判断触碰位置的方法.pdf

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摘要
申请专利号:

CN201010517277.3

申请日:

2010.10.19

公开号:

CN101976157A

公开日:

2011.02.16

当前法律状态:

授权

有效性:

有权

法律详情:

授权|||实质审查的生效IPC(主分类):G06F 3/042申请日:20101019|||公开

IPC分类号:

G06F3/042

主分类号:

G06F3/042

申请人:

友达光电股份有限公司

发明人:

曾泓玮; 白承丘; 曾淑雯; 卓恩宗

地址:

中国台湾新竹市

优先权:

专利代理机构:

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人:

史新宏

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内容摘要

一种判断触碰位置的方法,适于一光学式触控面板,其中光学式触控面板内建有多个以矩阵方式排列且分别对应的可见光与不可见光的感测器,而此方法包括:读取每一可见光与不可见光感测器的感测信号;根据第一设定参数转换每一可见光感测器的感测信号为第一二进制码,并且根据第二与第三设定参数转换每一不可见光感测器的感测信号为第二二进制码;以及将所有第一二进制码与所有第二二进制码进行一与运算,藉以获得多个逻辑运算值来判断一使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。

权利要求书

1: 一种判断触碰位置的方法, 适于光学式触控面板, 其中该光学式触控面板内建有多 个以矩阵方式排列且分别对应的可见光与不可见光的感测器, 而该方法包括 : 读取每一可见光与不可见光的感测器的感测信号 ; 根据第一设定参数转换每一可见光的感测器的感测信号为第一二进制码, 并且根据第 二与第三设定参数转换每一不可见光的感测器的感测信号为第二二进制码 ; 以及 将所有第一二进制码与所有第二二进制码进行与运算, 藉以获得多个逻辑运算值来判 断使用者于该光学式触控面板上所触碰的位置。
2: 根据权利要求 1 所述的判断触碰位置的方法, 其中当该多个逻辑运算值皆为逻辑 “0” 时, 则表示该使用者并未于该光学式触控面板上进行触碰。
3: 根据权利要求 1 所述的判断触碰位置的方法, 其中当该多个逻辑运算值中有部分为 逻辑 “1” 时, 则表示该使用者有于该光学式触控面板上进行触碰。
4: 根据权利要求 3 所述的判断触碰位置的方法, 其中具有逻辑 “1” 的所有逻辑运算值 所对应的可见光与不可见光的感测器在该光学式触控面板上涵盖至少一触碰区域, 而该方 法还包括 : 对该触碰区域进行中心点运算, 藉以获得该使用者于该光学式触控面板上所触碰的位 置的触碰参数。
5: 根据权利要求 4 所述的判断触碰位置的方法, 其中对该触碰区域进行该中心点运算 之后, 该方法还包括 : 判断该触碰区域是否大于预设区域。
6: 根据权利要求 5 所述的判断触碰位置的方法, 其中当判断出该触碰区域大于该预设 区域时, 则将具有逻辑 “1” 的所有逻辑运算值设定为逻辑 “0” , 否则输出该触碰参数以致使 该光学式触控面板进行相应的运作。
7: 根据权利要求 1 所述的判断触碰位置的方法, 其中在读取每一可见光与不可见光的 感测器的感测信号时, 该方法还包括 : 通过平均滤波手段来消除每一可见光与不可见光的感测器的感测信号的噪声。
8: 根据权利要求 1 所述的判断触碰位置的方法, 其中在转换每一可见光与不可见光的 感测器的感测信号之前, 该方法还包括 : 对已损毁的可见光与不可见光的感测器的感测信号进行修补机制。
9: 根据权利要求 8 所述的判断触碰位置的方法, 其中该修补机制包括 : 依据部分未损毁的可见光的感测器的感测信号来修补已损毁的可见光的感测器的感 测信号 ; 以及 依据部分未损毁的不可见光的感测器的感测信号来修补已损毁的不可见光的感测器 的感测信号。
10: 根据权利要求 9 所述的判断触碰位置的方法, 其中 : 所述部分未损毁的可见光的感测器邻近于已损毁的可见光的感测器 ; 以及 所述部分未损毁的不可见光的感测器邻近于已损毁的不可见光的感测器。
11: 根据权利要求 10 所述的判断触碰位置的方法, 其中 : 修补过后的已损毁的可见光的感测器的感测信号至少为所述部分未损毁的可见光的 感测器的感测信号的内插值 ; 以及 2 修补过后的已损毁的不可见光的感测器的感测信号至少为所述部分未损毁的不可见 光的感测器的感测信号的内插值。

说明书


判断触碰位置的方法

    技术领域 本发明是有关于一种触控技术, 且特别是有关于一种于光学式触控面板上判断触 碰位置的方法。
     背景技术 随着信息技术、 无线移动通讯和信息家电的快速发展与应用, 为了达到操作更人 性化的目的, 许多信息产品已由传统的键盘或鼠标等输入装置, 转变为使用触控面板作为 输入装置。目前, 触控面板大致可区分为电阻式触控面板、 电容式触控面板、 声波式触控面 板、 电磁式触控面板及光学式触控面板等。
     以光学式触控面板为例, 已有部分的光学式触控面板导入不可见光光源与不可见 光感测器来辅助判断使用者于触控面上的定位。更清楚来说, 当使用者的手指接触到触控 面时, 所导入的不可见光源所发出的不可见光光束会反射。 如此一来, 位于手指与触控面的 接触点下方的不可见光感测器就会接收到一感测信号, 藉以判断出使用者于光学式触控面 板的触碰位置。然而, 当外界环境光过强时, 此类的光学式触控面板就很容易发生误操作。
     发明内容 有鉴于此, 本发明提供一种判断触碰位置的方法, 其可使光学式触控面板不易受 到环境光的影响而发生误操作。
     本发明提供一种判断触碰位置的方法, 适于一光学式触控面板, 其中光学式触控 面板内建有多个以矩阵方式排列且分别对应的可见光与不可见光的感测器, 而此方法包 括: 读取每一可见光与不可见光感测器的感测信号 ; 根据第一设定参数转换每一可见光感 测器的感测信号为第一二进制码, 并且根据第二与第三设定参数转换每一不可见光感测器 的感测信号为第二二进制码 ; 以及将所有第一二进制码与所有第二二进制码进行一与运 算, 藉以获得多个逻辑运算值来判断一使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。
     基于上述, 在本发明的判断触碰位置的方法中, 通过将转换自可见光感测器的感 测信号与不可见光感测器的感测信号的第一二进制码和第二二进制码进行一与运算后就 可准确地判断出使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。如此一来, 不但可使触碰位置 的判断不易受到外界环境光的影响, 而且还可以降低光学式触控面板受环境光的影响而发 生误操作的机率。
     为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂, 下文特举实施例, 并配合所附图式 作详细说明如下。
     附图说明
     图 1 为本发明一实施例的判断触碰位置方法所适用的光学式触控面板示意图。 图 2 为本发明一实施例的光学式触控面板上视示意图。 图 3 为本发明一实施例的判断触碰位置的方法流程图。图 4 为本发明一实施例的平均滤波方法示意图。
     图 5 为本发明一实施例的修补机制方法示意图。
     图 6 中示出本发明一实施例的可见光感测器的感测信号转换为第一二进制码的 示意图。
     图 7 中示出本发明一实施例的不可见光感测器的感测信号转换为第二二进制码 的示意图。
     图 8、 图 9、 图 10 为本发明一实施例的感测信号转换为二进制码, 并且进行与运算 的示意图。
     图 11 为本发明一实施例的转换二进制码与进行与运算的硬件架构示意图。
     图 12 为本发明一实施例的光学式触控面板操作示意图。
     [ 主要元件标号说明 ]
     100 : 光学式触控面板
     110 : 背光源
     112、 114 : 发光元件
     120 : 下偏光板
     130 : 薄膜晶体管阵列基板
     140 : 显示介质层
     150 : 彩色滤光片
     160 : 上偏光板
     Sv、 S1、 Svb、 S1b : 感测器
     S1 : 触控面
     L、 L’ : 光束
     P、 Rt、 RS、 R、 Re : 区域
     Vv、 VU、 VD、 VL、 VR、 V’ 、 Vi、 : 模拟转数字信号
     Vth1、 Vth2、 Vth3 : 设定参数
     B1、 B2 : 二进制码
     C: 逻辑运算值
     F: 手指
     H: 手 具体实施方式
     图 1 为本发明一实施例的判断触碰位置方法所适用的光学式触控面板示意图。请 参照图 1, 在本实施例中, 光学式触控面板 100 可包括多个以矩阵方式排列且分别对应的可 见光的感测器 Sv 与不可见光的感测器 S1。举例而言, 光学式触控面板 100 可包括 4×4 个 以矩阵方式排列的可见光的感测器 Sv 与 4×4 个以矩阵方式排列的不可见光的感测器 Si, 且各可见光的感测器 Sv 与不可见光的感测器 S1 相对应。较佳地是, 各相对的可见光的感测 器 Sv 与不可见光的感测器 S1 位于同一像素区域 P 内, 如图 2 中所示。
     请参照图 1, 在本实施例中, 光学式触控面板 100 还可包括背光源 110。此背光源 110 可具有可见光发光元件 112 与不可见光发光元件 114。可见光发光元件 112 适于向触控面 St( 也是显示面 ) 发出一可见光光束 L 以供显示之用。不可见光发光元件 114 适于向 触控面 St 发出一不可见光光束 L’ 以供判断触碰位置之用。
     在本实施例中, 光学式触控面板 100 可进一步地包括下偏光板 120、 薄膜晶体管阵 列基板 130、 显示介质层 140、 彩色滤光片 150 以及上偏光板 160。下偏光板 120 配置于背 光源 110 上方。薄膜晶体管阵列基板 130 配置于下偏光板 120 上方, 此薄膜晶体管阵列基 板 130 可具有上述的不可见光的感测器 S1、 可见光的感测器 Sv、 多个 ( 薄膜 ) 晶体管 ( 未绘 示 )、 多条数据线 ( 未绘示 ) 以及多条扫描线 ( 未绘示 )。彩色滤光片 150 配置于薄膜晶体 管阵列基板 130 上方。显示介质层 140 配置于薄膜晶体管阵列基板 130 与彩色滤光片 150 之间。上偏光板 160 配置于彩色滤光片 150 上方。
     然而, 本实施例的判断触碰位置的方法并不仅限于适用在上述的光学式触控面板 100 的结构中。亦即 : 任何包括可见光与不可见光感测器的光学式触控面板, 本实施例的判 断触碰位置的方法就适用。
     基于上述, 图 3 为本发明一实施例的判断触碰位置的方法流程图。请参照图 3, 此方法至少适用于图 1 的光学式触控面板 100, 且其包括 : 读取每一可见光与不可见光感 测器的感测信号 ( 步骤 S301) ; 根据第一设定参数转换每一可见光感测器的感测信号为第 一二进制码, 并且根据第二与第三设定参数转换每一不可见光感测器的感测信号为第二二 进制码 ( 步骤 S302) ; 以及将所有第一二进制码与所有第二二进制码进行一与运算 ( 步骤 S303), 藉以获得多个逻辑运算值来判断使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。 更清楚来说, 可见光感测器 Sv 与不可见光感测器 Si 的感测信号 Vv、 V1 可能会受其 它信号 ( 例如输入数据线的信号 ) 干扰而产升噪声 (noise)。 因此, 在本实施例的判断触碰 位置方法中, 可以在读取每一可见光感测器 Sv 与不可见光感测器 S1 的感测信号时, 通过平 均滤波手段来消除每一可见光感测器 Sv 与不可见光感测器 S1 的感测信号 Vv、 V1 的噪声。
     举例而言, 当光学式触控面板 100 的数据写入方式为点反转 (dotinversion) 时, 可将光学式触控面板 100 中的每一可见光感测器的感测信号 Vv( 例如 512 单位的模拟转数 字信号 ) 平均滤波为与其相邻的上下左右四个可见光感测器的感测信号 VU、 VD、 VL、 VR( 例如 510、 525, 525、 510 单位的模拟转数字信号 ) 的平均 V’ ( 例如 516 单位的模拟转数字信号 ), 而有效地消除可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 的噪声, 如图 4 中所示。当然, 亦可通过相同 的方式以将不可见光感测器 S1 的感测信号 Vi 的噪声有效地消除。然, 本发明不限于此, 在 其它实施例中, 亦可通过其它有效的滤除噪声的手段来消除可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 与不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 的噪声。
     值得一提的是, 消除可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 与不可见光感测器 S1 的感测 信号 V1 的噪声并不限于在读取感测信号 Vv、 V1 时进行。在其它实施例中, 亦可在读取感测 信号 Vv、 V1 后, 转换感测信号 Vv、 V1 之前, 进行消除可见光感测器感 Sv 的测信号 Vv 以及不可 见光感测器 S1 的感测信号 V1 的噪声。一且端视实际设计需求而论。
     另外, 在光学式触控面板 100 的制造过程中, 可能会产生缺陷 (defect), 进而造成 可见光感测器 Sv 与不可见光感测器 S1 的损毁。亦即 : 部分的可见光感测器 Sv 与不可见光 感测器 Si 无法产生感测信号 Vv、 V1。 因此, 本实施例的判断触碰位置的方法更可以在转换每 一可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 与不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 之前, 针对已损毁的 可见光感测器 Sv 与不可见光感测器 S1 的感测信号 Vv、 V1 进行一修补机制。
     更清楚来说, 请参照图 5, 在本实施例中, 可依据部分未损毁的可见光感测器 Sv 的 感测信号 Vv 来修补已损毁的可见光感测器 Svb 的感测信号, 以及依据部分未损毁的不可见 光感测器 S1 的感测信号 V1 来修补已损毁的不可见光感测器 Sib 的感测信号。较佳地是, 以 邻近于已损毁的可见光感测器 Svb 的可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 来修补已损毁的可见光 感测器 Svb 的感测信号, 并且以邻近于已损毁的不可见光感测器 Sib 的不可见光感测器 S1 的 感测信号 V1 来修补已损毁的不可见光感测器 S1b 的感测信号。
     举例而言, 若在光学式触控面板 100 的制造过程中产生线缺陷 (linedefect), 而 造成某一行的已损毁的可见光感测器与 Svb 与不可见光感测器 S1b 的感测信号 Vv、 V1 无法产 生的情形 ( 如图 5 中所示 )。此时, 可运用位于已损毁的可见光感测器 Svb 左右两侧的未损 毁的可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 进行内插 (interpolation), 藉以获得一内插值, 并以 此内插值当作已损毁的可见光感测器 Svb 的感测信号 Vv。 同样地, 可运用位于已损毁的不可 见光感测器 S1b 左右两侧的未损毁的不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 进行内插, 藉以获得 一内插值, 并以此内插值当作已损毁的不可见光感测器 S1b 的感测信号 V1。如此一来, 即便 光学式触控面板 100 在其制造过程中产生缺陷, 仍可顺利地读取所有可见光感测器 Sv 与不 可见光感测器 Si 的感测信号 Vv、 Vi, 藉以作为判断触碰位置的依据。 于本实施例中, 在读取完每一可见光感测器 Sv 与不可见光感测器 S1 的感测信号 Vv、 V1 之后, 即可根据第一设定参数 Vth1 转换每一可见光的感测器 Sv 的感测信号 Vv 为第一二 进制码 B1(binary code), 并且根据第二与第三设定参数 Vth2、 Vth3 转换每一不可见光的感测 器 Si 的感测信号 V1 为第二二进制码 B2(binary code)。
     图 6 中示出本发明一实施例的可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 转换为第一二进制 码 B1 的示意图。 请参照图 6, 举例而言, 当可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 大于或等于第一设 定参数 Vth1( 例如为 500 单位的模拟转数字信号, 500ADC)( 但并不限制于此 ) 时, 则可见光 感测器 Sv 的感测信号 Vv 会被转换为例如逻辑 “0” 的第一二进制码 B1。另外, 当可见光的感 测器 Sv 的感测信号 Vv 小于第一设定参数 Vth1( 例如为 500 单位的模拟转数字信号, 500ADC) 时, 则可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 会被转换为例如逻辑 “1” 的第一二进制码 B1。
     另一方面, 图 7 中示出本发明一实施例的不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 转换为 第二二进制码 B2 的示意图。请参照图 7, 举例而言, 当不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 小 于或等于第二设定参数 Vth2 或者大于或等于第三设定参数 Vth3 时, 则不可见光的感测器 Si 的感测信号 Vi 会被转换为例如逻辑 “0” 的第二二进制码 B2。另外, 当不可见光的感测器 S1 的感测信号 Vi 大于第二设定参数 Vth2 且小于第三设定参数 Vth3 时, 则不可见光的感测器 S1 的感测信号 V1 会被转换为例如逻辑 “1” 的第二二进制码 B2。
     于此, 图 8 为本发明一实施例的感测信号 Vv、 V1 转换为二进制码 (binarycode)B1、 B2, 并且进行与运算 (AND operation) 的示意图。请同时参照图 6 ~图 8, 举例而言, 在一低 环境光强度 ( 例如 400 流明 ) 的环境下, 当使用者手指 F 触碰光学式触控面板 100 的一触 碰区域 Rt 时, 此触碰区域 Rt 下的可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 例如为 150 单位~ 200 单 位的模拟转数字信号 (150ADC ~ 200ADC)。依照图 6 所示, 此触碰区域 Rt 下的可见光感测 器 Sv 的感测信号 Vv 会被转换为逻辑 “1” 的第一二进制码 B1( 在图 8 中以黑色代表 )。
     另外, 在光学式触控面板 100 中被使用者手指 F 遮蔽但未触碰的阴影区 RS, 其下 的可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 例如为 50 单位的模拟转数字信号 (50ADC)。依照图 6 所
     示, 此阴影区 RS 下的可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 会被转换为逻辑 “1” 的第一二进制码 B1( 在图 8 中以黑色代表 )。再者, 在光学式触控面板 100 中未被使用者手指 F 遮蔽或触碰 的环境光区 R, 其下的可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 例如为 100 单位的模拟转数字信号 (100ADC)。依照图 6 所示, 此环境光区 R 下的可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 会被转换为逻 辑 “1” 的第一二进制码 B1( 在图 8 中以黑色代表 )。
     与此同时, 触碰区域 Rt 下的不可见光感测器 Si 的感测信号 Vi 例如为 120 ~ 150 单 位的模拟转数字信号 (120ADC ~ 150ADC)。依照图 7 所示, 此触碰区域 R1 下的不可见光感 测器 S1 的感测信号 Vi 会被转换为逻辑 “1” 的第二二进制码 B2( 在图 8 中以黑色代表 )。另 外, 阴影区 RS 下的不可见光感测器 Si 的感测信号 V1 例如为小于 (100) 单位的模拟转数字 信号 ((100)ADC)。依照图 7 所示, 此阴影区 RS 下的不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 会被 转换为逻辑 “0” 的第二二进制码 B2( 在图 8 中以白色代表 )。再者, 环境光区 R 下的不可见 光感测器 S1 的感测信号 Vi 例如为小于 (100) 单位的模拟转数字信号 ((100)ADC)。依照图 7 所示, 此环境光区 R 下的不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 会被转换为逻辑 “0” 的第二二 进制码 B2( 在图 8 中以白色代表 )。
     在获得所有感测信号 Vv、 Vi 分别对应的二进制码 B1 与 B2 后, 将所有第一二进制码 B1 与所有第二二进制码 B2 进行一与运算 (AND operation), 便可获得图 8 中的逻辑运算值 字段的多个逻辑运算值 C( 黑色代表 0, 白色代表 1)。由图 8 可知, 逻辑运算值 C 为 “1” 的区 域 ( 黑色区域 ) 即为使用者手指 F 实质上触碰的区域 ; 而逻辑运算值 C 为 “0” 的区域 ( 白 色区域 ) 即为使用者手指 F 未触碰的区域。换句话说, 依据所有第一二进制码 B1 与所有第 二二进制码 B2 进行一与运算 (AND operation) 所获得的逻辑运算值 C, 就可判断使用者于 光学式触控面板 100 上所触碰的区域。
     相似的, 图 9 为本发明一实施例的感测信号 Vv、 V1 转换为二进制码 (binarycode) B1、 B2, 并且进行与运算 (AND operation) 的示意图。 请同时参照图 6、 图 7 与图 9, 举例而言, 在一中环境光强度 ( 例如 2000 流明 ) 的环境下, 当使用者手指 F 触碰光学式触控面板 100 的一触碰区域 Rt 时, 此触碰区域 Rt 下的不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 例如为 120 ~ 150 单位的模拟转数字信号 (120ADC ~ 150ADC)。依照图 7 所示, 此触碰区域 Rt 下的不可见光 感测器 S1 的感测信号 V1 会被转换为逻辑 “1” 的第二二进制码 B2( 在图 9 中以黑色代表 )。
     另外, 在光学式触控面板 100 中被使用者手指 F 遮蔽但未触碰的阴影区 RS, 其下的 不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 例如为 80 单位的模拟转数字信号 (80ADC)。依照图 7 所 示, 此阴影区 RS 下的不可见光的感测器 S1 的感测信号 V1 会被转换为逻辑 “0” 的第二二进 制码 B2( 在图 9 中以白色代表 )。然而, 因此时的环境光强度较强, 使得环境光区 R 下的不 可见光感测器 S1 接收到较多来自环境光的不可见光, 从而使得环境光区 R 下的不可见光感 测器 S1 的感测信号 Vi 较大, 例如为 120 ~ 150 单位的模拟转数字信号 (120 ~ 150ADC)。依 照图 7 所示, 此环境光区 R 下的不可见光的感测器 Si 的感测信号 Vi 会被转换为逻辑 “1” 的 第二二进制码 B2( 在图 9 中以黑色代表 )。
     值得注意的是, 此时若仅依上述所有由不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 转换来的 第二二进制码 B2, 去判断使用者手指 F 触碰的区域, 则会发生误判的情形。更明白地说, 若 依上述的所有第二二进制码 B2 去判断使用者手指 F 实质上触碰的区域, 则会将使用者手指 F 实质上触碰的区域 Rt 及未触碰的环境光区 R 皆判断为使用者手指 F 接触的区域, 进而使得光学式触控面板 100 发生误操作。
     但, 在本实施例中, 可通过将所有第一二进制码 B1( 以图 8 所述及的方式来获取 ) 与所有第二二进制码 B2 进行与运算, 藉以获得多个逻辑运算值 C 来有效地判断使用者于光 学式触控面板 100 上所触碰的区域。更清楚地说, 通过所有第一二进制码 B1 与所有第二二 进制码 B2 的与运算, 可将对应环境光区 R 的逻辑 “1” 的第二二进制码 B2 变成 “0” 的逻辑运 算值 C。以至于, 此时逻辑运算值 C 为 1 的区域 ( 黑色区域 ) 即正确地代表出使用者实质上 触碰的区域。换句话说, 通过此将所有第一二进制码 B1 与所有第二二进制码 B2 进行与运算 的操作, 可有效地降低环境光的影响, 从而正确地计算出使用者实质上触碰的区域, 进而降 低光学式触控面板 100 发生误操作的机率。
     除此之外, 图 10 为本发明一实施例的感测信号 Vv、 V1 转换为二进制码 (binary code)B1、 B2, 并且进行与运算 (AND operation) 的示意图。请同时参照图 6、 图 7 与图 10, 举 例而言, 在一高环境光强度 ( 例如 5000 流明 ) 的环境下, 当使用者手指 F 触碰光学式触控 面板 100 的一触碰区域 Rt 时, 此触碰区域 Rt 下的不可见光感测器 S1 的感测信号 Vi 例如为 130 ~ 160 单位的模拟转数字信号 (130ADC ~ 160ADC)。依照图 7 所示, 此触碰区域 Rt 下的 不可见光感测器 S1 的感测信号 Vt 会被转换为逻辑 “1” 的第二二进制码 B2( 在图 10 中以黑 色代表 )。然而, 因此时的环境光强度很强, 使得使用者手指 F 边缘 ( 未与光学式触控面板 100 触碰 ) 下的区域 Re 接收到较多来自环境光的不可见光, 进而使得区域 Re 下的不可见光 感测器 S1 的感测信号 V1 较大, 例如为 130 ~ 160 单位的模拟转数字信号 (130 ~ 160ADC)。 依照图 7 所示, 此区域 Re 下的不可见光感测器 S1 的感测信号 Vi 亦会被转换为逻辑 “1” 的 第二二进制码 B2( 在图 10 中以黑色代表 )。
     相似地, 此时若依上述所有由不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 转换来的第二二进 制码 B2, 去判断使用者手指接触的区域, 则会发生误判的情形。更详细地说, 若依上述所第 二二进制码 B2 去判断使用者手指 F 接触的区域, 则会将使用者手指 F 触碰区域 Rt 及使用者 手指 F 边缘 ( 未与光学式触控面板 100 触碰 ) 下的区域 Re 皆判断使用者手指 F 实质上触 碰的区域, 进而使得光学式触控面板 100 发生误操作。
     但, 即使在高环境光强度下, 本实施例亦可通过将所有第一二进制码 B1( 以图 8 所 述及的方式来获取 ) 与所有第二二进制码 B2 进行与运算, 藉以有效地降低环境光的影响, 从而正确地判断使用者实质上触碰的区域。进一步地说, 即使在环境光发生巨大变化的情 形下, 本实施例仍可依据所有第一二进制码 B1 与所有第二二进制码 B2 进行与运算所获得的 逻辑运算值 C 以正确地判断出使用者实质上触碰的区域, 藉以大幅地降低环境光的影响。
     在此值得一提的是, 在本实施例中, 上述的转换可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 为 第一二进制码 B1、 转换不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 为第二二进制码 B2、 将所有第一二 进制码 B1 与所有第二二进制码 B2 进行与运算的步骤的操作可通过软件的形式来达成, 但本 发明不以此为限, 亦即在其它实施例中, 可通过如图 11 所示的硬件架构来完成上述步骤的 操作。更清楚来说, 可以利用比较器 CP1 来转换可见光感测器 Sv 的感测信号 Vv 为第一二进 制码 B1 ; 利用比较器 CP2 来转换不可见光感测器 S1 的感测信号 V1 为第二二进制码 B2 ; 以及 利用与非门 (NAND gate) 与反向器 (inverter) 以将所有第一二进制码 B1 与所有第二二进 制码 B2 进行与运算, 从而输出逻辑运算值 C。
     此外, 在将所有第一二进制码 B1 与所有第二二进制码 B2 进行与运算以判断出使用者实质上触碰区域后, 可进一步地对此触碰区域进行一中心点运算 ( 步骤 S304), 藉以获 得使用者于光学式触控面板 100 上所触碰的位置的一触碰参数。在本实施例中, 例如可利 用连通区域标定 (conneted componentlabeling) 方法进行中心点运算。然, 本发明不限于 此, 在其它实施例中, 亦可利用其它合适的方法进行中心点运算。 而在对触碰区域进行中心 点运算之后, 可进一步地判断此触碰区域是否大于一预设区域 ( 步骤 S305)。当判断出触 碰区域大于预设区域时 ( 亦即 “是” ), 则将具有逻辑 “1” 的所有逻辑运算值 C 设定为逻辑 “0” ( 步骤 S306), 否则 ( 亦即 “否” ) 输出触碰参数 ( 步骤 S307) 以使光学式触控面板 100 进行相应的运作。
     更清楚来说, 图 12 为本发明一实施例的光学式触控面板操作示意图。请参照图 12, 举例而言, 当使用者整只手 H 置于光学式触控面板 100 的触控面 S1, 且于步骤 S305 已判 断出触碰区域 (Area) 大于前述预设区域 ( 例如 (50 ~ 70)%的触控面 St 的面积, 但并不限 制于此 ), 则此时具有逻辑 “1” 的所有逻辑运算值 C 会被设定为逻辑 “0” , 亦即视使用者未想 对光学式触控面板 100 进行操作。换言之, 当使用者并非真的要操作光学式触控面板 100, 而只是将手放置于光学式触控面板触控面 St 上时, 光学式触控面板 100 便不会视使用者欲 进行操作而发生误操作的情况。 综上所述, 在本发明的判断触碰位置的方法中, 通过将转换自可见光感测器的感 测信号与不可见光感测器的感测信号的第一二进制码和第二二进制码进行一与运算后就 可准确地判断出使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。如此一来, 不但可使触碰位置 的判断不易受到外界环境光的影响, 而且还可以降低光学式触控面板受环境光的影响而发 生误操作的机率。
     虽然本发明已以实施例揭露如上, 然其并非用以限定本发明, 任何所属技术领域 中具有通常知识者, 在不脱离本发明的精神和范围内, 当可作些许的更动与润饰, 故本发明 的保护范围当视所附的权利要求范围所界定者为准。
    

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1、10申请公布号CN101976157A43申请公布日20110216CN101976157ACN101976157A21申请号201010517277322申请日20101019G06F3/04220060171申请人友达光电股份有限公司地址中国台湾新竹市72发明人曾泓玮白承丘曾淑雯卓恩宗74专利代理机构北京市柳沈律师事务所11105代理人史新宏54发明名称判断触碰位置的方法57摘要一种判断触碰位置的方法,适于一光学式触控面板,其中光学式触控面板内建有多个以矩阵方式排列且分别对应的可见光与不可见光的感测器,而此方法包括读取每一可见光与不可见光感测器的感测信号;根据第一设定参数转换每一可见光感测。

2、器的感测信号为第一二进制码,并且根据第二与第三设定参数转换每一不可见光感测器的感测信号为第二二进制码;以及将所有第一二进制码与所有第二二进制码进行一与运算,藉以获得多个逻辑运算值来判断一使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。51INTCL19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书2页说明书7页附图9页CN101976162A1/2页21一种判断触碰位置的方法,适于光学式触控面板,其中该光学式触控面板内建有多个以矩阵方式排列且分别对应的可见光与不可见光的感测器,而该方法包括读取每一可见光与不可见光的感测器的感测信号;根据第一设定参数转换每一可见光的感测器的感测信号为第一二进制码,。

3、并且根据第二与第三设定参数转换每一不可见光的感测器的感测信号为第二二进制码;以及将所有第一二进制码与所有第二二进制码进行与运算,藉以获得多个逻辑运算值来判断使用者于该光学式触控面板上所触碰的位置。2根据权利要求1所述的判断触碰位置的方法,其中当该多个逻辑运算值皆为逻辑“0”时,则表示该使用者并未于该光学式触控面板上进行触碰。3根据权利要求1所述的判断触碰位置的方法,其中当该多个逻辑运算值中有部分为逻辑“1”时,则表示该使用者有于该光学式触控面板上进行触碰。4根据权利要求3所述的判断触碰位置的方法,其中具有逻辑“1”的所有逻辑运算值所对应的可见光与不可见光的感测器在该光学式触控面板上涵盖至少一触。

4、碰区域,而该方法还包括对该触碰区域进行中心点运算,藉以获得该使用者于该光学式触控面板上所触碰的位置的触碰参数。5根据权利要求4所述的判断触碰位置的方法,其中对该触碰区域进行该中心点运算之后,该方法还包括判断该触碰区域是否大于预设区域。6根据权利要求5所述的判断触碰位置的方法,其中当判断出该触碰区域大于该预设区域时,则将具有逻辑“1”的所有逻辑运算值设定为逻辑“0”,否则输出该触碰参数以致使该光学式触控面板进行相应的运作。7根据权利要求1所述的判断触碰位置的方法,其中在读取每一可见光与不可见光的感测器的感测信号时,该方法还包括通过平均滤波手段来消除每一可见光与不可见光的感测器的感测信号的噪声。8。

5、根据权利要求1所述的判断触碰位置的方法,其中在转换每一可见光与不可见光的感测器的感测信号之前,该方法还包括对已损毁的可见光与不可见光的感测器的感测信号进行修补机制。9根据权利要求8所述的判断触碰位置的方法,其中该修补机制包括依据部分未损毁的可见光的感测器的感测信号来修补已损毁的可见光的感测器的感测信号;以及依据部分未损毁的不可见光的感测器的感测信号来修补已损毁的不可见光的感测器的感测信号。10根据权利要求9所述的判断触碰位置的方法,其中所述部分未损毁的可见光的感测器邻近于已损毁的可见光的感测器;以及所述部分未损毁的不可见光的感测器邻近于已损毁的不可见光的感测器。11根据权利要求10所述的判断触。

6、碰位置的方法,其中修补过后的已损毁的可见光的感测器的感测信号至少为所述部分未损毁的可见光的感测器的感测信号的内插值;以及权利要求书CN101976157ACN101976162A2/2页3修补过后的已损毁的不可见光的感测器的感测信号至少为所述部分未损毁的不可见光的感测器的感测信号的内插值。权利要求书CN101976157ACN101976162A1/7页4判断触碰位置的方法技术领域0001本发明是有关于一种触控技术,且特别是有关于一种于光学式触控面板上判断触碰位置的方法。背景技术0002随着信息技术、无线移动通讯和信息家电的快速发展与应用,为了达到操作更人性化的目的,许多信息产品已由传统的键盘。

7、或鼠标等输入装置,转变为使用触控面板作为输入装置。目前,触控面板大致可区分为电阻式触控面板、电容式触控面板、声波式触控面板、电磁式触控面板及光学式触控面板等。0003以光学式触控面板为例,已有部分的光学式触控面板导入不可见光光源与不可见光感测器来辅助判断使用者于触控面上的定位。更清楚来说,当使用者的手指接触到触控面时,所导入的不可见光源所发出的不可见光光束会反射。如此一来,位于手指与触控面的接触点下方的不可见光感测器就会接收到一感测信号,藉以判断出使用者于光学式触控面板的触碰位置。然而,当外界环境光过强时,此类的光学式触控面板就很容易发生误操作。发明内容0004有鉴于此,本发明提供一种判断触碰。

8、位置的方法,其可使光学式触控面板不易受到环境光的影响而发生误操作。0005本发明提供一种判断触碰位置的方法,适于一光学式触控面板,其中光学式触控面板内建有多个以矩阵方式排列且分别对应的可见光与不可见光的感测器,而此方法包括读取每一可见光与不可见光感测器的感测信号;根据第一设定参数转换每一可见光感测器的感测信号为第一二进制码,并且根据第二与第三设定参数转换每一不可见光感测器的感测信号为第二二进制码;以及将所有第一二进制码与所有第二二进制码进行一与运算,藉以获得多个逻辑运算值来判断一使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。0006基于上述,在本发明的判断触碰位置的方法中,通过将转换自可见光感测器的感。

9、测信号与不可见光感测器的感测信号的第一二进制码和第二二进制码进行一与运算后就可准确地判断出使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。如此一来,不但可使触碰位置的判断不易受到外界环境光的影响,而且还可以降低光学式触控面板受环境光的影响而发生误操作的机率。0007为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施例,并配合所附图式作详细说明如下。附图说明0008图1为本发明一实施例的判断触碰位置方法所适用的光学式触控面板示意图。0009图2为本发明一实施例的光学式触控面板上视示意图。0010图3为本发明一实施例的判断触碰位置的方法流程图。说明书CN101976157ACN101976162A2/7页。

10、50011图4为本发明一实施例的平均滤波方法示意图。0012图5为本发明一实施例的修补机制方法示意图。0013图6中示出本发明一实施例的可见光感测器的感测信号转换为第一二进制码的示意图。0014图7中示出本发明一实施例的不可见光感测器的感测信号转换为第二二进制码的示意图。0015图8、图9、图10为本发明一实施例的感测信号转换为二进制码,并且进行与运算的示意图。0016图11为本发明一实施例的转换二进制码与进行与运算的硬件架构示意图。0017图12为本发明一实施例的光学式触控面板操作示意图。0018主要元件标号说明0019100光学式触控面板0020110背光源0021112、114发光元件0。

11、022120下偏光板0023130薄膜晶体管阵列基板0024140显示介质层0025150彩色滤光片0026160上偏光板0027SV、S1、SVB、S1B感测器0028S1触控面0029L、L光束0030P、RT、RS、R、RE区域0031VV、VU、VD、VL、VR、V、VI、模拟转数字信号0032VTH1、VTH2、VTH3设定参数0033B1、B2二进制码0034C逻辑运算值0035F手指0036H手具体实施方式0037图1为本发明一实施例的判断触碰位置方法所适用的光学式触控面板示意图。请参照图1,在本实施例中,光学式触控面板100可包括多个以矩阵方式排列且分别对应的可见光的感测器SV。

12、与不可见光的感测器S1。举例而言,光学式触控面板100可包括44个以矩阵方式排列的可见光的感测器SV与44个以矩阵方式排列的不可见光的感测器SI,且各可见光的感测器SV与不可见光的感测器S1相对应。较佳地是,各相对的可见光的感测器SV与不可见光的感测器S1位于同一像素区域P内,如图2中所示。0038请参照图1,在本实施例中,光学式触控面板100还可包括背光源110。此背光源110可具有可见光发光元件112与不可见光发光元件114。可见光发光元件112适于向触说明书CN101976157ACN101976162A3/7页6控面ST也是显示面发出一可见光光束L以供显示之用。不可见光发光元件114适。

13、于向触控面ST发出一不可见光光束L以供判断触碰位置之用。0039在本实施例中,光学式触控面板100可进一步地包括下偏光板120、薄膜晶体管阵列基板130、显示介质层140、彩色滤光片150以及上偏光板160。下偏光板120配置于背光源110上方。薄膜晶体管阵列基板130配置于下偏光板120上方,此薄膜晶体管阵列基板130可具有上述的不可见光的感测器S1、可见光的感测器SV、多个薄膜晶体管未绘示、多条数据线未绘示以及多条扫描线未绘示。彩色滤光片150配置于薄膜晶体管阵列基板130上方。显示介质层140配置于薄膜晶体管阵列基板130与彩色滤光片150之间。上偏光板160配置于彩色滤光片150上方。。

14、0040然而,本实施例的判断触碰位置的方法并不仅限于适用在上述的光学式触控面板100的结构中。亦即任何包括可见光与不可见光感测器的光学式触控面板,本实施例的判断触碰位置的方法就适用。0041基于上述,图3为本发明一实施例的判断触碰位置的方法流程图。请参照图3,此方法至少适用于图1的光学式触控面板100,且其包括读取每一可见光与不可见光感测器的感测信号步骤S301;根据第一设定参数转换每一可见光感测器的感测信号为第一二进制码,并且根据第二与第三设定参数转换每一不可见光感测器的感测信号为第二二进制码步骤S302;以及将所有第一二进制码与所有第二二进制码进行一与运算步骤S303,藉以获得多个逻辑运算。

15、值来判断使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。0042更清楚来说,可见光感测器SV与不可见光感测器SI的感测信号VV、V1可能会受其它信号例如输入数据线的信号干扰而产升噪声NOISE。因此,在本实施例的判断触碰位置方法中,可以在读取每一可见光感测器SV与不可见光感测器S1的感测信号时,通过平均滤波手段来消除每一可见光感测器SV与不可见光感测器S1的感测信号VV、V1的噪声。0043举例而言,当光学式触控面板100的数据写入方式为点反转DOTINVERSION时,可将光学式触控面板100中的每一可见光感测器的感测信号VV例如512单位的模拟转数字信号平均滤波为与其相邻的上下左右四个可见光感测器的。

16、感测信号VU、VD、VL、VR例如510、525,525、510单位的模拟转数字信号的平均V例如516单位的模拟转数字信号,而有效地消除可见光感测器SV的感测信号VV的噪声,如图4中所示。当然,亦可通过相同的方式以将不可见光感测器S1的感测信号VI的噪声有效地消除。然,本发明不限于此,在其它实施例中,亦可通过其它有效的滤除噪声的手段来消除可见光感测器SV的感测信号VV与不可见光感测器S1的感测信号V1的噪声。0044值得一提的是,消除可见光感测器SV的感测信号VV与不可见光感测器S1的感测信号V1的噪声并不限于在读取感测信号VV、V1时进行。在其它实施例中,亦可在读取感测信号VV、V1后,转换。

17、感测信号VV、V1之前,进行消除可见光感测器感SV的测信号VV以及不可见光感测器S1的感测信号V1的噪声。一且端视实际设计需求而论。0045另外,在光学式触控面板100的制造过程中,可能会产生缺陷DEFECT,进而造成可见光感测器SV与不可见光感测器S1的损毁。亦即部分的可见光感测器SV与不可见光感测器SI无法产生感测信号VV、V1。因此,本实施例的判断触碰位置的方法更可以在转换每一可见光感测器SV的感测信号VV与不可见光感测器S1的感测信号V1之前,针对已损毁的可见光感测器SV与不可见光感测器S1的感测信号VV、V1进行一修补机制。说明书CN101976157ACN101976162A4/7。

18、页70046更清楚来说,请参照图5,在本实施例中,可依据部分未损毁的可见光感测器SV的感测信号VV来修补已损毁的可见光感测器SVB的感测信号,以及依据部分未损毁的不可见光感测器S1的感测信号V1来修补已损毁的不可见光感测器SIB的感测信号。较佳地是,以邻近于已损毁的可见光感测器SVB的可见光感测器SV的感测信号VV来修补已损毁的可见光感测器SVB的感测信号,并且以邻近于已损毁的不可见光感测器SIB的不可见光感测器S1的感测信号V1来修补已损毁的不可见光感测器S1B的感测信号。0047举例而言,若在光学式触控面板100的制造过程中产生线缺陷LINEDEFECT,而造成某一行的已损毁的可见光感测器。

19、与SVB与不可见光感测器S1B的感测信号VV、V1无法产生的情形如图5中所示。此时,可运用位于已损毁的可见光感测器SVB左右两侧的未损毁的可见光感测器SV的感测信号VV进行内插INTERPOLATION,藉以获得一内插值,并以此内插值当作已损毁的可见光感测器SVB的感测信号VV。同样地,可运用位于已损毁的不可见光感测器S1B左右两侧的未损毁的不可见光感测器S1的感测信号V1进行内插,藉以获得一内插值,并以此内插值当作已损毁的不可见光感测器S1B的感测信号V1。如此一来,即便光学式触控面板100在其制造过程中产生缺陷,仍可顺利地读取所有可见光感测器SV与不可见光感测器SI的感测信号VV、VI,藉。

20、以作为判断触碰位置的依据。0048于本实施例中,在读取完每一可见光感测器SV与不可见光感测器S1的感测信号VV、V1之后,即可根据第一设定参数VTH1转换每一可见光的感测器SV的感测信号VV为第一二进制码B1BINARYCODE,并且根据第二与第三设定参数VTH2、VTH3转换每一不可见光的感测器SI的感测信号V1为第二二进制码B2BINARYCODE。0049图6中示出本发明一实施例的可见光感测器SV的感测信号VV转换为第一二进制码B1的示意图。请参照图6,举例而言,当可见光感测器SV的感测信号VV大于或等于第一设定参数VTH1例如为500单位的模拟转数字信号,500ADC但并不限制于此时,。

21、则可见光感测器SV的感测信号VV会被转换为例如逻辑“0”的第一二进制码B1。另外,当可见光的感测器SV的感测信号VV小于第一设定参数VTH1例如为500单位的模拟转数字信号,500ADC时,则可见光感测器SV的感测信号VV会被转换为例如逻辑“1”的第一二进制码B1。0050另一方面,图7中示出本发明一实施例的不可见光感测器S1的感测信号V1转换为第二二进制码B2的示意图。请参照图7,举例而言,当不可见光感测器S1的感测信号V1小于或等于第二设定参数VTH2或者大于或等于第三设定参数VTH3时,则不可见光的感测器SI的感测信号VI会被转换为例如逻辑“0”的第二二进制码B2。另外,当不可见光的感测。

22、器S1的感测信号VI大于第二设定参数VTH2且小于第三设定参数VTH3时,则不可见光的感测器S1的感测信号V1会被转换为例如逻辑“1”的第二二进制码B2。0051于此,图8为本发明一实施例的感测信号VV、V1转换为二进制码BINARYCODEB1、B2,并且进行与运算ANDOPERATION的示意图。请同时参照图6图8,举例而言,在一低环境光强度例如400流明的环境下,当使用者手指F触碰光学式触控面板100的一触碰区域RT时,此触碰区域RT下的可见光感测器SV的感测信号VV例如为150单位200单位的模拟转数字信号150ADC200ADC。依照图6所示,此触碰区域RT下的可见光感测器SV的感测。

23、信号VV会被转换为逻辑“1”的第一二进制码B1在图8中以黑色代表。0052另外,在光学式触控面板100中被使用者手指F遮蔽但未触碰的阴影区RS,其下的可见光感测器SV的感测信号VV例如为50单位的模拟转数字信号50ADC。依照图6所说明书CN101976157ACN101976162A5/7页8示,此阴影区RS下的可见光感测器SV的感测信号VV会被转换为逻辑“1”的第一二进制码B1在图8中以黑色代表。再者,在光学式触控面板100中未被使用者手指F遮蔽或触碰的环境光区R,其下的可见光感测器SV的感测信号VV例如为100单位的模拟转数字信号100ADC。依照图6所示,此环境光区R下的可见光感测器S。

24、V的感测信号VV会被转换为逻辑“1”的第一二进制码B1在图8中以黑色代表。0053与此同时,触碰区域RT下的不可见光感测器SI的感测信号VI例如为120150单位的模拟转数字信号120ADC150ADC。依照图7所示,此触碰区域R1下的不可见光感测器S1的感测信号VI会被转换为逻辑“1”的第二二进制码B2在图8中以黑色代表。另外,阴影区RS下的不可见光感测器SI的感测信号V1例如为小于100单位的模拟转数字信号100ADC。依照图7所示,此阴影区RS下的不可见光感测器S1的感测信号V1会被转换为逻辑“0”的第二二进制码B2在图8中以白色代表。再者,环境光区R下的不可见光感测器S1的感测信号VI。

25、例如为小于100单位的模拟转数字信号100ADC。依照图7所示,此环境光区R下的不可见光感测器S1的感测信号V1会被转换为逻辑“0”的第二二进制码B2在图8中以白色代表。0054在获得所有感测信号VV、VI分别对应的二进制码B1与B2后,将所有第一二进制码B1与所有第二二进制码B2进行一与运算ANDOPERATION,便可获得图8中的逻辑运算值字段的多个逻辑运算值C黑色代表0,白色代表1。由图8可知,逻辑运算值C为“1”的区域黑色区域即为使用者手指F实质上触碰的区域;而逻辑运算值C为“0”的区域白色区域即为使用者手指F未触碰的区域。换句话说,依据所有第一二进制码B1与所有第二二进制码B2进行一。

26、与运算ANDOPERATION所获得的逻辑运算值C,就可判断使用者于光学式触控面板100上所触碰的区域。0055相似的,图9为本发明一实施例的感测信号VV、V1转换为二进制码BINARYCODEB1、B2,并且进行与运算ANDOPERATION的示意图。请同时参照图6、图7与图9,举例而言,在一中环境光强度例如2000流明的环境下,当使用者手指F触碰光学式触控面板100的一触碰区域RT时,此触碰区域RT下的不可见光感测器S1的感测信号V1例如为120150单位的模拟转数字信号120ADC150ADC。依照图7所示,此触碰区域RT下的不可见光感测器S1的感测信号V1会被转换为逻辑“1”的第二二进。

27、制码B2在图9中以黑色代表。0056另外,在光学式触控面板100中被使用者手指F遮蔽但未触碰的阴影区RS,其下的不可见光感测器S1的感测信号V1例如为80单位的模拟转数字信号80ADC。依照图7所示,此阴影区RS下的不可见光的感测器S1的感测信号V1会被转换为逻辑“0”的第二二进制码B2在图9中以白色代表。然而,因此时的环境光强度较强,使得环境光区R下的不可见光感测器S1接收到较多来自环境光的不可见光,从而使得环境光区R下的不可见光感测器S1的感测信号VI较大,例如为120150单位的模拟转数字信号120150ADC。依照图7所示,此环境光区R下的不可见光的感测器SI的感测信号VI会被转换为逻。

28、辑“1”的第二二进制码B2在图9中以黑色代表。0057值得注意的是,此时若仅依上述所有由不可见光感测器S1的感测信号V1转换来的第二二进制码B2,去判断使用者手指F触碰的区域,则会发生误判的情形。更明白地说,若依上述的所有第二二进制码B2去判断使用者手指F实质上触碰的区域,则会将使用者手指F实质上触碰的区域RT及未触碰的环境光区R皆判断为使用者手指F接触的区域,进而使说明书CN101976157ACN101976162A6/7页9得光学式触控面板100发生误操作。0058但,在本实施例中,可通过将所有第一二进制码B1以图8所述及的方式来获取与所有第二二进制码B2进行与运算,藉以获得多个逻辑运算。

29、值C来有效地判断使用者于光学式触控面板100上所触碰的区域。更清楚地说,通过所有第一二进制码B1与所有第二二进制码B2的与运算,可将对应环境光区R的逻辑“1”的第二二进制码B2变成“0”的逻辑运算值C。以至于,此时逻辑运算值C为1的区域黑色区域即正确地代表出使用者实质上触碰的区域。换句话说,通过此将所有第一二进制码B1与所有第二二进制码B2进行与运算的操作,可有效地降低环境光的影响,从而正确地计算出使用者实质上触碰的区域,进而降低光学式触控面板100发生误操作的机率。0059除此之外,图10为本发明一实施例的感测信号VV、V1转换为二进制码BINARYCODEB1、B2,并且进行与运算ANDO。

30、PERATION的示意图。请同时参照图6、图7与图10,举例而言,在一高环境光强度例如5000流明的环境下,当使用者手指F触碰光学式触控面板100的一触碰区域RT时,此触碰区域RT下的不可见光感测器S1的感测信号VI例如为130160单位的模拟转数字信号130ADC160ADC。依照图7所示,此触碰区域RT下的不可见光感测器S1的感测信号VT会被转换为逻辑“1”的第二二进制码B2在图10中以黑色代表。然而,因此时的环境光强度很强,使得使用者手指F边缘未与光学式触控面板100触碰下的区域RE接收到较多来自环境光的不可见光,进而使得区域RE下的不可见光感测器S1的感测信号V1较大,例如为13016。

31、0单位的模拟转数字信号130160ADC。依照图7所示,此区域RE下的不可见光感测器S1的感测信号VI亦会被转换为逻辑“1”的第二二进制码B2在图10中以黑色代表。0060相似地,此时若依上述所有由不可见光感测器S1的感测信号V1转换来的第二二进制码B2,去判断使用者手指接触的区域,则会发生误判的情形。更详细地说,若依上述所第二二进制码B2去判断使用者手指F接触的区域,则会将使用者手指F触碰区域RT及使用者手指F边缘未与光学式触控面板100触碰下的区域RE皆判断使用者手指F实质上触碰的区域,进而使得光学式触控面板100发生误操作。0061但,即使在高环境光强度下,本实施例亦可通过将所有第一二进。

32、制码B1以图8所述及的方式来获取与所有第二二进制码B2进行与运算,藉以有效地降低环境光的影响,从而正确地判断使用者实质上触碰的区域。进一步地说,即使在环境光发生巨大变化的情形下,本实施例仍可依据所有第一二进制码B1与所有第二二进制码B2进行与运算所获得的逻辑运算值C以正确地判断出使用者实质上触碰的区域,藉以大幅地降低环境光的影响。0062在此值得一提的是,在本实施例中,上述的转换可见光感测器SV的感测信号VV为第一二进制码B1、转换不可见光感测器S1的感测信号V1为第二二进制码B2、将所有第一二进制码B1与所有第二二进制码B2进行与运算的步骤的操作可通过软件的形式来达成,但本发明不以此为限,亦。

33、即在其它实施例中,可通过如图11所示的硬件架构来完成上述步骤的操作。更清楚来说,可以利用比较器CP1来转换可见光感测器SV的感测信号VV为第一二进制码B1;利用比较器CP2来转换不可见光感测器S1的感测信号V1为第二二进制码B2;以及利用与非门NANDGATE与反向器INVERTER以将所有第一二进制码B1与所有第二二进制码B2进行与运算,从而输出逻辑运算值C。0063此外,在将所有第一二进制码B1与所有第二二进制码B2进行与运算以判断出使说明书CN101976157ACN101976162A7/7页10用者实质上触碰区域后,可进一步地对此触碰区域进行一中心点运算步骤S304,藉以获得使用者于。

34、光学式触控面板100上所触碰的位置的一触碰参数。在本实施例中,例如可利用连通区域标定CONNETEDCOMPONENTLABELING方法进行中心点运算。然,本发明不限于此,在其它实施例中,亦可利用其它合适的方法进行中心点运算。而在对触碰区域进行中心点运算之后,可进一步地判断此触碰区域是否大于一预设区域步骤S305。当判断出触碰区域大于预设区域时亦即“是”,则将具有逻辑“1”的所有逻辑运算值C设定为逻辑“0”步骤S306,否则亦即“否”输出触碰参数步骤S307以使光学式触控面板100进行相应的运作。0064更清楚来说,图12为本发明一实施例的光学式触控面板操作示意图。请参照图12,举例而言,当。

35、使用者整只手H置于光学式触控面板100的触控面S1,且于步骤S305已判断出触碰区域AREA大于前述预设区域例如5070的触控面ST的面积,但并不限制于此,则此时具有逻辑“1”的所有逻辑运算值C会被设定为逻辑“0”,亦即视使用者未想对光学式触控面板100进行操作。换言之,当使用者并非真的要操作光学式触控面板100,而只是将手放置于光学式触控面板触控面ST上时,光学式触控面板100便不会视使用者欲进行操作而发生误操作的情况。0065综上所述,在本发明的判断触碰位置的方法中,通过将转换自可见光感测器的感测信号与不可见光感测器的感测信号的第一二进制码和第二二进制码进行一与运算后就可准确地判断出使用者。

36、于光学式触控面板上所触碰的位置。如此一来,不但可使触碰位置的判断不易受到外界环境光的影响,而且还可以降低光学式触控面板受环境光的影响而发生误操作的机率。0066虽然本发明已以实施例揭露如上,然其并非用以限定本发明,任何所属技术领域中具有通常知识者,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作些许的更动与润饰,故本发明的保护范围当视所附的权利要求范围所界定者为准。说明书CN101976157ACN101976162A1/9页11图1说明书附图CN101976157ACN101976162A2/9页12图2说明书附图CN101976157ACN101976162A3/9页13图3说明书附图CN101976157ACN101976162A4/9页14图4图5说明书附图CN101976157ACN101976162A5/9页15图6图7说明书附图CN101976157ACN101976162A6/9页16图8说明书附图CN101976157ACN101976162A7/9页17图9说明书附图CN101976157ACN101976162A8/9页18图10说明书附图CN101976157ACN101976162A9/9页19图11图12说明书附图CN101976157A。

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