井下套管壁厚测量方法.pdf

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摘要
申请专利号:

CN201010585175.5

申请日:

2010.12.13

公开号:

CN102061911A

公开日:

2011.05.18

当前法律状态:

授权

有效性:

有权

法律详情:

授权|||实质审查的生效IPC(主分类):E21B 49/00申请日:20101213|||公开

IPC分类号:

E21B49/00; E21B33/14

主分类号:

E21B49/00

申请人:

中国石油集团川庆钻探工程有限公司

发明人:

吉人; 殷增华; 刘文龙; 赵中明

地址:

610051 四川省成都市成华区府青路1段3号川庆钻探公司科技信息处

优先权:

专利代理机构:

成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211

代理人:

毛光军

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内容摘要

本发明公开了一种井下套管壁厚测量方法,根据远近探测器的计数率曲线,消除地层密度与水泥环密度对套管壁厚计算值的影响,利用回归方法,建立套管壁厚计算公式计算得出套管壁厚度。本发明采用远近探测器计数率进行计算,并消除了由于地层密度和水泥环密度不同时地层和水泥环对探测器计数率的影响,提高了井下套管壁厚的计算准确性。

权利要求书

1: 一种井下套管壁厚测量方法, 其特征在于 : 根据远近探测器的计数率曲线, 消除地 层密度与水泥环密度对套管壁厚计算值的影响, 利用回归方法, 建立套管壁厚计算公式计 算得出套管壁厚度。
2: 根据权利要求 1 所述的井下套管壁厚测量方法, 其特征在于 : 所述套管壁厚计算公 式的建立方法为, 根据近探测器计数率 TL、 远探测器计数率 PL, 利用回归方法建立计算公 式: TH=THST - K*LN(TL/TLST)+LN(PL/PLST)+ △ TH 上式中, TH 为计算壁厚值, THST 为标准套管壁厚值, K 为刻度系数, TL 为近探测器计数 率值, TLST 为标准取值井段平均计数率值, PL 为远探测器计数率值, PLST 为标准取值井段平 均计数率值, △ TH 为地层密度和水泥环密度在套管壁厚计算时的校正量。
3: 根据权利要求 2 所述的井下套管壁厚测量方法, 其特征在于 : 地层密度和套管标准 值与套管壁厚计算值之差△ TH 为一元二次关系, 水泥浆密度和套管标准值与套管壁厚计 算值之差△ TH 为一元一次关系, 利用回归方法, 得到△ TH 的表达式 : 2 △ TH= (-0.75ρ 地层 +5.24ρ 地层 -1.54ρ 水泥浆 )-8 其中,THST 为标准套管壁厚值, ρ 地层为地层密度, ρ 水泥浆为水泥浆密度。
4: 根据权利要求 3 所述的井下套管壁厚测量方法, 其特征在于 : 利用地层密度不同时, 地层密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系, 得出地层密度和套管标准值 与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系为一元二次关系式。 5. 根据权利要求 3 或 4 所述的井下套管壁厚测量方法, 其特征在于 : 利用水泥环密度 不同时, 水泥环密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系, 得出水泥环密度与 套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系为一元一次关系式。
5: 24ρ 地层 -1.54ρ 水泥浆 )-8 其中,THST 为标准套管壁厚值, ρ 地层为地层密度, ρ 水泥浆为水泥浆密度。 4. 根据权利要求 3 所述的井下套管壁厚测量方法, 其特征在于 : 利用地层密度不同时, 地层密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系, 得出地层密度和套管标准值 与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系为一元二次关系式。 5. 根据权利要求 3 或 4 所述的井下套管壁厚测量方法, 其特征在于 : 利用水泥环密度 不同时, 水泥环密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系, 得出水泥环密度与 套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系为一元一次关系式。

说明书


井下套管壁厚测量方法

    【技术领域】
     本发明涉及一种油田中的套管的测量方法, 尤其涉及一种井下套管壁厚测量方 法, 适用于井下套管的损伤评价。背景技术
     目前伽玛密度套管壁厚的测量方法, 只利用了近探测器计数率值进行计算, 并没 有利用远探测器计数率值, 且也没有考虑地层密度、 水泥环的密度不同对探测器伽玛光子 计数率的影响, 所计算出的套管壁厚与实际的套管壁厚存在较大的差异, 影响了下一步施 工决策。 产生上述问题的主要原因在于 : ①现有计算方法只用近探测器计数率值进行计算 ; ②没有考虑地层密度不同时地层对伽玛光子的散射和吸收作用 ; ③没有考虑水泥环密度不 同时, 水泥环对伽玛光子的散射和吸收作用。
     中国专利号 “20062009388 1.7” 公开了一种伽玛密度厚度测井仪刻度装置, 申请 日为 2006 年 10 月 28 日, 授权公告日为 2007 年 10 月 17 日, 其由套管接箍、 上钢板、 内部套 管外部套管、 钢筋、 下钢板和 G 级固井水泥组成, 外部套管内设有长度相同壁厚不同的内部 套管组合, 内外套管壁之间用 G 级固井水泥固结 ; 内、 外套管上、 下方分别焊接有上钢板和 下钢板, 外部套管外侧上、 下钢板之间沿周向均布焊接有根钢筋将上、 下钢板拉住, 内部套 管上端与套管接箍相连接。另外, 房舟等在 2006 年 5 月 《天然气工业》 的 “钻井工程” 中提 出了 “膨胀管壁厚计算研究” 。 前述的专利技术仅用于套管外水泥胶结环的有无和成份进行 检测, 以此确定固井完井质量高低。后述的 “膨胀管壁厚计算研究” 只适合于测量膨胀管的 壁厚。 发明内容 本发明的目的在于克服现有伽玛密度套管壁厚的测量方法存在的上述问题, 提供 一种井下套管壁厚测量方法, 本发明采用远近探测器计数率进行计算, 并消除了由于地层 密度和水泥环密度不同时地层和水泥环对探测器计数率的影响, 提高了井下套管壁厚的计 算准确性。
     为实现上述目的, 本发明采用的技术方案如下 : 一种井下套管壁厚测量方法, 其特征在于 : 根据远近探测器的计数率曲线, 消除地层密 度与水泥环密度对套管壁厚计算值的影响, 利用回归方法, 建立套管壁厚计算公式计算得 出套管壁厚度。
     所述套管壁厚计算公式的建立方法为, 根据近探测器计数率 TL、 远探测器计数率 PL, 利用回归方法建立计算公式 : TH=THST - K*LN(TL/TLST)+LN(PL/PLST)+ △ TH 上式中, TH 为计算壁厚值, THST 为标准套管壁厚值, K 为刻度系数, TL 为近探测器计数 率值, TLST 为标准取值井段平均计数率值, PL 为远探测器计数率值, PLST 为标准取值井段平 均计数率值, △ TH 为地层密度和水泥环密度在套管壁厚计算时的校正量。
     所述地层密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 为一元二次关系, 水泥 浆密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 为一元一次关系, 利用回归方法, 得到 △ TH 的表达式 : △ TH= (-0.75ρ 2 地层 +5.24ρ 地层 -1.54ρ 水泥浆 )-8 其中,THST 为标准套管壁厚值, ρ 地层为地层密度, ρ 水泥浆为水泥浆密度。
     所述利用地层密度不同时, 地层密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系, 得出地层密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系为一元二次关系 式。
     所述利用水泥环密度不同时, 水泥环密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差 △ TH 的关系, 得出水泥环密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系为一元一 次关系式。
     采用本发明的优点在于 : 一、 本发明利用了远近探测器计数率曲线进行计算, 提高了套管壁厚计算值的准确性。
     二、 因为地层密度不同, 地层对伽玛光子的散射和吸收的能力也不同, 远近探测器 计数率也就不同, 本发明考虑了地层密度的影响, 消除了因地层密度不同时对地层对探测 器计数率的影响, 提高了套管壁厚计算值的准确性。 三、 因为水泥环密度对远近探测器具有影响, 本发明考虑了不同水泥环密度的水 泥环对伽玛光子散射和吸收作用, 消除了因水泥环密度不同时水泥环对探测器计数率的影 响, 提高了套管壁厚计算值的准确性, 本发明可准确测量出井下套管壁厚, 且能够在不同解 释平台下实现。
     附图说明
     图 1 为地层密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系图 图 2 为水泥环密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系图。具体实施方式
     一种井下套管壁厚测量方法, 根据远近探测器的计数率曲线, 消除地层密度与水 泥环密度对套管壁厚计算值的影响, 利用回归方法, 建立套管壁厚计算公式计算得出套管 壁厚度。
     具体过程如下 : ①根据近探测器计数率 (TL) 、 远探测器计数率 (PL) , 利用回归方法建立计算套管壁 厚方法 : TH=THST - K*LN(TL/TLST)+LN(PL/PLST)+ △ TH 上式中, TH 为计算壁厚值, THST 为标准套管壁厚值, K 为刻度系数, TL 为近探测器计数 率值, TLST 为标准取值井段平均计数率值, PL 为远探测器计数率值, PLST 为标准取值井段平 均计数率值, △ TH 为地层密度和水泥环密度在套管壁厚计算时的校正量。
     ②利用地层密度不同时, 地层密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的 关系, 得出地层密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系为一元二次关系式。③利用水泥环密度不同时, 水泥环密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系, 得出水泥环密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 的关系为一元一次关 系式。
     由以上地层密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△ TH 为一元二次关系, 水 泥浆密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差 △ TH 为一元一次关系, 利用回归方法, 得到△ TH 的表达式 : 2 △ TH= (-0.75ρ 地层 +5.24ρ 地层 -1.54ρ 水泥浆 )-8 上式中,THST 为标准套管壁厚值, ρ 地层为地层密度, ρ 水泥浆为水泥浆密度。

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资源描述

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1、10申请公布号CN102061911A43申请公布日20110518CN102061911ACN102061911A21申请号201010585175522申请日20101213E21B49/00200601E21B33/1420060171申请人中国石油集团川庆钻探工程有限公司地址610051四川省成都市成华区府青路1段3号川庆钻探公司科技信息处72发明人吉人殷增华刘文龙赵中明74专利代理机构成都天嘉专利事务所普通合伙51211代理人毛光军54发明名称井下套管壁厚测量方法57摘要本发明公开了一种井下套管壁厚测量方法,根据远近探测器的计数率曲线,消除地层密度与水泥环密度对套管壁厚计算值的影响,。

2、利用回归方法,建立套管壁厚计算公式计算得出套管壁厚度。本发明采用远近探测器计数率进行计算,并消除了由于地层密度和水泥环密度不同时地层和水泥环对探测器计数率的影响,提高了井下套管壁厚的计算准确性。51INTCL19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书3页附图1页CN102061917A1/1页21一种井下套管壁厚测量方法,其特征在于根据远近探测器的计数率曲线,消除地层密度与水泥环密度对套管壁厚计算值的影响,利用回归方法,建立套管壁厚计算公式计算得出套管壁厚度。2根据权利要求1所述的井下套管壁厚测量方法,其特征在于所述套管壁厚计算公式的建立方法为,根据近探测器计数率TL。

3、、远探测器计数率PL,利用回归方法建立计算公式THTHSTKLNTL/TLSTLNPL/PLSTTH上式中,TH为计算壁厚值,THST为标准套管壁厚值,K为刻度系数,TL为近探测器计数率值,TLST为标准取值井段平均计数率值,PL为远探测器计数率值,PLST为标准取值井段平均计数率值,TH为地层密度和水泥环密度在套管壁厚计算时的校正量。3根据权利要求2所述的井下套管壁厚测量方法,其特征在于地层密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH为一元二次关系,水泥浆密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH为一元一次关系,利用回归方法,得到TH的表达式TH0752地层524地层154水泥浆8其中,THST为。

4、标准套管壁厚值,地层为地层密度,水泥浆为水泥浆密度。4根据权利要求3所述的井下套管壁厚测量方法,其特征在于利用地层密度不同时,地层密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系,得出地层密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系为一元二次关系式。5根据权利要求3或4所述的井下套管壁厚测量方法,其特征在于利用水泥环密度不同时,水泥环密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系,得出水泥环密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系为一元一次关系式。权利要求书CN102061911ACN102061917A1/3页3井下套管壁厚测量方法技术领域0001本发明涉及一种油田中的套管的测量方法,。

5、尤其涉及一种井下套管壁厚测量方法,适用于井下套管的损伤评价。背景技术0002目前伽玛密度套管壁厚的测量方法,只利用了近探测器计数率值进行计算,并没有利用远探测器计数率值,且也没有考虑地层密度、水泥环的密度不同对探测器伽玛光子计数率的影响,所计算出的套管壁厚与实际的套管壁厚存在较大的差异,影响了下一步施工决策。产生上述问题的主要原因在于现有计算方法只用近探测器计数率值进行计算;没有考虑地层密度不同时地层对伽玛光子的散射和吸收作用;没有考虑水泥环密度不同时,水泥环对伽玛光子的散射和吸收作用。0003中国专利号“2006200938817”公开了一种伽玛密度厚度测井仪刻度装置,申请日为2006年10。

6、月28日,授权公告日为2007年10月17日,其由套管接箍、上钢板、内部套管外部套管、钢筋、下钢板和G级固井水泥组成,外部套管内设有长度相同壁厚不同的内部套管组合,内外套管壁之间用G级固井水泥固结;内、外套管上、下方分别焊接有上钢板和下钢板,外部套管外侧上、下钢板之间沿周向均布焊接有根钢筋将上、下钢板拉住,内部套管上端与套管接箍相连接。另外,房舟等在2006年5月天然气工业的“钻井工程”中提出了“膨胀管壁厚计算研究”。前述的专利技术仅用于套管外水泥胶结环的有无和成份进行检测,以此确定固井完井质量高低。后述的“膨胀管壁厚计算研究”只适合于测量膨胀管的壁厚。发明内容0004本发明的目的在于克服现有。

7、伽玛密度套管壁厚的测量方法存在的上述问题,提供一种井下套管壁厚测量方法,本发明采用远近探测器计数率进行计算,并消除了由于地层密度和水泥环密度不同时地层和水泥环对探测器计数率的影响,提高了井下套管壁厚的计算准确性。0005为实现上述目的,本发明采用的技术方案如下一种井下套管壁厚测量方法,其特征在于根据远近探测器的计数率曲线,消除地层密度与水泥环密度对套管壁厚计算值的影响,利用回归方法,建立套管壁厚计算公式计算得出套管壁厚度。0006所述套管壁厚计算公式的建立方法为,根据近探测器计数率TL、远探测器计数率PL,利用回归方法建立计算公式THTHSTKLNTL/TLSTLNPL/PLSTTH上式中,T。

8、H为计算壁厚值,THST为标准套管壁厚值,K为刻度系数,TL为近探测器计数率值,TLST为标准取值井段平均计数率值,PL为远探测器计数率值,PLST为标准取值井段平均计数率值,TH为地层密度和水泥环密度在套管壁厚计算时的校正量。说明书CN102061911ACN102061917A2/3页40007所述地层密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH为一元二次关系,水泥浆密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH为一元一次关系,利用回归方法,得到TH的表达式TH0752地层524地层154水泥浆8其中,THST为标准套管壁厚值,地层为地层密度,水泥浆为水泥浆密度。0008所述利用地层密度不同时,地层。

9、密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系,得出地层密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系为一元二次关系式。0009所述利用水泥环密度不同时,水泥环密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系,得出水泥环密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系为一元一次关系式。0010采用本发明的优点在于一、本发明利用了远近探测器计数率曲线进行计算,提高了套管壁厚计算值的准确性。0011二、因为地层密度不同,地层对伽玛光子的散射和吸收的能力也不同,远近探测器计数率也就不同,本发明考虑了地层密度的影响,消除了因地层密度不同时对地层对探测器计数率的影响,提高了套管壁厚计算值的准确性。0012三。

10、、因为水泥环密度对远近探测器具有影响,本发明考虑了不同水泥环密度的水泥环对伽玛光子散射和吸收作用,消除了因水泥环密度不同时水泥环对探测器计数率的影响,提高了套管壁厚计算值的准确性,本发明可准确测量出井下套管壁厚,且能够在不同解释平台下实现。附图说明0013图1为地层密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系图图2为水泥环密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系图。具体实施方式0014一种井下套管壁厚测量方法,根据远近探测器的计数率曲线,消除地层密度与水泥环密度对套管壁厚计算值的影响,利用回归方法,建立套管壁厚计算公式计算得出套管壁厚度。0015具体过程如下根据近探测器计数率(TL)、。

11、远探测器计数率(PL),利用回归方法建立计算套管壁厚方法THTHSTKLNTL/TLSTLNPL/PLSTTH上式中,TH为计算壁厚值,THST为标准套管壁厚值,K为刻度系数,TL为近探测器计数率值,TLST为标准取值井段平均计数率值,PL为远探测器计数率值,PLST为标准取值井段平均计数率值,TH为地层密度和水泥环密度在套管壁厚计算时的校正量。0016利用地层密度不同时,地层密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系,得出地层密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系为一元二次关系式。说明书CN102061911ACN102061917A3/3页50017利用水泥环密度不同时,水泥环密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系,得出水泥环密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差TH的关系为一元一次关系式。0018由以上地层密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH为一元二次关系,水泥浆密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差TH为一元一次关系,利用回归方法,得到TH的表达式TH0752地层524地层154水泥浆8上式中,THST为标准套管壁厚值,地层为地层密度,水泥浆为水泥浆密度。说明书CN102061911ACN102061917A1/1页6图1图2说明书附图CN102061911A。

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