数字通信网的测试访问系统和方法 相关申请
本申请要求美国临时申请号60／068，841(1997年12月24日申请)的权利。
【发明领域】
本发明一般涉及通信线路测试系统，具体地说，涉及提供测试设备到多种高速数字通信线路中的任一条线路或者任何其他很高频数字传输线的可选连接。
【发明背景】
术语T-1是指在美国广泛使用的数字传输的电信标准。T-1标准向传输链路提供在双绞线对上的1．544兆比特／秒(Mbps)的容量。通过该容量，T-1链路可以处理等同于24语音对话，在64千比特／秒(Kbps)数字化每个语音对话。然而，随着现代技术和信息高速公路对通信工业的急剧增长的需求，要求带宽增加。响应于这种要求，采用更快速通信链路，诸如T-3传输链路，来满足这些要求。传统T-3链路提供等同于28T-1链路或者44．736Mbps的容量，它等同于672个语音对话。T-3线路一般在光纤、微波无线电或同轴电缆线上运行。
用于T-3系统的信令协议，一般称为DS-3信令，包括要求可与VHF(甚高频)无线电波相比的带宽的脉冲。在这些频率下，提供在通信链路和测试设备之间的可切换访问就变得有问题，因为当DS-3脉冲通过系统传播时需要保证信号完整性。例如，在电路级处，固态切换装置不再对进行可切换连接有效了，这是因为在这些装置中存在高频寄生电路通道(path)。在印制电路板级处，需要电路通道实质上作为传输线路，而且如果不能这样做可能会导致实际上在电路板本身上的误匹配、反射和其他信号失真，以及串音。
发明概述
广义上说，本发明的目的在于提供用于在多个传输链路之间切换多个测试装置同时当它通过系统传播时保存信号的完整性。特别考虑到在系统中的所有信号通道都呈现传输线路的特征，它没有信号地显著衰减和显著串音。
根据说明本发明的目的、特征和优点的较佳实施例，提供一种用于由多个测试装置提供对多个通信信号线的有选择测试访问的系统。该系统包括线路访问卡以及至少一个测试卡，其中线路访问卡提供对于多个高频信号线路的接口，而测试卡提供对多个高频测试装置的接口。把卡插入母板，它提供在测试装置和信号线路之间的选择连接。
在卡和母板上的所有高频信号通道呈现具有预定特征阻抗的传输线的特征，并以最小衰减、最小失真和最小串音传递高频脉冲。以低插入损耗和串音，通过继电器在母板上提供切换。在线路访问卡、测试卡和母板上设置继电器。所有信号通道表示直接点到点电路，其中没有分支(tap)。由96个管脚DIN连接器提供在线路访问装置的后卡(rear card)和母板之间的连接，而且只表示一部分不严格控制阻抗的高频信号通道。然而，通过实施连接器管脚分配和模仿同轴传输线的配置，保存通过这些连接器的信号完整性。
附图简述
参照附图，从下面对较佳实施例的详细描述，可以完全理解本发明的上述和其他目的、特征以及优点，其中：
图1是根据本发明的实施例的测试访问系统的前透视图；
图2是根据本发明的实施例的测试访问系统的后透视图；
图3是示出根据本发明的实施例如何把线路访问模块的前后卡插入其中的母板的侧示意图；
图4是示出根据本发明的实施例的测试访问系统的操作的功能方框图；
图5是示出监测总线结构的测试访问系统的功能方框图，其中根据本发明实施例监测总线允许在后测试卡和后线路卡之间切换访问；
图6是根据本发明的实施例的线路访问模块的后线路卡的示意方框图；
图7A是根据本发明的实施例的类型-1后测试卡的示意方框图；
图7B是根据本发明的实施例的类型2后测试卡的示意方框图；
图8是示出根据本发明的实施例的线路访问模块的前线路卡的操作的功能方框图；
图9是示出根据本发明实施例的测试卡模块的前测试卡的操作的示意方框图；
图10是示出如在本发明的较佳实施例中用到的电路卡部分的不连续剖面图；和
图11是示出如在本发明的较佳实施例中用到的96-管脚连接器的示意图，其中设计管脚布局以获得有效传输线。
较佳实施例的详细描述
现在回到附图，图1和2分别是体现本发明的目的和特征的测试访问系统8的前和后透视图。可从ADC-Hadax公司(South Hackensack，New Jersey)购得根据本发明的原理操作的系统的实施例作为‘2005 T-3访问系统’。这里所述的本发明的目的和特征一般都落在符合北美使用的T-3传输载波标准的电信网络的范畴内。应理解，本发明的系统和方法可用于访问和测试其他类型的传输线，包括高速数字传输线，它们提供大约等于几十或几百兆比特／秒(Mbps)的传输速率。
如图1和2所示，测试访问系统8包括多个线路访问卡15、测试设备卡35、控制卡25和双电源28，29。每个线路访问卡15，如图2所示，包括多个连接器，用于接收多根通信线(诸如，T-3传输线)的相应连接器。测试设备卡35包括大量连接器，它们接收大量测试设备的相应连接器。包括可编程处理器或CPU的控制卡25协调测试访问系统8的活动，而且还通过通信卡18与远程控制单元进行通信。
根据本发明的较佳实施例，以及如图1和2所示，测试访问系统8设计成模块化和可安装支架型的。根据本实施例，测试访问系统8包括九个线路访问卡15，每个都包括前线路卡(FLC)17和后线路卡(RLC)19。根据本实施例，测试设备卡35包括前测试卡(FTC)37和后测试卡(RTC)39。如图3所示，测试访问系统8包括双侧母板10，其中将前电路卡12插入母板10的前面，和将后电路卡14U，14L插入母板10的后面。可以提供双半高度电路卡，诸如顶部后卡14U和底部后卡14L，如图3所示，而不是单个全高度电路卡。
在这种配置中，把九个前线路卡17插入母板10的前面。母板10的后面提供与一排9顶部后线路卡19(即，RLC1-RLC17，只是奇数)以及一排9底部后线路卡19(RLC2-RLC18，只是偶数)，即，总共18个线路访问卡15的耦合。同样与母板10耦合的是单个测试设备卡35，同时测试设备卡35的前测试卡37和后测试卡39分别与母板10的前和后耦合。还将控制卡(CC)25、通信卡(COMC)18以及每个电源28，29连接到母板10上。
在操作过程中，设置在每个线路访问卡15上，一般在每个线路访问卡15的后线路卡19上的4个传统BNC连接器(RXE，RXF，TXE，TXF)提供对于一根双向通信线(诸如，T-3传输线)的接口连接。类似地，设置在测试设备卡35，一般在测试设备卡35的后测试卡39上的BNC连接器(TXA，TXB，RXA，RXB)提供双测试端口，允许将二台通信线路测试设备的底部连接到上述测试端口上。通信卡18具有接口20，它包括3个连接，提供到和来自测试访问系统8的RS-232接口。然而，应理解任何其他类型的通信接口20(诸如，网络接口20)同样可很好地起作用。
根据本发明的一个实施例，每个线路访问卡15的前线路卡提供对后线路卡对19的控制。根据该实施例，测试设备卡35的前测试卡37提供对后测试卡39的控制。前线路卡17和前测试卡37在设置在控制卡35中的CPU的控制下进行操作。
图4的方框图示出如何通过母板10将各种卡互连，而且参照方框图能够更好地理解测试访问系统8的操作过程。把双工通信线连接到18个后线路卡19(即，RLC1至RLC18)中的每个卡。把二台通信线路测试设备连接到后测试卡39(RTC)，而且有选择地连接到18个RLC19之一时。这可以通过利用两根监测总线MB1和MB2获得。把RTC39连接到二根总线MB1和MB2，而且每个RLC19连接到两根总线MB1，MB2之一。在如图4所示的实施例中，把奇数(上)RLC19连接到MB1，而把偶数(下)RLC19连接到MB2。下面将详细讨论进行这种连接的细节。在这点上，足以注意到通过一个或多个继电器进行在监测总线MB1或MB2之一以及RLC19之间的连接。
根据如图4所示的实施例，由相应的前线路卡17控制占据公共插槽(即，一个上和一个下RLC19)的每对RLC19。测试设备卡35的前测试卡(FTC)37控制后测试卡(RTC)39。FLC17和FTC37依次受到设置在控制卡(CC)25中的CPU的控制。控制卡25通过通信卡(COMC)18设置的RS-232链路接收来自控制装置(诸如，终端或个人计算机)的配置命令。通信卡18还可通过它的通信端20之一提供出局信息，诸如由控制卡25提供的状态信息。运用通信链路使得执行远程测试特别有效。
根据本发明的测试访问系统8的一个重要方面包括保证当通信信号脉冲通过测试访问系统8传播时的信号完整性。为了保证高度信号传输完整性，将在测试访问系统8中的所有信号通道设计成显示非平衡传输线的特征，75ohm特性阻抗、能够以最小衰减、最小失真和最小串音传递通信信号脉冲。然而，可以理解在适合之处其他阻抗特征可以良好地起作用。
为了提供在印制电路板级的这种信号传输完整性，采用专门布线技术。根据本发明的一个实施例，涉及传递信息信号的测试访问系统8的卡(例如，RLC19，RTC39和母板10)是多层的，阻抗受控印制电路板。根据本实施例的电路板构造如图10所示，其中示出了具有4层(层1至层4)的一部分电路板50。然而，应理解可以采用6层或更多层板。
将传递信息信号的所有迹线设计成非平衡传输线，特性阻抗为75ohm。传输线具有带状线结构，包括信号导体和两个参考面，一个在信号导体的上面，一个在下面。为了最大电磁感应(EMI)屏蔽，将保护导体设置在信号导体的一侧上并围绕每个信号迹线。把保护导体设置在印制电路板的信号层上，并一每半英寸连接在两个参考面上。如图10所示的层1-3定义了带状线结构，其中通过导体52将高频(HF)信号通道设置在层2上。还将保护导体54，54设置在层2中的信号导体52的两侧之一。将层4用于相对较低速逻辑(控制)信号。印制电路板的衬底材料最好是FR-4。
还选择在测试访问系统8中用到的元件具有75ohm特性阻抗和良好频率特征。由设置在印制电路板上的75ohmBNC连接器提供对于信息信号路径的输入和输出连接。由75ohmHF继电器以低插入损耗和串音提供切换。由96管脚DIN连接器提供在后卡(RLC，RTC)19，39和母板10之间的连接。DIN管脚连接器接口只表示其中没有严格控制阻抗的一部分信息信号通道。
然而，通过运用模仿同轴传输线的管脚分配，因而使不连续性最小并使连接器在传播信息信号方面更加有效的透明，可以保持通过这些连接器的信号完整性。这种管脚分配利用来自连接器的列B(即，管脚的中间列)的一个管脚作为信号导体，并用所有八个围绕管脚作为屏蔽导体。图11示出加入这种管脚结构的连接体60，其中示出4个分开的管脚分组。例如，示出在行31中的中间管脚连接到信号导体。同时，将在行30-32中的剩余管脚连接起来并连接到地面。
从电路设计的角度来抗，所有信号通道都是直接点到点电路，没有任何分支。在RLC19和RTC39上的不同信号通道中间的所有连接都通过继电器触点。在RLC19上，分接“正常通过”信号通道以便监测通过750ohm桥接电阻器，它实际上消除了分支电路对以监测模式的通信线路的任何影响。如前所述，把RLC19通过设置在母板10上并受FLC17的控制的继电器而连接到监测总线MB1和MB2。
图5是用于解释如何在本发明的测试访问系统8中获得监测总线切换以便保证信号完整性的示意方框图。图5包括已示出并参照图4讨论的元件，而且用类似标号表示这些元件。图5特别示出被表示为开关的继电器，他们获得监测总线切换。在一个实施例中作为RTC39部分的RTC继电器，SWO，能够将RTC39连接到MB1或MB2，这依赖于SWO的位置。相对于监测总线MB1和MB2，每个RLC19包括相应继电器组。通过举例，将上(奇数编号的)RLC19耦合到相关继电器组SW1-SW17。在该例子中，在正常情况下这些继电器通常在他们的向下位置(即，当不供电时)。
当没有向RLC继电器供电时，提供每个监测总线MB1，MB2的端到端电路，而且没有把RLC19连接到监测总线。然而，启动RLC19的继电器，一次启动一个，从而把一个RLC19设置在相应的监测总线上。当对于特定RLC19给一组继电器供电时，相对于图5的示图，实际上把继电器设置在上方位置，它中断了相应监测总线的端到端连续性，而且把相应RLC19连接到该监测总线。母板10的所述结构保证在任何时候，在RTC39和所选RLC19中间只有单个点到点连接，而且没有把其他RLC19附在监测总线上。同时，保证断开当前不用的那部分监测总线，而且不干扰信号的传播。
图6是根据本发明的实施例的后线路卡(RLC)19的示意方框图。一般，RLC19包括两个接口：一个连接到通信线，一个连接到母板10。由四个BNC连接器提供到通信线的接口。由96管脚DIN内孔连接器提供到母板10的接口。
如图6所示的RLC19包括带有两个输入端(RXE和RXF)和两个输出端(TXE和TXF)的一个双通信端口。RLC19还包括多个继电器，它们由图6中的开关表示，并在相应FLC17的控制下进行操作。存在两个“正常-通过”通道，即，从RXE到TXF和从RXF和TXE。RLC19还提供到监测总线的四个通道。两个通道，从MON_TXE到TXE和从MON_TXF到TXF，是直接通道。另外两个通道是从RXE到MON_RXE和从RXF到MON_RXF，而且可以是直接通道或者通过B或B&T电路的通道，这依赖于所需测试模式。
每个RLC19具有提供在通信端口的回环连接，从RXE到TXE和从RXF到TXF。应注意，在较佳实施例中，在每个插槽中用两个后线路卡19(上和下)。这种布局有的好处是在线路卡需要替换的情况下，只有一个线路需要被临时设置在不工作状态。应理解，还可采用容纳两个双工通信线路的单个线路卡。
最好以两种形式提供后测试卡(RTC)39。图7A和7B分别是类型1RTC和类型2RTC的示意方框图。两种RTC都包括带有两个输入端(RXA和RXB)和两个输出端(TXA和TXB)的一个双测试端口。每个RTC39还包括多个继电器，作为开关示出，它们在前测试卡(FTC)37的控制下进行操作。如图7A所示的类型1RTC39可提供对于多个输入端到任一输出端的回环。如图7B所示的类型2RTC39可只提供从RXA到TXA和从RXB到TXB的回环。另一方面，当选择ASplit(分裂)、AX Split、B Split和BX Split模式时，RTC类型1不能在不使用端口处提供回环。
图7A和7B中标为NR的四个连接器以“菊花链(daisy-chair)”结构提供到下一个机架装配的连接。依赖于如图7A&7B的“菊花链”触点的位置，可将测试端口连接到当前机架装配或下一个机架装配的监测总线之一。“交叉”触点提供对于输入端(RXA，RXB)和对于输出端(TXA，TXB)的直接或交叉连接。“回环”触点提供从RXA到TXA和从RXB到TXB的回环连接。“MON Bus Select(监测总线选择)”触点提供到两个监测总线MB1，MB2之一的连接。
RTC39包括三个接口：一个到通信线路测试设备；一个下一个机架装配；和一个到母板10。由四个BNC连接器(诸如RXA，TXA，RXB和TXB，如图2所示)提供到连接线测试设备的接口。由标为“下一个机架”的四个BNC连接器提供到下一个机架装配的接口，如图2所示。由一个96管脚DIN内孔连接器提供到母板10的接口。
图8是示出根据本发明的实施例的前线路卡(FLC)17的操作的功能方框图。为了说明起见而不是限制，示出FLC17与后线路卡19对(RLC1和RLC2)耦合，每个卡受FLC17的控制。FLC17依次受设置在控制卡25中的CPU的控制。FLC17包括两个控制块(CTRL1和CTRL2)，每个提供对各RLC19(分别是RLC1和RLC2)的控制。
FLC17还包括一组继电器，用于定义各监测总线部分MB1，MB2。设置在FLC17的前端的两个发光二极管(LED1和LED2)指示相应RLC19的状态。通过举例，当各RLC19处于测试模式中时，示出相应LED，从而当选择回环模式时，相应LED闪烁。除了继电器驱动器之外，控制块CTRL1和CTRL2还包括两个8比特控制寄存器。将寄存器1和2设置在用于RCL1的CTRL1中，和将寄存器3和4设置在用于RLC2的CTRL2中。
根据本发明的实施例，在奇数寄存器(寄存器1和寄存器3)中的位对相应RLC19的继电器具有下列影响：
D7： 当0时，关闭从RXE到TXF的“正常通过”通道。
当1时，连接RXE到监测总线。
D6： 当0时，关闭从RXE到TXF的“正常通道”。
当1时，连接TXF到监测总线。
D5： 当0时，选择B&T电路。
当1时，选择从RXE到监测总线的直接连接。
D4： 当0时，选择分裂(split)模式。
当1时，选择监测模式。
D3： 当0时，关闭从RXF到TXE的“正常通过”通道。
当1时，连接RXF到监测总线。
D2： 当0时，选择B&T电路。
当1时，选择从RXF到监测总线的直接连接。
D1： 当0时，选择分裂模式。
当1时，选择监测模式。
D0： 当0时，关闭从RXF到TXE的“正常通过”通道。
当1时，连接TXE到监测总线。
类似地，偶数控制寄存器(寄存器2和4)具有8个比特，根据本发明的实施例，它们对相应RLC19的继电器由下列影响：
D7： 当0时，将MON_RXE和MON_TXF与RLC分开。
当1时，将MON_RXE和MON_TXF连接到RLC。
D6： 当0时，将MON_RXF和MON_TXE与RLC分开。
当1时，将MON_RXF和MON_TXE连接到RLC。
D5： 当0时，去选择(de-select)从RXE到TXE的回环。
当1时，选择从RXE到TXE的回环。
D4： 当0时，选择从RXF到RXF的回环。
当1时，去选择从RXF到TXF的回环。
D3： 当0时，将RXE-TXF切换电路的屏蔽物(shield)与监测总线的屏蔽物
断开。
当1时，将RXE-TXF切换电路的屏蔽物与监测总线的屏蔽物连接。
D2： 当0时，将RXF-TXE切换电路的屏蔽物与监测总线的屏蔽物断开。
当1时，将RXF-TXE切换电路的屏蔽物与监测总线的屏蔽物连接。
D1： 当0时，将RXE-TXF切换电路的屏幕物与RXF-TXE切换电路的屏蔽物
断开。
当1时，将RXE-TXF切换电路的屏蔽物与RXF-TXF切换电路的屏蔽
物连接。
D0： 当0时，关闭对相应RLC的LED。
当1时，点亮对相应RLC的LED。
应理解，由于在每个寄存器中设置不同的8位字，所以RLC19的控制寄存器CNRL1和CNRL2允许大量不同模式的操作。下面列出的表1例示对于每个RLC19可获得的大量不同模式的操作。所述模式与由用于测试通信设备的Bellcore标准定义的不同测试模式相对应。
表1 模式 控制寄存器1(3)(R1，R3)控制寄存器2(4)(R2，R4)D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 E(X)监测器X 0 0 0 X 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 1 F(X)监测器X 0 0 0 X 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 1 EF(X)监测器X 0 0 0 X 0 0 0 1 1 0 0 1 1 0 1 E(X)分裂 (F环路)X 1 0 0(1) X 0 0 1 1 1 0 0(1)1 1 1 1 E(X)分裂w B&T (F环路)X 1 1 0(1) X 0 0 1 1 1 0 0(1) 1 1 1 1 F(X)分裂 (E环路)X 0 0 1 X 1 0 0(1)1 1 0(1) 0 1 1 1 1 F(X)分裂w B&T (E环路)X 0 0 1 X 1 1 0(1)1 1 0(1)0 1 1 1 1 EF(X)分裂X 1 0 1 X 1 0 1 1 1 0 0 1 1 1 1 EF(X)分裂w B&TX 1 1 1 X 1 1 1 1 1 0 0 1 1 1 1
表1(续) 模式控制寄存器1(3)(R1，R3)控制寄存器2(4)(R2，R4)D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 A(X)分裂X 1 0 1 X 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 1 A(X)分裂w B&TX 1 1 1 X 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 1 B(X)分裂X 0 0 0 X 1 0 1 0 1 0 0 0 1 0 1 B(X)分裂w B&TX 0 0 0 X 1 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 AB(X)分裂X 1 0 1 X 1 0 1 1 1 0 0 1 1 1 1 AB(X)分裂w B&TX 1 1 1 X 1 1 1 1 1 0 0 1 1 1 1 E环路X 0 0 0 X 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 BL F环路X 0 0 1 X 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 BL EF环路X 0 0 1 X 0 0 1 0 0 1 1 0 0 1 BL DS1去掉和插入A*X 1 1 1 X 0 0 0 1 1 0 0 1 1 1 1 DS1去掉和插入B*X 0 0 0 X 1 1 1 1 1 0 0 1 1 1 1
图9是示出根据本发明的实施例的前测试卡(FTC)37的操作的示意方框图。FTC37控制在后测试卡(RTC)39中的继电器，而且它本身受设置在控制卡25中的CPU的控制。FTC37包括单个控制块(cTRL1)，它提供对RTC39的控制。在FTC37的前端上的一个发光二极管(LED)指示RTC39的状态。当RTC39是处于测试模式，那么LED发光，从而当RTC39处于回环模式中时，LED闪烁。FTC37包括用于RTC39的继电器驱动器以及两个8位控制寄存器。
根据本发明的实施例，在FTC37中的CTRL1的控制寄存器1的位对RTC39的继电器具有下列影响：
D7： 当0时，从上监测总线(MB1)选择MON_RXB线路。
当1时，从下监测总线(MB2)选择MON_RXB线路。
D6： 当0时，去选择在RXB-TXB之间的回环(如果交叉是无效的)。
当1时，选择在RXB-TXB之间的回环(如果交叉是无效的)。
D5： 未使用。
D4： 未使用。
D3： 当0时，选择来自上监测总线(MBl)的MON_TXA线路。
当1时，选择来自下监测总线(MB2)的MON_TXA线路
D2： 当0时，选择来自上监测总线(MB1)的MON_TXB线路。
当1时，选择来自下监测总线(MB2)的MON_TXB线路。
D1： 当0时，去选择在RXA-TXA之间的回环(如果交叉是无效的)。
当1时，选择在RXA-TXA之间的回环(如果交叉是无效的)。
D0： 当0时，选择到TXA和TXB的直接连接(交叉)。
当1时，选择到TXA和TXB的交叉连接(交叉)。
根据本发明的实施例，在FTC37中的CNRL1的控制寄存器2的位对RTC39的继电器的影响。
D7： 未使用。
D6： 未使用。
D5： 当0时，选择来自上监测总线(MB1)的MON_RXA线路。
当1时，选择来自下监测总线(MB2)的MON_RXA线路。
D4： 当0时，选择到RXA和RXB的直接连接(交叉)。
当1时，选择到RXA和RXB的交叉连接(交叉)
D3： 未使用。
D2： 当0时，选择本地机架(local rack)。
当1时，选择下一个机架。
D1： 未使用。
D0： 当0时，关闭测试LED。
当1时，点亮测试LED。
因此，应理解，在FTC37中的CNRL1的控制寄存器中可获得的不同比特组合将在RTC39中产生大量操作模式。下表2举了根据本发明的实施例，对于RTC39可获得的多种操作模式。
表2 模式 控制寄存器1(R1) 控制寄存器2(R2)D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0E监测器(B环路)A 0(1)X X A A 0 0 X X A 0 X 0 X 1EX监测器(A环路)A 0(1) X X A A 0 1 X X A 0(1) X 0 X 1F监测器(A环路)A 0 X X A A 0(1)0 X X A 0 X 0 X 1FX监测器(B环路)A 0 X X A A 0(1) 1 X X A 0(1) X 0 X 1 EF监测器A 0 X X A A 0 0 X X A 0 X 0 X 1 EFX监测器A 0 X X A A 0 1 X X A X 0 X
表2(续) 模式 控制寄存器1(R1) 控制寄存器2(R2)D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 E分裂(B环路)A 0(1)X X A A 0 0 X X A 0 X 0 X 1 EX分裂(A环路)A 0(1)X X A A 0 1 X X A 1 X 0 X 1 F分裂(A环路)A 0 X X A A 0(1)0 X X A 0 X 0 X 1 FX分裂(B环路)A 0 X X A A 0 1 X X A 1 X 0 X 1 EF分裂A 0 X X A A 0 0 X X A 0 X 0 X 1 EFX分裂A 0 X X A A 0 1 X X A 1 X 0 X 1 A分裂A 0 X X A A 0 0 X X A 1 X 0 X 1 AX分裂A 0 X X A A 0 1 X X A 0 X 0 X 1 B分裂A 0 X X A A 0 0 X X A 1 X 0 X 1
表2(续) 模式 控制寄存器1(R1) 控制寄存器2(R2)D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 BX分裂A 0 X X A A 0 1 X X A 0 X 0 X 1 AB分裂A 0 X X A A 0 0 X X A 1 X 0 X 1 ABX分裂A 0 X X A A 0 1 X X A 0 X 0 X 1 A环路X 0 X X X X 1 0 X X X 0 X 0 X BL B环路X 1 X X X X 0 0 X X X 0 X D X BL AB环路X 1 X X X X 1 0 X X X 0 X 0 X BL 主环路*X 0 X X X X 1 0 X X X 0 X 0 X BL 次级环路*X 1 X X X X 0 0 X X X 1 X 0 X BL DS1去掉和插入A*A 0 X X A A 0 1 X X A 1 X 0 X 1 DS1去掉和插入B*A 0 X X A A 0 0 X X A 0 X 0 X 1 下一个机架X X X X X X X X X X X X X 1 X 1
虽然出于示例的目的，揭示了体现本发明的较佳系统和方法，但是熟悉本技术领域的人员应理解，可进行变更和替换，而不偏离本发明的范围。例如，已经描述了用于提供对T-3通信链路的测试访问的系统。考虑到本发明可用于实际上更高频信号，诸如DS-5信号，在欧洲，它提供565．148Mbps的容量。所有这些变化都落在如所附权利要求书所限定的本发明的范围内。