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1、(10)申请公布号 CN 102967954 A(43)申请公布日 2013.03.13CN102967954A*CN102967954A*(21)申请号 201210472359.X(22)申请日 2012.11.20G02F 1/13(2006.01)G01R 31/00(2006.01)(71)申请人深圳市华星光电技术有限公司地址 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号(72)发明人黄皓 刘纯 潘昶宏(74)专利代理机构深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287代理人胡海国(54) 发明名称液晶面板的测试装置及方法(57) 摘要本发明公开了一种用于测试液晶面板的测试装置及测。
2、试方法，该测试装置包括与液晶面板的数据线连接的第一测试单元、与所述液晶面板的扫描线连接的第二测试单元及分别连接所述第一测试单元与第二测试单元的信号产生器，所述第一测试单元与第二测试单元均包括走线区及设置在走线区一侧且与所述信号产生连接的连接端口，所述走线区内设有多条线路，靠近连接端口设置的多条线路中同属性的线路连接在一起，且对应与所述连接端口连接；远离连接端口设置的多条线路相应与液晶面板上设置的信号线连接。本发明可以实现液晶面板点灯测试方式的转换，不仅提高了液晶面板的检测能力，而且还减少了液晶面板上线路占用的面积，进而提高了液晶面板的竞争力。(51)Int.Cl.权利要求书1页 说明书6页 附。
3、图9页(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请权利要求书 1 页 说明书 6 页 附图 9 页1/1页21.一种用于测试液晶面板的测试装置，其特征在于，包括与液晶面板的数据线连接的第一测试单元、与所述液晶面板的扫描线连接的第二测试单元及分别连接所述第一测试单元与第二测试单元的信号产生器，所述第一测试单元与第二测试单元均包括走线区及设置在走线区一侧且与所述信号产生连接的连接端口，所述走线区内设有多条线路，靠近连接端口设置的所述多条线路中同属性的线路连接在一起，且对应与所述连接端口连接；远离连接端口设置的所述多条线路相应与液晶面板上设置的信号线连接。2.根据权利要求1所述的测试装置。
4、，其特征在于，所述走线区设置的多条线路均分为至少两组走线单元，且每组走线单元中的线路中均按属性排列，且排列顺序均相同；而且每组走线单元中线路的条数与连接端口的数量相等。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述第一测试单元的连接端口为4个，所述走线区设置的线路为4n条，其中n为大于或等于2的正整数；所述第二测试单元的连接端口为2个，所述走线区设置的线路为2n条，其中n为大于或等于2的正整数。4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述第一测试单元的连接端口为6个，所述走线区设置的线路为6n条，其中n为大于或等于2的正整数；所述第二测试单元的连接端口为4个，所述走线区设置的线路为4。
5、n条，其中n为大于或等于2的正整数。5.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述第一测试单元的连接端口为6个，所述走线区设置的线路为6n条，其中n为大于或等于2的正整数；所述第二测试单元连接端口为2个，所述走线区设置的线路为2n条，其中n为大于或等于2的正整数。6.根据权利要求1-5任一项所述的测试装置，其特征在于，还包括连接在所述信号产生器与第一测试单元之间的第一转接板及连接在所述信号产生器与第二测试单元之间的第二转接板。7.一种应用权利要求1所述的测试装置测试液晶面板的方法，其特征在于，包括以下步骤：提供待测试的液晶面板，将所述液晶面板的非显示区上设置的短路环切割，露出数据线及扫描线。
6、的端头；将所述测试装置中的第一测试单元与所述数据线的端头连接，所述测试装置中的第二测试单元与所述扫描线连接；控制信号产生器连续产生第一测试信号及第二测试信号，以对液晶面板进行测试。8.根据权利要求7所述的液晶面板的测试方法，其特征在于，所述测试装置的第一测试单元及第二测试单元中，走线区设置的多条线路均分为至少两组走线单元，且每组走线单元中的线路中均按属性排列，且排列顺序均相同；而且每组走线单元中线路的条数与连接端口的数量相等。9.根据权利要求8所述的液晶面板的测试方法，其特征在于，所述第一测试单元的连接端口为6个，所述走线区设置的线路为6n条，其中n为大于或等于2的正整数；所述第二测试单元的连。
7、接端口为4个，所述走线区设置的线路为4n条，其中n为大于或等于2的正整数。10.根据权利要求7-9任一项所述的液晶面板的测试方法，其特征在于，还包括：在测试装置的信号产生器及第一测试单元之间设置第一转接板；在测试装置的信号产生器及第二测试单元之间设置第二转接板。权 利 要 求 书CN 102967954 A1/6页3液晶面板的测试装置及方法技术领域0001 本发明涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种用于测试液晶面板的测试装置及方法。背景技术0002 随着电子技术的发展，平板显示器件得到了飞速的发展，如液晶显示器件、等离子体显示器件和OLED（Organic Light-Emitting Diod。
8、e，有机发光二极管）显示器件。在平板显示器件当中，液晶显示器件由于其重量低、体积小、能耗低的优点，正在逐步取代冷阴极显示设备。0003 平板显示器件中以无辐射薄膜晶体管有源矩阵液晶显示器应用较为广泛，现有技术中，无辐射薄膜晶体管有源矩阵液晶显示器的点灯方式一般采用2D1G（以2条数据线和1条栅极组成的若干单元）及3D2G（以3条数据线和2条栅极组成的若干单元）。但是由于2D1G和3D2G的方式将导致相邻的两数据线之间存在同种极性的现象，从而使得液晶面板的检测能力较弱。参照图1及图2，图1是现有技术采用3D2G进行点灯测试的线路结构示意图；图2是图1所示线路进行点灯测试的测试信号及测试结果的示意。
9、图。以3D2G点灯测试方式为例，数据线中每3条数据线形成一单元，且该每个单元中第一条数据线连接在一起并接收R信号，每个单元中第二条数据线连接在一起并接收G信号，每个单元中第三条数据线连接在一起并接收B信号；扫描线中每2条形成一单元，且该每个单元中第一条扫描线连接在一起并接收G1信号，每个单元中第二条扫描线连接在一起并接收G2信号。在测试过程中，R信号、G信号、B信号、G1信号及G2信号的信号如图2所示，从获得测试的DOT电性状态可知，接收R信号及B信号测试的DOT所带电性相同，因此降低了液晶面板的检测能力。发明内容0004 本发明的主要目的在于提供一种用于测试液晶面板的测试装置，旨在既提高产生。
10、的竞争力，又提高液晶面板的检测能力。0005 本发明提供了一种用于测试液晶面板的测试装置，包括与液晶面板的数据线连接的第一测试单元、与所述液晶面板的扫描线连接的第二测试单元及分别连接所述第一测试单元与第二测试单元的信号产生器，所述第一测试单元与第二测试单元均包括走线区及设置在走线区一侧且与所述信号产生器连接的连接端口，所述走线区内设有多条线路，靠近连接端口设置的所述多条线路中同属性的线路连接在一起，且对应与所述连接端口连接；远离连接端口设置的所述多条线路相应与液晶面板上设置的信号线连接。0006 优选地，所述走线区设置的多条线路均分为至少两组走线单元，且每组走线单元中的线路中均按属性排列，且排。
11、列顺序均相同；而且每组走线单元中线路的条数与连接端口的数量相等。0007 优选地，所述第一测试单元的连接端口为4个，所述走线区设置的线路为4n条，其说 明 书CN 102967954 A2/6页4中n为大于或等于2的正整数；所述第二测试单元的连接端口为2个，所述走线区设置的线路为2n条，其中n为大于或等于2的正整数。0008 优选地，所述第一测试单元的连接端口为6个，所述走线区设置的线路为6n条，其中n为大于或等于2的正整数；所述第二测试单元的连接端口为4个，所述走线区设置的线路为4n条，其中n为大于或等于2的正整数。0009 优选地，所述第一测试单元的连接端口为6个，所述走线区设置的线路为6。
12、n条，其中n为大于或等于2的正整数；所述第二测试单元连接端口为2个，所述走线区设置的线路为2n条，其中n为大于或等于2的正整数。0010 优选地，还包括连接在所述信号产生器与第一测试单元之间的第一转接板及连接在所述信号产生器与第二测试单元之间的第二转接板。0011 本发明还提供了一种应用上述测试装置测试液晶面板的方法，包括以下步骤：0012 提供待测试的液晶面板，将所述液晶面板的非显示区上设置的短路环已被切割，露出数据线及扫描线的端头；0013 将所述测试装置中的第一测试单元与所述数据线的端头连接，所述测试装置中的第二测试单元与所述扫描线连接；0014 控制信号产生器连续产生第一测试信号及第二。
13、测试信号，以对液晶面板进行测试。0015 优选地，所述测试装置的第一测试单元及第二测试单元中，走线区设置的多条线路均分为至少两组走线单元，且每组走线单元中的线路中均按属性排列，且排列顺序均相同；而且每组走线单元中线路的条数与连接端口的数量相等。0016 优选地，所述第一测试单元的连接端口为6个，所述走线区设置的线路为6n条，其中n为大于或等于2的正整数；所述第二测试单元的连接端口为4个，所述走线区设置的线路为4n条，其中n为大于或等于2的正整数。0017 优选地，还包括：0018 在测试装置的信号产生器及第一测试单元之间设置第一转接板；在测试装置的信号产生器及第二测试单元之间设置第二转接板。0。
14、019 本发明通过测试装置中走线区设置的线路，而且走线区一端设有接收测试信号的连接端口，另一端与液晶面板的信号线连接，从而可以实现液晶面板点灯测试方式的转换；而且待液晶面板测试结束后，该测试装置可以取下，而重复用于液晶面板的测试，因此该测试装置不仅提高了液晶面板的检测能力，而且还减少了液晶面板上线路占用的面积，进而提高了液晶面板的竞争力。附图说明0020 图1是现有技术采用3D2G进行点灯测试的线路结构示意图；0021 图2是图1所示线路进行点灯测试的测试信号及测试结果的示意图0022 图3是本发明用于测试液晶面板的测试装置一实施例的结构示意图；0023 图4是本发明测试装置中连接端口为2个的。
15、结构示意图；0024 图5是本发明测试装置中连接端口为4个的结构示意图；0025 图6是本发明测试装置中连接端口为6个的结构示意图；说 明 书CN 102967954 A3/6页50026 图7是本发明测试装置与液晶面板连接线路的第一实施例的结构示意图；0027 图8是本发明测试装置与液晶面板连接线路的第二实施例的结构示意图；0028 图9是本发明测试装置与液晶面板连接线路的第三实施例的结构示意图；0029 图10是本发明测试装置与液晶面板连接线路的第四实施例的结构示意图；0030 图11是本发明用于测试液晶面板的测试装置另一实施例的结构示意图；0031 图12是本发明液晶面板的测试方法较佳一。
16、实施例的流程示意图。0032 本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式0033 应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。0034 参照图3，图3是本发明用于测试液晶面板的测试装置一实施例的结构示意图。该测试装置包括用于与待测液晶面板100的数据线连接的第一测试单元1、用于与所述液晶面板100的扫描线连接的第二测试单元2及分别连接所述第一测试单元1与第二测试单元2的信号产生器3，所述第一测试单元1与第二测试单元2均包括走线区10及设置在走线区10一侧且与所述信号产生器3连接的若干连接端口20，所述走线区10内设有多条线路，靠。
17、近连接端口20设置的线路中同属性的线路连接在一起，且对应与所述连接端口20连接；远离连接端口20设置的线路相应与液晶面板100上设置的信号线连接。0035 该测试装置主要用于液晶面板的点灯测试。液晶面板的点灯测试的方式一般可以包括2D1G、3D2G、4D2G、6D2G、4D4G及6D4G等几种。但是在实际的测试过程中，2D1G及3D2G两种点灯测试方式将导致相邻的两信号之间存在同种极性的现象，从而使得液晶面板的检测能力较弱；而其他四种点灯测试方式相较前面两种，提高了液晶面板的检测能力。因此本发明通过该测试装置，可以实现将现有液晶面板的3D2G或2D1G的点灯测试方式转换为其他四种点灯测试方式。。
18、具体地，先将液晶面板上设置的短路环通过激光切断，使得液晶面板上的信号线悬空；然后将该测试装置中第一测试单元1一端与液晶面板100上悬空的数据线一一对应连接，另一端通过连接端口20与信号产生器3连接；将该测试装置中第二测试单元2一端与液晶面板100上悬空的扫描线连接，另一端通过连接端口20与信号产生器3连接。从而信号产生器3产生的测试信号可以通过连接端口20传递至液晶面板100上的信号线。0036 本发明用于液晶面板的测试装置，通过走线区10设置的线路，而且走线区10一端设有接收测试信号的连接端口20，另一端与液晶面板100的信号线连接，从而可以实现液晶面板点灯测试方式的转换；而且待液晶面板测试。
19、结束后，该测试装置可以取下，而重复用于液晶面板100的测试，因此液晶面板非显示区上设置的线路仍然可以利用现有的3D2G或2D1G的线路方式，从而不但提高了液晶面板的检测能力，而且还提高了液晶面板的产品竞争力。0037 进一步的，上述第一测试单元1及第二测试单元2上走线区10设置的多条线路均分为至少两组走线单元，且每组走线单元中的线路中均按属性排列，且排列顺序均相同；而且每组走线单元中线路的条数与连接端口20的数量相等。下面将以连接端口分别为2个、4个及6个分别对走线区10设置的线路进行具体描述。0038 （1）连接端口为2个说 明 书CN 102967954 A4/6页60039 参照图4，图。
20、4是本发明测试装置中连接端口为2个的结构示意图。该测试装置中，所述走线区10设置的线路为4n条，其中n为大于或等于1的正整数。以n等于1为例，其中连接端口20包括第一连接端口21及第二连接端口22。走线区10中设置的线路分为第一走线单元11及第二走线单元12。而且在走线区10的一侧，第一走线单元11的第一条线路11a与第二走线单元12的第一条线路12a连接在一起，且连接处还连接第一连接端口21；第一走线单元11的第二条线路11b与第二走线单元12的第二条线路12b连接在一起，且连接处还连接第二连接端口22。在走线区10的另一侧，第一走线单元11与第二走线单元12中所有悬空的线路均用于与液晶面板。
21、的信号线一一对应连接。0040 （2）连接端口为4个0041 参照图5，图5是本发明测试装置中连接端口为4个的结构示意图。该测试装置中，所述走线区10设置的线路为8n条，其中n为大于或等于1的正整数。以n等于1为例，其中连接端口20包括第一连接端口21、第二连接端口22、第三连接端口23及第四连接端口24。走线区10设置的线路分为第一走线单元11及第二走线单元12。而且在走线区10的一侧，第一走线单元11的第一条线路11a与第二走线单元12的第一条线路12a连接在一起，且连接处还连接第一连接端口21；第一走线单元11的第二条线路11b与第二走线单元12的第二条线路12b连接在一起，且连接处还连。
22、接第二连接端口22；第一走线单元11的第三条线路11c与第二走线单元12的第三条线路12c连接在一起，且连接处还连接第三连接端口23；第一走线单元11的第四条线路11d与第二走线单元12的第四条线路12d连接在一起，且连接处还连接第四连接端口24。在走线区10的另一侧，第一走线单元11及第二走线单元12中所有悬空的线路均用于与液晶面板的信号线一一对应连接。0042 （3）连接端口为6个0043 参照图6，图6是本发明测试装置中连接端口为6个的结构示意图。该测试装置中，所述走线区10设置的线路为12n条，其中n为大于或等于1的正整数。以n等于1为例，其中连接端口20包括第一连接端口21、第二连接。
23、端口22、第三连接端口23、第四连接端口24、第五连接端口25、第六连接端口26。走线区10设置的线路分为第一走线单元11及第二走线单元12。而且在走线区10的一侧，第一走线单元11的第一条线路11a与第二走线单元12的第一条线路12a连接在一起，且连接处还连接第一连接端口21；第一走线单元11的第二条线路11b与第二走线单元12的第二条线路12b连接在一起，且连接处还连接第二连接端口22；第一走线单元11的第三条线路11c与第二走线单元12的第三条线路12c连接在一起，且连接处还连接第三连接端口23；第一走线单元11的第四条线路11d与第二走线单元12的第四条线路12d连接在一起，且连接处还。
24、连接第四连接端口24。第一走线单元11的第五条线路11e与第二走线单元12的第五条线路12d连接在一起，且连接处还连接第五连接端口25。第一走线单元11的第六条线路11f与第二走线单元12的第六条线路12f连接在一起，且连接处还连接第六连接端口26。在走线区10的另一侧，第一走线单元11及第二走线单元12中所有悬空的线路均用于与液晶面板的信号线一一对应连接。0044 当液晶面板需要进行测试时，可以使用具有不同数量的连接端口的第一测试单元及第二测试单元的测试装置，将其与液晶面板上的信号线对应连接，即可实现4D2G、6D2G、4D4G、6D4G的点灯测试方式。如图7所示，该液晶面板测试所使用的测试。
25、装置中，第一测试单元1中连接端口设置为4个，第二测试单元2中连接端口设置为2个，则通过并联设置多说 明 书CN 102967954 A5/6页7个第一测试单元1及并联设置多个第二测试单元2可以实现对液晶面板进行4D2G的点灯测试方式。如图8所示，该液晶面板测试所使用的测试装置中，第一测试单元1中连接端口设置为6个，第二测试单元2中连接端口设置为2个，则通过并联设置多个第一测试单元1及并联设置多个第二测试单元2可以实现对液晶面板进行6D2G的点灯测试方式。如图9所示，该液晶面板测试所使用的测试装置中，第一测试单元1中连接端口设置为4个，第二测试单元2中连接端口设置为4个，则通过并联设置多个第一测。
26、试单元1及并联设置多个第二测试单元2可以实现对液晶面板进行4D4G的点灯测试方式。如图10所示，该液晶面板测试所使用的测试装置中，第一测试单元1中连接端口设置为6个，第二测试单元2中连接端口设置为4个，则通过并联设置多个第一测试单元1及并联设置多个第二测试单元2可以实现对液晶面板进行6D4G的点灯测试方式。由上可知，若测试装置的第一测试单元1及第二测试单元2中走线区10设置的线路越多，则用于测试液晶面板100的扫描线101的第二测试单元2及用于测试液晶面板100的数据线102的第一测试单元1数量越少。0045 参照图11，图11是本发明用于测试液晶面板的测试装置另一实施例的结构示意图。该实施例。
27、的测试装置还包括连接在所述信号产生器3与第一测试单元1之间的第一转接板4及连接在所述信号产生器3与第二测试单元2之间的第二转接板5。该第一转接板4及第二转接板5分别用于将第一测试单元1及第二测试单元2同类的连接端口连接在一起，以第二测试单元2中连接端口为2个的测试装置为例，该第二转接板5可以实现所有走线区10上的第一连接端口21连接在一起，所有走线区10上的第二连接端口22连接在一起。因此信号产生器3产生的测试信号可以通过第一转接板4及第二转接板5，同时传递至所有的走线区10，进而再通过走线区10将测试信号同时传递至液晶面板100上所有的信号线，即实现了液晶面板的点灯测试。0046 参照图12。
28、，图12是本发明液晶面板的测试方法较佳一实施例的流程示意图。该液晶面板的测试方法包括以下步骤：0047 步骤S101、提供待测试的液晶面板，将所述液晶面板的非显示区上设置的短路环切割，露出数据线及扫描线的端头；0048 步骤S102、提供测试装置，将所述测试装置中的第一测试单元与所述数据线的端头连接，所述测试装置中的第二测试单元与所述扫描线的端头连接；0049 步骤S103、控制信号产生器连续产生第一测试信号及第二测试信号，以对液晶面板进行测试。0050 液晶面板包括阵列基板、彩色滤光基板及设置在阵列基板与彩色滤光基板之间的液晶层，所述阵列基板的显示区上设有多条交错设置的数据线、扫描线以及分别。
29、与数据线及扫描线连接的薄膜晶体管，非显示区上设有驱动薄膜晶体管工作的外围线路，对应连接至数据线与扫描线。而且在液晶面板的制作过程中，为了测试数据线与扫描线是否连接正常，则需要在外围线路中设置短路环，而且该短路环还用于制成后的液晶面板的点灯测试。液晶面板的点灯测试的方式一般可以包括2D1G、3D2G、4D2G、6D2G、4D4G及6D4G等几种。但是在实际的测试过程中，2D1G及3D2G两种点灯测试方式将导致相邻的两信号之间存在同种极性的现象，从而使得液晶面板的检测能力较弱；而其他四种点灯测试方式相较前面两种，提高了液晶面板的检测能力。因此本发明在进行点灯测试时，先将短路环切除后，再通过该测试装。
30、置与切断的信号线连接，则实现将现有液晶面板的3D2G或2D1G的点灯测试方说 明 书CN 102967954 A6/6页8式转换为其他四种点灯测试方式。上述测试方法中使用的测试装置为前面所述的测试装置，在此就不再赘述。0051 本发明利用上述结构的测试装置，实现了液晶面板点灯测试方式的转换；而且待液晶面板测试结束后，该测试装置可以取下，而重复用于液晶面板的测试，因此该测试装置不仅提高了液晶面板的检测能力，而且还减少了液晶面板上线路占用的面积，进而提高了液晶面板的竞争力。0052 以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。说 明 书CN 102967954 A1/9页9图1图2说 明 书 附 图CN 102967954 A2/9页10图3图4图5说 明 书 附 图CN 102967954 A10。