平面显示器的测试装置 【技术领域】
本发明涉及一种平面显示器(Flat-panel display)的测试装置，特别是涉及一种可分组测试平面显示器的电极配线(Electrode line)，而测试后不需切断电极配线与测试装置间电性耦接(Electrically coupling)的平面显示器的测试装置。
背景技术
信息通讯产业已成为现今的主流产业，特别是便携式的各式通讯显示产品更是发展的重点，而平面显示器为人与信息的沟通界面，因此显得特别重要。现有的平面显示器主要有下列几种：有机电激发光显示器(OrganicElectro-Luminescent Display，OELD)、电浆显示器(Plasma DisplayPanel，PDP)、液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)、发光二极管(Light Emitting Diode，LED)、真空萤光显示器(Vacuum FluorescentDisplay)、场致发射显示器(Field Emission Display，FED)以及电变色显示器(Electro-chromic Display)等。不论是上述何种平面显示器，在制作时皆须对其电极配线进行测试，以确定所制作出来的平面显示器能正常运作。
以下将以具有高画质、空间利用效率加、低消耗功率、无辐射等优越特性的薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid CrystalDisplay，TFT LCD)的测试为例做介绍。请参阅图1所示，是现有习知的一种薄膜晶体管液晶显示器的测试装置电路图。该薄膜晶体管液晶显示器100是区分为一显示区110与一周边电路区120。其中，显示区110上配置有多条电极配线130。周边电路区120上配置有多个驱动电路140，用以驱动电极配线130。短路杆(Shorting bar)150是电性耦接至电极配线130，藉由短路杆150输入讯号至电极配线130即可对薄膜晶体管液晶显示器100进行测试。
现有习知薄膜晶体管液晶显示器100在进行完测试后，即会进行一切除步骤，以将短路杆150与薄膜晶体管液晶显示器100的连接切断，而短路杆150不会留在薄膜晶体管液晶显示器100上。但是，切除步骤会增加生产薄膜晶体管液晶显示器100所需的时间与成本。
请参阅图2所示，是现有习知的另一种薄膜晶体管液晶显示器的测试装置电路图。在图2中，短路杆152是配置于薄膜晶体管液晶显示器102的周边电路区122上，且电性耦接至电极配线132。藉由短路杆152输入讯号至电极配线132即可对薄膜晶体管液晶显示器102进行测试。薄膜晶体管液晶显示器102在进行完测试后，即会进行一激光切除步骤，以将短路杆152与薄膜晶体管液晶显示器102的电性耦接切断，但短路杆152仍留在薄膜晶体管液晶显示器102上。
此种现有习知的薄膜晶体管液晶显示器102的测试装置，其激光切除步骤虽然较为简单，但是将短路杆152与驱动电路142共同配置于同一侧的周边电路区122上，会使薄膜晶体管液晶显示器102的整体面积无法缩小。
由此可见，上述现有的平面显示器的测试装置仍存在有缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决平面显示器地测试装置存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。
有鉴于上述现有的平面显示器的测试装置存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，积极加以研究创新，以期创设一种新型的平面显示器的测试装置，能够改进一般现有的平面显示器的测试装置，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
【发明内容】
本发明的目的在于，克服上述现有的平面显示器的测试装置存在的缺陷，而提供一种新的平面显示器的测试装置，所要解决的技术问题是使其适于分组测试平面显示器的电极配线，且测试后不需切断电极配线与测试装置间电性耦接，并可缩小平面显示器面积，从而更加适于实用，且具有产业上的利用价值。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种平面显示器的测试装置，该平面显示器至少包括多数个电极配线与驱动该些电极配线的多数个驱动电路，该驱动电路是配置于该平面显示器的一第一侧，该测试装置包括：多数个开关组件，电性耦接至该些电极配线，该开关组件是配置于该平面显示器的一第二侧；以及至少一短路杆，电性耦接至该些开关组件；其中，该平面显示器的该第一侧是与该第二侧为相对侧。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的平面显示器的测试装置，其中所述的每一该些开关组件包括一二极管与至少一薄膜晶体管其中之一。
前述的平面显示器的测试装置，其中所述的该些电极配线包括资料配线。
前述的平面显示器的测试装置，其中所述的该些电极配线包括扫描配线。
本发明的目的及解决其技术问题还采用以下的技术方案来实现。依据本发明提出的一种平面显示器的测试装置，该平面显示器至少包括多数个电极配线与驱动该些电极配线的多数个驱动电路，该测试装置包括：多数个开关组件，每一该些开关组件分别具有一闸极、一第一源/汲极与一第二源/汲极，该些第一源/汲极是电性耦接至该些电极配线；一开关配线组，电性耦接至该些开关组件的该些闸极；以及多数个短路杆，每一该些短路杆是电性耦接至部份该些开关组件的该些第二源/汲极。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的平面显示器的测试装置，其中当该开关配线组包括多数个开关配线时，每一该些开关配线是电性耦接至部份该些开关组件的该些闸极。
前述的平面显示器的测试装置，其中所述的每一该些开关组件包括至少一薄膜晶体管。
前述的平面显示器的测试装置，其中所述的该些电极配线包括资料配线。
前述的平面显示器的测试装置，其中所述的该些电极配线包括扫描配线。
本发明的目的及解决其技术问题还采用以下的技术方案来实现。依据本发明提出的一种平面显示器的测试装置，该平面显示器至少包括多数个电极配线与驱动该些电极配线的多数个驱动电路，该测试装置包括：多数个开关组件，每一该些开关组件分别具有一闸极、一第一源/汲极与一第二源/汲极，该些第一源/汲极是电性耦接至该些电极配线；多数个开关配线，电性耦接至该些开关组件的该些闸极，且每一该些开关配线是电性耦接至部份该些开关组件的该些闸极；以及一短路杆，电性耦接至该些开关组件的该些第二二源/汲极。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的平面显示器的测试装置，其中所述的每一该些开关组件包括至少一薄膜晶体管。
前述的平面显示器的测试装置，其中所述的该些电极配线包括资料配线。
前述的平面显示器的测试装置，其中所述的该些电极配线包括扫描配线。
本发明的目的及解决其技术问题还采用以下的技术方案来实现。依据本发明提出的一种平面显示器的测试装置，该平面显示器至少包括多数个电极配线与驱动该些电极配线的多数个驱动电路，该测试装置包括：多数个开关组件，电性耦接至该些电极配线；以及一短路杆组，电性耦接至该些开关组件。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的平面显示器的测试装置，其中当该短路杆组包括多数个短路杆时，每一该些短路杆是电性耦接至部份该些开关组件。
前述的平面显示器的测试装置，其中所述的每一该些开关组件包括一二极管。
前述的平面显示器的测试装置，其中所述的该些电极配线包括资料配线。
前述的平面显示器的测试装置，其中所述的该些电极配线包括扫描配线。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知，为了达到前述发明目的，本发明的主要技术内容如下：
本发明提出一种平面显示器的测试装置，所欲测试的平面显示器至少包括多个电极配线与多个驱动电路。其中，该驱动电路是用以驱动电极配线，配置于平面显示器的一第一侧。
该测试装置是由多个开关组件与至少一短路杆所构成。其中，开关组件是电性耦接至电极配线，配置于平面显示器的一第二侧。短路杆是电性耦接至开关组件。而且，平面显示器的第一侧是与第二侧为相对侧，亦即短路杆与驱动电路是分别配置于平面显示器的相对两侧。
此外，每个开关组件例如是由至少一二极管所构成，亦或是由至少一薄膜晶体管所构成。电极配线例如是数据配线，亦或是扫描配线。
基于上述目的，本发明还提出一种平面显示器的测试装置。所欲测试的平面显示器至少包括多个电极配线与多个驱动电路。其中，驱动电路是用以驱动电极配线。
该测试装置是由多个开关组件、一开关配线及多个短路杆所构成。其中，每个开关组件分别具有一闸极、一第一源/汲极与一第二源/汲极，而第一源/汲极是电性耦接至电极配线。开关配线组是电性耦接至开关组件的闸极。每个短路杆是电性耦接至部份开关组件的第二源/汲极。
此外，当开关配线组例如是由多个开关配线所构成时，每个开关配线是电性耦接至部份开关组件的闸极。每个开关组件例如是由至少一薄膜晶体管所构成。电极配线例如是数据配线，亦或是扫描配线。
基于上述目的，本发明另提出一种平面显示器的测试装置。所欲测试的平面显示器至少包括多个电极配线与多个驱动电路。其中，驱动电路是用以驱动电极配线。
该测试装置是由多个开关组件、多个开关配线与一短路杆所构成。其中，每个开关组件分别具有一闸极、一第一源/汲极与一第二源/汲极，而第一源/汲极是电性耦接至电极配线。开关配线是电性耦接至开关组件的闸极，且每个开关配线是电性耦接至部份开关组件的闸极。短路杆是电性耦接至开关组件的第二源/汲极。
此外，每个开关组件例如是由至少一薄膜晶体管所构成。电极配线例如是数据配线，亦或是扫描配线。
基于上述目的，本发明更提出一种平面显示器的测试装置。所欲测试的平面显示器至少包括多个电极配线与多个驱动电路。其中，驱动电路是用以驱动电极配线。
该测试装置是由多个开关组件与一短路杆组所构成。其中，开关组件是电性耦接至电极配线。短路杆组是电性耦接至开关组件。
此外，当短路杆组例如是由多个短路杆所构成时，每个短路杆是电性耦接至部份开关组件。每个开关组件例如是由一二极管所构成。电极配线例如是数据配线，亦或是扫描配线。
经由上述可知，本发明是关于一种平面显示器的测试装置。该平面显示器至少包括多个电极配线与多个驱动电路。驱动电路是用以驱动电极配线，且例如与测试装置分别配置于平面显示器的相对侧。测试装置是由多个开关组件与至少一短路杆所构成。短路杆是经由开关组件而电性耦接至电极配线。当开关组件是由薄膜晶体管所构成时，测试装置更包括至少一开关配线，电性耦接至薄膜晶体管的闸极。电极配线例如是分组电性耦接至短路杆与开关配线。
借由上述技术方案，本发明至少具有以下优点：本发明的平面显示器的测试装置，其短路杆与驱动电路是分别配置于平面显示器的两侧，易于缩小平面显示器的面积。而且，由于开关组件在平时是为高阻抗状态(接近断路状态)，因此亦可省略测试后切断短路杆与电极配线间的电性耦接的步骤。同时，更可对平面显示器的电极配线做分组测试。
综上所述，本发明特殊结构的平面显示器的测试装置，适于分组测试平面显示器的电极配线，且测试后不需切断电极配线与测试装置间电性耦接，并可缩小平面显示器面积，从而更加适于实用。其具有上述诸多的优点及实用价值，并在同类产品中未见有类似的结构设计公开发表或使用而确属创新，其不论在结构上或功能上皆有较大的改进，在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的平面显示器的测试装置具有增进的多项功效，从而更加适于实用，而具有产业的广泛利用价值，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
【附图说明】
图1是现有习知的一种薄膜晶体管液晶显示器的测试装置电路图。
图2是现有习知的另一种薄膜晶体管液晶显示器的测试装置电路图。
图3A与图3B是依照本发明第一较佳实施例的平面显示器的测试装置电路图。
图4是本发明一较佳实施例的开关组件由薄膜晶体管构成的电路示意图。
图5A～图5C是依照本发明第二较佳实施例的平面显示器的测试装置电路图。
图6是依照本发明第三较佳实施例的平面显示器的测试装置电路图。
100、102：薄膜晶体管液晶显示器 110：显示区
120、122：周边电路区 130、132：电极配线
140、142：驱动电路 150、152：短路杆
200：平面显示器 230、330、430：电极配线
240：驱动电路 250、350、352、354：测试装置
260、360、460：开关组件 262：薄膜晶体管
270、370、470a：短路杆 280、380a：开关配线
362：闸极 364：第一源/汲极
366：第二源/汲极 380：开关配线组
450：测试装置 470：短路杆组
S1：第一侧 S2：第二侧
【具体实施方式】
以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的平面显示器的测试装置其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
(第一实施例)
请参阅图3A与图3B所示，是依照本发明第一较佳实施例的平面显示器的测试装置电路图。本发明较佳实施例的平面显示器的测试装置，其平面显示器200至少包括多个电极配线230与多个驱动电路240。其中，驱动电路240是用以驱动电极配线230，并且配置于平面显示器200的第一侧S1。
该测试装置250是由多个开关组件260与至少一短路杆270所构成。其中，开关组件260是电性耦接至电极配线230，且配置于平面显示器200的第二侧S2。短路杆270是电性耦接至开关组件260。而且，平面显示器200的第一侧S1是与第二侧S2为相对侧，亦即短路杆270与驱动电路240是分别配置于平面显示器200的相对两侧。
在图3A所示的较佳实施例中，每一开关组件260例如是由一薄膜晶体管所构成。测试装置250例如更包括至少一开关配线280，电性耦接至开关组件260。请参阅图4所示，是一较佳实施例的开关组件由薄膜晶体管构成的电路示意图。由图4可知，构成开关组件260的薄膜晶体管262并不局限于一个，亦可由多个薄膜晶体管262组合而成，以减少开关组件260的漏电流(Current leakage)。
在图3B所示的较佳实施例中，开关组件260例如是二极管。
承上所述，将短路杆270配置于驱动电路240的相对侧，可减少平面显示器200的第一侧S1的宽度，而较容易设计出整体面积小的平面显示器200。而且，由于短路杆270与电极配线230之间是以开关组件260而电性耦接，因此必须自开关配线280端输入电压(如图3A所示)或短路杆270端(如图3B所示)输入电流才能导通开关组件260，无法自电极配线230端输入电流而导通开关组件260。所以，在藉由测试装置250对平面显示器200进行测试后，即使不进行额外的步骤来切断测试装置250与电极配线230的电性连接，各电极配线230间也不会藉由测试装置250而互相导通。
请继续参阅图3A与图3B所示，电极配线230例如是数据配线(Dataline)，亦或是扫描配线(Scan line)。其中，数据配线例如是呈垂直地配置的电极配线230，扫描配线例如是呈平行地配置的电极配线230。因此，可藉由电性耦接至电极配线230的短路杆270以及开关组件260，来测试平面显示器200的资料配线与扫描配线是否能正常运作。
(第二实施例)
请参阅图5A～图5C所示，是依照本发明第二较佳实施例的平面显示器的测试装置电路图。在本发明第二较佳实施例中所欲测试的平面显示器是与第一较佳实施例相同，故在此不再赘述。但是，本发明第二较佳实施例的测试装置并不局限于如图3A所示地配置在驱动电路240的对侧，亦可与驱动电路240配置于同一侧。
首先请参阅图5A所示，测试装置350是由多个开关组件360、多条开关配线380a与一短路杆370所构成。其中，每个开关组件360分别具有一闸极362、一第一源/汲极364与一第二源/汲极366，而第一源/汲极364是电性耦接至电极配线330。每一条开关配线380a是分别电性耦接至部份开关组件360的闸极362。短路杆370是电性耦接至所有开关组件360的第二源/汲极366。开关组件360例如是由至少一薄膜晶体管所构成。
承上所述，藉由选择性地导通开关配线380a，即可对电极配线330分组进行测试。例如将电极配线330依所通过的画素区域适合发出的光色不同，而分组电性耦接至开关配线380a，即可一次测试一种光色的画素区域。当然，电极配线330的分组依据亦可有其它不同的考量。
接着请参阅图5B所示，测试装置352是由多个开关组件360、一开关配线组380与多条短路杆370所构成。其中，该每个开关组件360分别具有一闸极362、一第一源/汲极364与一第二源/汲极366，而第一源/汲极364是电性耦接至电极配线330。开关配线组380例如是由多条开关配线380a所构成，每一条开关配线380a是分别电性耦接至部份开关组件360的闸极362。每一条短路杆370是分别电性耦接至部份开关组件360的第二源/汲极366。开关组件360例如是由至少一薄膜晶体管所构成。承上所述，藉由选择性地导通开关配线380a与短路杆370，即可对电极配线330分组进行测试。
接着请参阅图5C所示，测试装置354是由多个开关组件360、一开关配线380a与多条短路杆370所构成。其中，每个开关组件360分别具有一闸极362、一第一源/汲极364与一第二源/汲极366，而第一源/汲极364是电性耦接至电极配线330。开关配线380a是电性耦接至所有开关组件360的闸极362。每一条短路杆370是分别电性耦接至部份开关组件360的第二源/汲极366。开关组件360例如是由至少一薄膜晶体管所构成。承上所述，藉由选择性地导通短路杆370，即可对电极配线330分组进行测试。
(第三实施例)
请参阅图6所示，是依照本发明第三较佳实施例的平面显示器的测试装置电路图。在本发明第三较佳实施例中所欲测试的平面显示器是与第一较佳实施例相同，故在此不再赘述。但是，本发明第三较佳实施例的测试装置并不局限于如图3B所示地配置在驱动电路240的对侧，亦可与驱动电路240配置于同一侧。
请参阅图6所示，测试装置450是由多个开关组件460与一短路杆组470所构成。其中，短路杆组470例如是由多条短路杆470a所构成，每一条短路杆470a是分别电性耦接至部份开关组件460。该开关组件460例如是由至少一二极管所构成。藉由选择性地导通短路杆470a，即可对电极配线430分组进行测试。例如将电极配线430依所通过的画素区域适合发出的光色不同，而分组电性耦接至短路杆470a，即可以一次测试一种光色的画素区域。当然，电极配线430的分组依据亦可有其它不同的考量。
综上所述，本发明较佳实施例的平面显示器的测试装置，其短路杆与驱动电路是分别配置于平面显示器的两侧，因此较容易设计具有小面积的平面显示器。而且.由于短路杆与电极配线间是以开关组件所电性耦接.因此在测试完成后即使不将短路杆与电极配线间的电性耦接切断，亦会因开关组件是呈断路状态而不会产生电性导通。同时，藉由多个短路杆或是多个开关配线的搭配，更可分组测试平面显示器的电极配线。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。