一种平面结构有机场效应晶体管的制作方法.pdf

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摘要
申请专利号:

CN200910077679.3

申请日:

2009.02.11

公开号:

CN101800287A

公开日:

2010.08.11

当前法律状态:

授权

有效性:

有权

法律详情:

授权|||实质审查的生效IPC(主分类):H01L 51/40申请日:20090211|||公开

IPC分类号:

H01L51/40

主分类号:

H01L51/40

申请人:

中国科学院微电子研究所

发明人:

刘舸; 刘明; 刘兴华; 商立伟; 王宏; 柳江

地址:

100029 北京市朝阳区北土城西路3号

优先权:

专利代理机构:

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人:

周国城

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内容摘要

本发明公开了一种平面结构有机场效应晶体管的制作方法,该方法包括:步骤1、在绝缘基底表面涂上光刻胶;步骤2、对涂光刻胶的绝缘基底进行光刻,得到栅介质图形;步骤3、在栅介质图形上生长一层栅介质薄膜;步骤4、剥离得到栅介质图形,再次进行光刻得到源电极图形、漏电极图形和栅电极图形;步骤5、电子束蒸发源、漏和栅的电极金属,剥离得到电极图形;步骤6、蒸镀有机半导体材料,完成器件的制作。利用本发明得到的平面结构有机场效应晶体管,减少了工艺流程提高的器件的集成度。

权利要求书

1: 一种平面结构有机场效应晶体管的制作方法,其特征在于,该方法包括: 步骤1、在绝缘基底表面涂上光刻胶; 步骤2、对涂光刻胶的绝缘基底进行光刻,得到栅介质图形; 步骤3、在栅介质图形上生长一层栅介质薄膜; 步骤4、剥离该栅介质薄膜得到栅介质图形,再次进行光刻得到源电极图形、漏电极图形和栅电极图形; 步骤5、电子束蒸发源、漏和栅的电极金属,剥离得到电极图形; 步骤6、蒸镀有机半导体材料,完成器件的制作。2: 根据权利要求1所述的平面结构有机场效应晶体管的制作方法,其特征在于,步骤1中所述绝缘基底是无机氧化物或者有机绝缘塑料。3: 根据权利要求1所述的平面结构有机场效应晶体管的制作方法,其特征在于,步骤3中所述的栅介质薄膜是通过电子束蒸发得到的。4: 根据权利要求1所述的平面结构有机场效应晶体管的制作方法,其特征在于,步骤5中所述的电极金属是金。5: 根据权利要求1所述的平面结构有机场效应晶体管的制作方法,其特征在于,步骤6中所述有机半导体材料是采用真空蒸镀的方法的得到的。6: 根据权利要求1所述的平面结构有机场效应晶体管的制作方法,其特征在于,步骤6中所述有机半导体材料是采用并五苯。

说明书


一种平面结构有机场效应晶体管的制作方法

    【技术领域】

    本发明涉及有机半导体学中的微细加工技术领域,特别是一种平面结构有机场效应晶体管的制作方法。

    背景技术

    随着信息技术的不断深入,电子产品已经进入人们生活工作的每个环节;在日常生活中人们对低成本、柔性、低重量、便携的电子产品的需求越来越大。

    传统的基于无机半导体材料的器件和电路很难满足这些要求,因此可以实现这些特性的基于有机聚合物半导体材料的有机微电子技术在这一趋势下得到了人们越来越多的关注。

    提高有机场效应管的性能一直是该领域追求的目标。与此同时,为了有机场效应晶体管在电路中潜在的应用,如何提高它的集成度也是一个亟待解决的问题。

    由于有机材料具有较低的迁移率较高的费米能级,使其在器件小型化方面面临一些障碍。由于有机半导体材料的脆弱性,复杂的工艺流程对器件性能会造成很大的伤害。

    因此,如何在简单的工艺流程下实现有机场效应晶体管的高的集成度是一个很有挑战的工作。但当前在这方面没有成熟的解决方案。

    【发明内容】

    (一)要解决的技术问题

    有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种平面结构有机场效应晶体管的制作方法,以提高有机场效应晶体管的集成度。

    (二)技术方案

    为达到上述目的,本发明提供了一种平面结构有机场效应晶体管的制作方法,该方法包括:

    步骤1、在绝缘基底表面涂上光刻胶;

    步骤2、对涂光刻胶的绝缘基底进行光刻,得到栅介质图形;

    步骤3、在栅介质图形上生长一层栅介质薄膜;

    步骤4、剥离得到栅介质图形,再次进行光刻得到源电极图形、漏电极图形和栅电极图形;

    步骤5、电子束蒸发源、漏和栅的电极金属,剥离得到电极图形;

    步骤6、蒸镀有机半导体材料,完成器件的制作。

    上述方案中,步骤1中所述绝缘基底是无机氧化物或者有机绝缘塑料。

    上述方案中,步骤3中所述的栅介质薄膜是通过电子束蒸发得到的。

    上述方案中,步骤5中所述的电极金属是金。

    上述方案中,步骤6中所述有机半导体材料是采用真空蒸镀的方法的得到的。

    上述方案中,步骤6中所述有机半导体材料是采用并五苯。

    (三)有益效果

    本发明特点是采用器件结构采用平面结构,其栅电极、栅介质、源漏电极在水平方向上平行分布在衬底表面。整个器件只需要两次光刻,且器件之间的互连可以直接在衬底表面通过导线实现,而不必考虑传统的过孔工艺。另外,利用本发明得到的平面结构有机场效应晶体管,减少了工艺流程提高的器件的集成度。

    【附图说明】

    为了更进一步说明本发明的内容,以下结合附图及实施例子,对本发明做详细描述,

    图1是本发明提供的制作平面结构有机场效应晶体管的方法流程图;

    图2-1至图2-7是本发明提供的制作平面结构有机场效应晶体管的工艺流程图;

    图3-1至图3-7是依照本发明实施例提供的制作平面结构有机场效应晶体管的工艺流程图。

    【具体实施方式】

    为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。

    本发明提供了一种制作平面结构有机场效应晶体管的方法,利用本发明制作的平面结构有机场效应晶体管,颠覆了传统的mos管层状结构。该结构将器件的源漏电极栅介质以及栅电极水平分布到衬底上。这样器件之间的互连可以很方便的直接在衬底上通过导线互连而不必考虑通过栅介质的问题。而且,由于新结构使器件的沟道呈垂直于衬底平面上分布,因而可以通过生长的介质层厚度来控制器件沟道宽度以至可以方便的控制器件的尺寸。

    如图1所示,图1是本发明提供的制作平面结构有机场效应晶体管的方法流程图,该方法包括:

    步骤1、在绝缘基底表面涂上光刻胶;绝缘基底是无机氧化物或者有机绝缘塑料。

    步骤2、对涂光刻胶的绝缘基底进行光刻,得到栅介质图形;

    步骤3、在栅介质图形上生长一层栅介质薄膜;栅介质薄膜是通过电子束蒸发得到的。

    步骤4、剥离得到栅介质图形,再次进行光刻得到源电极图形、漏电极图形和栅电极图形;

    步骤5、电子束蒸发源、漏和栅的电极金属,剥离得到电极图形;电极金属是金。

    步骤6、蒸镀有机半导体材料,完成器件的制作;有机半导体材料是采用真空蒸镀的方法的得到的,采用的是并五苯。

    图2-1至图2-7示出了本发明提供的制作平面结构有机场效应晶体管的工艺流程图,具体包括:

    如图2-1所示,在绝缘介质表面涂上光刻胶。

    如图2-2所示,光刻得到器件栅介质图形。

    如图2-3所示,通过电子束蒸发再生长一层栅介质薄膜后剥离。

    如图2-4所示,得到栅介质图形后再次光刻得到器件源漏电极和栅电极图形。

    如图2-5所示,电子束蒸发源漏电极和栅电极,剥离得到电极图形。

    如图2-6所示,真空蒸镀有机半导体材料完成器件的制作。

    图3-1至图3-7示出了依照本发明实施例提供的制作平面结构有机场效应晶体管的工艺流程图,具体包括:

    如图3-1所示,在绝缘介质表面涂上光刻胶AZ9918。

    如图3-2所示,光刻得到器件栅介质图形。

    如图3-3所示,通过电子束蒸发再生长一层氧化硅栅介质薄膜后剥离。

    如图3-4所示,得到栅介质图形后再次光刻得到器件源漏电极和栅电极图形。

    如图3-5所示,电子束蒸发一层金薄膜形成器件源漏电极和栅电极,剥离得到电极图形。

    如图3-6所示,真空蒸镀有机半导体材料并五苯完成器件的制作。

    图3-7是制作的平面结构有机场效应晶体管的立体结构示意图。

    以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

    

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本发明公开了一种平面结构有机场效应晶体管的制作方法,该方法包括:步骤1、在绝缘基底表面涂上光刻胶;步骤2、对涂光刻胶的绝缘基底进行光刻,得到栅介质图形;步骤3、在栅介质图形上生长一层栅介质薄膜;步骤4、剥离得到栅介质图形,再次进行光刻得到源电极图形、漏电极图形和栅电极图形;步骤5、电子束蒸发源、漏和栅的电极金属,剥离得到电极图形;步骤6、蒸镀有机半导体材料,完成器件的制作。利用本发明得到的平面结构。

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