用于半导体晶片处理的高效静电吸盘.pdf

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摘要
申请专利号:

CN200980104876.8

申请日:

2009.02.04

公开号:

CN101946315A

公开日:

2011.01.12

当前法律状态:

终止

有效性:

无权

法律详情:

未缴年费专利权终止IPC(主分类):H01L 21/683申请日:20090204授权公告日:20130206终止日期:20140204|||授权|||实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/683申请日:20090204|||公开

IPC分类号:

H01L21/683; H01L21/687

主分类号:

H01L21/683

申请人:

应用材料公司

发明人:

阿施施·布特那格尔

地址:

美国加利福尼亚州

优先权:

2008.02.11 US 12/028,883

专利代理机构:

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258

代理人:

柳春雷;南霆

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内容摘要

本发明大体上提供一种高效静电吸盘,用以在处理体积中保持衬底。高效静电吸盘包含电极,该电极埋置在高纯度热塑性部件中。明确而言,高纯度热塑性部件可以包括金属离子含量极低的高纯度聚芳醚酮。相比较于在静电吸盘中使用聚醯亚胺膜而言,高纯度聚芳醚酮具有优越的耐磨损性、耐高温、耐等离子体、抗腐蚀性化学品、电稳定性及强度。本发明亦提供一种制造高效静电吸盘的简化方法。

权利要求书

1: 一种多层式静电吸盘, 包括 : 具有低金属离子浓度的高纯度聚芳醚酮部件, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮部件作为所 述静电吸盘中的介电质 ; 以及 预先形成的电极, 其埋置在所述高纯度聚芳醚酮部件中。
2: 根据权利要求 1 所述的多层式静电吸盘, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮部件含有下列 任一物质的含量不超过百万分之一, 所述物质包括铝、 锑、 砷、 钡、 铍、 铋、 硼、 镉、 钙、 铬、 钴、 铜、 镓、 锗、 铪、 铟、 铁、 铅、 锂、 汞、 镁、 锰、 钼、 镍、 铌、 磷、 钾、 铷、 钪、 硒、 硅、 银、 钠、 锶、 硫、 钽、 鍗、 铊、 锡、 钛、 钨、 钒、 钇、 锌以及锆。
3: 根据权利要求 2 所述的多层式静电吸盘, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮部件包含第一 层以及第二层, 所述第一层和所述第二层热塑性地彼此接合, 并且其中, 所述第一层热塑性 地结合至衬底平台。
4: 根据权利要求 3 所述的多层式静电吸盘, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮部件能耐受等 离子体蚀刻环境, 所述等离子体蚀刻环境包含利用功率源激发的氧气。
5: 根据权利要求 3 所述的多层式静电吸盘, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮部件在含有 100%氧气的等离子体蚀刻环境下暴露 100 小时之后具有 10.3 平方厘米的表面积以及具有 低于 0.14 克 / 平方厘米的质量损失。
6: 根据权利要求 3 所述的多层式静电吸盘, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮部件能耐受碱 性化合物、 芳香性碳氢化合物、 醇以及氢化碳氢化合物。
7: 根据权利要求 3 所述的多层式静电吸盘, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮部件适于在温 度高于 200℃的处理环境下连续操作。
8: 根据权利要求 7 所述的多层式静电吸盘, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮部件的表面经 过等离子体处理, 以改变表面参数。
9: 一种静电吸盘组件, 包括 : 衬底支撑平台 ; 第一聚芳醚酮层, 其具有第一表面, 所述第一表面热塑性地接合至所述衬底支撑平 台; 第二聚芳醚酮层, 其具有第二表面, 所述第二表面构造成支撑衬底 ; 以及 电极部件, 其埋置在所述第一聚芳醚酮层的第二表面和所述第二聚芳醚酮层的第一表 面之间 ; 其中, 所述第一聚芳醚酮层和所述第二聚芳醚酮层热塑性地接合在一起。 10. 根据权利要求 9 所述的静电吸盘组件, 其中, 聚芳醚酮层在等离子体环境中经过表 面处理, 所述等离子体环境包含利用功率源激发的氧气。 11. 根据权利要求 10 所述的静电吸盘组件, 其中, 所述静电吸盘组件适于在 200℃或更 高温的热环境中连续使用。 12. 根据权利要求 11 所述的静电吸盘组件, 其中, 所述第一和第二聚芳醚酮层含有下 列各物质的含量低于百万分之一, 所述物质包括铝、 锑、 砷、 钡、 铍、 铋、 硼、 镉、 钙、 铬、 钴、 铜、 镓、 锗、 铪、 铟、 铁、 铅、 锂、 汞、 镁、 锰、 钼、 镍、 铌、 磷、 钾、 铷、 钪、 硒、 硅、 银、 钠、 锶、 硫、 钽、 鍗、 铊、 锡、 钛、 钨、 钒、 钇、 锌以及锆。 13. 一种制造静电吸盘组件的方法, 包括 : 2 将预先形成的电极放置在第一高纯度聚芳醚酮层和第二高纯度聚芳醚酮层之间 ; 将所述第一和第二高纯度聚芳醚酮层热塑性地接合在一起 ; 并且 将所述第一聚芳醚酮层热塑性地接合至衬底支撑平台。 14. 根据权利要求 13 所述的方法, 还包括将所述静电吸盘组件暴露在等离子体环境 中, 以清洁所述第一和第二聚芳醚酮层的表面, 所述等离子体环境包含利用功率源激发的 氧气。 15. 根据权利要求 14 所述的方法, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮层含有下列各物质的含 量低于百万分之一, 所述物质包括铝、 锑、 砷、 钡、 铍、 铋、 硼、 镉、 钙、 铬、 钴、 铜、 镓、 锗、 铪、 铟、 铁、 铅、 锂、 汞、 镁、 锰、 钼、 镍、 铌、 磷、 钾、 铷、 钪、 硒、 硅、 银、 钠、 锶、 硫、 钽、 鍗、 铊、 锡、 钛、 钨、 钒、 钇、 锌以及锆。
10: 3 平方厘米的表面积以及具有 低于 0.14 克 / 平方厘米的质量损失。 6. 根据权利要求 3 所述的多层式静电吸盘, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮部件能耐受碱 性化合物、 芳香性碳氢化合物、 醇以及氢化碳氢化合物。 7. 根据权利要求 3 所述的多层式静电吸盘, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮部件适于在温 度高于 200℃的处理环境下连续操作。 8. 根据权利要求 7 所述的多层式静电吸盘, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮部件的表面经 过等离子体处理, 以改变表面参数。 9. 一种静电吸盘组件, 包括 : 衬底支撑平台 ; 第一聚芳醚酮层, 其具有第一表面, 所述第一表面热塑性地接合至所述衬底支撑平 台; 第二聚芳醚酮层, 其具有第二表面, 所述第二表面构造成支撑衬底 ; 以及 电极部件, 其埋置在所述第一聚芳醚酮层的第二表面和所述第二聚芳醚酮层的第一表 面之间 ; 其中, 所述第一聚芳醚酮层和所述第二聚芳醚酮层热塑性地接合在一起。 10. 根据权利要求 9 所述的静电吸盘组件, 其中, 聚芳醚酮层在等离子体环境中经过表 面处理, 所述等离子体环境包含利用功率源激发的氧气。
11: 根据权利要求 10 所述的静电吸盘组件, 其中, 所述静电吸盘组件适于在 200℃或更 高温的热环境中连续使用。
12: 根据权利要求 11 所述的静电吸盘组件, 其中, 所述第一和第二聚芳醚酮层含有下 列各物质的含量低于百万分之一, 所述物质包括铝、 锑、 砷、 钡、 铍、 铋、 硼、 镉、 钙、 铬、 钴、 铜、 镓、 锗、 铪、 铟、 铁、 铅、 锂、 汞、 镁、 锰、 钼、 镍、 铌、 磷、 钾、 铷、 钪、 硒、 硅、 银、 钠、 锶、 硫、 钽、 鍗、 铊、 锡、 钛、 钨、 钒、 钇、 锌以及锆。
13: 一种制造静电吸盘组件的方法, 包括 : 2 将预先形成的电极放置在第一高纯度聚芳醚酮层和第二高纯度聚芳醚酮层之间 ; 将所述第一和第二高纯度聚芳醚酮层热塑性地接合在一起 ; 并且 将所述第一聚芳醚酮层热塑性地接合至衬底支撑平台。
14: 根据权利要求 13 所述的方法, 还包括将所述静电吸盘组件暴露在等离子体环境 中, 以清洁所述第一和第二聚芳醚酮层的表面, 所述等离子体环境包含利用功率源激发的 氧气。
15: 根据权利要求 14 所述的方法, 其中, 所述高纯度聚芳醚酮层含有下列各物质的含 量低于百万分之一, 所述物质包括铝、 锑、 砷、 钡、 铍、 铋、 硼、 镉、 钙、 铬、 钴、 铜、 镓、 锗、 铪、 铟、 铁、 铅、 锂、 汞、 镁、 锰、 钼、 镍、 铌、 磷、 钾、 铷、 钪、 硒、 硅、 银、 钠、 锶、 硫、 钽、 鍗、 铊、 锡、 钛、 钨、 钒、 钇、 锌以及锆。

说明书


用于半导体晶片处理的高效静电吸盘

    【技术领域】
     本发明实施例大体上关于用以在处理环境中保持衬底的静电吸盘。背景技术 在衬底处理应用中, 吸盘是用来保持衬底, 以避免衬底在处理过程中移动或错位。 静电吸盘利用静电吸引力来保持衬底使其就定位。 由于静电吸盘比机械性真空吸盘更具优 势, 例如减少衬底中因应力引起的裂缝、 减少处理腔室中的污染以及能够在低真空环境中 保持衬底, 因此静电吸盘广受欢迎。
     典型的静电吸盘含有埋置在电绝缘体中的导电电极。 使用电压源相对于电极来电 性偏压衬底。 绝缘体可避免电子流穿过该绝缘体, 造成在衬底和电极中累积相反的电荷。 因 此产生静电力, 而将衬底吸引且保持在吸盘上。
     一般静电吸盘是使用聚醯亚胺 (polyimide) 形成多层绝缘层将铜电极夹在中间 所制成的多层式结构。聚醯亚胺是一种热固性材料 (thermosetting material), 具有例如
     高温稳定性 ( 相对于其它有机聚合物而言 )、 良好介电性、 良好机械性等期望的性质。 然而, 在某些衬底制造处理中, 使用聚醯亚胺来绝缘电极限制了吸盘的使用寿命。聚醯亚胺和类 似聚合物对于某些处理气体和等离子体的抗腐蚀性低。 用于各种衬底处理操作中的含氧气 体和等离子体对静电吸盘上的聚醯亚胺层特别有害。在这些处理中, 处理气体会腐蚀绝缘 体且暴露出电极, 造成吸盘在处理过程中故障, 损失掉成本昂贵的整个衬底。
     此外, 当衬底碎裂或破损而形成具有锐利边缘的碎片时, 衬底碎片能轻易地刺穿 聚醯亚胺膜, 而暴露出吸盘的电极。衬底碎片也可能从衬底背侧移动到聚醯亚胺膜。即 使是在绝缘体中单个针孔处暴露出电极, 也可能造成电极和等离子体之间的电弧放电作用 (arcing), 并且需要更换整个吸盘。
     再者, 制造上述静电吸盘的处理需要使用对压力和热敏感的粘着剂以及复杂又费 力的电路建构作业。例如, 可提供具有导电性铜层的聚醯亚胺膜。该铜层可能经过蚀刻、 绕 线配置或研磨以形成电极。蚀刻之后, 使用压力或热敏感性粘着剂将第二聚醯亚胺膜粘在 电极层上。接着利用压力或热敏感性粘着剂将该多层堆栈粘至吸盘的基底。这种处理不仅 仅复杂且需要很多步骤和长的制造时间, 而且某些处理腔室中的处理条件也可能会对该些 粘着层造成不利的影响。这将会导致这些层分层, 需要更换掉整个吸盘。
     因此, 需要一种改进的静电吸盘以及制造静电吸盘的简化方法。 发明内容 在本发明的一个实施例中, 多层式静电吸盘包含高纯度聚芳醚酮部件以及预先形 成的电极, 其中该高纯度聚芳醚酮部件含有低的金属离子浓度, 该高纯度聚芳醚酮部件作 为静电吸盘中的介电质, 并且该预先形成的电极埋置在该高纯度聚芳醚酮部件中。
     在本发明的另一实施例中, 静电吸盘组件包含衬底支撑平台、 第一聚芳醚酮层、 第 二聚芳醚酮层以及电极部件, 其中该第一聚芳醚酮层的第一表面热塑性地接合至衬底支撑
     平台, 且该第二聚芳醚酮层的第二表面构造成支撑衬底, 并且该电极部件埋置在第一聚芳 醚酮层的第二表面和第二聚芳醚酮层的第一表面之间, 其中第一和第二聚芳醚酮层热塑性 地接合在一起。
     在本发明的又一实施例中, 制造静电吸盘组件的方法包括将预先形成的电极放置 在第一高纯度聚芳醚酮层和第二高纯度聚芳醚酮层之间, 将该第一和第二高纯度聚芳醚酮 层热塑性地接合在一起, 并且将第一高纯度聚芳醚酮层热塑性地接合至衬底支撑平台。 附图说明 为了详细了解本发明上述特征, 将参照多个实施例更具体地描述本发明, 部分实 施例绘于附图中。 但需注意的是, 附图所绘的仅是本发明的代表性实施例, 因此不应视为本 发明范围的限制, 本发明可能具有其它等效实施例。
     图 1 是根据本发明的静电吸盘实施例的剖面图。
     图 2 是可使用本发明静电吸盘的示例性处理腔室的剖面图。
     图 3 是可使用该示例性处理腔室的示例性群集工具的俯视平面图。
     具体实施方式
     本发明大体上提供一种用以在处理体积中保持衬底的高效静电吸盘。 该高效静电 吸盘包含电极, 该电极埋置在两层高纯度热塑性膜之间。 明确而言, 该高纯度热塑性膜可能 是一种金属离子含量极低的高纯度聚芳醚酮 (polyaryletherketone)。相较于现今用于静 电吸盘中的聚醯亚胺膜而言, 高纯度聚芳醚酮具有优越的耐磨损性、 耐高温、 耐等离子体、 抗腐蚀性化学品、 电稳定性及强度。本发明亦提供一种制造高效静电吸盘的简化方法。
     图 1 是根据本发明的静电吸盘组件 100 的实施例的剖面示意图。 静电吸盘组件 100 包含静电吸盘 112, 静电吸盘 112 位在衬底支撑平台 110 上。静电吸盘 112 包含介电部件 120, 介电部件 120 接合至衬底支撑平台 110。电极 122 埋置在介电部件 120 内。电极 122 可预先形成各种几何形状并且可能是单极或双极。在一个实施例中, 介电部件 120 可能包 含第一介电层 124, 该第一介电层 124 接合至衬底支撑平台 110, 并且在该第一介电曾 124 上具有预先形成的电极 122。第二介电层 114 可配置在电极 122 和第一介电层 124 上, 且与 之接合。
     衬底支撑平台 110 可包含开口 111, 导电延伸物 116 延伸通过开口 111 而设置 在电接触表面 118 上, 通过电接触表面 118 将功率连接至电极 122。将范围介于约 200 伏特 (V) 至约 2000 伏特的高电压施加至电极 122, 以使该些绝缘介电膜产生极化作用 (polarization), 而在第二介电层 114 的表面上产生静电, 使得利用静电的库伦力将衬底 吸住且固定在支撑平台 110 上。
     为了提供良好的热量传递给保持到第二介电层 114 的表面上的衬底, 可通过导管 128 将传热气体输送至介电层 114 的表面。导管 128 可通往介电层 114 表面中的气体引导 通道 ( 未显示于图中 )。该些通道可为各种几何形状。在处理衬底的过程中, 可经由导管 128 将传热气体送往气体引导通道。
     静电吸盘 112 的第一介电层 124 和第二介电层 114 可由高纯度热塑性膜形成, 例 如由金属离子含量极低的高纯度聚芳醚酮所形成。本文中, 高纯度定义为下列各种金属含量不超过百万分之一 : 铝、 锑、 砷、 钡、 铍、 铋、 硼、 镉、 钙、 铬、 钴、 铜、 镓、 锗、 铪、 铟、 铁、 铅、 锂、 汞、 镁、 锰、 钼、 镍、 铌、 磷、 钾、 铷、 钪、 硒、 硅、 银、 钠、 锶、 硫、 钽、 鍗、 铊、 锡、 钛、 钨、 钒、 钇、 锌以 及锆。
     相较于传统热塑性聚醯亚胺膜而言, 高纯度聚芳醚酮具有优越的强度以及抗戳刺 性。 如上所述, 衬底可粒可能会从晶片的背侧或晶片破损处移动到静电吸盘 112 的表面。 第 一介电层 124 被刺穿可能造成电极 122 与腔室中的等离子体之间发生电弧。 因此, 介电层中 使用高纯度聚芳醚酮可保护吸盘避免受到衬底颗粒戳刺而大幅延长静电吸盘 112 的寿命。
     此外, 高纯度聚芳醚酮具有优越的耐高温性, 使得静电吸盘 112 可使用在温度 超过 200 ℃的处理环境中。高纯度聚芳醚酮对于广范围的化学环境 ( 包括, 碱性化合物、 芳香性碳氢化合物、 醇类以及氢化碳氢化合物 ) 还表现出优越的化学抗性 (chemical resistance, 或称化学耐受性 )。
     高纯度聚芳醚酮也具有优越的等离子体耐受性 (plasma resistance)。 例如, 使用 含有 100%氧气的预清洁蚀刻等离子体在 10.3 平方厘米的板上进行等离子体蚀刻 100 小时 所造成的质量损失可能少于 0.14 克 / 平方厘米。此种特性使静电吸盘 112 的表面能够进 行预处理和清洁以获得最佳化的吸盘参数, 而不像在清洁由聚醯亚胺膜制造的静电吸盘需 要打开腔室让腔室暴露在污染物中。 高纯度聚芳醚酮也能耐受多种高腐蚀性气体。例如, 静电吸盘 112 可用在含有例 如氯气 (Cl2)、 三氯化硼 (BCl3)、 四氟甲烷 (CF4, 也称四氟化碳或四氟代甲烷 ) 和三氟甲烷 (CHF3, 也称三氟代甲烷 ) 等腐蚀性气体的处理环境中, 而无需额外的保护性罩盖。
     适合用于本发明中的高纯度聚芳醚酮是由英国兰开郡 (Lancashire) 的威格斯公 司 (Victrex PLC.) 制造的商品名为 VICTREX Ultra-High PurityPEEK(UHP PEEK) 的聚芳 醚酮。
     相较于传统的聚醯亚胺膜, 图 1 的静电吸盘 112 的优势是使用高纯度聚芳醚酮, 使 得其制造方法简单且容易。使用高纯度聚芳醚酮来形成第一介电层 124 和第二介电层 114 的好处是因为材料的热塑性质。如上所述, 要使用聚醯亚胺来创造出静电吸盘的多层堆栈 需要在第一介电层上建构出铜电路, 并且利用压力敏感或热敏感性粘着剂将第二介电层粘 在该堆栈上。对照之下, 根据本发明的制造方法实施例则无需建构步骤或粘着步骤。
     根据本发明的方法, 电极 122( 例如, 铜电极 ) 可预先形成, 并且埋置在第一介电层 124 和第二介电层 114 之间。随后, 可对此组件施压且热塑性地接合以形成静电吸盘 112。 接着, 将静电吸盘 112 压向衬底支撑平台 110 并且热塑性地将之接合至衬底支撑平台 110。 因此, 不再如同使用聚醯亚胺层需要建构电极电路以及通过压力敏感性或热敏感性粘着剂 来粘着膜层。 因此, 相较于传统使用聚醯亚胺膜制造的吸盘组件而言, 简化了制造本发明静 电吸盘组件实施例 110 的制造处理, 且提供更可靠的部件和改善产量。
     图 2 是内部可使用静电吸盘组件 100 的示例处理腔室 200 的剖面图。图中所绘的 示例处理腔室可用于等离子体蚀刻处理。然而, 本发明的静电吸盘组件 100 也可应用在执 行他种处理的其它腔室中, 例如化学气相沉积、 物理气相沉积以及离子轰击。
     处理腔室 200 通常包含侧壁 235、 顶壁 245 以及底部 250, 并且静电吸盘组件 100 设 置在底部 250 上。如上所述, 静电吸盘组件 100 支撑且保持衬底 225。具有多个喷嘴 285 的 气体供应器 280 从处理气体源 283 引导气体进入处理腔室 200。可利用一个或多个气体阀
     284 来控制流经喷嘴 285 的气流。借着将诸如射频 (RF)、 微波能量等电磁能量耦合至气体, 以激发气体形成等离子体。如图 2 所示, 在处理腔室 200 中, 从天线功率供应器 290 施加 RF 电压至位于腔室 200 的顶壁 245 邻近处的感应天线 295, 以感应方式来激发气体。可选地, 可从电极电压供应器 210 施加 RF 电压至静电吸盘组件 100 的电极 122, 并且将顶壁 245 电 接地, 而以电容方式来激发气体。可利用传热气体源 230 供应传热气体来控制衬底 225 的 温度。通过排气系统 220 从腔室 200 中排出耗尽的气体和副产物, 排气系统 220 可能包含 真空泵 212 和节流阀 215。
     图 3 是示例群集工具 300 的俯视平面图, 在群集工具 300 可使用示例处理腔室 200。处理腔室 200 可连接至群集工具 300, 群集工具 300 中包含且提供用于处理腔室 200 的电子、 管线配置以及其它支持功能。群集工具 300 可具有在无需破除真空且不让衬底 暴露在群集工具 300 外部湿气或其它污染物中的情况下, 在该些腔室 200 ~ 204 之间传 送衬底 225 的能力。群集工具 300 包含传送室 205, 传送室 205 耦接至负载锁定室 (load lockchamber)206 和处理腔室 200 ~ 204。负载锁定室 206 能在系统外的周围环境以及传 送室 205 和处理腔室 200 ~ 204 内的真空环境之间传送衬底 225。负载锁定室 206 可能包 含一个或多个可抽真空区域, 用以保持一或多个衬底 225。当将衬底 225 输入群集工具 300 时, 将该些可抽真空区域抽空, 并且当从群集工具 300 中移出衬底 225 时, 则破除该些可抽 真空区域的真空状态。 传送室 205 内部可设置有传送机械手 207, 用以在负载锁定室 206 和 处理腔室 200 ~ 204 之间传送衬底 225。虽然图 3 中显示五个处理腔室, 但群集工具 300 可 具有任意适当数目的处理腔室。 虽然上述内容揭示了本发明的多个实施例, 但在不偏离本发明基本范围的情况下 可设计本发明的其它及进一步实施例。本发明范围由权利要求所界定。
    

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1、10申请公布号CN101946315A43申请公布日20110112CN101946315ACN101946315A21申请号200980104876822申请日2009020412/028,88320080211USH01L21/683200601H01L21/68720060171申请人应用材料公司地址美国加利福尼亚州72发明人阿施施布特那格尔74专利代理机构北京东方亿思知识产权代理有限责任公司11258代理人柳春雷南霆54发明名称用于半导体晶片处理的高效静电吸盘57摘要本发明大体上提供一种高效静电吸盘,用以在处理体积中保持衬底。高效静电吸盘包含电极,该电极埋置在高纯度热塑性部件中。明确而。

2、言,高纯度热塑性部件可以包括金属离子含量极低的高纯度聚芳醚酮。相比较于在静电吸盘中使用聚醯亚胺膜而言,高纯度聚芳醚酮具有优越的耐磨损性、耐高温、耐等离子体、抗腐蚀性化学品、电稳定性及强度。本发明亦提供一种制造高效静电吸盘的简化方法。30优先权数据85PCT申请进入国家阶段日2010081186PCT申请的申请数据PCT/US2009/0330322009020487PCT申请的公布数据WO2009/102589EN2009082051INTCL19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书2页说明书4页附图3页CN101946323A1/2页21一种多层式静电吸盘,包括具有低金属离。

3、子浓度的高纯度聚芳醚酮部件,其中,所述高纯度聚芳醚酮部件作为所述静电吸盘中的介电质;以及预先形成的电极,其埋置在所述高纯度聚芳醚酮部件中。2根据权利要求1所述的多层式静电吸盘,其中,所述高纯度聚芳醚酮部件含有下列任一物质的含量不超过百万分之一,所述物质包括铝、锑、砷、钡、铍、铋、硼、镉、钙、铬、钴、铜、镓、锗、铪、铟、铁、铅、锂、汞、镁、锰、钼、镍、铌、磷、钾、铷、钪、硒、硅、银、钠、锶、硫、钽、鍗、铊、锡、钛、钨、钒、钇、锌以及锆。3根据权利要求2所述的多层式静电吸盘,其中,所述高纯度聚芳醚酮部件包含第一层以及第二层,所述第一层和所述第二层热塑性地彼此接合,并且其中,所述第一层热塑性地结合至。

4、衬底平台。4根据权利要求3所述的多层式静电吸盘,其中,所述高纯度聚芳醚酮部件能耐受等离子体蚀刻环境,所述等离子体蚀刻环境包含利用功率源激发的氧气。5根据权利要求3所述的多层式静电吸盘,其中,所述高纯度聚芳醚酮部件在含有100氧气的等离子体蚀刻环境下暴露100小时之后具有103平方厘米的表面积以及具有低于014克/平方厘米的质量损失。6根据权利要求3所述的多层式静电吸盘,其中,所述高纯度聚芳醚酮部件能耐受碱性化合物、芳香性碳氢化合物、醇以及氢化碳氢化合物。7根据权利要求3所述的多层式静电吸盘,其中,所述高纯度聚芳醚酮部件适于在温度高于200的处理环境下连续操作。8根据权利要求7所述的多层式静电吸。

5、盘,其中,所述高纯度聚芳醚酮部件的表面经过等离子体处理,以改变表面参数。9一种静电吸盘组件,包括衬底支撑平台;第一聚芳醚酮层,其具有第一表面,所述第一表面热塑性地接合至所述衬底支撑平台;第二聚芳醚酮层,其具有第二表面,所述第二表面构造成支撑衬底;以及电极部件,其埋置在所述第一聚芳醚酮层的第二表面和所述第二聚芳醚酮层的第一表面之间;其中,所述第一聚芳醚酮层和所述第二聚芳醚酮层热塑性地接合在一起。10根据权利要求9所述的静电吸盘组件,其中,聚芳醚酮层在等离子体环境中经过表面处理,所述等离子体环境包含利用功率源激发的氧气。11根据权利要求10所述的静电吸盘组件,其中,所述静电吸盘组件适于在200或更。

6、高温的热环境中连续使用。12根据权利要求11所述的静电吸盘组件,其中,所述第一和第二聚芳醚酮层含有下列各物质的含量低于百万分之一,所述物质包括铝、锑、砷、钡、铍、铋、硼、镉、钙、铬、钴、铜、镓、锗、铪、铟、铁、铅、锂、汞、镁、锰、钼、镍、铌、磷、钾、铷、钪、硒、硅、银、钠、锶、硫、钽、鍗、铊、锡、钛、钨、钒、钇、锌以及锆。13一种制造静电吸盘组件的方法,包括权利要求书CN101946315ACN101946323A2/2页3将预先形成的电极放置在第一高纯度聚芳醚酮层和第二高纯度聚芳醚酮层之间;将所述第一和第二高纯度聚芳醚酮层热塑性地接合在一起;并且将所述第一聚芳醚酮层热塑性地接合至衬底支撑平台。

7、。14根据权利要求13所述的方法,还包括将所述静电吸盘组件暴露在等离子体环境中,以清洁所述第一和第二聚芳醚酮层的表面,所述等离子体环境包含利用功率源激发的氧气。15根据权利要求14所述的方法,其中,所述高纯度聚芳醚酮层含有下列各物质的含量低于百万分之一,所述物质包括铝、锑、砷、钡、铍、铋、硼、镉、钙、铬、钴、铜、镓、锗、铪、铟、铁、铅、锂、汞、镁、锰、钼、镍、铌、磷、钾、铷、钪、硒、硅、银、钠、锶、硫、钽、鍗、铊、锡、钛、钨、钒、钇、锌以及锆。权利要求书CN101946315ACN101946323A1/4页4用于半导体晶片处理的高效静电吸盘技术领域0001本发明实施例大体上关于用以在处理环境。

8、中保持衬底的静电吸盘。背景技术0002在衬底处理应用中,吸盘是用来保持衬底,以避免衬底在处理过程中移动或错位。静电吸盘利用静电吸引力来保持衬底使其就定位。由于静电吸盘比机械性真空吸盘更具优势,例如减少衬底中因应力引起的裂缝、减少处理腔室中的污染以及能够在低真空环境中保持衬底,因此静电吸盘广受欢迎。0003典型的静电吸盘含有埋置在电绝缘体中的导电电极。使用电压源相对于电极来电性偏压衬底。绝缘体可避免电子流穿过该绝缘体,造成在衬底和电极中累积相反的电荷。因此产生静电力,而将衬底吸引且保持在吸盘上。0004一般静电吸盘是使用聚醯亚胺POLYIMIDE形成多层绝缘层将铜电极夹在中间所制成的多层式结构。。

9、聚醯亚胺是一种热固性材料THERMOSETTINGMATERIAL,具有例如高温稳定性相对于其它有机聚合物而言、良好介电性、良好机械性等期望的性质。然而,在某些衬底制造处理中,使用聚醯亚胺来绝缘电极限制了吸盘的使用寿命。聚醯亚胺和类似聚合物对于某些处理气体和等离子体的抗腐蚀性低。用于各种衬底处理操作中的含氧气体和等离子体对静电吸盘上的聚醯亚胺层特别有害。在这些处理中,处理气体会腐蚀绝缘体且暴露出电极,造成吸盘在处理过程中故障,损失掉成本昂贵的整个衬底。0005此外,当衬底碎裂或破损而形成具有锐利边缘的碎片时,衬底碎片能轻易地刺穿聚醯亚胺膜,而暴露出吸盘的电极。衬底碎片也可能从衬底背侧移动到聚醯。

10、亚胺膜。即使是在绝缘体中单个针孔处暴露出电极,也可能造成电极和等离子体之间的电弧放电作用ARCING,并且需要更换整个吸盘。0006再者,制造上述静电吸盘的处理需要使用对压力和热敏感的粘着剂以及复杂又费力的电路建构作业。例如,可提供具有导电性铜层的聚醯亚胺膜。该铜层可能经过蚀刻、绕线配置或研磨以形成电极。蚀刻之后,使用压力或热敏感性粘着剂将第二聚醯亚胺膜粘在电极层上。接着利用压力或热敏感性粘着剂将该多层堆栈粘至吸盘的基底。这种处理不仅仅复杂且需要很多步骤和长的制造时间,而且某些处理腔室中的处理条件也可能会对该些粘着层造成不利的影响。这将会导致这些层分层,需要更换掉整个吸盘。0007因此,需要一。

11、种改进的静电吸盘以及制造静电吸盘的简化方法。发明内容0008在本发明的一个实施例中,多层式静电吸盘包含高纯度聚芳醚酮部件以及预先形成的电极,其中该高纯度聚芳醚酮部件含有低的金属离子浓度,该高纯度聚芳醚酮部件作为静电吸盘中的介电质,并且该预先形成的电极埋置在该高纯度聚芳醚酮部件中。0009在本发明的另一实施例中,静电吸盘组件包含衬底支撑平台、第一聚芳醚酮层、第二聚芳醚酮层以及电极部件,其中该第一聚芳醚酮层的第一表面热塑性地接合至衬底支撑说明书CN101946315ACN101946323A2/4页5平台,且该第二聚芳醚酮层的第二表面构造成支撑衬底,并且该电极部件埋置在第一聚芳醚酮层的第二表面和第。

12、二聚芳醚酮层的第一表面之间,其中第一和第二聚芳醚酮层热塑性地接合在一起。0010在本发明的又一实施例中,制造静电吸盘组件的方法包括将预先形成的电极放置在第一高纯度聚芳醚酮层和第二高纯度聚芳醚酮层之间,将该第一和第二高纯度聚芳醚酮层热塑性地接合在一起,并且将第一高纯度聚芳醚酮层热塑性地接合至衬底支撑平台。附图说明0011为了详细了解本发明上述特征,将参照多个实施例更具体地描述本发明,部分实施例绘于附图中。但需注意的是,附图所绘的仅是本发明的代表性实施例,因此不应视为本发明范围的限制,本发明可能具有其它等效实施例。0012图1是根据本发明的静电吸盘实施例的剖面图。0013图2是可使用本发明静电吸盘。

13、的示例性处理腔室的剖面图。0014图3是可使用该示例性处理腔室的示例性群集工具的俯视平面图。具体实施方式0015本发明大体上提供一种用以在处理体积中保持衬底的高效静电吸盘。该高效静电吸盘包含电极,该电极埋置在两层高纯度热塑性膜之间。明确而言,该高纯度热塑性膜可能是一种金属离子含量极低的高纯度聚芳醚酮POLYARYLETHERKETONE。相较于现今用于静电吸盘中的聚醯亚胺膜而言,高纯度聚芳醚酮具有优越的耐磨损性、耐高温、耐等离子体、抗腐蚀性化学品、电稳定性及强度。本发明亦提供一种制造高效静电吸盘的简化方法。0016图1是根据本发明的静电吸盘组件100的实施例的剖面示意图。静电吸盘组件100包含。

14、静电吸盘112,静电吸盘112位在衬底支撑平台110上。静电吸盘112包含介电部件120,介电部件120接合至衬底支撑平台110。电极122埋置在介电部件120内。电极122可预先形成各种几何形状并且可能是单极或双极。在一个实施例中,介电部件120可能包含第一介电层124,该第一介电层124接合至衬底支撑平台110,并且在该第一介电曾124上具有预先形成的电极122。第二介电层114可配置在电极122和第一介电层124上,且与之接合。0017衬底支撑平台110可包含开口111,导电延伸物116延伸通过开口111而设置在电接触表面118上,通过电接触表面118将功率连接至电极122。将范围介于约。

15、200伏特V至约2000伏特的高电压施加至电极122,以使该些绝缘介电膜产生极化作用POLARIZATION,而在第二介电层114的表面上产生静电,使得利用静电的库伦力将衬底吸住且固定在支撑平台110上。0018为了提供良好的热量传递给保持到第二介电层114的表面上的衬底,可通过导管128将传热气体输送至介电层114的表面。导管128可通往介电层114表面中的气体引导通道未显示于图中。该些通道可为各种几何形状。在处理衬底的过程中,可经由导管128将传热气体送往气体引导通道。0019静电吸盘112的第一介电层124和第二介电层114可由高纯度热塑性膜形成,例如由金属离子含量极低的高纯度聚芳醚酮所。

16、形成。本文中,高纯度定义为下列各种金属含说明书CN101946315ACN101946323A3/4页6量不超过百万分之一铝、锑、砷、钡、铍、铋、硼、镉、钙、铬、钴、铜、镓、锗、铪、铟、铁、铅、锂、汞、镁、锰、钼、镍、铌、磷、钾、铷、钪、硒、硅、银、钠、锶、硫、钽、鍗、铊、锡、钛、钨、钒、钇、锌以及锆。0020相较于传统热塑性聚醯亚胺膜而言,高纯度聚芳醚酮具有优越的强度以及抗戳刺性。如上所述,衬底可粒可能会从晶片的背侧或晶片破损处移动到静电吸盘112的表面。第一介电层124被刺穿可能造成电极122与腔室中的等离子体之间发生电弧。因此,介电层中使用高纯度聚芳醚酮可保护吸盘避免受到衬底颗粒戳刺而大。

17、幅延长静电吸盘112的寿命。0021此外,高纯度聚芳醚酮具有优越的耐高温性,使得静电吸盘112可使用在温度超过200的处理环境中。高纯度聚芳醚酮对于广范围的化学环境包括,碱性化合物、芳香性碳氢化合物、醇类以及氢化碳氢化合物还表现出优越的化学抗性CHEMICALRESISTANCE,或称化学耐受性。0022高纯度聚芳醚酮也具有优越的等离子体耐受性PLASMARESISTANCE。例如,使用含有100氧气的预清洁蚀刻等离子体在103平方厘米的板上进行等离子体蚀刻100小时所造成的质量损失可能少于014克/平方厘米。此种特性使静电吸盘112的表面能够进行预处理和清洁以获得最佳化的吸盘参数,而不像在清。

18、洁由聚醯亚胺膜制造的静电吸盘需要打开腔室让腔室暴露在污染物中。0023高纯度聚芳醚酮也能耐受多种高腐蚀性气体。例如,静电吸盘112可用在含有例如氯气CL2、三氯化硼BCL3、四氟甲烷CF4,也称四氟化碳或四氟代甲烷和三氟甲烷CHF3,也称三氟代甲烷等腐蚀性气体的处理环境中,而无需额外的保护性罩盖。0024适合用于本发明中的高纯度聚芳醚酮是由英国兰开郡LANCASHIRE的威格斯公司VICTREXPLC制造的商品名为VICTREXULTRAHIGHPURITYPEEKUHPPEEK的聚芳醚酮。0025相较于传统的聚醯亚胺膜,图1的静电吸盘112的优势是使用高纯度聚芳醚酮,使得其制造方法简单且容易。

19、。使用高纯度聚芳醚酮来形成第一介电层124和第二介电层114的好处是因为材料的热塑性质。如上所述,要使用聚醯亚胺来创造出静电吸盘的多层堆栈需要在第一介电层上建构出铜电路,并且利用压力敏感或热敏感性粘着剂将第二介电层粘在该堆栈上。对照之下,根据本发明的制造方法实施例则无需建构步骤或粘着步骤。0026根据本发明的方法,电极122例如,铜电极可预先形成,并且埋置在第一介电层124和第二介电层114之间。随后,可对此组件施压且热塑性地接合以形成静电吸盘112。接着,将静电吸盘112压向衬底支撑平台110并且热塑性地将之接合至衬底支撑平台110。因此,不再如同使用聚醯亚胺层需要建构电极电路以及通过压力敏。

20、感性或热敏感性粘着剂来粘着膜层。因此,相较于传统使用聚醯亚胺膜制造的吸盘组件而言,简化了制造本发明静电吸盘组件实施例110的制造处理,且提供更可靠的部件和改善产量。0027图2是内部可使用静电吸盘组件100的示例处理腔室200的剖面图。图中所绘的示例处理腔室可用于等离子体蚀刻处理。然而,本发明的静电吸盘组件100也可应用在执行他种处理的其它腔室中,例如化学气相沉积、物理气相沉积以及离子轰击。0028处理腔室200通常包含侧壁235、顶壁245以及底部250,并且静电吸盘组件100设置在底部250上。如上所述,静电吸盘组件100支撑且保持衬底225。具有多个喷嘴285的气体供应器280从处理气体。

21、源283引导气体进入处理腔室200。可利用一个或多个气体阀说明书CN101946315ACN101946323A4/4页7284来控制流经喷嘴285的气流。借着将诸如射频RF、微波能量等电磁能量耦合至气体,以激发气体形成等离子体。如图2所示,在处理腔室200中,从天线功率供应器290施加RF电压至位于腔室200的顶壁245邻近处的感应天线295,以感应方式来激发气体。可选地,可从电极电压供应器210施加RF电压至静电吸盘组件100的电极122,并且将顶壁245电接地,而以电容方式来激发气体。可利用传热气体源230供应传热气体来控制衬底225的温度。通过排气系统220从腔室200中排出耗尽的气体。

22、和副产物,排气系统220可能包含真空泵212和节流阀215。0029图3是示例群集工具300的俯视平面图,在群集工具300可使用示例处理腔室200。处理腔室200可连接至群集工具300,群集工具300中包含且提供用于处理腔室200的电子、管线配置以及其它支持功能。群集工具300可具有在无需破除真空且不让衬底暴露在群集工具300外部湿气或其它污染物中的情况下,在该些腔室200204之间传送衬底225的能力。群集工具300包含传送室205,传送室205耦接至负载锁定室LOADLOCKCHAMBER206和处理腔室200204。负载锁定室206能在系统外的周围环境以及传送室205和处理腔室20020。

23、4内的真空环境之间传送衬底225。负载锁定室206可能包含一个或多个可抽真空区域,用以保持一或多个衬底225。当将衬底225输入群集工具300时,将该些可抽真空区域抽空,并且当从群集工具300中移出衬底225时,则破除该些可抽真空区域的真空状态。传送室205内部可设置有传送机械手207,用以在负载锁定室206和处理腔室200204之间传送衬底225。虽然图3中显示五个处理腔室,但群集工具300可具有任意适当数目的处理腔室。0030虽然上述内容揭示了本发明的多个实施例,但在不偏离本发明基本范围的情况下可设计本发明的其它及进一步实施例。本发明范围由权利要求所界定。说明书CN101946315ACN101946323A1/3页8图1说明书附图CN101946315ACN101946323A2/3页9图2说明书附图CN101946315ACN101946323A3/3页10图3说明书附图CN101946315A。

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