的适当光束刻录功率，利用试验刻录结果解方程Y＝AX+B以计算系数B，并将所计算的适当刻录功率作为指令发送给实际刻录中的光束功率控制单元。

28、  如权利要求27所述光盘刻录装置，其中所述存储单元存储着与光盘类型有关的光束刻录功率Y作为线速度倍增因子X函数的一些特性曲线；所述系统控制单元可识别光盘类型，由存储在所述存储单元中的各种光盘特性曲线中选取与所识别的光盘类型相应的特性曲线并据此发出有关光束刻录功率Y的指令。

29、  如权利要求27所述光盘刻录装置，当光束径向位置处于光盘内缘侧置定范围内时，所述系统控制单元可向光盘伺服装置发出以恒定角速度控制驱动光盘的指令；当光束径向位置处于所述置定位置范围之外时，所述系统控制单元可发出采用所述恒定角速度终了线速度倍增因子以恒定线速度控制驱动光盘外缘侧的指令。

30、  如权利要求29所述光盘刻录装置，进一步包括一个用于由光盘相应结构中读取时间信息的时间信息读取单元，所述系统控制单元根据光盘在恒定角速度控制下的转速和由光盘相应结构读出的时间信息计算光盘的线速度，并在计算出的线速度达到预定值后对外缘侧实施恒定线速度控制以刻录数据。

31、  一种以与光盘径向位置相应的可变线速度倍增因子实施数据刻录的光盘刻录装置，
包括：
一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；
一个使光束辐照光盘并以复制信号的形式复制数据和刻录数据的光发射器；
一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；
一个用于根据光发射器产生的复制信号计算有关信号质量水平的预定参数的信号质量检测单元；
一个用于存储作为线速度倍增因子X函数的光束刻录功率Y＝AX+B特性曲线的存储单元，式中系数A为取决于光盘类型的常数；以及
一个系统控制单元，用于在实际刻录前、在预定的光盘试验区、和采用多个试验线速度倍增因子在光盘上进行数据的OPC试验刻录，然后根据试验刻录中检测出的涉及复制信号质量水准的预定参数得出每个试验线速度倍增因子的适当光束刻录功率，利用试验刻录结果解方程Y＝AX+B计算系数B使得到的刻录功率的误差平方和为最小，根据取决于光束径向位置的线速度倍增因子和方程Y＝AX+B计算适当刻录功率，并将所计算的适当刻录功率作为指令发送给实际刻录中的光束功率控制单元。

32、  如权利要求3 1所述光盘刻录装置，其中所述存储单元存储着与光盘类型有关的光束刻录功率Y作为线速度倍增因子X函数的一些特性曲线；所述系统控制单元可识别光盘类型，由存储在所述存储单元中的各种光盘特性曲线中选取与所识别的光盘类型相应的特性曲线并据此发出有关光束刻录功率Y的指令。

33、  如权利要求32所述光盘刻录装置，当光束径向位置处于光盘内缘侧置定范围内时，所述系统控制单元可向光盘伺服装置发出以恒定角速度控制驱动光盘的指令；当光束径向位置处于所述置定位置范围之外时，所述系统控制单元可发出采用所述恒定角速度终了线速度倍增因子以恒定线速度控制驱动光盘外缘侧的指令。

34、  如权利要求33所述光盘刻录装置，进一步包括一个用于由光盘相应结构中读取时间信息的时间信息读取单元，所述系统控制单元根据光盘在恒定角速度控制下的转速和由光盘相应结构读出的时间信息计算光盘的线速度，并在计算出的线速度达到预定值后对外缘侧实施恒定线速度控制以刻录数据。

35、  一种以与光盘径向位置相应的可变线速度倍增因子实施数据刻录的光盘刻录装置，
包括：
一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；
一个使光束辐照光盘和以复制信号的形式复制数据和刻录数据的光发射器；
一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；
一个用于根据光发射器产生的复制信号计算有关信号质量水平的预定参数的信号质量检测单元；
一个用于存储作为线速度倍增因子X函数的光束刻录功率Y＝AX²+BX+C特性曲线的存储单元，式中系数A和B为取决于光盘类型的常数；以及
一个系统控制单元，用于在实际刻录前、在预定的光盘试验区、和采用一个试验线速度倍增因子在光盘上进行数据的试验刻录，然后根据试验刻录中检测出的涉及复制信号质量水准的预定参数得出该试验线速度倍增因子的适当光束刻录功率，利用试验刻录结果解方程Y＝AX²+X+C以计算系数C，根据取决于光束径向位置的线速度倍增因子和方程Y＝AX²+BX+C计算适当刻录功率，并将所计算的适当刻录功率作为指令发送给实际刻录中的光束功率控制单元。

36、  如权利要求35所述光盘刻录装置，其中所述存储单元存储着与光盘类型有关的光束刻录功率Y作为线速度倍增因子X函数的一些特性曲线；所述系统控制单元可识别光盘类型，由存储在所述存储单元中的各种光盘特性曲线中选取与所识别的光盘类型相应的特性曲线并据此发出有关光束刻录功率Y的指令。

37、  如权利要求36所述光盘刻录装置，当光束径向位置处于光盘内缘侧置定范围内时，所述系统控制单元可向光盘伺服装置发出以恒定角速度控制驱动光盘的指令；当光束径向位置处于所述置定位置范围之外时，所述系统控制单元可发出采用所述恒定角速度终了线速度倍增因子以恒定线速度控制驱动光盘外缘侧的指令。

38、  如权利要求37所述光盘刻录装置，进一步包括一个用于由光盘相应结构中读取时间信息的时间信息读取单元，所述系统控制单元根据光盘在恒定角速度控制下的转速和由光盘相应结构读出的时间信息计算光盘的线速度，并在计算出的线速度达到预定值后对外缘侧实施恒定线速度控制以刻录数据。

39、  一种以与光盘径向位置相应的可变线速度倍增因子实施数据刻录的光盘刻录装置，
包括：
一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；
一个使光束辐照光盘和以复制信号的形式复制数据和刻录数据的光发射器；
一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；
一个用于根据光发射器产生的复制信号计算有关信号质量水平的预定参数的信号质量检测单元；
一个用于存储作为线速度倍增因子X函数的光束刻录功率Y＝AX²+BX+C特性曲线的存储单元，式中系数A和B为取决于光盘类型的常数；以及
一个系统控制单元，用于在实际刻录前、在预定的光盘试验区、和采用多个试验线速度倍增因子在光盘上进行数据的OPC试验刻录，然后根据试验刻录中检测出的涉及复制信号质量水准的预定参数得出每个试验线速度倍增因子的适当光束刻录功率，利用试验刻录结果解方程Y＝AX²+X+C计算系数C并使得到的刻录功率误差的平方和为最小，根据取决于光束径向位置的线速度倍增因子和方程Y＝AX²+BX+C计算适当刻录功率，并将所计算的适当刻录功率作为指令发送给实际刻录中的光束功率控制单元。

40、  如权利要求39所述光盘刻录装置，其中所述存储单元存储着与光盘类型有关的光束刻录功率Y作为线速度倍增因子X函数的一些特性曲线；所述系统控制单元可识别光盘类型，由存储在所述存储单元中的各种光盘特性曲线中选取与所识别的光盘类型相应的特性曲线并据此发出有关光束刻录功率Y的指令。

41、  如权利要求39所述光盘刻录装置，当光束径向位置处于光盘内缘侧置定范围内时，所述系统控制单元可向光盘伺服装置发出以恒定角速度控制驱动光盘的指令；当光束径向位置处于所述置定位置范围之外时，所述系统控制单元可发出采用所述恒定角速度终了线速度倍增因子以恒定线速度控制驱动光盘外缘侧的指令。

42、  如权利要求41所述光盘刻录装置，进一步包括一个用于由光盘相应结构中读取时间信息的时间信息读取单元，所述系统控制单元根据光盘在恒定角速度控制下的转速和由光盘相应结构读出的时间信息计算光盘的线速度，并在计算出的线速度达到预定值后对外缘侧实施恒定线速度控制以刻录数据。

43、  一种用于具有微处理器的光盘刻录装置中的机器可读媒体制品，所述媒体制品包括可被所述微处理器执行的和使所述光盘刻录装置实施某种刻录方法的程序指令，所述刻录方法可控制刻录光束的辐照时间(N+K)T以形成一个与刻录数据相应的凹斑长度，从而实现数据的刻录，上式中
T：与单位凹斑长度相应的时间；
N：要形成的凹斑长度相对于单位凹斑长度的整倍数；
K：校正量。
所述刻录方法包括以下步骤：
在改变光盘线速度倍增因子的同时进行数据刻录；
随着线速度倍增因子的增加提高光束的刻录功率；
当线速度倍增因子小于预定的线速度倍增因子临界值时，随着线速度倍增因子的变化改变校正量K；
在线速度倍增因子不小于预定的线速度倍增因子临界值时，使校正量K固定不变。

44、  一种用于具有微处理器的光盘刻录装置中的机器可读媒体制品，所述媒体制品包括可被所述微处理器执行的和使所述光盘刻录装置实施某种刻录方法的程序指令，所述刻录方法以与辐照光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子在光盘上进行数据刻录，所述方法包括以下步骤：
在开始实际刻录前，采用多个小于实际刻录所用线速度倍增因子可能变化范围的试验线速度倍增因子进行OPC刻录试验，以得出每个试验线速度倍增因子下的适当的辐照光束刻录功率；
根据所获得的每个试验线速度倍增因子的适当刻录功率，为实际刻录采用的线速度倍增因子确定作为辐照光束径向位置函数的适当功率的特性曲线；以及
根据所确定的同辐照光束径向位置相应的实际线速度倍增因子下的适当功率特性曲线计算应采用的辐照光束的适当功率，然后进行实际刻录。

45、  一种用于具有微处理器的光盘刻录装置中的机器可读媒体制品，所述媒体制品包括可被所述微处理器执行以使所述光盘刻录装置实施某种刻录方法的程序指令，所述刻录方法以与辐照光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子在光盘上进行数据刻录，所述方法包括以下步骤：
在开始实际刻录前，采用一个在实际刻录所用线速度倍增因子可变范围之内的第一试验线速度倍增因子和一个小于实际刻录所用线速度倍增因子可能变化范围的第二试验线速度倍增因子进行OPC刻录试验，以得出第一和第二试验线速度倍增因子下的适当的辐照光束刻录功率；
根据所获得的第一和第二试验线速度倍增因子的适当刻录功率，为实际刻录采用的线速度倍增因子确定作为辐照光束径向位置函数的适当功率的特性曲线；以及
根据所确定的同辐照光束径向位置相应的实际线速度倍增因子下的适当功率特性曲线计算应采用的辐照光束的适当功率，然后进行实际刻录。

46、  一种用于具有微处理器的光盘刻录装置中的机器可读媒体制品，所述媒体制品包括可被所述微处理器执行的和使所述光盘刻录装置实施某种刻录方法的程序指令，所述刻录方法以与辐照光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子在光盘上进行数据刻录，所述方法包括以下步骤：
以与线速度倍增因子X相应的辐照光束的可变刻录功率Y＝AX+B进行实际刻录，上式中系数A为一取决于光盘类型的常数；
在开始实际刻录前，采用一个试验线速度倍增因子进行OPC刻录试验，以得出该试验线速度倍增因子下的适当的辐照光束刻录功率；
利用试验刻录结果解方程Y＝AX+B以确定系数B的值，式中Y为适当刻录功率，X为试验线速度倍增因子，根据方程Y＝AX+B和所确定的系数A和B的值计算适当刻录功率并据此进行实际刻录。

47、  一种用于具有微处理器的光盘刻录装置中的机器可读媒体制品，所述媒体制品包括可被所述微处理器执行的和使所述光盘刻录装置实施某种刻录方法的程序指令，所述刻录方法以与辐照光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子在光盘上进行数据刻录，所述方法包括以下步骤：
以与线速度倍增因子X相应的辐照光束的可变刻录功率Y＝AX+B进行实际刻录，上式中系数A为一取决于光盘类型的常数；
在开始实际刻录前，采用多个试验线速度倍增因子进行刻录试验，以得出每个试验线速度倍增因子下的适当的辐照光束刻录功率；
利用试验刻录结果解方程Y＝AX+B并使得到的适当刻录功率的误差平方和为最小以确定系数B的值，根据方程Y＝AX+B和所确定的系数A和B的值计算适当刻录功率并据此进行实际刻录。

48、  一种用于具有微处理器的光盘刻录装置中的机器可读媒体制品，所述媒体制品包括可被所述微处理器执行的和使所述光盘刻录装置实施某种刻录方法的程序指令，所述刻录方法以与辐照光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子在光盘上进行数据刻录，所述方法包括以下步骤：
以与线速度倍增因子X相应的辐照光束的可变刻录功率Y＝AX²+BX+C进行实际刻录，上式中系数A和B为取决于光盘类型的常数；
在开始实际刻录前，采用一个试验线速度倍增因子进行OPC刻录试验，以得出该试验线速度倍增因子下的适当的辐照光束刻录功率；
利用试验刻录结果解方程Y＝AX²+BX+C以确定系数C的值，式中Y为得出的适当刻录功率，X为试验线速度倍增因子，根据方程Y＝AX²+BX+C和所确定的系数A、B和C的值计算适当刻录功率并据此进行实际刻录。

49、  一种用于具有微处理器的光盘刻录装置中的机器可读媒体制品，所述媒体制品包括可被所述微处理器执行的和使所述光盘刻录装置实施某种刻录方法的程序指令，所述刻录方法以与辐照光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子在光盘上进行数据刻录，所述方法包括以下步骤：
以与线速度倍增因子X相应的辐照光束的可变刻录功率Y＝AX²+BX+C进行实际刻录，上式中系数A和B为取决于光盘类型的常数；
在开始实际刻录前，采用多个试验线速度倍增因子进行OPC刻录试验，以得出每个试验线速度倍增因子下的适当的辐照光束刻录功率；
利用试验刻录结果解方程Y＝AX²+BX+C并使得出的刻录功率误差平方和为最小以确定系数C的值，式中Y为得出的适当刻录功率，X为试验线速度倍增因子，根据方程Y＝AX²+BX+C和所确定的系数A、B和C的值计算适当刻录功率并据此进行实际刻录。

光盘刻录方法及其刻录装置
技术领域
本发明涉及可刻录CD-R、DVD-R或其它光盘的刻录方法和刻录装置。所述刻录方法和装置可用于将有关光束辐照时间的刻录策略的校正量控制到一个适当的数值，同时可用于将光束控制到适当的刻录功率，从而在根据光束在光盘上的径向位置采用相应的可变线速度倍增因子进行刻录时可达到较高的质量水准。
背景技术
在采用线速度恒定的刻录方法(CLV)对CD-R或DVD-R等可刻录光盘进行刻录时，可能会采用高于标准线速度(标称参考速度)的线速度进行高速刻录。
在恒定线速度刻录中，随着刻录位置向光盘内边缘的移动，主轴电机的转数增加。特别是在高速刻录时，这种倾向更为突出，例如在16倍速的情况下，在最内边缘处电机转数可达每分钟8000转或更高。因此，在光盘内缘侧进行刻录时，驱动机制的自激振动加大(特别是在光盘偏心度较大时)，凹斑的形成变得不够稳定。在高速进行转录时，即数据的写入是由另一CD-ROM驱动器直接到CD-R驱动器而无须在硬盘中临时建立一个镜象文件，对这种情况已发展了一种方法，可在恒定角速度(CAV)下高速复制CD-ROM驱动器和在恒定线速度下高速刻录CD-R驱动器。但在这种情况下，受CAV复制影响的CD-ROM驱动器的线速度在外缘侧约为32倍速，而在内缘侧约为16倍速。对于内缘侧的复制而言，数据传送的速度过慢，即出现所谓的缓冲不足问题，有可能导致刻录的失败。
作为解决问题的一个途径，可考虑采用图2所示的CD-R刻录方法，即在内缘侧应用CAV，而在外缘侧应用CLV刻录模式。也就是说，在光盘程序区最内缘位置以一定的转数开始CAV刻录，所述转数下的线速度与例如12倍速相应。然后，在转数增加使线速度达到例如16倍速时，在16倍速下开始进行CLV刻录。通过这种CAV和CLV刻录模式的转换，可抑制最大转数，从而抑制自激振动，避免高速转录时的写入失败。
如上所述，因为在进行CAV和CLV刻录转换的过程中，CAV刻录的线速度会发生变化，刻录光束的刻录功率随之也会产生变化。此外，对有关刻录光束辐照时间的刻录策略来说，有方程(N+K)T，式中：
T：相应于单位凹斑长度的时间；
N：相对于单位凹斑长度的凹斑长度倍数(整数)；
K：校正量。
校正量K的相应值也会随着刻录时线速度的变化而产生变化。
发明内容
正是针对上述问题而进行了本项发明，本发明的一个目的是提供一种光盘刻录方法和光盘刻录装置，所述方法和装置可控制同任一时间点光束辐照时间有关的刻录策略的校正量和控制光束达到适当的刻录功率，从而在采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子进行刻录时可保证刻录的高质量。
本发明提供的光盘刻录方法，可控制刻录光束的辐照时间(N+K)T而形成一个与记录数据相应的凹斑长度，从而实现光盘上的数据记录，上述式中：
T：相应于单位凹斑长度的时间；
N：相对于单位凹斑长度的凹斑长度倍数(整数)；
K：校正量。
本发明光盘刻录方法包括以下步骤：在变化光盘线速度倍增因子的同时进行数据刻录；随着线速度倍增因子的增加而提高刻录光束的功率；当线速度倍增因子小于预定的线速度倍增因子临界值时根据线速度倍增因子而改变校正量K，当线速度倍增因子不小于预定的临界值时使校正量保持不变。也就是说，本发明人所做的实验发现，当随着刻录线速度倍增因子的增加而提高光束的刻录功率时，可获得良好复制信号质量的校正量K的数值在刻录线速度较低的区域变化很大，在刻录线速度较高的区域基本保持为常数，后边对此将予以详细说明。因此，本发明将一个预定的线速度倍增因子作为临界约束，在小于预定的线速度临界值时使校正量K随线速度倍增因子变化，而在不小于预定的线速度倍增因子时使校正量不变，以便实现有效的刻录。结果表明，可获得高质量刻录。在这种情况下发现，虽然同所用光盘的种类(生产厂家、所用添加剂及其它方面可能有所不同)有关，但线速度倍增因子临界值一般可设定为不小于8倍速(例如，8倍速，10倍速或更高)。
按本发明，只有在不小于线速度倍增因子临界值的情况下，才能通过改变线速度并在校正量K保持不变的情况下进行刻录。此外，当采用与光束在光盘上的径向位置相应的可变线速度倍增因子进行刻录并确定临界线速度倍增因子处于可变线速度倍增因子变化范围的中间时，如果线速度倍增因子小于临界线速度倍增因子，可根据线速度倍增因子改变校正量K，如果线速度倍增因子不小于临界线速度倍增因子，可保持校正量K为一常数。
按本发明，提供了一种采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子而实现数据记录的光盘刻录方法，所述方法包括以下步骤：在开始实际刻录前，采用多个小于实际刻录所用线速度倍增因子可能变化范围地试验线速度倍增因子进行刻录试验，以得出每个试验线速度倍增因子下的适当的辐照光束刻录功率；根据所获得的每个试验线速度倍增因子的适当刻录功率，为实际刻录采用的线速度倍增因子绘出作为辐照光束径向位置函数的适当功率的特性曲线；根据同辐照光束径向位置相应的实际线速度倍增因子下的适当功率特性曲线计算应采用的辐照光束的适当功率，然后进行实际刻录。按本发明，由于试验刻录采用了多个低于实际所用线速度倍增因子变化范围的线速度倍增因子，因此即使在实际刻录所用的线速度倍增因子较大的情况下，也可用相对较低的转数进行刻录试验。此外，试验刻录中的自激振动也可受到抑制，适当的刻录功率可被稳定地检测，从而可实现高质量的实际刻录。
按本发明，提供了一种采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子而实现数据记录的光盘刻录方法，所述方法包括以下步骤：在开始实际刻录前，采用一个在实际刻录所用线速度倍增因子可能变化范围内的第一线速度倍增因子和一个低于实际刻录所用线速度倍增因子变化范围的第二线速度倍增因子进行刻录试验，以得出辐照光束对于第一和第二线速度倍增因子的适当的刻录功率；根据所获得的第一和第二线速度倍增因子的适当刻录功率，为实际刻录采用的线速度倍增因子绘出作为辐照光束径向位置函数的适当功率的特性曲线；根据同辐照光束径向位置相应的实际线速度倍增因子下的适当功率特性曲线计算应采用的辐照光束的适当功率，然后进行实际刻录。按本发明，由于试验刻录采用了一个在实际应用线速度倍增因子可变范围内的线速度倍增因子和一个或多个低于实际所用线速度倍增因子变化范围的线速度倍增因子，因此至少在一个点上可用相对较低的转数进行刻录试验。此外，试验刻录中的自激振动也可受到抑制，适当的刻录功率可被稳定地检测，从而可实现高质量的实际刻录。同时，由于试验刻录采用了一个在实际刻录所用线速度倍增因子变化范围内的线速度倍增因子和一个低于所述变化范围的线速度倍增因子，即试验刻录是在在线速度倍增因子互不相同的情况下进行的，因此得到的特性曲线错误较少，例如没有明显的偏向。
值得注意的是，上述适当刻录功率可很容易地通过一个方程进行表示，例如用一个线性方程、或者一个二次方程或高次方程来进行表示。在通过一个线性方程表示所述特性曲线时，可用方程Y＝AX+B表示光束刻录功率Y随线速度倍增因子X变化的函数关系。在光盘上进行实际刻录前，采用一个在实际所用线速度倍增因子可变范围内的线速度倍增因子和一个低于实际所用线速度倍增因子可变范围的线速度倍增因子进行试验刻录(或者用两个低于实际所用线速度倍增因子可变范围的线速度倍增因子进行试验刻录)，并计算出了每个线速度倍增因子下的适当刻录功率。那么在刻录功率和各线速度倍增因子被算出或置定时，常数A和B的值可通过方程解出。在实际刻录中，根据上述方程计算出适当刻录功率并将光束控制到计算出的适当功率水平，所述方程中的常数A和B按各径向位置线速度倍增因子确定。
按本发明，提供了一种采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子而实现数据记录的光盘刻录方法，所述方法包括以下步骤：采用与线速度倍增因子相应的可变辐照光束刻录功率Y＝AX+B进行刻录，其中常数A根据光盘类型置定为一个固定值；在开始实际刻录前，采用试验线速度倍增因子进行刻录试验，以得出辐照光束的适当刻录功率；利用试验刻录结果解方程Y＝AX+B以确定方程中常数B，在上述方程式中：Y为适当刻录功率，X为试验线速度倍增因子；然后采用根据所确定的常数A、B和由方程Y＝AX+B计算出的适当功率Y进行实际刻录。
按本发明，提供了一种采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子而实现数据记录的光盘刻录方法，所述方法包括以下步骤：采用与线速度倍增因子X相应的可变辐照光束刻录功率Y＝AX+B进行刻录，其中常数A根据光盘类型置定为一个固定值；在开始实际刻录前，采用多个试验线速度倍增因子进行刻录试验，以得出各试验线速度倍增因子下辐照光束的适当刻录功率；利用试验刻录结果解方程Y＝AX+B以确定方程中常数B并使所得到的适当刻录功率的误差平方和为最小。本发明人所做的试验发现，当光束刻录功率Y可根据线速度倍增因子X按方程式Y＝AX+B进行可变控制时，方程中常数A可根据光盘类型确定为一个固定的数值，常数B可通过用一个适当的试验线速度倍增因子进行试验刻录进行确定。按本发明，通过事先正确计算和确定常数A的数值，与通过试验刻录同时确定常数A和B数值的情况比较起来，可降低计算和确定常数A数值中的误差。
在此顺便指出，本发明刻录方法采用了与光盘径向位置相应的可变线速度倍增因子，其中包括下述情况：对光盘进行恒定角速度控制，从而线速度倍增因子随光盘径向位置的变化而变化。在这种情况下，根据由光盘读取的时间信息和恒定角速度控制的转数可计算每个时间点的线速度，在线速度达到预定值时和达到预定值后，对外缘侧实施恒定线速度控制，然后进行刻录。
按本发明，提供了一种光盘刻录装置，包括：一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；一个可使光束辐照光盘、用于刻录和复制数据的光发射器；一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；一个用于控制刻录光束辐照时间的刻录策略单元，它可将辐照时间控制到与所形成的凹斑长度相应的(N+K)T，式中T为与单位凹斑长度相应的辐照时间，N为要形成的凹斑长度相对于单位凹斑长度的倍数(整数)，K为校正量；一个用于存储第一特性曲线和第二特性曲线的存储单元，所述第一特性曲线为光束刻录功率随光盘线速度倍增因子增加而提高的函数曲线，所述第二特性曲线为校正量K随线速度倍增因子变化的函数关系—当线速度倍增因子小于预定的临界线速度倍增因子时，校正量K随线速度倍增因子的变化而变化，当线速度倍增因子不小于预定的临界线速度倍增因子时，校正量K固定不变；以及一个系统控制单元，用于根据存储在存储单元中的光束刻录功率随光盘刻录数据时线速度倍增因子变化的第一特性曲线将适当的光束刻录功率作为指令发送给光束功率控制单元，同时用于根据存储在存储单元中校正量K的第二特性曲线将校正量K发送到刻录策略单元。例如在这种情况下，存储单元存储着各类光盘的校正量K与刻录线速度倍增因子之间的相互关系，系统控制单元可识别光盘类型和根据存储单元存储的校正量K特性曲线将校正量K作为指令发送到刻录策略单元。
按本发明，提供了一种光盘存储装置，包括：一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；一个使光束辐照光盘并以复制信号的形式复制数据和刻录数据的光发射器；一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；一个用于根据光发射器产生的复制信号计算有关信号质量水平的预定参数的信号质量检测单元；以及一个系统控制单元，用于在实际刻录前、在预定的光盘试验区、和采用多个小于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围的试验线速度倍增因子进行试验刻录，然后根据试验刻录中的复制信号得出每个试验线速度倍增因子的适当刻录光功率，根据所得到的每个线速度倍增因子的适当刻录功率确定适当刻录功率对于线速度倍增因子的特性曲线，再根据包含取决于刻录光束径向位置的线速度倍增因子的特性曲线计算出适当的刻录功率，并将计算出的适当光束刻录功率发送给实际刻录中的光束功率控制单元。
按本发明，提供了一种光盘存储装置，包括：一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；一个使光束辐照光盘并以复制信号形式复制数据和刻录数据的光发射器；一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；一个用于根据光发射器产生的复制信号计算有关信号质量水平的预定参数的信号质量检测单元；以及一个系统控制单元，用于在实际刻录前、在预定的光盘试验区、和采用一个在实际刻录所用光盘线速度倍增因子可变范围之内的第一试验线速度倍增因子和一个小于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围的第二试验线速度倍增因子进行试验刻录，然后根据试验刻录中计算出的预定参数得出第一和第二试验线速度倍增因子的适当刻录功率，根据所得到的第一和第二线速度倍增因子的适当刻录功率确定适当刻录功率对于线速度倍增因子的特性曲线，再根据包含取决于刻录光束径向位置的线速度倍增因子的特性曲线计算出适当的刻录功率，并将计算出的适当光束刻录功率发送给实际刻录中的光束功率控制单元。
按本发明，提供了一种采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子而实现数据记录的光盘刻录装置，包括：一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；一个使光束辐照光盘并以复制信号形式复制数据和刻录数据的光发射器；一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；一个用于根据光发射器产生的复制信号计算复制信号质量水平的信号质量检测单元；一个用于存储光束刻录功率Y随刻录线速度倍增因子X函数关系Y＝AX+B特性曲线的存储单元，方程式中常数A为一取决于光盘类型的固定常数；以及一个系统控制单元，用于在数据实际刻录前、在预定的光盘试验区、和采用一个试验线速度倍增因子进行数据试验刻录，然后根据试验刻录中检测的复制信号质量得出该试验线速度倍增因子的适当刻录功率，利用试验刻录的结果通过解方程Y＝AX+B计算和确定方程中系数B，根据Y＝AX+B和取决于光束径向位置的线速度倍增因子计算适当的刻录功率，并将计算出的适当光束刻录功率发送给实际刻录中的光束功率控制单元。
按本发明，提供了一种采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子而实现数据记录的光盘刻录装置，包括：一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；一个使光束辐照光盘并以复制信号形式复制数据和刻录数据的光发射器；一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；一个用于根据光发射器产生的复制信号计算复制信号质量水平的信号质量检测单元；一个用于存储光束刻录功率Y随刻录线速度倍增因子X函数关系Y＝AX+B特性曲线的存储单元，方程式中常数A为一取决于光盘类型的固定常数；以及一个系统控制单元，用于在数据实际刻录前、在预定的光盘试验区、和采用多个试验线速度倍增因子进行数据试验刻录，然后根据试验刻录中检测的复制信号质量得出每个试验线速度倍增因子的适当刻录功率，利用试验刻录的结果通过解方程Y＝AX+B计算和确定方程中系数B并使得到的刻录功率的误差平方和为最小，根据Y＝AX+B和取决于光束径向位置的线速度倍增因子计算适当的刻录功率，并将计算出的适当光束刻录功率发送给实际刻录中的光束功率控制单元。
按本发明，提供了一种采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子而实现数据记录的光盘刻录装置，包括：一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；一个使光束辐照光盘并以复制信号形式复制数据和刻录数据的光发射器；一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；一个用于根据光发射器产生的复制信号计算复制信号质量水平的信号质量检测单元；一个用于存储光束刻录功率Y随刻录线速度倍增因子X函数关系Y＝AX²+BX+C特性曲线的存储单元，方程式中常数A和B为取决于光盘类型的固定常数；以及一个系统控制单元，用于在数据实际刻录前、在预定的光盘试验区、和采用一个试验线速度倍增因子进行数据试验刻录，然后根据试验刻录中检测的复制信号质量得出该试验线速度倍增因子的适当刻录功率，利用试验刻录的结果通过解方程Y＝AX²+BX+C计算和确定方程中系数C，根据方程Y＝AX²+BX+C和取决于光束径向位置的线速度倍增因子计算适当的刻录功率，并将计算出的适当光束刻录功率发送给实际刻录中的光束功率控制单元。
按本发明，提供了一种采用与光束在光盘上径向位置相应的可变线速度倍增因子而实现数据记录的光盘刻录装置，包括：一个用于驱动光盘旋转的伺服单元；一个使光束辐照光盘并以复制信号形式复制数据和刻录数据的光发射器；一个用于控制光发射器发射光束功率的光束功率控制单元；一个用于根据光发射器产生的复制信号计算复制信号质量水平的信号质量检测单元；一个用于存储光束刻录功率Y随刻录线速度倍增因子X函数关系Y＝AX²+BX+C特性曲线的存储单元，方程式中常数A和B为取决于光盘类型的固定常数；以及一个系统控制单元，用于在数据实际刻录前、在预定的光盘试验区、和采用多个试验线速度倍增因子进行数据试验刻录，然后根据试验刻录中检测的复制信号质量得出每个试验线速度倍增因子的适当刻录功率，利用试验刻录的结果通过解方程Y＝AX²+BX+C计算和确定方程中系数C并使得到的刻录功率的误差平方和最小，根据方程Y＝AX²+BX+C和取决于光束径向位置的线速度倍增因子计算适当的刻录功率，并将计算出的适当光束刻录功率发送给实际刻录中的光束功率控制单元。
在此顺便指出，在本发明光盘刻录装置中，所述存储单元可存储适用于各种类型光盘的光束刻录功率Y与刻录线速度函数关系的特性曲线，所述系统控制单元可识别光盘类型并根据存储在所述存储单元中的相应特性曲线控制光束的刻录功率。同时，在光盘内缘侧适当径向位置的范围内进行刻录时，所述系统控制单元可发出以恒定角速度驱动伺服单元的指令；在光盘的外缘侧，所述系统控制单元发出以恒定角速度控制中最终速度值进行恒定线速度驱动的指令。此外，本发明光盘刻录装置进一步包括一个用于由光盘读取时间信息的时间信息读出单元，使得根据恒定角速度控制的转数和由光盘读取的时间信息可计算每一时间点的线速度，从而在外缘侧当线速度达到预定值时和达到预定值后可实现恒定线速度控制，从而可进行有效刻录。
还有，本发明中的试验刻录可在光盘最内缘的PCA区(功率校正区)进行。此外，本发明可应用于基于添加剂的CD-R、DVD-R等一次刻录数次读取型光盘以及其他类型的光盘。
附图说明
图1为表明本发明光盘刻录装置一个实施例的原理框图。
图2表明采用CAV在CD-R内缘侧和采用CLV在外缘侧进行数据刻录的方法。
图3为表明CD-R光盘径向分区的剖视图。
图4为表明相对于CD-R光盘刻录线速度倍增因子的校正量K适当范围之一例的特性曲线。
图5表明采用具有图4所示特性曲线的光盘时，图1所示刻录策略电路校正量K的一个示例特性曲线。
图6表明通过CAV和CLV刻录模式转换和应用图5所示校正量K特性曲线进行刻录时，线速度倍增因子和校正量K随光盘径向位置进行变化的一个示例特性曲线。
图7表明通过CAV和CLV刻录模式转换和应用图5所示校正量K特性曲线进行刻录时，线速度倍增因子和校正量K随光盘径向位置进行变化的另一个示例特性曲线。
图8表明通过CAV和CLV刻录模式转换和应用图5所示校正量K特性曲线进行刻录时，线速度倍增因子和校正量K随光盘径向位置进行变化的再一个示例特性曲线。
图9表明刻录线速度倍增因子和刻录功率随光盘径向位置进行变化的示例特性曲线。
图10表明在使用光盘A和以多种方式变化不同线速度倍增因子的刻录功率时，相对于刻录功率的复制RF信号β值的特性曲线。
图11表明由于进行图10所示刻录引起的C1误差在EFM-解调复制RF信号时相对β值的误差特性曲线。
图12表明由于进行图10所示刻录引起的凹斑分散相对于复制RF信号β值的特性曲线。
图13表明由图10特性曲线导出的每个β值的刻录功率相对于刻录线速度倍增因子的特性曲线。
图14表明利用不同波长光束在刻录功率随不同线速度倍增因子变化的情况下对光盘A进行刻录时，复制RF信号的β值相对于刻录功率的特性曲线。
图15表明由图14特性曲线导出的每个β值的刻录功率相对刻录线速度倍增因子的特性曲线。
图16为表明在光盘A试验刻录中由刻录功率特性曲线Y＝AX+B获得B值技术的一个示例。
图17为表明在光盘A试验刻录中由刻录功率特性曲线Y＝AX+B获得B值技术的另一个示例。
图18为表明在光盘A试验刻录中由刻录功率特性曲线Y＝AX+B获得B值技术的再一个示例。
图19表明对光盘A进行刻录并以多种方式使刻录功率随不同线速度倍增因子变化时，复制RF信号β值相对刻录功率的特性曲线。
图20表明进行图19所示刻录对复制RF信号解调时引起的相对β值的C1误差特性曲线。
图21表明进行图19所示刻录对复制RF信号解调时引起的相对β值的凹斑分散度特性曲线。
图22为由图19所示特性曲线导出的每个β值的相对刻录线速度倍增因子的刻录功率特性曲线。
图23为表明在光盘B试验刻录中由刻录功率特性曲线Y＝AX²+BX+C计算B和C的一个技术示例。
图24为表明在光盘B试验刻录中由刻录功率特性曲线Y＝AX²+BX+C计算B和C的另一个技术示例。
图25为表明在光盘B试验刻录中由刻录功率特性曲线Y＝AX²+BX+C计算B和C的再一个技术示例。
图26表明在对光盘B进行刻录且以多种方式变化不同线速度倍增因子的刻录功率时，相对刻录功率的复制RF信号β值的特性曲线。
图27表明进行图26所示刻录对复制RF信号解调时引起的相对β值的C1误差特性曲线。
图28表明进行图26所示刻录引起的相对复制RF信号β值的凹斑分散度特性曲线。
图29为由图26所示特性曲线导出的β值的相对刻录线速度倍增因子的刻录功率特性曲线。
图30表明当插入的光盘类型没有存储在图1中所示存储器52之中时确定相对刻录线速度倍增因子的刻录功率特性方程的一个技术示例。
图31表明当插入的光盘类型没有存储在图1中所示存储器52之中时确定相对刻录线速度倍增因子的刻录功率特性方程的另一个技术示例。
具体实施方式
现描述本发明的实施模式。在此，描述将针对本发明应用于CD-R光盘的情形，并且根据在CD-R光盘上的径向位置进行CAV和CLV刻录模式的变换。图3表明CD-R光盘的分区。在光盘(CD-R光盘)10中，直径46-50mm的区域留做写入区14，内缘侧作为PCA区(功率校正区)12。PCA区12由试验区12A和计算区12B组成。在试验区12A进行OPC(最佳功率控制：调准刻录光束的最佳刻录功率)试验刻录。例如，进行一次试验刻录时可按15级改变刻录功率，在每一级刻录功率下刻录一个子码帧EFM信号(本发明并不局限于此)，总共刻录15个子码帧EFM信号。试验区12A配置的能力(例如1500子码帧)可进行100次试验刻录(相当于100次OPC，因为每进行一次试验刻录就要有一次OPC)。每实现一次OPC，在计算区12B就记录下一个子码帧的EFM信号。计算区12B配置了与试验区相同的、与OPC实施次数相应的能力(例如，100次OPC，100子码帧)。在实施OPC时，需事先检测有多少EFM信号已记录在计算区12B并确定在实验区12A中由哪个适当位置开始进行试验。
程序区18位于外缘侧，与写入区14邻接。作为ATIP信息的时间及其它信息记录在信息区16中全部磁道的相应结构。就ATIP时间信息来说，由作为基点的程序区18的开始位置到位于外缘侧的信息区16的外缘末端记录着连续递增的一系列数值，由所述基点到位于内缘侧的信息区16的内缘末端记录着连续递减的一系列数值。读取区的配置紧接程序区18的末端(即刻录终了的部分)。
图1表明本发明光盘刻录装置的一个实施例。光盘(CD-R光盘)10由一个主轴电机24带动旋转。频率发生器26对主轴电机的转数进行检测。光发射器28向光盘10辐射光束(激光光束)以实现数据信息的刻录/复制。光发射器28的回束接受信号(EFM信号)馈送到RF放大器30。一个ATIP检测电路32由EFM信号中抽取出相应结构信号成分，并对包括这种相应结构信号在内的ATIP信息进行解码。所述ATIP信息中包括每个位置(地址信息)的时间信息或光盘类型的识别信息(光盘ID)。β值检测电路34由EFM信号波形中计算涉及复制信号质量水准的参数β的值。假定复制EFM信号波形的峰值(符号为+)为A、谷值(符号为-)为B，则可通过算式(A+B)/(A-B)得到β值。包络检测电路36用于检测EFM信号的包络。在实施OPC前为检测计算区12B(图3)中已记录了多少EFM信号，需要进行包络检测。解码电路38对EFM信号进行解调，以获得复制数据。
伺服电路40对主轴电机24的转数进行控制，并对光束发射器28的聚焦、轨道跟踪和进给等实施控制。根据径向位置通过转换CAV和CLV控制模式对主轴电机24进行控制。CAV控制模式是控制主轴电机24的转数，使频率发生器26检测到的转数同预定的转数互相一致。CLV模式对主轴电机的控制是使由EFM信号中检测的相应结构信号具有一个预定的线速度倍增因子。激光驱动器42用于驱动光束发生器28中的激光光源。光束功率控制电路44用于控制激光驱动器42，以调节刻录(试验刻录和实际刻录)和复制时的激光功率。刻录数据经编码器46进行EFM调制，时间轴经刻录策略电路48进行校正，以调制激光驱动器42的激光驱动信号。当光束发射器28中的激光光源由调制的激光驱动信号进行驱动时，信息将被记录下来。在复制中，激光驱动器42以预定的复制功率驱动光束发射器28中的激光光源。
存储器52由闪存ROM等器件组成，用于存储相对刻录线速度倍增因子的刻录策略的校正量K的特性曲线和相对刻录线速度倍增因子的刻录功率的特性曲线。有关这些特性的信息可通过下载而进行适时修改。
系统控制电路50(CPU)用于控制整个光盘刻录装置。具体就本发明来说，所述系统控制电路50可实施下述控制：
(A)根据ATIP检测电路32检测的光盘ID对光盘类型进行识别，并据此由存储在存储器52中的特性曲线中选用适当的刻录策略校正量K特性曲线和光束刻录功率特性曲线。
(B)在对光盘10进行实际刻录前，先在PCA区12进行OPC试验刻录；根据试验刻录的复制信号得到使β值检测电路34检测的β值适当时的刻录功率；并根据这一试验结果确定光束刻录功率特性方程中的未定系数。
(C)在实际刻录中，根据恒定角速度控制(转数上限预先置定在驱动器等器件中)的转数和由ATIP检测电路32检测到的时间信息计算每个时间点的线速度倍增因子。在内缘线速度倍增因子达到预定值(由用户置定)前，系统控制电路50指令伺服电路40以预定转数实施恒定角速度驱动。另一方面，在外缘线速度倍增因子达到预定值后，系统控制电路50指令以预定线速度倍增因子实施恒定线速度驱动。在这种情况下，每个时间点的线速度倍增因子V可通过下式进行计算：
V＝2πR*Vcav/Vclv
式中--R：相应位置的半径
      Vcav：恒定角速度控制转数
      Vclv：光盘线速度
在此值得注意的是，上述表达式中相应位置的半径可由下式解出：
R＝{(T*P*Vclv/π)+Ro²}^1/2
这里-T：相应位置的ATIP时间信息
     P：光盘磁道间距
     Ro：程序区最内缘半径
例如，假定光盘磁道间距P＝1.6微米，采用每秒1.2米的Vclv以实施Vcav＝6000rpm的CAV驱动，T＝5:00:00帧位的半径距离R可用下式表示：
R＝[{(5*60)*(1.6*10^-3)*(1.2*10³)/π}+25²]^1/2＝28.43mm
因此，该位置的线速度倍增因子V可用下式表示：
V＝2π*28.43*(6000/60)/(1.2*10³)＝14.88倍速。
在此要注意，光盘线速度Vclv和磁道间距P可在光盘10插入光盘刻录装置后和进行实际刻录前通过测量得到，或者在存储器52中存储各种光盘的这些数据。
(D)在实际刻录中，随着刻录线速度倍增因子的变化，光束刻录功率指令依据光束的刻录功率特性曲线被送至光束功率功率控制电路44，有关校正量的指令依据刻录策略的校正量K特性曲线被送至刻录策略电路48。
顺便指出，如果光盘10的类型没有存储在存储器52中，系统控制电路50指令至少采用两个线速度倍增因子进行OPC试验刻录，并由此确定其刻录功率相对于刻录线速度倍增因子的特性曲线。此时就刻录策略的校正量K来说，一个标准特性曲线被存储在存储器52中并被加以利用。
现对图1所示光盘刻录装置调整刻录光束辐照时间校正量的过程进行描述。根据要形成的凹斑长度，策略电路48控制刻录光束的辐照时间到(N+K)T，式中：
T：与单位凹斑相应的时间；
N：要形成的凹斑相对于单位凹斑的倍数(整数3-11)；
K：校正量。
图4表明校正量K的范围(影线区)，在适当保持刻录光束的刻录功率和改变线速度倍增因子的条件下进行刻录，在此区域内的复制信号的分散度或C1误差很小。由该图可以理解，当将范围界定为八倍速时，在不超过界定范围的情况下，相对于刻录线速度倍增因子的适当的K值范围随刻录线速度倍增因子变动，在不小于界定范围的情况下，适当的K值范围很少随线速度倍增因子而变化。图5表明在使用具有图4所示特性的光盘时校正量K特性曲线的一个示例。按图5所示特性曲线，当将八倍速界定为线速度倍增因子的范围时，在小于八倍速的情况下，校正量K随刻录线速度倍增因子基本呈线性变化，在不小于八倍速的情况下，校正量K为一个置定值KC。值得注意的是，各类型光盘的校正量K特性曲线事先已存储在存储器52中，按检测到的光盘ID读取和选用适当的特性曲线。
图6-8表明，在使用图5所示校正量K特性曲线和转换CAV和CLV模式进行刻录时，相对于光盘径向位置的校正量K和线速度倍增因子的变化。图6所示为CAV刻录线速度倍增因子一直不超过8倍速(VI表示CAV刻录线速度倍增因子的起始值，VE表示其终了值)时，校正量K在CAV刻录区变化的情况。图7所示为CAV刻录线速度倍增因子在中心区以8倍速变化时，校正量K在线速度倍增因子达到8倍速后固定为一个常数KC。图8所示为CAV刻录线速度倍增因子一直不小于8倍速时，校正量K在程序区为一固定常数KC。
现将描述图1所示光盘刻录装置对刻录光束功率的控制过程。这里，刻录中线速度倍增因子如图9(A)所示变化，即CLV刻录线速度倍增因子被(用户等)置定为VE，在程序区18内缘侧区域以置定的转数进行CAV刻录，在所述区域内转数达到与线速度倍增因子VE相应的置定值(转数的上限值预置于驱动器等部件中)。CAV刻录线速度倍增因子的起始值为VI，终了值为VE。图9(B)表明此时的光束刻录功率变化。在CAV刻录区，刻录功率随线速度倍增因子的增加而提高(线速度倍增因子为起始值VI时的刻录功率为PI，线速度倍增因子为终了值VE时的刻录功率为PE)，在到达CLV刻录区后，刻录功率为PE并保持不再变化。
现在将通过例子说明，在图9所示控制刻录线速度倍增因子和刻录功率进行刻录时，如何获得相对于刻录线速度倍增因子的刻录功率特性曲线。
[例1]当采用A生产的CYANINE型CD-R光盘时(以下简称为光盘A)：
图10表明在使用光盘A进行刻录的情况下，当以多种方式变化不同线速度倍增因子的刻录功率时，相对于刻录功率的复制RF信号β值的特性曲线。图11表明EFM-解调复制RF信号时，相对于β值的C1误差特性曲线。图12表明相对于复制RF信号β值的凹斑分散特性曲线。图13表明由图10所示特性曲线导出的每个β值的相对于刻录线速度倍增因子的刻录功率特性曲线。按图13，在保持β值为一预定值进行刻录时，相对于线速度倍增因子的刻录功率特性曲线可表示为下述线性方程：
Y＝AX+B，式中
Y：刻录功率；
X：线速度倍增因子。
在使用光盘A的情况下，按图11和12，由于即使在高速刻录时功率的边界也足够宽(当C1误差和凹斑分散度较低时，β值的范围较宽)，β值的目标值(目标β值)可置定为一个与刻录线速度倍增因子无关的固定值。因此，如果置定目标β值为5％，则由图13可知，相对刻录线速度倍增因子的刻录功率特性曲线方程Y＝AX+B中的系数A(斜率)和B(截距)可被确定为A＝1.8258和B＝3.8579。
图10所示特性曲线是光束波长为787nm的情况，驱动器不同可能会使光束的波长产生变化，因此必须考虑光束波长变化的影响。图14表明在使用光盘A刻录信息的情况下，当采用光束波长为783.7nm的驱动器和以多种方式改变不同线速度倍增因子的刻录功率时，相对于刻录功率的复制RF信号β值的特性曲线。图15表明由图14所示特性曲线导出的每个β值的相对于刻录线速度倍增因子的刻录功率特性曲线。按图15，如果β值置定为5％，则方程Y＝AX+B中的系数A＝1.8244和B＝3.1841。如将两种情况下的系数值进行比较，可发现系数A的值变化不大，而系数B的值彼此相差较大。由此比较结果可知，即使在光束波长变化不大的情况下，也要变化系数B的数值，而系数A的数值可相对固定。因此就光盘A而言，刻录功率相对于刻录线速度倍增因子的特性方程Y＝AX+B(系数A固定，系数B待定)事先存储在存储器52中，在实际刻录前进行OPC试验刻录以确定B值。
以下介绍一些示例，说明由试验刻录中计算和确定B值的技术。
(图16所示技术)
在实际刻录所用线速度倍增因子的可变范围之内(VI-VE)或之外(例如不超过所述可变范围)采用一个适当的线速度倍增因子V1进行OPC试验刻录，计算该线速度倍增因子的适当的刻录功率(在此功率下可得到置定的目标β值)P1。当刻录功率P1和线速度倍增因子V1被置定和计算出来后，可通过特性方程Y＝AX+B解出B值。
(图17所示技术)
采用两个低于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围(VI-VE)的线速度倍增因子V1和V2(例如在VI＝10倍速和VE＝16倍速的情况下，采用V1＝4倍速和V2＝8倍速)进行OPC试验刻录，计算V1和V2线速度倍增因子的适当的刻录功率(在此功率下可得到与线速度V1和V2相应的置定的目标β值)P1和P2。应用最小平方误差法计算和确定B值，即使相对于特性方程Y＝AX+B的P1和P2的误差平方和为最小。或者，采用三个或更多的低于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围(VI-VE)的线速度倍增因子进行试验刻录，再通过以上方法计算和确定B值。
(图18所示技术)
采用一个低于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围(VI-VE)的线速度倍增因子V1和一个在所述可变范围之内的线速度倍增因子(例如在VI＝10倍速和VE＝16倍速时，采用V1＝8倍速和V2＝12倍速进行试验刻录，计算V1和V2线速度倍增因子的适当的刻录功率(在此功率下可得到置定的目标β值)P1和P2。应用最小平方误差法计算和确定B值，即使相对于特性方程Y＝AX+B的P1和P2的误差平方和为最小。或者，采用两个或更多低于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围(VI-VE)的线速度倍增因子和一个在所述可变范围之内的线速度倍增因子进行试验刻录，然后通过类似方法计算和确定B值。
[例2]在使用B生产的CYANINE型光盘的情况下(以下简称为光盘B)：
图19表明在使用光盘B进行刻录的情况下，当以多种方式变化不同线速度倍增因子的刻录功率时，相对于刻录功率的复制RF信号β值的特性曲线。图20表明EFM-解调复制RF信号时，相对于β值的C1误差特性曲线。图21表明相对于复制RF信号β值的凹斑分散特性曲线。图22表明由图19所示特性曲线导出的每个β值的相对于刻录线速度倍增因子的刻录功率特性曲线。按图22，在保持β值为一预定值进行刻录时，相对于线速度倍增因子的刻录功率特性曲线可表示为下述线性方程：
Y＝AX+B，式中
Y：刻录功率；
X：线速度倍增因子。
然而，如图20和21所示在使用光盘B的情况下，由于在高速刻录时功率的边界较窄(当C1误差和凹斑分散度较低时，β值的范围较窄)，希望随着刻录线速度倍增因子变化β值的目标值(目标β值)。图22中粗黑线表示，当β值变化使C1误差和凹斑分散度随刻录线速度倍增因子保持较小变化时，相对于刻录线速度倍增因子的刻录功率特性曲线的一个例子。这一特性曲线可用下述二次方程来进行表示：
Y＝AX²+BX+C。
在本例中，A＝-0.0217，B＝1.81699，C＝4.408。但系数C根据光束的波长可有较大的变化。因此，在使用光盘B的情况下，相对于刻录线速度倍增因子的刻录功率特性方程Y＝AX²+BX+C(A和B的值固定，C值待定)事先存储在存储器52中，并在实际刻录前进行试验刻录(OPC)以确定C值。
以下介绍一些示例，说明由试验刻录中计算和确定C值的技术。
(图23所示技术)
在实际刻录所用线速度倍增因子的可变范围之内(VI-VE)或之外(例如不超过所述可变范围)采用一个适当的线速度倍增因子V1进行试验刻录，计算该线速度倍增因子的适当的刻录功率(在此功率下可得到置定的目标β值)P1。当刻录功率P1和线速度倍增因子V1被置定和计算出来后，可通过特性方程Y＝AX²+BX+C解出C值。
(图24所示技术)
采用两个低于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围(VI-VE)的线速度倍增因子V1和V2(例如在VI＝10倍速和VE＝16倍速的情况下，采用V1＝4倍速和V2＝8倍速)进行OPC试验刻录，计算V1和V2线速度倍增因子的适当的刻录功率(在此功率下可得到与线速度倍增因子V1和V2相应的置定目标β值)P1和P2。应用最小平方误差法计算和确定C值，即使相对于特性方程Y＝AX²+BX+C的P1和P2的误差平方和为最小。或者，采用三个或更多的低于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围(VI-VE)的线速度倍增因子进行试验刻录，再通过以上方法计算和确定C值。
(图25所示技术)
采用一个低于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围(VI-VE)的线速度倍增因子V1和一个在所述可变范围之内的线速度倍增因子V2(例如在VI＝10倍速和VE＝16倍速时，采用V1＝8倍速和V2＝12倍速进行OPC试验刻录，计算V1和V2线速度倍增因子的适当的刻录功率(在此功率下可得到与线速度倍增因子V1和V2相应的置定的目标β值)P1和P2。应用最小平方误差法计算和确定C值，即使相对于特性方程Y＝AX²+BX+C的P1和P2的误差平方和为最小。或者，采用两个或更多低于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围(VI-VE)的线速度倍增因子和一个在所述可变范围之内的线速度倍增因子进行试验刻录，然后通过类似方法计算和确定C值。
[例3]在使用C生产的PHTHALOCYANINE型CD-R光盘的情况下(以下简称为光盘C)：
图26表明在使用光盘C进行刻录的情况下，当以多种方式变化不同线速度倍增因子的刻录功率时，相对于刻录功率的复制RF信号β值的特性曲线。图27表明EFM-解调复制RF信号时，相对于β值的C1误差特性曲线。图28表明相对于复制RF信号β值的凹斑分散特性曲线。图29表明由图26所示特性曲线导出的每个β值的相对于刻录线速度倍增因子的刻录功率特性曲线。按图29，在保持β值为一预定值进行刻录时，相对于线速度倍增因子的刻录功率特性曲线可表示为下述线性方程：
Y＝AX+B，式中
Y：刻录功率；
X：线速度倍增因子。
然而，如图27和28所示在使用光盘C的情况下，由于在高速刻录时功率的边界较窄(当
C1误差和凹斑分散度较低时，β值的范围较窄)，希望随着刻录线速度倍增因子变化β值的目标值(目标β值)。图29中粗黑线表示，当β值变化使C1误差和凹斑分散度随刻录线速度倍增因子保持较小变化时，相对于刻录线速度倍增因子的刻录功率特性曲线的一个例子。这一特性曲线可用下述二次方程来进行表示：
Y＝AX²+BX+C。
在本例中，A＝-0.0148，B＝1.4232，C＝4.5933。但系数C根据光束的波长可有较大的变化。因此，在使用光盘C的情况下，相对于刻录线速度倍增因子的刻录功率特性方程Y＝AX²+BX+C(A和B的值固定，C值待定)事先存储在存储器52中，并在实际刻录前进行试验刻录(OPC)以确定C值。在试验刻录中计算和确定C值的技术与图23-25所述使用光盘B时的情况类似。
以下将介绍一些示例，说明插入使用的光盘类型没有存储在存储器中时，如何确定刻录功率相对于刻录线速度倍增因子的特性曲线的技术。
(图30所示技术)
采用两个低于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围(VI-VE)的线速度倍增因子V1和V2(例如在VI＝10倍速和VE＝16倍速的情况下，采用V1＝4倍速和V2＝8倍速)进行OPC试验刻录，计算V1和V2线速度倍增因子的适当的刻录功率(在此功率下可得到与线速度倍增因子V1和V2相应的置定目标β值)P1和P2。确定和计算特性方程Y＝AX+B，使P1和P2为方程的解。或者，采用三个或更多的低于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围(VI-VE)的线速度倍增因子进行试验刻录，再通过最小平方法得出特性方程Y＝AX+B。或者，将三个或更多的适当刻录功率用直线或曲线连接起来，采用线性近似或曲线近似的方法确定特性方程。
(图31所示技术)
采用一个低于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围(VI-VE)的线速度倍增因子V1和一个在所述可变范围之内的线速度倍增因子V2(例如在VI＝10倍速和VE＝16倍速时，采用V1＝8倍速和V2＝12倍速)进行OPC试验刻录，计算V1和V2线速度倍增因子的适当的刻录功率(在此功率下可得到与线速度倍增因子V1和V2相应的置定的目标β值)P1和P2。使P1和P2成为特性方程Y＝AX+B的解，从而可得到特性方程Y＝AX+B。或者，采用两个或更多低于实际刻录所用线速度倍增因子可变范围(VI-VE)的线速度倍增因子和一个在所述可变范围之内的线速度倍增因子进行OPC试验刻录，然后通过最小平方法得出特性方程Y＝AX+B。或者，将这三个或多个适当刻录功率值用直线或曲线连接起来，通过采用直线近似或曲线近似的方法得到特性方程。
在此应当注意，在上述实施例中采用β值作为衡量复制信号质量水准的预定参数，但也可只采用C1误差或凹斑分散度或其他参数作为衡量复制信号质量水准的参数。