用于测试液晶显示面板的设备和方法 本申请要求在2002年3月6日提交的韩国申请No.P2002-011969所要求的权益，在本文中通过完全参考加以引用。技术领域
本发明涉及一种液晶显示(Liquid crystal display，下文中称为“LCD”)面板，尤其涉及一种设备和方法，用于测试在一个大的母基板上制成的LCD面板切割成各个单位LCD板之后，单位LCD板的尺寸和切面状态。背景技术
通常，LCD装置显示预期图像是通过将根据图像信息的数据信号单独提供给以阵列形式排列的液晶显示单元，并通过液晶显示单元的液晶颗粒(molecules)来控制光透射。
LCD装置中，在大的母基板上形成薄膜晶体管(下文中称为“TFT”)阵列基板，在附加母基板上形成滤色片(color filter)。然后，通过附接(attach)这两个母基板，同时形成多个LCD面板。因为在一个大面积玻璃基板上同时形成多个LCD面板可以提高产量，所以要求将所附接的两个母基板切割成单位LCD板的过程。
传统上(conventionally)，切割过程包括：用比玻璃基板硬度高的笔在基板表面上形成预定切割线和沿预定切割线扩展裂纹(propagatingcrack)。单位LCD板切割过程将参考附图进行详细描述。
图1为用TFT阵列基板和滤色基板面对面附接在一起形成的LCD面板的平面示意图。
图1中，LCD面板10包括：图像显示器13、选通垫单元(gate pad unit)14和数据垫单元(date pad unit)15。其中，图像显示器13具有多个以阵列形式排列的液晶单元；选通垫(gate pad)单元14与图像显示器13的多条选通线附接；数据垫单元15与图像显示器13地多条数据线附接。
在TFT阵列基板1的边缘部形成选通垫单元14和数据垫单元15。边缘部与滤色基板2不重叠。
选通垫单元14将扫描信号从选通驱动器集成电路供应给图像显示器13的选通线。数据垫单元15将图像数据从数据驱动器集成电路供应给图像显示器13的数据线。
数据线接收图像信息，选通线接收扫描信号。数据线和选通线在图像显示器13的TFT阵列基板1上垂直相交。在每个相交部分，形成薄膜晶体管(TFT)，用于切换由数据线和选通线交叉所限定的液晶单元。在每个液晶单元中形成像素电极与TFT附接，用于驱动液晶单元。而且，在整个表面上形成保护膜(film)，用于保护像素电极和TFT。
在滤色基板2上形成多个滤色片。一个单元区域的滤色片与相邻单元区域的滤色片用黑色(black)阵列分开。在滤色基板2上形成对应于像素电极的一般公用(transparent)电极。
在TFT阵列基板1和滤色基板2之间形成单元间隙，使得两个基板分开并相对。TFT阵列基板1和滤色基板2用在图像显示器13外部形成的密封剂(未示出)附接。在TFT阵列基板1和滤色基板2之间形成液晶层(未示出)。
图2说明了显示形成在第一母基板和第二母基板中的多个单位LCD板的截面图，第一母基板有TFT阵列基板，第二母基板有滤色基板。
如图2所示，用以下方式形成多个单位LCD板：单位LCD板TFT阵列基板1的一侧形成突起(protrude)为单位LCD板滤色基板的虚拟区域31(dummyregion)。
设置单位LCD板的突起，是因为在该突起所提供的边缘部分上形成选通垫单元14和数据垫单元15，这里，TFT阵列基板1和滤色基板2不重叠。
这样，形成在第二母基板30上的滤色基板2被尽量多的虚拟区域31隔离，虚拟区域31对应于TFT阵列基板1的突起。
将每个单位LCD板布置在第一母基板20和第二母基板30上，使得能最大利用第一母基板20和第二母基板30的面积。根据所要制造的单位LCD板的模型，通常将单位LCD板形成时，用尽量多的第二虚拟区域32隔离。
形成TFT阵列基板1的第一母基板20和形成滤色基板2的第二母基板30相互附接后，LCD面板分别(individually)切割。同时移去在第二母基板30的滤色基板2隔离的区域形成虚拟区域31和隔离单位LCD板的第二虚拟区域32。
图3A为根据现有技术用于LCD面板的测试设备的示意图。
如图3A所示，测试设备包括第一测试条101和第二测试条102，用于测试单位LCD板100长边(即形成数据垫单元的一侧和单个LCD面板的对侧)的切割状态；第三测试条103和第四测试条104，用于测试单位LCD板100短边(即形成选通垫单元的一侧和单元LCD面板的对侧)的切割状态。
第一和第二测试条以接触法来测试单位LCD单元100的长边上是否还有毛刺(burr)。第三测试条103和第四测试条104用与第一测试条101和第二测试条102相同的方法来测试在单位LCD板100的短边上是否还有毛刺。
另一方面，单位LCD板100的尺寸可以根据所制造的单位LCD板的模型而变化。因而，第一测试条101和第二测试条102以及第三测试条103和第四测试条104对于各自所要制造的最大单位LCD板100在长边和短边形成得一样长，从而可以对所有单位LCD板100的模型执行测试。
而且，在单位LCD板100中，滤色基板120叠加在TFT阵列基板110上，将在TFT阵列基板110的两边形成超过滤色基板120的突起。这是因为选通垫单元和数据垫单元都形成在TFT阵列基板110与滤色基板120不重叠的边缘部分上，如参考图1所述的那样。
因而单位LCD板100的一个长边和一个短边有台阶形状。第一测试条101对应于单位LCD板100的一个长边，在上面形成数据垫单元。第三测试条103对应于单位LCD板100的一个短边，在上面形成选通垫单元。这样，为了测试单位LCD板100的长边，第一测试条101形成为与台阶形状的单位LCD板100的一个长边啮合。另外，为了测试单位LCD板100的短边，第三测试条103形成为与台阶形状的单位LCD板100的一个短边啮合。
第一测试条101至第四测试条104以接触法来测试单位LCD单元100的长边和短边上是否还有毛刺(burr)。
以接触法用第一测试条1到第四测试条104，通过测试单位LCD板100的较长边和短边，来确定单位LCD板100是好还是差。而后，在设定间隔(predetermined interval)内选中好的单位LCD板100并从生产线上将其移去，目的是用另外的测量装置来测试单位LCD板100的切割尺寸是否适当。
就如图3B中所描述的那样，测试装置130用以测试单位LCD板100长边和短边上的毛刺(burr)，测量装置140用以测量单位LCD板100彼此分离的切割尺寸。所以，单位LCD板100在完成毛刺的测试后，转移和返回进行切割尺寸的测量。
下文中，参考所附的系列示例图4A到4C，描述利用上述设备测试单位LCD板的方法。
如图4A所示，单位LCD板100安装在包括第一到第四测试条101到104的第一工作台(table)(未示出)上。这时，滤色基板120堆叠在TFT阵列基板110上，TFT阵列基板110的两边形成突起，超出上述选通垫单元和数据垫单元的滤色基板120。第一测试条101形成为与单位LCD板100的一个长边啮合，所述单位LCD板100具有数据垫单元所造成的台阶形状。第三测试条103形成为与单位LCD板100的一个短边啮合，所述单位LCD板100具有选通垫单元所造成的台阶形状。
下面，如图4B所示，第一测试条101和第二测试条102以接触法测试在单位LCD板100的长边上是否还有毛刺。
如图4C所示，第三测试条103和第四测试条104以接触法测试在单位LCD板100的短边上是否还有毛刺。
如上所述，以接触法用第一测试条1到第四测试条104，通过测试单位LCD板100的较长和短边，来确定单位LCD板100是好还是差。而后，在设定间隔(predetermined interval)内选中好的单位LCD板100并从生产线上将其移去，目的是用另外的测量装置140来测试单位LCD板100的切割尺寸是否适当。
根据用于测试现有技术的LCD面板的设备和方法，测试单位LCD板上残余的毛刺，以设定间隔从生产线上提取良好质量的单位LCD板，目的是用另外的测量装置来测试切割单位LCD板的尺寸是否适当。因而，操作员应将单位LCD板从生产线的测试装置(130)移动到测量装置，用于测试切割LCD面板的尺寸并在测量装置(140)上执行尺寸测试。见图3B。
上述过程并不方便，由于增加了测试切割单位LCD板的尺寸所花费的时间，所以降低了生产率。
另外，需要昂贵的额外测量装置，因此，增加了用于设备和生产线维护的成本，从而也增加了产品的成本。
而且，通过以设定间隔来取样单位LCD板来执行尺寸测试，因而，降低了测试的可靠性。另外，如果确定单位LCD板是次品，就停止操作，要测试从先前取样的面板到下面的要取样的面板的所有单位LCD板，并确定它们是差还是好。因而，丢掉了要进行后加工单位LCD板，会浪费材料和时间。发明内容
因此，本发明的一个优点是提供一种设备和方法，用于简化把在大母基板上形成的LCD面板切割成各个单位LCD板之后，对LCD面板尺寸和切面状态的测试。
为了实现本发明的上述优点，如本文中所体现和描述的那样，提供了一种设备，用于测试LCD面板，包括：第一和第二测试条，对应于单位液晶显示面板的长边，沿单位液晶显示面板的抛光边缘测试缺陷，并测量单位液晶显示面板的长边之间的距离；和第三和第四测试条，对应于单位液晶显示面板的短边，沿单位液晶显示面板的抛光边缘测试缺陷，并测量单位液晶显示面板的短边之间的距离。
另外，为了实现本发明的目的，提供了一种方法，用于测试LCD面板，包括：将单位液晶显示面板安装在包括第一、第二、第三和第四测试条的第一工作台上；和测量单位液晶显示面板的长边之间的距离同时操作第一和第二测试条，以及测量单位液晶显示面板的短边之间的距离同时操作第三和第四测试条。
结合附图，从下文对本发明的详细描述，本发明的上述和其他特点、方面和优点将更明显。附图说明
附图说明了本发明的实施例，所包括的附图用来进一步理解本发明，并在本申请中包括附图且将附图作为其一部分，解释本发明原理的作用。
附图中：
图1是说明形成在用于LCD装置的TFT阵列基板和滤色基板中的单位LCD板的平面图，TFT阵列基板和滤色基板对面附接；
图2为形成在第一母基板和第二母基板中的多个LCD面板的截面图，第一母基板包括TFT阵列基板，第二母基板具有图1的滤色基板；
图3A为根据现有技术用于测试LCD面板的设备的示例图；
图3B为测试长边和短边毛刺的测试装置到测量LCD板切割尺寸的测量装置的示例图；
图4A到4C为根据现有技术用于使用图3中设备测试LCD面板的方法的示例图；
图5为根据本发明的实施例用于测试LCD面板的设备的示例图；
图6A到6C为根据本发明的实施例用于使用图5中设备测试LCD面板的方法的示例图；
图7为根据本发明的另一实施例用于测试LCD面板的设备的示例图；和
图8A到8C为根据本发明的另一实施例用于使用图7中设备测试LCD面板的方法的示例图。
图8A和8C为根据本发明的另一实施例用于测试LCD面板的方法的示例图。具体实施方式
下面详细描述本发明所提供的实施例，在附图中说明这些实施例的实施方式。
图5为根据本发明的实施例用于测试LCD面板的设备的示例图。如图所示，用于测试LCD面板的设备包括：第一测试条101和第二测试条102，用于测试单位LCD板200的长边(即，单位LCD板的形成了数据垫单元的一侧和对侧)的切割状态，并用于测量单位LCD板200的长边之间的距离(D1)；第三测试条103和第四测试条104，用于测试单位LCD板200的短边(即，单位LCD板的形成了选通垫单元的一侧和对侧)的切割状态，并用于测量单位LCD板200的短边之间的距离(D2)。
第一测试条101和第二测试条102以接触法测试在单位LCD板200的长边上是否还有毛刺，并测量单位LCD板200的长边之间的距离D1。另外，第三测试条103和第四测试条104以与第一测试条101和第二测试条102相同的方法测试单位LCD板200的短边上是否还有毛刺，并测量单位LCD板200的短边之间的距离(D2)。
另一方面，单位LCD板的尺寸根据模型而变化，因而，希望将第一测试条101和第二测试条102以及第三测试条103和第四测试条104形成为具有对应于所要测试的最大单位LCD板200的长边和短边的长度，使得将测试条应用于单位LCD板200的所有模型。另外，希望第一到第四测试条101到104用内置量规来测量单位LCD板200的长边之间的距离D1和单位LCD板200的短边之间的距离。
而且，单位LCD板200中，滤色基板220堆叠在TFT阵列基板210上，TFT阵列基板210的两边形成超过滤色基板220突起。这使得能在不与滤色基板220重叠的TFT基板210的边缘部分形成选通垫单元和数据垫单元，如参考图1所述。
因为TFT阵列基板210的突起缘，单位LCD板200的一个长边和一个短边具有台阶形状。第一测试条101对应于其上形成有数据垫单元的单位LCD板200的一个长边。第三测试条103对应于其上形成有选通垫单元的单位LCD板200的一个短边。这样，为了测试单位LCD板200的长边，第一测试条101形成为与台阶形状的单位LCD板200的一个长边啮合。另外，为了测试单位LCD板200的短边，第三测试条103形成为与台阶形状的单位LCD板200的一个短边啮合。
下文中，参考图6A到6C，详细描述用于利用上述设备测试单位LCD板的方法。
如图6A所示，单位LCD板200安装在第一工作台(未示出)上，第一工作台上布置有第一到第四测试条101到104。这时，滤色基板220堆叠在TFT阵列基板210上，TFT阵列基板210的两边形成为以上述数据垫单元和选通垫单元超过滤色基板220突起，如上所述。第一测试条101形成为与数据垫单元所造成的台阶形状的单位LCD板200的一个长边啮合。第三测试条103形成为与选通垫单元所造成的台阶形状的单位LCD板200的一个短边啮合。
下面，如图6B所示，第一测试条101和第二测试条102以接触法测试单位LCD板200的长边上是否还有毛刺，并测量单位LCD板200的长边之间的距离D1。
另外，如图6C所示，第三测试条103和第四测试条104以接触法测试单位LCD板200的短边上是否还有毛刺，并测量单位LCD板200的短边之间的距离D2。
如上所述，根据本发明实施例的设备用第一到第四测试条101到104，以接触法测试单位LCD板200的较长和短边上是否还有毛刺，并测量单位LCD板200的长边之间的距离D1和单位LCD板200的短边之间的距离D2。这样，不需要象现有技术中那样的附加测量装置，测试所有单位LCD板200的尺寸。
另一方面，图7为根据本发明另一实施例用于测试LCD面板的设备。如图所示，用于测试LCD面板的设备包括：第一和第二测试条101和102，测试单位LCD板300的长边(即，形成了数据垫单元的一侧和对侧)的切割状态，并测量单位LCD板300的长边之间的距离(D1)；第三和第四测试条103和104，测试单位LCD板300的短边(即，形成了选通垫单元的一侧和对侧)的切割状态，并测量单位LCD板300的短边之间的距离(D2)。这时，与本发明第一实施例不同，第四测试条104形成为对应于单位LCD板300尺寸最小的模型的短边。
第一到第四测试条101到104用内置量规测量单位LCD板300的长边之间的距离D1和LCD面板300的短边之间的距离D2。
下文中，参考图8A到8B，描述根据本发明另一实施例用于利用上述设备测试单位LCD板的方法。
如图8A所示，在第一工作台(未示出)上安装单位LCD板300，第一工作台包括第一到第四测试条101到104。这时，滤色基板320堆叠在TFT阵列基板310上，TFT阵列基板310的两边以数据垫单元和选通垫单元突起超过滤色基板320，如上所述。第一测试条101形成与因数据垫单元所造成的台阶形状的单位LCD板300的一个长边啮合。第三测试条103形成与因选通垫单元所造成的台阶形状的单位LCD板300的一个短边啮合。
下面，如图8B所示，第一到第四测试条101到104以接触法测试在单位LCD板300的长边和短边上是否还有毛刺，并测量单位LCD板300的距离D1和距离D2。
如上所述，根据本发明另一实施例，同时操作第一到第四测试条101到104，以测试单位LCD板300的长边和短边上是否还有毛刺，并测量单位LCD板300的距离D1和距离D2。因此，如果象第一实施例那样，将第一到第四测试条101到104都制成具有对应于最大单位LCD板300模型的长边和短边的长度，如果将所有测试条都同时应用于与单位LCD板啮合，第一和第二测试条101和102就与第三和第四测试条103和104接触。
因而，本发明的另一实施例中，第四测试条104制成具有对应于最小单位LCD板300模型的短边的长度，以防止在同时操作4个测试条101到104时，第一和第二测试条101和102与第三和第四测试条103和104接触。
如图8C所示，有可能将用于测试LCD面板的长边的测试条形成为对应于具有最小LCD面板尺寸的模型的长边。而且，如图8B和8C所示，其余的测试条可形成为对应于所要测试的对应LCD面板边缘的最长可能尺寸。
除了上述距离测量之外，有可能用一个测试条的上方台阶部分上和与测试LCD面板对缘的测试条上的对应测量传感器或量规来测量单位LCD板顶上的尺寸D1和D2。这种情况下，用于测试对缘的测试条可以没有台阶部分。因而，用于测试对缘的测试条的高度应当是允许它在单位LCD板的顶表面平面上延伸。这种传感器或量规可以是光学测量装置。
还可能用单个测试条上的传感器来测试对应于测试条之一的边缘长度，这单个测试条与要测量其长度的边缘接触。参考图7，例如，测试条102可以测量单位LCD板300的长边缘的长度D1而不用参考其它测试条的位置。类似地，还是参考图7，例如，测试条103可以测量单位LCD板300的短边缘的长度D2而不用参考其它测试条的位置。
根据另一实施例的用于测试LCD面板的设备，可以只对单位LCD板300的短边对应于第四测试条104的一些部分执行测试。然而，可以比本发明第一实施例更快速地执行单位LCD板300的测试以及距离D1和D2的测量。
如上所述，根据本发明用于测试LCD面板的设备和方法以接触法，用第一到第四测试条来测试在单位LCD板的长边和短边上是否还有毛刺，并用第一到第四测试条中内置的量规来测量单位LCD板的长边之间的距离和短边之间的距离。
因而，可以防止现有技术的困难且不便的操作，诸如从生产线提取单位LCD板和将其移动到额外测量装置来测试LCD面板的尺寸。另外，可以缩短用于测试单位LCD板尺寸的时间，从而，可以提高生产率。不要求附加测量装置，因而，可以减少用于设备和生产线维护的成本。
而且，可以对所有单位LCD板简单地执行尺寸测试，从而与以设定间隔提取单位LCD板并象现有技术中那样测试尺寸的取样方法相比，可以提高测试的可靠性。
另外，现有技术中，如果确定单位LCD板是次品，就停止操作，并测试从先前取样的面板到下面要取样的面板的所有单位LCD板，以确定它们是好还是差。因而，会丢弃已经进行后加工的单位LCD板，因此，会浪费材料和时间。但是，根据本发明，可以通过测试所有面板而防止上面的问题。
另一方面，根据本发明另一实施例用于测试LCD面板的设备和方法，将第四测试条制成具有对应于最小单位LCD板模型短边的长度，从而，可以同时操作第一到第四测试条以测试在单位LCD板的长边和短边上是否还有毛刺，并测量LCD面板的长边之间的距离和短边之间的距离。
因而，根据本发明的另一实施例，可以执行比本发明第一实施例更快速的LCD面板测试和距离测量，从而可以提高生产率。